

Оценка эквивалентности шкал спектральной плотности энергетической яркости по результатам международных сличений между национальными метрологическими институтами Кореи, Китая и России
https://doi.org/10.32446/0368-1025it.2020-12-51-57
Аннотация
В рамках международных сличений оценена эквивалентность воспроизводимых в национальных метрологических институтах Кореи (KRISS), Китая (NIM) и России (ВНИИОФИ) шкал спектральной плотности энергетической яркости в диапазоне длин волн 250–2500 нм. В сличениях в качестве артефакта использован общий набор из трёх вольфрамовых ленточных ламп, значения спектральной плотности энергетической яркости которых измерены поочередно каждой из лабораторий. Измерения проводились вслепую. На основе этой серии измерений на каждой длине волны определено опорное значение сличений как средневзвешенное результатов измерений трёх лабораторий. Степень эквивалентности каждой лаборатории рассчитана как отклонение результата измерения этой лаборатории от опорного значения. Предложен метод обработки данных для расчёта степеней эквивалентности и их неопределённостей. Метод основан на анализе отношений, а не разностей спектральной плотности энергетической яркости, что позволяет исключить влияние результатов одной конкретной лаборатории на результаты других. Результаты сличений подтверждают эквивалентность шкал спектральной плотности энергетической яркости всех лабораторий-участниц в пределах их расширенных неопределённостей (при коэффициенте охвата ) за исключением отдельных длин волн.
Об авторах
Д. Ж. ШинЮжная Корея
г. Тэджон
Б. Б. Хлевной
Россия
Москва
Ц. Дай
Китай
г. Пекин
С. Ч. Пак
Южная Корея
г. Тэджон
Д. Х. Ли
Южная Корея
г. Тэджон
М. В. Солодилов
Россия
Москва
С. С. Колесникова
Россия
Москва
Ж. У
Китай
г. Пекин
Я. Ван
Китай
г. Пекин
Список литературы
1. Международная система единиц ( SI). 9-е издание.2019. МБМВ. https://www.vniim.ru/files/SI-2019.pdf
2. Соглашение о взаимном признании национальных эталонов и сертификатов калибровки и измерений, выдаваемых национальными метрологическими институтами» (CIPM MRA). МБМВ. 1999. https://www.bipm.org/utils/en/pdf/CIPM-MRA-2003.pdf
3. Shin D. J., Park S., Lee D. H., Dai C., Wu Z., Wang Y., Khlevnoy B., Solodilov M., Kolesnikova S., Metrologia, 2020, vol. 57, Technical Supplement. 02001. https://doi.org/10.1088/0026-1394/57/1A/02001
4. Hollandt J., Seidel J., Klein R., Ulm G., Migdall A. and Ware M., Primary Sources for Use in Radiometry in: Optical Radiometry. Experimental Methods in the Physical Sciences, vol. 41, eds. A. C. Parr, R. U. Datla and J. L. Gardner, Elsevier/Academic Press, San Diego, CA, 2005.
5. Khlevnoy B., Metrologia, 2008, vol. 45, Technical Supplement. 02001. https://doi.org/10.1088/0026-1394/45/1A/02001
6. Khlevnoy B., Sapritsky V., Rougie B., Gibson C., Yoon H., Gaertner A., Taubert D. and Hartmann J., Metrologia, 2009, vol. 46, pp. S174–S180. https://doi.org/10.1088/0026-1394/46/4/S08
7. Хлевной Б. Б., Саприцкий В. И., Колесникова С. С. Международные сличения CCPR-S1 единиц спектральной плотности энергетической яркости в диапазоне длин волн 220–2500 нм // Измерительная техника. 2010. № 7. С. 16–22.
8. Guidelines for CCPR Key Comparisons Report Preparation. CCPR-G2. CCPR Key Comparison Working Group. Rev. 4. January 2019. https://www.bipm.org/utils/common/pdf/CC/CCPR/CCPR-G2.pdf
9. Guidelines for RMO PR Key Comparisons. CCPR-G6. Version 1.0. October 2014. https://www.bipm.org/utils/common/pdf/CC/CCPR/CCPR-G6.pdf
Рецензия
Для цитирования:
Шин Д.Ж., Хлевной Б.Б., Дай Ц., Пак С.Ч., Ли Д.Х., Солодилов М.В., Колесникова С.С., У Ж., Ван Я. Оценка эквивалентности шкал спектральной плотности энергетической яркости по результатам международных сличений между национальными метрологическими институтами Кореи, Китая и России. Izmeritelʹnaya Tekhnika. 2020;(12):51-57. https://doi.org/10.32446/0368-1025it.2020-12-51-57
For citation:
Shin D., Khlevnoy B.B., Da C., Park S., Lee D., Solodilov M.V., Kolesnikova S.S., Wu Z., Wang Ya. Assessment of Equivalence of the Spectral Radiance Scales following the results of the comparison between the National Metrology Institutes of Korea, China, and Russia. Izmeritel`naya Tekhnika. 2020;(12):51-57. (In Russ.) https://doi.org/10.32446/0368-1025it.2020-12-51-57