Особенности примененияупорядоченных пленок молекул фуллеренов для калибровки сканирующих туннельных микроскоповпри измерении геометрических параметров объектов
Аннотация
Продемонстрирована возможность использования упорядоченных пленок молекул фуллеренов в качестве эталонных объектов для калибровки сканирующих туннельных микроскопов.
Об авторах
А. Ю. Кузин
Научно-исследовательский центр по изучению свойств поверхности и вакуума,Москва
Россия
Россия
П. А. Тодуа
Научно-исследовательский центр по изучению свойств поверхности и вакуума,Москва
Россия
Россия
В. И. Панов
Московский государственный университет им. М.В. Ломоносова, Москва
Россия
Россия
А. И. Орешкин
Московский государственный университет им. М.В. Ломоносова, Москва
Россия
Россия
Список литературы
1. Binnig G., Rohrer H.Scanning tunneling microscopy // Helv. Phys. Acta.1982. V.55.N 6. P.726–735.
2. Binnig G., Quate C. F., Gerber Ch.Atomic force microscope // Phys. Rev. Lett. 1986. V.56.N 9. P.930–933.
3. Lewis A. e. a.Scanning optical microscopy with 500 Å spatial resolution //Biophys. J. 1983. V.41. P.405a.
4. Pohl D.W., Denk W., Lanz M.Optical stethoscopy: image recording with resolution l/20 // Appl. Phys. Lett. 1984. V.44.N7.P.651–653.
5. Кузин А.Ю.и др.Применение реконструированной поверхности кремния для калибровки сканирующих туннельных микроскопов//Измерительная техника.2012. № 7.С. 26–29;
6. A. Yu. Kuzin e. a. Reconstructed silicon surfaces for calibration of scanning tunnel microscopes // Measurement Techniques. 2012. V. 55. N 7.P. 773–779.
7. Sadowski J.T.e. a.Stability of the quasicubic phase in the initial stage of the growth of bismuth films on Si(111)-7×7//J. Appl. Phys.2006. V. 99.P. 014904.
8. Sadowski J.T. e. a.Epitaxial C60 thin films on Bi(0001)//Surface Sci.2007. V. 601. P. L136–L139.
9. Oreshkin A.I.e. a.Formation of highly crystalline C60 molecular films on Bi(0001)/Si(111) surface// JETP Lett.2007. V. 86. N 8. P. 522–525.
10. Oreshkin A.I.e. a.STM/STS study of C60F36 molecules adsorption on 7x7-Si(111) // JETP Lett.2007. V. 85.N 1.P.40–45.
Рецензия
Для цитирования:
Кузин А.Ю., Тодуа П.А., Панов В.И., Орешкин А.И. Особенности примененияупорядоченных пленок молекул фуллеренов для калибровки сканирующих туннельных микроскоповпри измерении геометрических параметров объектов. Izmeritelʹnaya Tekhnika. 2013;(2):10-15.
Просмотров:
70
Послать статью по эл. почте 