Особенности примененияупорядоченных пленок молекул фуллеренов для калибровки сканирующих туннельных микроскоповпри измерении геометрических параметров объектов
Abstract
The possibility of application of ordered films of fulleren molecules as reference samples for scanning tunnel microscope calibration has been demonstrated.
About the Authors
А. Кузин
Научно-исследовательский центр по изучению свойств поверхности и вакуума,Москва
Russian Federation
Russian Federation
П. Тодуа
Научно-исследовательский центр по изучению свойств поверхности и вакуума,Москва
Russian Federation
Russian Federation
В. Панов
Московский государственный университет им. М.В. Ломоносова, Москва
Russian Federation
Russian Federation
А. Орешкин
Московский государственный университет им. М.В. Ломоносова, Москва
Russian Federation
Russian Federation
References
1. Binnig G., Rohrer H.Scanning tunneling microscopy // Helv. Phys. Acta.1982. V.55.N 6. P.726–735.
2. Binnig G., Quate C. F., Gerber Ch.Atomic force microscope // Phys. Rev. Lett. 1986. V.56.N 9. P.930–933.
3. Lewis A. e. a.Scanning optical microscopy with 500 Å spatial resolution //Biophys. J. 1983. V.41. P.405a.
4. Pohl D.W., Denk W., Lanz M.Optical stethoscopy: image recording with resolution l/20 // Appl. Phys. Lett. 1984. V.44.N7.P.651–653.
5. Кузин А.Ю.и др.Применение реконструированной поверхности кремния для калибровки сканирующих туннельных микроскопов//Измерительная техника.2012. № 7.С. 26–29;
6. A. Yu. Kuzin e. a. Reconstructed silicon surfaces for calibration of scanning tunnel microscopes // Measurement Techniques. 2012. V. 55. N 7.P. 773–779.
7. Sadowski J.T.e. a.Stability of the quasicubic phase in the initial stage of the growth of bismuth films on Si(111)-7×7//J. Appl. Phys.2006. V. 99.P. 014904.
8. Sadowski J.T. e. a.Epitaxial C60 thin films on Bi(0001)//Surface Sci.2007. V. 601. P. L136–L139.
9. Oreshkin A.I.e. a.Formation of highly crystalline C60 molecular films on Bi(0001)/Si(111) surface// JETP Lett.2007. V. 86. N 8. P. 522–525.
10. Oreshkin A.I.e. a.STM/STS study of C60F36 molecules adsorption on 7x7-Si(111) // JETP Lett.2007. V. 85.N 1.P.40–45.
Review
For citations:
, , , . Izmeritel`naya Tekhnika. 2013;(2):10-15. (In Russ.)
Views:
71
Email this article 