Для цитирования:

Кравчук А.С., Кравчук А.И. Достаточное условие надёжности измерений рельефа поверхности образца методом атомно-силовой микроскопии. Измерительная техника. 2020;(5):11-15. https://doi.org/10.32446/0368-1025it.2020-5-11-15

For citation:

Kravchuk A.S., Kravchuk A.I. Sufficient condition for reliability measurement of sample geometry by atomic force microscopy. Izmeritel`naya Tekhnika. 2020;(5):11-15. (In Russ.) https://doi.org/10.32446/0368-1025it.2020-5-11-15