

Изменение химического состава анализируемого объекта при низковольтном электронно-зондовом рентгеноспектральном микроанализе
Abstract
About the Authors
А. КузинRussian Federation
В. Митюхляев
Russian Federation
П. Тодуа
Russian Federation
М. Филиппов
Russian Federation
References
1. Гавриленко В. П., Кузин А. Ю., Митюхляев В. Б., Степович М. А., Тодуа П. А., Филиппов М. Н. Измерение толщины окисной пленки на поверхности кремния электронно-зондовым методом // Измерительная техника. 2015. № 9. С. 13-16.
2. Филиппов М. Н. Оценка теплового воздействия электронного зонда в растровой электронной микроскопии и рентгеновском микроанализе // Известия АН. Сер. Физическая. 1993. Т. 57. № 8. С. 165-171.
3. Reimer L. Image formation in low-voltage scanning electron microscopy. SPIE Press, 1993. Т. 12.
4. Рау Э. И., Евстафьева Е. Н., Андрианов М. В. Механизмы зарядки диэлектриков при их облучении электронными пучками средних энергий //Физика твердого тела. 2008. Т. 50. №. 4. С. 599-607.
5. Шиллер З., Гайзик У., Панцер З. Электронно-лучевая технология. М.: Энергия, 1980.
6. Ефимов А.И., Белорукова Л.П., Василькова И.В., Чечев В.П. Свойства неорганических соединений. Справочник. Л.: Химия, 1983.
Review
For citations:
, , , . Izmeritel`naya Tekhnika. 2016;(11):68-70. (In Russ.)