Generate QR code
Open Access
Subscription Access
Измерение структурных параметров по эмиссионным рентгеновским спектрам при энергодисперсионной регистрации
Abstract
The possibility of using the diffraction peaks appearing in emissive X-ray spectra during energy dispersion registration for measuring the spacing between the lattice planes is shown.
About the Authors
В. Гавриленко
Научно-исследовательский центр по изучению свойств поверхности и вакуума
Russian Federation
Russian Federation
А. Заблоцкий
Московский физико-технический институт
Russian Federation
Russian Federation
С. Корнейчук
ООО «Системы для микроскопии и анализа»
Russian Federation
Russian Federation
А. Кузин
Научно-исследовательский центр по изучению свойств поверхности и вакуума
Russian Federation
Russian Federation
Т. Куприянова
Институт общей и неорганической химии им. Н.С. Курнакова РАН
Russian Federation
Russian Federation
О. Лямина
Институт общей и неорганической химии им. Н.С. Курнакова РАН
Russian Federation
Russian Federation
П. Тодуа
Московский физико-технический институт
Russian Federation
Russian Federation
М. Филиппов
Институт общей и неорганической химии им. Н.С. Курнакова РАН
Russian Federation
Russian Federation
В. Шкловер
ООО «Системы для микроскопии и анализа»
Russian Federation
Russian Federation
References
1. Заблоцкий А. В., Вирюс А. А., Лямина О. И., Кузин А. Ю., Куприянова Т. А., Тодуа П. А., Филиппов М. Н. Составляющие вторичного рентгеновского спектра при полихроматическом возбуждении и энергодисперсионной регистрации // Метрология. 2013. № 4. С. 9-17.
2. Вольдсет Р. Прикладная спектрометрия рентгеновского излучения. М.: Энергоатомиздат, 1977.
3. Nicolosi J. A., Scruggse B., Hascke M. Analysis of Sub-mm Structure in Large Bulky Samples Using Micro-X-Ray Fluorescent Spectrometry // Adv. X-ray Anal. 1997. V. 41. P. 227-233.
4. Миркин Л. И. Справочник по рентгеноструктурному анализу поликристаллов. М.: Физматгиз, 1961.
5. Горелик С. С., Скаков Ю. А., Расторгуев Л. Н. Рентгенографический и электронно-оптический анализ. М.: Изд-во МИСиС. 1994.
6. Чичагов А. В., Белоножко А. Б., Лопатин А. Л., Докина Т. Н., Самохвалова О. Л., Ушаковская Т. В., Шилова З. В. Информационно-вычислительная система по кристаллоструктурным данным минералов (МИНКРИСТ) // Кристаллография. 1990. Т. 35. № 3. С. 610-616.
7. Храмов А.С., Лукьянов И.В. Рентгеноструктурный анализ поликристаллов: Справочник, Ч. IV. Казань: Казанский (Приволжский) федеральный университет, 2010.
Review
For citations:
, , , , , , , , . Izmeritel`naya Tekhnika. 2016;(2):65-67. (In Russ.)
Views:
69
Email this article 