Открытый доступ
Только для подписчиков
Измерение структурных параметров по эмиссионным рентгеновским спектрам при энергодисперсионной регистрации
Аннотация
Показана возможность использования дифракционных пиков, возникающих в эмиссионных рентгеновских спектрах при энергодисперсионной регистрации, для измерений межплоскостных расстояний в кристаллических веществах.
Об авторах
В. П. Гавриленко
Научно-исследовательский центр по изучению свойств поверхности и вакуума
Россия
Россия
А. В. Заблоцкий
Московский физико-технический институт
Россия
Россия
С. А. Корнейчук
ООО «Системы для микроскопии и анализа»
Россия
Россия
А. Ю. Кузин
Научно-исследовательский центр по изучению свойств поверхности и вакуума
Россия
Россия
Т. А. Куприянова
Институт общей и неорганической химии им. Н.С. Курнакова РАН
Россия
Россия
О. И. Лямина
Институт общей и неорганической химии им. Н.С. Курнакова РАН
Россия
Россия
П. А. Тодуа
Московский физико-технический институт
Россия
Россия
М. Н. Филиппов
Институт общей и неорганической химии им. Н.С. Курнакова РАН
Россия
Россия
В. Я. Шкловер
ООО «Системы для микроскопии и анализа»
Россия
Россия
Список литературы
1. Заблоцкий А. В., Вирюс А. А., Лямина О. И., Кузин А. Ю., Куприянова Т. А., Тодуа П. А., Филиппов М. Н. Составляющие вторичного рентгеновского спектра при полихроматическом возбуждении и энергодисперсионной регистрации // Метрология. 2013. № 4. С. 9-17.
2. Вольдсет Р. Прикладная спектрометрия рентгеновского излучения. М.: Энергоатомиздат, 1977.
3. Nicolosi J. A., Scruggse B., Hascke M. Analysis of Sub-mm Structure in Large Bulky Samples Using Micro-X-Ray Fluorescent Spectrometry // Adv. X-ray Anal. 1997. V. 41. P. 227-233.
4. Миркин Л. И. Справочник по рентгеноструктурному анализу поликристаллов. М.: Физматгиз, 1961.
5. Горелик С. С., Скаков Ю. А., Расторгуев Л. Н. Рентгенографический и электронно-оптический анализ. М.: Изд-во МИСиС. 1994.
6. Чичагов А. В., Белоножко А. Б., Лопатин А. Л., Докина Т. Н., Самохвалова О. Л., Ушаковская Т. В., Шилова З. В. Информационно-вычислительная система по кристаллоструктурным данным минералов (МИНКРИСТ) // Кристаллография. 1990. Т. 35. № 3. С. 610-616.
7. Храмов А.С., Лукьянов И.В. Рентгеноструктурный анализ поликристаллов: Справочник, Ч. IV. Казань: Казанский (Приволжский) федеральный университет, 2010.
Рецензия
Для цитирования:
Гавриленко В.П., Заблоцкий А.В., Корнейчук С.А., Кузин А.Ю., Куприянова Т.А., Лямина О.И., Тодуа П.А., Филиппов М.Н., Шкловер В.Я. Измерение структурных параметров по эмиссионным рентгеновским спектрам при энергодисперсионной регистрации. Измерительная техника. 2016;(2):65-67.
Просмотров: 14
Послать статью по эл. почте 