Preview

Измерительная техника

Расширенный поиск
Доступ открыт Открытый доступ  Доступ закрыт Только для подписчиков

Оценка уровня шумов фазовых изображений, получаемых при помощи сдвигового интерференционного микроскопа

Аннотация

Описана методика оценки уровней пространственных и временных шумов фазовых изображений, полученных на сдвиговом интерференционном микроскопе. Приведены экспериментальные результаты при работе микроскопа с когерентным лазерным и низкокогерентным светодиодным излучением.

Об авторе

М. И. Латушко
Всероссийский научно-исследовательский институт оптико-физических измерений
Россия


Список литературы

1. Вишняков Г. Н., Левин Г. Г., Минаев В. Л., Цельмина И. Ю. Интерференционная микроскопия субнанометрового разрешения по глубине. Экспериментальные результаты // Оптика и спектроскопия. 2014. Т. 116. № 1. С. 170-175.

2. Левин Г. Г., Вишняков Г. Н., Минаев В. Л. Автоматизированный интерференционный микроскоп для измерения динамических объектов // Приборы и техника эксперимента. 2014. № 1. С. 79-84.

3. Vishnyakov G., Levin G., Minaev V., Nekrasov N. Advanced method of phase shift measurement from variances of interferogram differences // Appl. Opt. 2015. V. 54. N. 15. P. 4797-4804.

4. Nguyen T. H., Popescu G. Spatial Light Interference Microscopy (SLIM) using twisted-nematic liquid-crystal modulation // Biomed. Opt. Express. 2013. V. 4. N. 9. P. 1571-1583.

5. Girshovitz P., Shaked N. T. Compact and portable low-coherence interferometer with off-axis geometry for quantitative phase microscopy and nanoscopy // Opt. Express. 2013. V. 21. N. 5. P. 5701-5714.


Рецензия

Для цитирования:


Латушко М.И. Оценка уровня шумов фазовых изображений, получаемых при помощи сдвигового интерференционного микроскопа. Izmeritelʹnaya Tekhnika. 2015;(11):38-40.

Просмотров: 57


ISSN 0368-1025 (Print)
ISSN 2949-5237 (Online)