Generate QR code
Open Access
Subscription Access
Измерение теплового сопротивления цифровых интегральных схем по изменению частоты колебаний кольцевого генератора
Abstract
It is offered to use a propagation delay time of logical elements of the digital integrated circuits as a temperature sensitive parameter for measurement of DIC thermal resistance. It is shown that the oscillation frequency of the ring generator constructed on LE of DIC is inversely proportional to LE signal delay time, and linearly decreases with growth of temperature. A method for measuring thermal resistances of the digital integrated circuit, caused by self-heating process of the digital integrated circuit of its consumption electric power is described.
About the Authors
В. Сергеев
Ульяновский государственный технический университет; Ульяновский филиал Института радиотехники и электроники им. В. А. Котельникова РАН
Russian Federation
Russian Federation
Я. Тетенькин
Ульяновский филиал Института радиотехники и электроники им. В. А. Котельникова РАН
Russian Federation
Russian Federation
References
1. IC Thermal Measurement Method. Electrical Test Method (Single Semiconductor Device) EIA/JEDEC JESD51-1 standard [Электрон. версия]: http:/ www.jedec.org/download/search/jesd51-1.pdf.
2. Szekely V. A. New evaluation method of thermal transient measurement results // J. Microelectronic. 1997. V. 28. P. 277-292.
3. Сергеев В. А. Методы и средства измерения тепловых параметров полупроводниковых приборов и интегральных схем // Электронная промышленность. 2004. № 1. С. 45-48.
4. Сергеев В. А., Юдин В. В. Измерение тепловых параметров полупроводниковых изделий с применением амплитудно-импульсной модуляции греющей мощности // Метрология. 2010. № 4. С. 37-47.
5. Закс Д. И. Параметры теплового режима полупроводниковых микросхем. М.: Радио и связь, 1983.
6. Пат. 2504793 РФ. МКП G01R 31/28. Способ определения теплового импеданса цифровых КМОП интегральных микросхем / В. А. Сергеев, Е. А. Панов, О. В. Урлапов, В. В. Юдин // Изобретения. Полезные модели. 2014. Бюл. № 2.
7. Пат. 2327177 РФ. G01R 31/317 Способ определения теплового сопротивления цифровых интегральных микросхем // В. В. Юдин, В. А. Сергеев // Изобретения. Полезные модели. 2008. Бюл. № 17.
8. Зельдин Е. А. Цифровые интегральные микросхемы в измерительной аппаратуре. Л.: Энергоатомиздат, 1986.
9. Медведев А. В., Чулков В. А. Кольцевые генераторы на ПЛИС // Известия ВУЗов. Приборостроение. 2009. № 12. С. 50-53.
10. Пат. 2569922 РФ. МПК G01R31/28. Способ определения теплового сопротивления переход-корпус цифровых интегральных микросхем / В. А. Сергеев, Я. Г. Тетенькин, В. В. Юдин // Изобретения. Полезные модели. 2015, Бюл. № 34.
11. Давидов П. Д. Анализ и расчёт тепловых режимов полупроводниковых приборов. М.: Энергия, 1967.
12. Нефёдов В. И., Сигов А. С., Битюгов В. К., Хахин В. И. Метрология и радиоизмерения : учебное пособие. М.: Высшая школа, 2006.
Review
For citations:
, . Izmeritel`naya Tekhnika. 2018;(2):46-50. (In Russ.)
Views:
101
Email this article 