Preview

Измерительная техника

Расширенный поиск
Доступ открыт Открытый доступ  Доступ закрыт Только для подписчиков

Измерение теплового сопротивления цифровых интегральных схем по изменению частоты колебаний кольцевого генератора

Аннотация

Для измерений теплового сопротивления цифровых интегральных схем предложено использовать время задержки сигнала логических элементов в качестве температурочувствительного параметра. Показано, что частота колебаний кольцевого генератора, построенного на логических элементах, обратно пропорциональна времени задержки сигнала и линейно уменьшается с ростом температуры. Описан способ измерений тепловых сопротивлений цифровой интегральной схемы в процессе её саморазогрева потребляемой электрической мощностью.

Об авторах

В. А. Сергеев
Ульяновский государственный технический университет; Ульяновский филиал Института радиотехники и электроники им. В. А. Котельникова РАН
Россия


Я. Г. Тетенькин
Ульяновский филиал Института радиотехники и электроники им. В. А. Котельникова РАН
Россия


Список литературы

1. IC Thermal Measurement Method. Electrical Test Method (Single Semiconductor Device) EIA/JEDEC JESD51-1 standard [Электрон. версия]: http:/ www.jedec.org/download/search/jesd51-1.pdf.

2. Szekely V. A. New evaluation method of thermal transient measurement results // J. Microelectronic. 1997. V. 28. P. 277-292.

3. Сергеев В. А. Методы и средства измерения тепловых параметров полупроводниковых приборов и интегральных схем // Электронная промышленность. 2004. № 1. С. 45-48.

4. Сергеев В. А., Юдин В. В. Измерение тепловых параметров полупроводниковых изделий с применением амплитудно-импульсной модуляции греющей мощности // Метрология. 2010. № 4. С. 37-47.

5. Закс Д. И. Параметры теплового режима полупроводниковых микросхем. М.: Радио и связь, 1983.

6. Пат. 2504793 РФ. МКП G01R 31/28. Способ определения теплового импеданса цифровых КМОП интегральных микросхем / В. А. Сергеев, Е. А. Панов, О. В. Урлапов, В. В. Юдин // Изобретения. Полезные модели. 2014. Бюл. № 2.

7. Пат. 2327177 РФ. G01R 31/317 Способ определения теплового сопротивления цифровых интегральных микросхем // В. В. Юдин, В. А. Сергеев // Изобретения. Полезные модели. 2008. Бюл. № 17.

8. Зельдин Е. А. Цифровые интегральные микросхемы в измерительной аппаратуре. Л.: Энергоатомиздат, 1986.

9. Медведев А. В., Чулков В. А. Кольцевые генераторы на ПЛИС // Известия ВУЗов. Приборостроение. 2009. № 12. С. 50-53.

10. Пат. 2569922 РФ. МПК G01R31/28. Способ определения теплового сопротивления переход-корпус цифровых интегральных микросхем / В. А. Сергеев, Я. Г. Тетенькин, В. В. Юдин // Изобретения. Полезные модели. 2015, Бюл. № 34.

11. Давидов П. Д. Анализ и расчёт тепловых режимов полупроводниковых приборов. М.: Энергия, 1967.

12. Нефёдов В. И., Сигов А. С., Битюгов В. К., Хахин В. И. Метрология и радиоизмерения : учебное пособие. М.: Высшая школа, 2006.


Рецензия

Для цитирования:


Сергеев В.А., Тетенькин Я.Г. Измерение теплового сопротивления цифровых интегральных схем по изменению частоты колебаний кольцевого генератора. Izmeritelʹnaya Tekhnika. 2018;(2):46-50.

Просмотров: 95


ISSN 0368-1025 (Print)
ISSN 2949-5237 (Online)