Байесовские оценки систематических погрешностей средств измерений

Рассмотрена задача вычисления расширенной неопределенности измерений при калибровке. Выделены два ее источника, обусловленные неопределенностью опорного значения, получаемого с помощью эталона, и разбросом показаний калибруемого средства измерений. Применен байесовский подход для получения зависимости коэффициента охвата от числа повторных измерений и соотношения названных неопределенностей.

систематическая погрешность, расширенная неопределенность, коэффициент охвата, байесовская оценка, systematic error, expanded uncertainty, coverage factor, Bayesian estimate

1. ГОСТ Р 54500.3-2011/ Руководство ИСО/МЭК 98-3:2008. Неопределенность измерения. Часть 3. Руководство по выражению неопределенности измерений.

2. ГОСТ Р 54500.1-2011/ Руководство ИСО/МЭК 98-1:2009. Неопределенность измерения. Часть 1. Введение в руководство по выражению неопределенности измерения.

3. ГОСТ Р 54500.3.1-2011/ Руководство ИСО/МЭК 98-3:2008/ Дополнение 1:2008. Неопределенность измерения. Часть 3. Руководство по выражению неопределенности измерений. Дополнение 1. Трансформирование распределений с использованием метода Монте-Карло.

4. ГОСТ Р 54500.3.2-2013/ Руководство ИСО/МЭК 98-3:2008/ Дополнение 2:2011 «Неопределенность измерения. Часть 3. Руководство по выражению неопределенности измерений. Дополнение 2. Обобщение на случай произвольного числа выходных величин.

5. РМГ 29-2013. ГСИ. Метрология. Основные термины и определения.

6. Bёгер В. Информация об измеряемой величине как основа формирования функции плотности вероятности// Измерительная техника. 2003. № 9. С. 3-8.

7. Lira I., Wöger W. Comparison between the conventional and Bayesian approaches to evaluate measurement data// Metrologia. 2006. V. 43. S249- S259.

8. ГОСТ Р 8.736-2011. ГСИ. Измерения прямые многократные. Методы обработки результатов измерений. Основные положения.

9. Stepanov A., Burmistrova N., Chunovkina A. Calculation of coverage intervals: Some study cases// Advanced Mathematical and Computational Tools in Metrology and Testing: Proc. conf., 2014. St.Peterburg, 2015, P. 132-139.