izmertechИзмерительная техникаIzmeritel`naya Tekhnika0368-10252949-5237ФГУП "ВНИИФТРИ"izmertech-997Research ArticleОПТИКО-ФИЗИЧЕСКИЕ ИЗМЕРЕНИЯOPTICOPHYSICAL MEASUREMENTSМетодика настройки и калибровки имитатора солнечного излучения при измерении параметров многопереходных тонкоплёночных фотоэлектрических модулейБогомоловаС. А.s_bogomolova@mail.ruЛукашовЮ. Е.luksh103@vniims.ruШварцМ. З.shvarts@scell.ioffe.ruЧувашский государственный университет им. И. Н. УльяноваRussian FederationВсероссийский научно-исследовательский институт метрологической службыRussian FederationФизико-технический институт им. А. Ф. Иоффе РАНRussian Federation201607022023013337Copyright © ФГУП "ВНИИФТРИ", 20232023ФГУП "ВНИИФТРИ"ФГУП "ВНИИФТРИ"https://www.izmt.ru/jour/about/submissions#copyrightNoticehttps://www.izmt.ru/jour/article/view/997

Рассмотрена методика настройки и рассчитана неопределённость калибровки солнечного имитатора, построенного на основе комбинированного двухканального источника излучения. Настройка проведена по энергетической освещённости и её спектральной плотности c использованием двух эталонных фотоэлектрических модулей.

The article considers an adjustment procedure of solar simulator based on a combined two-channel source of radiation by parameters energy irradiance and spectral density of energy irradiance with use of two reference photoelectric modules. The calculation of uncertainty of solar simulator calibration by irradiance with taking into account the irradiance spectral density correction is carried out.

имитатор солнечного излучениямногопереходный тонкоплёночный фотоэлектрический модулькалибровкаsolar radiation simulatormultitransition thin film photoelectric modulecalibrationReferencesPoortmans J., Arkhipov V. Thin Film Solar Cells: Fabrication, Characterization and Applications. Chichester: John Wiley & Sons, 2006.Poortmans J., Arkhipov V. Thin Film Solar Cells: Fabrication, Characterization and Applications. Chichester: John Wiley & Sons, 2006.Jahn U., Schweiger M., Herrmann W. Comparison of different thin-film technologies - performance characteristics obtained from laboratory and field tests/ // Photovoltaic Solar Energy: Proc. 25th European Conf. Valencia (Spain), 2010. P. 3769--3773.Jahn U., Schweiger M., Herrmann W. Comparison of different thin-film technologies - performance characteristics obtained from laboratory and field tests/ // Photovoltaic Solar Energy: Proc. 25th European Conf. Valencia (Spain), 2010. P. 3769--3773.Wolden C. A., Kurtin J., Baxter J.B., Repins I., Shaheen S.E., Torvik J.T., Rockett A.A., Fthenakis V.M., Aydil E.S. Photovoltaic manufacturing: Present status, future prospects, and research needs // J. Vac. Sci. Technol. A. 2011. V. 29. N. 3. P. 030801-16.Wolden C. A., Kurtin J., Baxter J.B., Repins I., Shaheen S.E., Torvik J.T., Rockett A.A., Fthenakis V.M., Aydil E.S. Photovoltaic manufacturing: Present status, future prospects, and research needs // J. Vac. Sci. Technol. A. 2011. V. 29. N. 3. P. 030801-16.Hegedus S. Review of photovoltaic module energy yield (kWh/kW): comparison of crystalline Si and thin film technologies // Wiley Interdisciplinary Reviews: Energy and Environment. 2013. V. 2. N. 2. P. 218-233.Hegedus S. Review of photovoltaic module energy yield (kWh/kW): comparison of crystalline Si and thin film technologies // Wiley Interdisciplinary Reviews: Energy and Environment. 2013. V. 2. N. 2. P. 218-233.Green M. A., Emery K., Hishikawa Y., Warta W., Dunlop E. D. Solar cell efficiency tables (version 45) // Prog. Photovolt: Res. Appl. 2015. V. 23. P. 1-9.Green M. A., Emery K., Hishikawa Y., Warta W., Dunlop E. D. Solar cell efficiency tables (version 45) // Prog. Photovolt: Res. Appl. 2015. V. 23. P. 1-9.ГОСТ Р 51594-2000. Нетрадиционная энергетика. Солнечная энергетика. Термины и определения.ГОСТ Р 51594-2000. Нетрадиционная энергетика. Солнечная энергетика. Термины и определения.ГОСТ Р МЭК 60904-3-2013. ГСИ. Приборы фотоэлектрические. Ч. 3. Принципы измерения характеристик фотоэлектрических при-боров с учетом стандартной спектральной плотности энергетической освещенности наземного солнечного излучения.ГОСТ Р МЭК 60904-3-2013. ГСИ. Приборы фотоэлектрические. Ч. 3. Принципы измерения характеристик фотоэлектрических при-боров с учетом стандартной спектральной плотности энергетической освещенности наземного солнечного излучения.IEC 60904-9:2007. Photovoltaic devices. Pt. 9: Solar simulator performance requirements.IEC 60904-9:2007. Photovoltaic devices. Pt. 9: Solar simulator performance requirements.Богомолова С. А., Лукашов Ю. Е., Шварц М. З. Оценка расширенной неопределенности результата измерения тока короткого замыкания тонкопленочных фотоэлектрических модулей // Измерительная техника. 2013. № 11. С. 7-12.Богомолова С. А., Лукашов Ю. Е., Шварц М. З. Оценка расширенной неопределенности результата измерения тока короткого замыкания тонкопленочных фотоэлектрических модулей // Измерительная техника. 2013. № 11. С. 7-12.Guidelines for PV power measurement in industry (compiled by the European Commission Joint Research Center). Belgium: Edited by N. Taylor.: Publications Office of the European Union, 2010.Guidelines for PV power measurement in industry (compiled by the European Commission Joint Research Center). Belgium: Edited by N. Taylor.: Publications Office of the European Union, 2010.Pravettoni M., Komlan A., Galleano R., Müllejans H., Dunlop E. D. An alternative method for spectral response measurements of large-area thin-film photovoltaic modules // Prog. Photovolt: Res. Appl. 2012. V. 20. P. 416-422.Pravettoni M., Komlan A., Galleano R., Müllejans H., Dunlop E. D. An alternative method for spectral response measurements of large-area thin-film photovoltaic modules // Prog. Photovolt: Res. Appl. 2012. V. 20. P. 416-422.Adelhelm R., Berger D. Requirements for a large area solar simulator regarding the measurement of MJ solar cells // Photovoltaic Energy Conversion: Proc. 3rd World Conf. Osaka (Japan), 2003. P. 821-824.Adelhelm R., Berger D. Requirements for a large area solar simulator regarding the measurement of MJ solar cells // Photovoltaic Energy Conversion: Proc. 3rd World Conf. Osaka (Japan), 2003. P. 821-824.McMahon W. E., Emery K.E., Friedman D.J., Ottoson L., Young M.S., Ward J.S., Kramer C.M., Duda A., Kurtz S. Fill factor as a probe of current-matching for GaInP2/GaAs tandem cells in a concentrator system during outdoor operation // Prog. Photovolt: Res. Appl. 2008. V. 16. P. 213-224.McMahon W. E., Emery K.E., Friedman D.J., Ottoson L., Young M.S., Ward J.S., Kramer C.M., Duda A., Kurtz S. Fill factor as a probe of current-matching for GaInP2/GaAs tandem cells in a concentrator system during outdoor operation // Prog. Photovolt: Res. Appl. 2008. V. 16. P. 213-224.Rumyantsev V. D., Andreev V. M., Larionov V. R., Malevskiy D. A., Shvarts M. Z. Indoor characterization of multijunction concentrator cells under flash illumination with variable spectrum // Solar Concentrators for the Generation of Electricity or Hydrogen: Proc. 4th Int. Conf. El Escorial (Spain), 2007. P. 277-280.Rumyantsev V. D., Andreev V. M., Larionov V. R., Malevskiy D. A., Shvarts M. Z. Indoor characterization of multijunction concentrator cells under flash illumination with variable spectrum // Solar Concentrators for the Generation of Electricity or Hydrogen: Proc. 4th Int. Conf. El Escorial (Spain), 2007. P. 277-280.Колтун М.М. Оптика и метрология солнечных элементов. М.: Наука, 1985.Колтун М.М. Оптика и метрология солнечных элементов. М.: Наука, 1985.Staebler D. L., Wronski C. R. Reversible conductivity changes in discharge-produced amorphous Si // Appl. Phys. Lett. 1977. V. 31. P. 292-294.Staebler D. L., Wronski C. R. Reversible conductivity changes in discharge-produced amorphous Si // Appl. Phys. Lett. 1977. V. 31. P. 292-294.IEC 60904-4:2009. Photovoltaic devices: Pt. 4. Procedures for establishing the traceability of the calibration of photovoltaic reference devices.IEC 60904-4:2009. Photovoltaic devices: Pt. 4. Procedures for establishing the traceability of the calibration of photovoltaic reference devices.ГОСТ 8.195-2013. ГСИ. Государственная поверочная схема для средств измерений спектральной плотности энергетической яркости, спектральной плотности силы излучения, спектральной плотности энергетической освещенности, силы излучения и энергетической освещенности в диапазоне длин волн от 0,2 до 25,0 мкм.ГОСТ 8.195-2013. ГСИ. Государственная поверочная схема для средств измерений спектральной плотности энергетической яркости, спектральной плотности силы излучения, спектральной плотности энергетической освещенности, силы излучения и энергетической освещенности в диапазоне длин волн от 0,2 до 25,0 мкм.ГОСТ Р МЭК 60904-1-2013. Приборы фотоэлектрические. Ч. 1. Измерение вольт-амперных характеристик.ГОСТ Р МЭК 60904-1-2013. Приборы фотоэлектрические. Ч. 1. Измерение вольт-амперных характеристик.ISO/IEC Guide 98-3: 2008. Uncertainty of measurement: Pt. 3. Guide to the expression of uncertainty in measurement.ISO/IEC Guide 98-3: 2008. Uncertainty of measurement: Pt. 3. Guide to the expression of uncertainty in measurement.

The authors declare that there are no conflicts of interest present.