<?xml version="1.0" encoding="UTF-8"?>
<!DOCTYPE article PUBLIC "-//NLM//DTD JATS (Z39.96) Journal Publishing DTD v1.3 20210610//EN" "JATS-journalpublishing1-3.dtd">
<article article-type="research-article" dtd-version="1.3" xmlns:mml="http://www.w3.org/1998/Math/MathML" xmlns:xlink="http://www.w3.org/1999/xlink" xmlns:xsi="http://www.w3.org/2001/XMLSchema-instance" xml:lang="ru"><front><journal-meta><journal-id journal-id-type="publisher-id">izmertech</journal-id><journal-title-group><journal-title xml:lang="ru">Измерительная техника</journal-title><trans-title-group xml:lang="en"><trans-title>Izmeritel`naya Tekhnika</trans-title></trans-title-group></journal-title-group><issn pub-type="ppub">0368-1025</issn><issn pub-type="epub">2949-5237</issn><publisher><publisher-name>ФГУП "ВНИИФТРИ"</publisher-name></publisher></journal-meta><article-meta><article-id custom-type="elpub" pub-id-type="custom">izmertech-993</article-id><article-categories><subj-group subj-group-type="heading"><subject>Research Article</subject></subj-group><subj-group subj-group-type="section-heading" xml:lang="ru"><subject>ЛИНЕЙНЫЕ И УГЛОВЫЕ ИЗМЕРЕНИЯ</subject></subj-group><subj-group subj-group-type="section-heading" xml:lang="en"><subject>LINEAR AND ANGULAR MEASUREMENTS</subject></subj-group></article-categories><title-group><article-title>Оптоэлектронный метод бесконтактного измерения профиля поверхности крупногабаритных объектов сложной формы</article-title><trans-title-group xml:lang="en"><trans-title></trans-title></trans-title-group></title-group><contrib-group><contrib contrib-type="author" corresp="yes"><name-alternatives><name name-style="eastern" xml:lang="ru"><surname>Двойнишников</surname><given-names>С. В.</given-names></name></name-alternatives><email xlink:type="simple">dv.s@mail.ru</email><xref ref-type="aff" rid="aff-1"/></contrib><contrib contrib-type="author" corresp="yes"><name-alternatives><name name-style="eastern" xml:lang="ru"><surname>Аникин</surname><given-names>Ю. А.</given-names></name></name-alternatives><email xlink:type="simple">noemail@neicon.ru</email><xref ref-type="aff" rid="aff-1"/></contrib><contrib contrib-type="author" corresp="yes"><name-alternatives><name name-style="eastern" xml:lang="ru"><surname>Кабардин</surname><given-names>И. К.</given-names></name></name-alternatives><email xlink:type="simple">noemail@neicon.ru</email><xref ref-type="aff" rid="aff-1"/></contrib><contrib contrib-type="author" corresp="yes"><name-alternatives><name name-style="eastern" xml:lang="ru"><surname>Куликов</surname><given-names>Д. В.</given-names></name></name-alternatives><email xlink:type="simple">noemail@neicon.ru</email><xref ref-type="aff" rid="aff-1"/></contrib><contrib contrib-type="author" corresp="yes"><name-alternatives><name name-style="eastern" xml:lang="ru"><surname>Меледин</surname><given-names>В. Г.</given-names></name></name-alternatives><email xlink:type="simple">noemail@neicon.ru</email><xref ref-type="aff" rid="aff-1"/></contrib></contrib-group><aff xml:lang="ru" id="aff-1"><institution>Институт теплофизики им. С. С. Кутателадзе</institution><country>Russian Federation</country></aff><pub-date pub-type="collection"><year>2016</year></pub-date><pub-date pub-type="epub"><day>07</day><month>02</month><year>2023</year></pub-date><volume>0</volume><issue>1</issue><fpage>17</fpage><lpage>21</lpage><permissions><copyright-statement>Copyright &amp;#x00A9; ФГУП "ВНИИФТРИ", 2023</copyright-statement><copyright-year>2023</copyright-year><copyright-holder xml:lang="ru">ФГУП "ВНИИФТРИ"</copyright-holder><copyright-holder xml:lang="en">ФГУП "ВНИИФТРИ"</copyright-holder><license xlink:href="https://www.izmt.ru/jour/about/submissions#copyrightNotice" xlink:type="simple"><license-p>https://www.izmt.ru/jour/about/submissions#copyrightNotice</license-p></license></permissions><self-uri xlink:href="https://www.izmt.ru/jour/article/view/993">https://www.izmt.ru/jour/article/view/993</self-uri><abstract><p>Предложен новый оптоэлектронный метод бесконтактного измерения профиля поверхности крупногабаритных объектов сложной формы, отличающийся высокой надежностью, устойчивостью к изменениям оптических свойств поверхности объектов в широких пределах, а также к аддитивным шумам на изображениях. В методе применяют структурированное освещение, фазовую триангуляцию, расшифровку фазовых изображений с пошаговым сдвигом.</p></abstract><trans-abstract xml:lang="en"><p>The new optoelectronic method of contactless surface profile measurement of three-dimensional large-size complex shape objects with use of structurized illumination, phase triangulation and phase images interpretation with step-by-step shift is suggested. The method is differing by reliability and resistance to changes of objects surface optical properties over a wide range and to additive noise on images.</p></trans-abstract><kwd-group xml:lang="ru"><kwd>фазовая триангуляция</kwd><kwd>структурированное освещение</kwd><kwd>3D-измерения</kwd><kwd>phase triangulation</kwd><kwd>structurized illumination</kwd><kwd>3D-measurements</kwd></kwd-group></article-meta></front><back><ref-list><title>References</title><ref id="cit1"><label>1</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Этингоф М. И. Оптоэлектронные приборы для линейных измерений // Метрология. 2013. № 6. С. 3-8.</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Этингоф М. И. Оптоэлектронные приборы для линейных измерений // Метрология. 2013. № 6. С. 3-8.</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit2"><label>2</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Zhang S. Recent progresses on real-time 3-D shape measurement using digital fringe projection techniques // Opt. Laser Eng. 2010. V. 48(2). P. 149-158.</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Zhang S. Recent progresses on real-time 3-D shape measurement using digital fringe projection techniques // Opt. Laser Eng. 2010. V. 48(2). P. 149-158.</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit3"><label>3</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Chen F., Brown G. M., Song M. Overview of three-dimensional shape measurement using optical methods // Opt. Eng. 2000. № 39. P. 10-22.</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Chen F., Brown G. M., Song M. Overview of three-dimensional shape measurement using optical methods // Opt. Eng. 2000. № 39. P. 10-22.</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit4"><label>4</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Вишняков Г. Н., Левин Г. Г., Наумов А. А. Измерение поверхности трехмерных объектов методом проекции интерференционных полос // Оптика и спектроскопия. 1998. Т. 85. № 6. С. 1015-1017.</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Вишняков Г. Н., Левин Г. Г., Наумов А. А. Измерение поверхности трехмерных объектов методом проекции интерференционных полос // Оптика и спектроскопия. 1998. Т. 85. № 6. С. 1015-1017.</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit5"><label>5</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Du H., Wang Z. Three-dimensional shape measurement with an arbitrarily arranged fringe projection profilometry system // Opt. Lett. 2007. V. 32. N. 16. P. 2438-2440.</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Du H., Wang Z. Three-dimensional shape measurement with an arbitrarily arranged fringe projection profilometry system // Opt. Lett. 2007. V. 32. N. 16. P. 2438-2440.</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit6"><label>6</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Chen L. C., Liang C. W., Nguyen X. L., Shu Y. S., Hsiao-Wen Wu. High-speed 3D surface profilometry employing trapezoidal phase-shifting method with multi-band calibration for colour surface reconstruction // Meas. Sci. Technol. 2010. № 21 - P.105309-10.</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Chen L. C., Liang C. W., Nguyen X. L., Shu Y. S., Hsiao-Wen Wu. High-speed 3D surface profilometry employing trapezoidal phase-shifting method with multi-band calibration for colour surface reconstruction // Meas. Sci. Technol. 2010. № 21 - P.105309-10.</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit7"><label>7</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Сухоруков К. А. Точность восстановления трехмерных поверхностей методом Фурье-синтеза // Измерительная техника. 2005. № 5. С. 34-36.</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Сухоруков К. А. Точность восстановления трехмерных поверхностей методом Фурье-синтеза // Измерительная техника. 2005. № 5. С. 34-36.</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit8"><label>8</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Surrel Y. Design of algorithms for phase measurements by the use of phase stepping // Appl. Opt. 1996. V. 35. N. 1. P. 51-60.</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Surrel Y. Design of algorithms for phase measurements by the use of phase stepping // Appl. Opt. 1996. V. 35. N. 1. P. 51-60.</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit9"><label>9</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Gruber M., Hausler G. Simple, robust and accurate phase-measuring triangulation // Optik. 1992. N. 3. P. 118-122.</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Gruber M., Hausler G. Simple, robust and accurate phase-measuring triangulation // Optik. 1992. N. 3. P. 118-122.</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit10"><label>10</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Ильиных С. П., Гужов В. И. Обобщенный алгоритм расшифровки интерферограмм с пошаговым сдвигом // Автометрия. 2002. Т. 38. № 3. С. 123-126.</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Ильиных С. П., Гужов В. И. Обобщенный алгоритм расшифровки интерферограмм с пошаговым сдвигом // Автометрия. 2002. Т. 38. № 3. С. 123-126.</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit11"><label>11</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Двойнишников С. В. Устойчивый метод расшифровки интерферограмм с пошаговым сдвигом // Компьютерная оптика. 2007. Т. 31. № 2. С. 21-25.</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Двойнишников С. В. Устойчивый метод расшифровки интерферограмм с пошаговым сдвигом // Компьютерная оптика. 2007. Т. 31. № 2. С. 21-25.</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit12"><label>12</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Двойнишников С. В., Куликов Д. В., Меледин В. Г. Оптоэлектронный метод бесконтактного восстановления профиля поверхности трехмерных объектов сложной формы // Метрология. 2010. № 4. С. 15-27.</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Двойнишников С. В., Куликов Д. В., Меледин В. Г. Оптоэлектронный метод бесконтактного восстановления профиля поверхности трехмерных объектов сложной формы // Метрология. 2010. № 4. С. 15-27.</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit13"><label>13</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Двойнишников С. В., Меледин В. Г., Шпольвинд К. В. Метод компенсации нелинейности тракта источник-приемник оптического излучения при 3D-измерениях на основе фазовой триангуляции // Измерительная техника. 2012. № 2 С. 12-16.</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Двойнишников С. В., Меледин В. Г., Шпольвинд К. В. Метод компенсации нелинейности тракта источник-приемник оптического излучения при 3D-измерениях на основе фазовой триангуляции // Измерительная техника. 2012. № 2 С. 12-16.</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit14"><label>14</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Chen S. Y., Li Y. F. Self-recalibration of a color-encoded light system for automated three-dimensional measurements // Meas. Sci. Technol. 2003. № 14. P. 33-40.</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Chen S. Y., Li Y. F. Self-recalibration of a color-encoded light system for automated three-dimensional measurements // Meas. Sci. Technol. 2003. № 14. P. 33-40.</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit15"><label>15</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Huang C. T., Mitchell O. R. Dynamic camera calibration // Proc. Int. Symp. Comp. Vision. 1995. P. 169-174.</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Huang C. T., Mitchell O. R. Dynamic camera calibration // Proc. Int. Symp. Comp. Vision. 1995. P. 169-174.</mixed-citation></citation-alternatives></ref></ref-list><fn-group><fn fn-type="conflict"><p>The authors declare that there are no conflicts of interest present.</p></fn></fn-group></back></article>
