izmertechИзмерительная техникаIzmeritel`naya Tekhnika0368-10252949-5237ФГУП "ВНИИФТРИ"izmertech-967Research ArticleРАДИОТЕХНИЧЕСКИЕ ИЗМЕРЕНИЯRADIO MEASUREMENTSМетодика и устройство измерения СВЧ-параметров нелинейной керамики в управляющем электрическом полеКотельниковИ. В.igor-vit@rambler.ruОсадчийВ. Н.noemail@neicon.ruКосьминД. М.noemail@neicon.ruКанарейкинА. Д.noemail@neicon.ruНенашеваЕ. А.noemail@neicon.ruКозыревА. Б.noemail@neicon.ruС.-Петербургский государственный электротехнический университет «ЛЭТИ» им. В.И.Ульянова (Ленина)Russian FederationНаучно-исследовательский институт «Гириконд»Russian Federation201407022023095659Copyright © ФГУП "ВНИИФТРИ", 20232023ФГУП "ВНИИФТРИ"ФГУП "ВНИИФТРИ"https://www.izmt.ru/jour/about/submissions#copyrightNoticehttps://www.izmt.ru/jour/article/view/967

Разработана методика и устройство, обеспечивающие измерения зависимостей тангенса угла диэлектрических потерь и диэлектрической проницаемости от напряженности управляющего электрического поля для нелинейной диэлектрической керамики в диапазоне частот 200-2000 МГц. Приведены данные этих зависимостей для сегнетоэлектрических керамических образцов Bax Sr1-x TiO3 различного состава и управляющих напряжений до 10 кВ.

The procedure and devices to measure the parameters of nonlinear ceramics, namely the dielectric dissipation factor and permittivity as functions of control electrical field strength for frequency range 200-2000 MHz are developed. The results of measurement of these dependencies at control voltages up to 10 kV for ferroelectric ceramic samples of Bax Sr1- x TiO3 different composition are presented.

нелинейная керамика и диэлектрикиСВЧ-измерениясегнетоэлектрикдиэлектрическая проницаемостьтангенс угла диэлектрических потерьуправляемостьnonlinear ceramic and dielectricsmicrowave measurementsferroelectricpermittivitydielectric dissipation factortunabilityReferencesChen L. F. e. a. Microwave Electronics: Measurement and Materials characterization: John Wiley & Sons, Ltd, 2004.Chen L. F. e. a. Microwave Electronics: Measurement and Materials characterization: John Wiley & Sons, Ltd, 2004.Krupka J., e. a. Uncertainty of complex permittivity measurements by split-post dielectric resonator technique // J. Europ. Ceram. Soc. 2001. V. 21. P. 2673-2676.Krupka J., e. a. Uncertainty of complex permittivity measurements by split-post dielectric resonator technique // J. Europ. Ceram. Soc. 2001. V. 21. P. 2673-2676.Damaskos. Inc. Material Measurements Solutions [Электрон. ресурс] http://www.damaskosinc.com (дата обращения 14.04.2014 г.).Damaskos. Inc. Material Measurements Solutions [Электрон. ресурс] http://www.damaskosinc.com (дата обращения 14.04.2014 г.).Козырев А. Б. и др. Методика и устройство измерения емкости и добротности СВЧ-варакторов и варикондов // Измерительная техника. 2012. № 7. С. 62-65; Kozyrev A. B., e. a. A method and device for measuring the capacitance and Q-factor of microwave varactors and variconds // Measurement Techniques. 2012. V. 55. N. 7. P. 834-838.Козырев А. Б. и др. Методика и устройство измерения емкости и добротности СВЧ-варакторов и варикондов // Измерительная техника. 2012. № 7. С. 62-65; Kozyrev A. B., e. a. A method and device for measuring the capacitance and Q-factor of microwave varactors and variconds // Measurement Techniques. 2012. V. 55. N. 7. P. 834-838.Афанасьев В. П., Козырев А. Б. Технология, свойства и применение сегнетоэлектрических пленок и структур на их основе. СПб: Элмор, 2007.Афанасьев В. П., Козырев А. Б. Технология, свойства и применение сегнетоэлектрических пленок и структур на их основе. СПб: Элмор, 2007.Smolensky G. A. Ferroelectrics and Related Materials. NY: Acad. Press, 1981.Smolensky G. A. Ferroelectrics and Related Materials. NY: Acad. Press, 1981.Tagantsev A. K. e. a. Ferroelectric materials for microwave tunable applications // J. Electroceramics. 2003. V. 11. N. 1-2. P. 5-66.Tagantsev A. K. e. a. Ferroelectric materials for microwave tunable applications // J. Electroceramics. 2003. V. 11. N. 1-2. P. 5-66.

The authors declare that there are no conflicts of interest present.