izmertechИзмерительная техникаIzmeritel`naya Tekhnika0368-10252949-5237ФГУП "ВНИИФТРИ"izmertech-926Research ArticleНАНОМЕТРОЛОГИЯМетод измерения спектра размеров взвешенных наночастицСемёновВ. В.vvsemenov@mail.ruАсцатуровЮ. Г.noemail@neicon.ruХанжонковЮ. Б.noemail@neicon.ruДонской государственный технический университетRussian Federation20170702202309711Copyright © ФГУП "ВНИИФТРИ", 20232023ФГУП "ВНИИФТРИ"ФГУП "ВНИИФТРИ"https://www.izmt.ru/jour/about/submissions#copyrightNoticehttps://www.izmt.ru/jour/article/view/926

Предложен новый метод измерения спектра размеров взвешенных наночастиц, основанный на укрупнении частиц за счёт их конденсационного роста в среде пересыщенного пара и измерении параметров выросших капель. Метод позволяет уменьшить нижний предел измерения до нескольких нанометров, а также хранить и в дальнейшем использовать массивы данных о спектре размеров наночастиц.

A new method for measuring the size spectrum of suspended nanoparticles based on particle enlargement due to their condensation growth in a supersaturated vapor medium and measuring the parameters of droplets grown is proposed. The method allows to reduce the lower limit of measurement to several nanometers, and also to store and further use arrays of data on the spectrum of nanoparticle sizes.

оптико-электронное устройствоспектр размеров наночастицядра конденсацииукрупнение частицустройство конденсационного ростателевизионный методopto-electronic devicerange of nanoparticle sizescondensation nucleienlargement of particlesthe device condensation growththe TV methodReferencesЛесников Е.В., Балаханов М.В., Балаханов Д.М. Методы и средства измерений дисперсных параметров частиц взвесей субмикронного и нанометрового диапазонов// Измерительная техника. 2015. № 1. С. 61-68.Лесников Е.В., Балаханов М.В., Балаханов Д.М. Методы и средства измерений дисперсных параметров частиц взвесей субмикронного и нанометрового диапазонов// Измерительная техника. 2015. № 1. С. 61-68.Карпов О. В., Балаханов Д. М., Лесников Е. В., Данькин Д. А., Лапшин В. Б., Палий А. А., Сыроешкин А. В., Загайнов В. А., Аграновский И. Е. Наночастицы в атмосферном воздухе. Методы измерений //Измерительная техника. 2011. № 3. С. 31-34.Карпов О. В., Балаханов Д. М., Лесников Е. В., Данькин Д. А., Лапшин В. Б., Палий А. А., Сыроешкин А. В., Загайнов В. А., Аграновский И. Е. Наночастицы в атмосферном воздухе. Методы измерений //Измерительная техника. 2011. № 3. С. 31-34.Красовский П.А., Карпов О.В., Балаханов Д.М., Лесников Е.В., Фролов Д.Д. Исследование метрологических характеристик комплекса аппаратуры для измерений параметров наночастиц в природных и технологических средах // Измерительная техника. 2010. №1. С. 3-8.Красовский П.А., Карпов О.В., Балаханов Д.М., Лесников Е.В., Фролов Д.Д. Исследование метрологических характеристик комплекса аппаратуры для измерений параметров наночастиц в природных и технологических средах // Измерительная техника. 2010. №1. С. 3-8.Загайнов В. А. Диффузионный спектрометр для диагностики наночастиц в газовой фазе // Нанотехника. 2006. № 1. С. 141-146.Загайнов В. А. Диффузионный спектрометр для диагностики наночастиц в газовой фазе // Нанотехника. 2006. № 1. С. 141-146.Пат. 2054652 РФ. Способ анализа взвешенных частиц / С. М. Коломиец // Открытия. Изобретения. 1996. № 5.Пат. 2054652 РФ. Способ анализа взвешенных частиц / С. М. Коломиец // Открытия. Изобретения. 1996. № 5.Коломиец Г. А., Коломиец С. М. Анализатор размеров и формы аэрозолей «АРФА» // Оптика атмосферы и океана. 1999. Т. 12. № 6. С. 553-555.Коломиец Г. А., Коломиец С. М. Анализатор размеров и формы аэрозолей «АРФА» // Оптика атмосферы и океана. 1999. Т. 12. № 6. С. 553-555.Пат. 2436067 РФ. Способ анализа взвешенных частиц / Семёнов В. В., Постоловский Н. Н., Ханжонков Ю. Б., Асцатуров Ю. Г. // Изобретения. Полезные модели. 2011. № 34.Пат. 2436067 РФ. Способ анализа взвешенных частиц / Семёнов В. В., Постоловский Н. Н., Ханжонков Ю. Б., Асцатуров Ю. Г. // Изобретения. Полезные модели. 2011. № 34.Пат. 2485481 РФ. Способ анализа взвешенных частиц / Семёнов В. В., Шандра А. С., Ханжонков Ю. Б., Асцатуров Ю. Г. Изобретения. Полезные модели. 2013. № 17.Пат. 2485481 РФ. Способ анализа взвешенных частиц / Семёнов В. В., Шандра А. С., Ханжонков Ю. Б., Асцатуров Ю. Г. Изобретения. Полезные модели. 2013. № 17.Семёнов В. В. Компьютерная обработка изображений в телевизионном анализаторе аэрозолей // Известия ЮФУ. Технические науки. Тематический вып. Медицинские информационные системы. 2014. № 10 (159). С. 88-97.Семёнов В. В. Компьютерная обработка изображений в телевизионном анализаторе аэрозолей // Известия ЮФУ. Технические науки. Тематический вып. Медицинские информационные системы. 2014. № 10 (159). С. 88-97.Пат. 2558281 РФ. Способ определения спектра размеров взвешенных частиц / Семёнов В. В., Ханжонков Ю. Б., Асцатуров Ю. Г. // Изобретения. Полезные модели. 2015. № 21.Пат. 2558281 РФ. Способ определения спектра размеров взвешенных частиц / Семёнов В. В., Ханжонков Ю. Б., Асцатуров Ю. Г. // Изобретения. Полезные модели. 2015. № 21.Пат. 2555353 РФ. Устройство определения спектра размеров взвешенных частиц / Семёнов В. В., Ханжонков Ю. Б., Асцатуров Ю. Г. // Изобретения. Полезные модели. 2015. № 19.Пат. 2555353 РФ. Устройство определения спектра размеров взвешенных частиц / Семёнов В. В., Ханжонков Ю. Б., Асцатуров Ю. Г. // Изобретения. Полезные модели. 2015. № 19.Беляев С. П., Никифорова Н. К., Смирнов В. В., Щелков Г. И. Оптико-электронные методы изучения аэрозолей. М.: Энергоиздат, 1981.Беляев С. П., Никифорова Н. К., Смирнов В. В., Щелков Г. И. Оптико-электронные методы изучения аэрозолей. М.: Энергоиздат, 1981.Райст П. Аэрозоли. Введение в теорию / Пер. с англ. М.: Мир, 1987.Райст П. Аэрозоли. Введение в теорию / Пер. с англ. М.: Мир, 1987.Гонсалес Р., Вудс Р. Цифровая обработка изображений. М.: Техносфера, 2005.Гонсалес Р., Вудс Р. Цифровая обработка изображений. М.: Техносфера, 2005.Шапиро Л., Стокман Дж. Компьютерное зрение / Пер. с англ. М.: БИНОМ. Лаборатория знаний, 2006.Шапиро Л., Стокман Дж. Компьютерное зрение / Пер. с англ. М.: БИНОМ. Лаборатория знаний, 2006.Методы компьютерной обработки изображений /Под ред. В.А. Сойфера. М.: ФИЗМАТЛИТ, 2003.Методы компьютерной обработки изображений /Под ред. В.А. Сойфера. М.: ФИЗМАТЛИТ, 2003.

The authors declare that there are no conflicts of interest present.