<?xml version="1.0" encoding="UTF-8"?>
<!DOCTYPE article PUBLIC "-//NLM//DTD JATS (Z39.96) Journal Publishing DTD v1.3 20210610//EN" "JATS-journalpublishing1-3.dtd">
<article article-type="research-article" dtd-version="1.3" xmlns:mml="http://www.w3.org/1998/Math/MathML" xmlns:xlink="http://www.w3.org/1999/xlink" xmlns:xsi="http://www.w3.org/2001/XMLSchema-instance" xml:lang="ru"><front><journal-meta><journal-id journal-id-type="publisher-id">izmertech</journal-id><journal-title-group><journal-title xml:lang="ru">Измерительная техника</journal-title><trans-title-group xml:lang="en"><trans-title>Izmeritel`naya Tekhnika</trans-title></trans-title-group></journal-title-group><issn pub-type="ppub">0368-1025</issn><issn pub-type="epub">2949-5237</issn><publisher><publisher-name>ФГУП "ВНИИФТРИ"</publisher-name></publisher></journal-meta><article-meta><article-id custom-type="elpub" pub-id-type="custom">izmertech-906</article-id><article-categories><subj-group subj-group-type="heading"><subject>Research Article</subject></subj-group><subj-group subj-group-type="section-heading" xml:lang="ru"><subject>К 75-ЛЕТИЮ ЖУРНАЛА</subject></subj-group></article-categories><title-group><article-title>Нейтронный дифрактометр для определения структурных характеристик монокристаллов</article-title><trans-title-group xml:lang="en"><trans-title></trans-title></trans-title-group></title-group><contrib-group><contrib contrib-type="author" corresp="yes"><name-alternatives><name name-style="eastern" xml:lang="ru"><surname>Кодесс</surname><given-names>Б. Н.</given-names></name></name-alternatives><email xlink:type="simple">kodess@mail.ru</email><xref ref-type="aff" rid="aff-1"/></contrib><contrib contrib-type="author" corresp="yes"><name-alternatives><name name-style="eastern" xml:lang="ru"><surname>Сарин</surname><given-names>В. А.</given-names></name></name-alternatives><email xlink:type="simple">vic.fet@yandex.com</email><xref ref-type="aff" rid="aff-2"/></contrib></contrib-group><aff xml:lang="ru" id="aff-1"><institution>Всероссийский научно-исследовательский институт метрологической службы</institution><country>Russian Federation</country></aff><aff xml:lang="ru" id="aff-2"><institution>Московский государственный технический университет радиотехники, электроники и автоматики</institution><country>Russian Federation</country></aff><pub-date pub-type="collection"><year>2014</year></pub-date><pub-date pub-type="epub"><day>07</day><month>02</month><year>2023</year></pub-date><volume>0</volume><issue>11</issue><fpage>51</fpage><lpage>54</lpage><permissions><copyright-statement>Copyright &amp;#x00A9; ФГУП "ВНИИФТРИ", 2023</copyright-statement><copyright-year>2023</copyright-year><copyright-holder xml:lang="ru">ФГУП "ВНИИФТРИ"</copyright-holder><copyright-holder xml:lang="en">ФГУП "ВНИИФТРИ"</copyright-holder><license xlink:href="https://www.izmt.ru/jour/about/submissions#copyrightNotice" xlink:type="simple"><license-p>https://www.izmt.ru/jour/about/submissions#copyrightNotice</license-p></license></permissions><self-uri xlink:href="https://www.izmt.ru/jour/article/view/906">https://www.izmt.ru/jour/article/view/906</self-uri><abstract><p>Описана конструкция нейтронного дифрактометра - измерительной системы для определения структуры монокристаллов. Приведены результаты измерений на тестовом образце из партии для стандартных образцов дифракционных свойств кварца. Показано, что данная установка была оптимизирована до возможностей высокоточного рентгеновского дифрактометра.</p></abstract><trans-abstract xml:lang="en"><p>The design of a neutron diffractometer a measuring system for determination of single crystals structure is described. The results of measurements on a test sample from the batch of standard reference materials of quartz diffraction properties are presented. It is shown that this installation has been optimized to the level of high accuracy x-ray diffractometers.</p></trans-abstract><kwd-group xml:lang="ru"><kwd>дифрактометрия</kwd><kwd>нейтроны</kwd><kwd>монокристаллы</kwd><kwd>структурные характеристики</kwd><kwd>точность определения позиций атомов</kwd><kwd>diffractometry</kwd><kwd>neutrons</kwd><kwd>single crystals</kwd><kwd>structural characteristics</kwd><kwd>accuracy of atoms positions determination</kwd></kwd-group></article-meta></front><back><ref-list><title>References</title><ref id="cit1"><label>1</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Peterson S. W., Levy, H. A. The Use of Single Crystal Neutron Diffraction Data for Crystal Structure Determination // J. Chem. Phys. 1951. V. 19. N. 11. P. 1416-1418.</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Peterson S. W., Levy, H. A. The Use of Single Crystal Neutron Diffraction Data for Crystal Structure Determination // J. Chem. Phys. 1951. V. 19. N. 11. P. 1416-1418.</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit2"><label>2</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Arndt, U. W., Willis B. T. M. Single crystal diffractometry. Cambridge: Univ. Press. 1966.</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Arndt, U. W., Willis B. T. M. Single crystal diffractometry. Cambridge: Univ. Press. 1966.</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit3"><label>3</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Schultz A. J. Single-crystal time-of-flight neutron diffraction // Trans. Am. Cryst. Assoc. 1993. V. 29. P. 29-41.</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Schultz A. J. Single-crystal time-of-flight neutron diffraction // Trans. Am. Cryst. Assoc. 1993. V. 29. P. 29-41.</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit4"><label>4</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Peters, J., Jauch W. Single Crystal Time-of-Flight Neutron Diffraction // Science Progress. 2002. V. 85. N. 4. Р. 297-317.</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Peters, J., Jauch W. Single Crystal Time-of-Flight Neutron Diffraction // Science Progress. 2002. V. 85. N. 4. Р. 297-317.</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit5"><label>5</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Keen D. A., M. J. Gutmann, C. C. Wilson. SXD-the single-crystal diffractometer at the ISIS spallation neutron source // J. Appl. Crystallogr. 2006. V. 39. N. 5. P. 714-722.</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Keen D. A., M. J. Gutmann, C. C. Wilson. SXD-the single-crystal diffractometer at the ISIS spallation neutron source // J. Appl. Crystallogr. 2006. V. 39. N. 5. P. 714-722.</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit6"><label>6</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Датт И. Д., Озеров Р. П., Раннев Н. В. Нейтронографическая установка высокого разрешения с переменной длиной волны // Cб. Аппаратура и методы рентгеновского анализа. 1973. Вып. 12. C. 16-19.</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Датт И. Д., Озеров Р. П., Раннев Н. В. Нейтронографическая установка высокого разрешения с переменной длиной волны // Cб. Аппаратура и методы рентгеновского анализа. 1973. Вып. 12. C. 16-19.</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit7"><label>7</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Isaev L. K., Kodess B. N., Kononogov S. A. The testing of modern diffractometers for type approval // Acta Crystallogr. Sect. A. Foundations of Crystallography. 2012. V. 68. P. 270.</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Isaev L. K., Kodess B. N., Kononogov S. A. The testing of modern diffractometers for type approval // Acta Crystallogr. Sect. A. Foundations of Crystallography. 2012. V. 68. P. 270.</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit8"><label>8</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Кодесс Б. Н. Метрологическое обеспечение высокоточных измерений характеристик ключевых материалов современных технологий и их стандартных образцы состава и свойств // История науки и техники. 2010. № 9. C. 29-36.</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Кодесс Б. Н. Метрологическое обеспечение высокоточных измерений характеристик ключевых материалов современных технологий и их стандартных образцы состава и свойств // История науки и техники. 2010. № 9. C. 29-36.</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit9"><label>9</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Kononogov S. A. e. a. Accurate investigation of the certified reference materials composition // Proc. 41st IUPAC, World Chemistry Congress, Chemistry. Protecting Health, Natural Environment and Cultural Heritage. Turin (Italy). 2007. S07P66. P. 189.</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Kononogov S. A. e. a. Accurate investigation of the certified reference materials composition // Proc. 41st IUPAC, World Chemistry Congress, Chemistry. Protecting Health, Natural Environment and Cultural Heritage. Turin (Italy). 2007. S07P66. P. 189.</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit10"><label>10</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Kononogov S. A. e. a. Standard reference and testing materials within the quality system for pharmaceutical production // Proc. 10th Annual Pharmaceutical Powder X-ray Diffraction Symp. Lyon, France, PPXRD-10-2011. P. 47.</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Kononogov S. A. e. a. Standard reference and testing materials within the quality system for pharmaceutical production // Proc. 10th Annual Pharmaceutical Powder X-ray Diffraction Symp. Lyon, France, PPXRD-10-2011. P. 47.</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit11"><label>11</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Kodess B.N. e. a. Standard Reference Materials for Validation crystal-software // Acta Crystallogr. Sect. A. Foundations of Crystallography. 2010. V. 66. P. 314.</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Kodess B.N. e. a. Standard Reference Materials for Validation crystal-software // Acta Crystallogr. Sect. A. Foundations of Crystallography. 2010. V. 66. P. 314.</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit12"><label>12</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Kodess B. e. a. Standard Reference Materials of Diffraction Properties for Neutron Investigations of Microstructure Characteristics of Substances and Materials // Proc. JCNS Conference-Modern Trends in Neutron Scattering Instrumentation. Munich, 2008. P. 147.</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Kodess B. e. a. Standard Reference Materials of Diffraction Properties for Neutron Investigations of Microstructure Characteristics of Substances and Materials // Proc. JCNS Conference-Modern Trends in Neutron Scattering Instrumentation. Munich, 2008. P. 147.</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit13"><label>13</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Кодесс Б. Н. Метрологическое обеспечение измерений характеристик ключевых материалов современных технологий на основе разработки и применения стандартных образцов состава и свойств. // Законодательная и прикладная метрология. 2010. № 5 (111). С. 70-75.</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Кодесс Б. Н. Метрологическое обеспечение измерений характеристик ключевых материалов современных технологий на основе разработки и применения стандартных образцов состава и свойств. // Законодательная и прикладная метрология. 2010. № 5 (111). С. 70-75.</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit14"><label>14</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Sarin V. A. e. a. The Comparative Analysis of the Diffraction Standards of VNIIMS and NIST // ICNS2001: Proc. International Conf. оп Neutron Scattering (European Neutron Scattering Association). Munich, 2001. B-6. P. 14.</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Sarin V. A. e. a. The Comparative Analysis of the Diffraction Standards of VNIIMS and NIST // ICNS2001: Proc. International Conf. оп Neutron Scattering (European Neutron Scattering Association). Munich, 2001. B-6. P. 14.</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit15"><label>15</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Kodess B. N., Kononogov S. A. Metrological Assurance of the Substance and Materials Investigations by Difraction Methods //Acta Cryst. Section A. Foundations of Crystallography. 2005. V.61, P. 147.</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Kodess B. N., Kononogov S. A. Metrological Assurance of the Substance and Materials Investigations by Difraction Methods //Acta Cryst. Section A. Foundations of Crystallography. 2005. V.61, P. 147.</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit16"><label>16</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Lutzau, A. V. e. a. Determining operating lifetime of landing wheel hubs with portable diffractometer // Adv. X Ray Anal. 2004. V. 47. P. 1-5</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Lutzau, A. V. e. a. Determining operating lifetime of landing wheel hubs with portable diffractometer // Adv. X Ray Anal. 2004. V. 47. P. 1-5</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit17"><label>17</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Vasilovskii S. e. a. Standardization of procedure for performing the measurement of parameters // Proc. Intern. Workshop on Dynamics of Molecules and Materials, ILL. Grenoble, France, 2007. P.44.</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Vasilovskii S. e. a. Standardization of procedure for performing the measurement of parameters // Proc. Intern. Workshop on Dynamics of Molecules and Materials, ILL. Grenoble, France, 2007. P.44.</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit18"><label>18</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Kodess B. N. , Kodess P. Microstructural Characteristics of High-Strength and Corrosion Resistant Steel // Proc. Denver x-ray conference 2002. P. 32. [Электрон. версия] http://www.dxcicdd.com/12/abstracts/D-32.pdf (дата обращения 30.07.2014 г.)</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Kodess B. N. , Kodess P. Microstructural Characteristics of High-Strength and Corrosion Resistant Steel // Proc. Denver x-ray conference 2002. P. 32. [Электрон. версия] http://www.dxcicdd.com/12/abstracts/D-32.pdf (дата обращения 30.07.2014 г.)</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit19"><label>19</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Кодесс Б. Н. и др. Неразрушающий контроль многокомпонентных материалов методами портативной дифрактометрии // Поверхность. Рентгеновские, синхротронные и нейтронные исследования. 2002. № 9. С. 10-12.</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Кодесс Б. Н. и др. Неразрушающий контроль многокомпонентных материалов методами портативной дифрактометрии // Поверхность. Рентгеновские, синхротронные и нейтронные исследования. 2002. № 9. С. 10-12.</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit20"><label>20</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Датт И. Д. Изучение некоторых кристаллогидратов солей лития методом дифракции нейтронов. Диссертация на соискание ученой степени кандидата физико-математических наук. НИФХИ им. Карпова Л.Я., М. 1973 г.</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Датт И. Д. Изучение некоторых кристаллогидратов солей лития методом дифракции нейтронов. Диссертация на соискание ученой степени кандидата физико-математических наук. НИФХИ им. Карпова Л.Я., М. 1973 г.</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit21"><label>21</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Willis D. T. M. Some theoretical properties of the double-crystal spectrometer used in neutron diffraction // Acta Crystallogr. 1960. V. 13. Part 10. P. 763-766.</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Willis D. T. M. Some theoretical properties of the double-crystal spectrometer used in neutron diffraction // Acta Crystallogr. 1960. V. 13. Part 10. P. 763-766.</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit22"><label>22</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Ридер Е. Э. и др. Нейтронографическое исследование структуры пироселенита калия K2Se2O5 // Кристаллография. 1985. Т. 30. Вып. 5. С. 1007-1009.</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Ридер Е. Э. и др. Нейтронографическое исследование структуры пироселенита калия K2Se2O5 // Кристаллография. 1985. Т. 30. Вып. 5. С. 1007-1009.</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit23"><label>23</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Кодесс Б. Н., Бутман Л. А., Соколова Г. В. Распределение электронной плотности в альфа-кварце // Сб. Прецизионные структурные исследования кристаллов дифракционными методами. 1990. C. 37.</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Кодесс Б. Н., Бутман Л. А., Соколова Г. В. Распределение электронной плотности в альфа-кварце // Сб. Прецизионные структурные исследования кристаллов дифракционными методами. 1990. C. 37.</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit24"><label>24</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Бутман Л. А., Кодесс Б. Н., Соколова Г. В. Рентгеновское исследование монокристаллов кварца // Минеральное сырье: Труды 13 междунар. конф. Белгород, 1995. C. 108.</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Бутман Л. А., Кодесс Б. Н., Соколова Г. В. Рентгеновское исследование монокристаллов кварца // Минеральное сырье: Труды 13 междунар. конф. Белгород, 1995. C. 108.</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit25"><label>25</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Современная исследовательская инфраструктура Российской Федерации [Офиц. сайт]. http://www.ckp-rf.ru/usu/77711 (дата обращения 30.07.2014 г.)</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Современная исследовательская инфраструктура Российской Федерации [Офиц. сайт]. http://www.ckp-rf.ru/usu/77711 (дата обращения 30.07.2014 г.)</mixed-citation></citation-alternatives></ref></ref-list><fn-group><fn fn-type="conflict"><p>The authors declare that there are no conflicts of interest present.</p></fn></fn-group></back></article>
