izmertechИзмерительная техникаIzmeritel`naya Tekhnika0368-10252949-5237ФГУП "ВНИИФТРИ"izmertech-874Research ArticleОБЩИЕ ВОПРОСЫ МЕТРОЛОГИИ И ИЗМЕРИТЕЛЬНОЙ ТЕХНИКИGENERAL PROBLEMS OF METROLOGY AND MEASUREMENT TECHNIQUESОЦЕНКА РАСШИРЕННОЙ НЕОПРЕДЕЛЕННОСТИ РЕЗУЛЬТАТА ИЗМЕРЕНИЯ ТОКА КОРОТКОГО ЗАМЫКАНИЯ ТОНКОПЛЕНОЧНЫХ ФОТОЭЛЕКТРИЧЕСКИХ МОДУЛЕЙБогомоловаС. А.s_bogomolova@mail.ruЛукашовЮ. Е.noemail@neicon.ruШварцМ. З.shvarts@scell.ioffe.ruЧувашский государственный университет им. И. Н. УльяноваRussian FederationВсероссийский научно-исследовательский институт метрологической службыRussian FederationФизико-технический институт им. А. Ф. Иоффе РАНRussian Federation201307022023011712Copyright © ФГУП "ВНИИФТРИ", 20232023ФГУП "ВНИИФТРИ"ФГУП "ВНИИФТРИ"https://www.izmt.ru/jour/about/submissions#copyrightNoticehttps://www.izmt.ru/jour/article/view/874

Дан анализ источников неопределенности результата измерения тока короткого замыкания тонкопленочного фотоэлектрического модуля. Разработана диаграмма Исикавы, отображающая основные источники неопределенности при использовании импульсного имитатора солнечного излучения. Выполнен расчет расширенной суммарной неопределенности результата измерения тока короткого замыкания с учетом выявленных источников.

An analysis of uncertainty of the resuls of measurement of short circuit current of the thin-film photovoltaic modules is presented. The Ishikawa diagram showing the main sources of uncertainty at using a pulse solar radiation simulator is developed. The calculation of the expanded total uncertainty of the result of short-circuit current measurement with taking into account the revealed sources of uncertainty has been carried out.

тонкопленочный фотоэлектрический модульток короткого замыканияимитатор солнечного излученияисточники неопределенности результата измеренияthin film photovoltaic modulesolar radiation simulatorsources of measurement result uncertaintyReferencesIEC 60904-4:2009. Photovoltaic devices: Part 4. Procedures for establishing the traceability of the calibration of photovoltaic reference devices.IEC 60904-4:2009. Photovoltaic devices: Part 4. Procedures for establishing the traceability of the calibration of photovoltaic reference devices.IEC 60904-9: 2007. Photovoltaic devices. Pt. 9: Solar simulator performance requirements. 2nd edn.IEC 60904-9: 2007. Photovoltaic devices. Pt. 9: Solar simulator performance requirements. 2nd edn.ГОСТ 8.195–89. ГСИ. Государственная поверочная схема для средств измерений спектральной плотности энергетической яркости, спектральной плотности силы излучения и спектральной плотности энергетической освещенности в диапазоне длин волн от 0,25 до 25,00 мкм; силы излучения и энергетической освещенности в диапазоне длин волн от 0,2 до 25,0 мкм.ГОСТ 8.195–89. ГСИ. Государственная поверочная схема для средств измерений спектральной плотности энергетической яркости, спектральной плотности силы излучения и спектральной плотности энергетической освещенности в диапазоне длин волн от 0,25 до 25,00 мкм; силы излучения и энергетической освещенности в диапазоне длин волн от 0,2 до 25,0 мкм.Hohl-Ebinger J., Warta W. Uncertainty of the spectral mismatch correction factor in STC measurements on photovoltaic devices // Prog. Photovolt: Res. Appl. 2011. V. 19. P. 573–579.Hohl-Ebinger J., Warta W. Uncertainty of the spectral mismatch correction factor in STC measurements on photovoltaic devices // Prog. Photovolt: Res. Appl. 2011. V. 19. P. 573–579.Adelhelm R., Berger D. Requirements for a large area solar simulator regarding the measurement of MJ solar cells // Photovoltaic Energy Conversion: Proc of 3rd World Conf. Osaka (Japan), 2003.V.1. P. 821– 824.Adelhelm R., Berger D. Requirements for a large area solar simulator regarding the measurement of MJ solar cells // Photovoltaic Energy Conversion: Proc of 3rd World Conf. Osaka (Japan), 2003.V.1. P. 821– 824.Mullejans H., Zaaiman W., Galleano R. Analysis and mitigation of measurement uncertainties in the traceability chain for the calibration of photovoltaic devices // Meas. Sci. Technol. 2009. V. 20. P. 075101 –11.Mullejans H., Zaaiman W., Galleano R. Analysis and mitigation of measurement uncertainties in the traceability chain for the calibration of photovoltaic devices // Meas. Sci. Technol. 2009. V. 20. P. 075101 –11.Mullejans H. e. a. Comparison of traceable calibration methods for primary photovoltaic reference cells // Prog. Photovolt: Res. Appl. 2005. V. 13. P. 661–671.Mullejans H. e. a. Comparison of traceable calibration methods for primary photovoltaic reference cells // Prog. Photovolt: Res. Appl. 2005. V. 13. P. 661–671.Emery K. Uncertainty analysis of certified photovoltaic measurements at the National Renewable Energy Laboratory // Technic. Report. 2009.Emery K. Uncertainty analysis of certified photovoltaic measurements at the National Renewable Energy Laboratory // Technic. Report. 2009.IEC 60904-1: 2006. Photovoltaic devices. Pt. 1. Measurement of photovoltaic current-voltage characteristics. 2nd edn.IEC 60904-1: 2006. Photovoltaic devices. Pt. 1. Measurement of photovoltaic current-voltage characteristics. 2nd edn.IEC 60904-2: 2007. Photovoltaic devices: Pt. 2. Requirements for reference solar devices.IEC 60904-2: 2007. Photovoltaic devices: Pt. 2. Requirements for reference solar devices.IEC 60904-3: 2008. Photovoltaic devices: Pt. 3. Measurement principles for terrestrial photovoltaic (PV) solar devices with reference spectral irradiance data.IEC 60904-3: 2008. Photovoltaic devices: Pt. 3. Measurement principles for terrestrial photovoltaic (PV) solar devices with reference spectral irradiance data.IEC 60891: 2009. Photovoltaic devices - Procedures for temperature and irradiance corrections to measured I-V characteristics of crystalline silicon photovoltaic devices.IEC 60891: 2009. Photovoltaic devices - Procedures for temperature and irradiance corrections to measured I-V characteristics of crystalline silicon photovoltaic devices.ISO/IEC Guide 98-3: 2008. Uncertainty of measurement: Pt. 3. Guide to the expression of uncertainty in measurement.ISO/IEC Guide 98-3: 2008. Uncertainty of measurement: Pt. 3. Guide to the expression of uncertainty in measurement.Kaoru Ishikawa. Guide to Quality Control (Industrial engineering & technology). Tokyo: Asian Productivity Organization, 1976.Kaoru Ishikawa. Guide to Quality Control (Industrial engineering & technology). Tokyo: Asian Productivity Organization, 1976.Пономарев С.В и др. Управление качеством продукции. Инструменты и методы менеджмента качества: Учебное пособие. М.: РИА «Стандарты и качество», 2005.Пономарев С.В и др. Управление качеством продукции. Инструменты и методы менеджмента качества: Учебное пособие. М.: РИА «Стандарты и качество», 2005.Руководство по выражению неопределенности измерения/Пер. с англ. СПб.: ВНИИМ им. Д. И. Менделеева, 1999.Руководство по выражению неопределенности измерения/Пер. с англ. СПб.: ВНИИМ им. Д. И. Менделеева, 1999.Luque A., Hegedus S. Handbook of Photovoltaic Science and Engineering. N. Y.: John Wiley & Sons, 2003.Luque A., Hegedus S. Handbook of Photovoltaic Science and Engineering. N. Y.: John Wiley & Sons, 2003.

The authors declare that there are no conflicts of interest present.