Предложен метод измерения параметров микрорельефа поверхности деталей машин оптико-электронными и компьютерными средствами. Метод основан на вычислении параметров двухмерной автокорреляционной функции, построенной по бинарному изображению исследуемого микрорельефа. Установлено, что наиболее информативной характеристикой исследуемого микрорельефа поверхностей прецизионных деталей, достоверно отличающихся друг от друга с заданной вероятностью распознавания шероховатости, является средняя амплитуда переменной составляющей автокорреляционной функции. Приведены результаты определения параметров исследуемого микрорельефа поверхностей с помощью квазиоптимальных корреляционных алгоритмов.
Proposed a method for measuring parameters of microrelief machine component surfaces optical-electronic and computer means, based on calculating the parameters of the two-dimensional autocorrelation function, plotted from a binary image of the microrelief under investigation. Found to be the most informative characterization of the studied surfaces, micro precision components reliably distinguished from each other with a given probability, is the average amplitude of the variable component of the autocorrelation function. Shows the results of determining the parameters of microrelief surface using quasi-optimal correlation algorithms.
The authors declare that there are no conflicts of interest present.