<?xml version="1.0" encoding="UTF-8"?>
<!DOCTYPE article PUBLIC "-//NLM//DTD JATS (Z39.96) Journal Publishing DTD v1.3 20210610//EN" "JATS-journalpublishing1-3.dtd">
<article article-type="research-article" dtd-version="1.3" xmlns:mml="http://www.w3.org/1998/Math/MathML" xmlns:xlink="http://www.w3.org/1999/xlink" xmlns:xsi="http://www.w3.org/2001/XMLSchema-instance" xml:lang="ru"><front><journal-meta><journal-id journal-id-type="publisher-id">izmertech</journal-id><journal-title-group><journal-title xml:lang="ru">Измерительная техника</journal-title><trans-title-group xml:lang="en"><trans-title>Izmeritel`naya Tekhnika</trans-title></trans-title-group></journal-title-group><issn pub-type="ppub">0368-1025</issn><issn pub-type="epub">2949-5237</issn><publisher><publisher-name>ФГУП "ВНИИФТРИ"</publisher-name></publisher></journal-meta><article-meta><article-id custom-type="elpub" pub-id-type="custom">izmertech-794</article-id><article-categories><subj-group subj-group-type="heading"><subject>Research Article</subject></subj-group><subj-group subj-group-type="section-heading" xml:lang="ru"><subject>ЛИНЕЙНЫЕ И УГЛОВЫЕ ИЗМЕРЕНИЯ</subject></subj-group><subj-group subj-group-type="section-heading" xml:lang="en"><subject>LINEAR AND ANGULAR MEASUREMENTS</subject></subj-group></article-categories><title-group><article-title>Особенности цифровой обработки измерительной информации при высокоточных линейных и угловых измерениях</article-title><trans-title-group xml:lang="en"><trans-title></trans-title></trans-title-group></title-group><contrib-group><contrib contrib-type="author" corresp="yes"><name-alternatives><name name-style="eastern" xml:lang="ru"><surname>Мастеренко</surname><given-names>Д. А.</given-names></name></name-alternatives><email xlink:type="simple">metrologycenter@gmail.com</email><xref ref-type="aff" rid="aff-1"/></contrib><contrib contrib-type="author" corresp="yes"><name-alternatives><name name-style="eastern" xml:lang="ru"><surname>Телешевский</surname><given-names>В. И.</given-names></name></name-alternatives><email xlink:type="simple">noemail@neicon.ru</email><xref ref-type="aff" rid="aff-1"/></contrib></contrib-group><aff xml:lang="ru" id="aff-1"><institution>Московский государственный технологический университет «СТАНКИН»</institution><country>Russian Federation</country></aff><pub-date pub-type="collection"><year>2016</year></pub-date><pub-date pub-type="epub"><day>07</day><month>02</month><year>2023</year></pub-date><volume>0</volume><issue>12</issue><fpage>11</fpage><lpage>14</lpage><permissions><copyright-statement>Copyright &amp;#x00A9; ФГУП "ВНИИФТРИ", 2023</copyright-statement><copyright-year>2023</copyright-year><copyright-holder xml:lang="ru">ФГУП "ВНИИФТРИ"</copyright-holder><copyright-holder xml:lang="en">ФГУП "ВНИИФТРИ"</copyright-holder><license xlink:href="https://www.izmt.ru/jour/about/submissions#copyrightNotice" xlink:type="simple"><license-p>https://www.izmt.ru/jour/about/submissions#copyrightNotice</license-p></license></permissions><self-uri xlink:href="https://www.izmt.ru/jour/article/view/794">https://www.izmt.ru/jour/article/view/794</self-uri><abstract><p>Изложен подход к обработке измерительной информации, полученной с помощью высокоточных средств измерений при случайной вариации данных в диапазоне несколько дискрет. Даны формулы для оценивания измеряемой величины. Рассмотрен пример использования данного подхода.</p></abstract><trans-abstract xml:lang="en"><p>The approach to the processing of measuring information gained from high-precise measuring devices with random variations within several discreets is described. The formulas for estimation of the measured value are given. The example of application of the described approach is given.</p></trans-abstract><kwd-group xml:lang="ru"><kwd>высокоточные линейные и угловые измерения</kwd><kwd>дискретность</kwd><kwd>оценивание измеряемых величин</kwd><kwd>оценки типа Питмена</kwd><kwd>high-precision linear and angular measurements</kwd><kwd>data discretization</kwd><kwd>estimation of measurement results</kwd><kwd>Pittman-type estimates</kwd></kwd-group></article-meta></front><back><ref-list><title>References</title><ref id="cit1"><label>1</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Григорьев С. Н., Телешевский В. И., Андреев А. Г., Кольнер Л. С., Осипов П. А. К проблеме построения прецизионных станков для изготовления деталей с нанометровой точностью // Вестник МГТУ «Станкин». 2015. № 3 (34). С. 9-14.</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Григорьев С. Н., Телешевский В. И., Андреев А. Г., Кольнер Л. С., Осипов П. А. К проблеме построения прецизионных станков для изготовления деталей с нанометровой точностью // Вестник МГТУ «Станкин». 2015. № 3 (34). С. 9-14.</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit2"><label>2</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Григорьев С. Н., Кутин А. А., Долгов В. А. Принципы построения цифровых производств в машиностроении // Вестник МГТУ «Станкин». 2014. № 4 (31). С. 10-15.</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Григорьев С. Н., Кутин А. А., Долгов В. А. Принципы построения цифровых производств в машиностроении // Вестник МГТУ «Станкин». 2014. № 4 (31). С. 10-15.</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit3"><label>3</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Телешевский В. И., Соколов В. А. Анализ обьёмных геометрических погрешностей в многокоординатных измерительных и технологических системах на основе лазерных измерений // Измерительная техника. 2013. № 12. С. 19-23.</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Телешевский В. И., Соколов В. А. Анализ обьёмных геометрических погрешностей в многокоординатных измерительных и технологических системах на основе лазерных измерений // Измерительная техника. 2013. № 12. С. 19-23.</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit4"><label>4</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Телешевский В. И., Соколов В. А. Автоматическая коррекция погрешностейпрограммно-управляемых измерительных и технологических систем // Измерительная техника. 2015. № 7. С. 14-17.</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Телешевский В. И., Соколов В. А. Автоматическая коррекция погрешностейпрограммно-управляемых измерительных и технологических систем // Измерительная техника. 2015. № 7. С. 14-17.</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit5"><label>5</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Телешевский В. И., Соколов В. А. Лазерная измерительная информационная система для повышения точности многокоординатных станков с ЧПУ // Вестник МГТУ «Станкин». 2011. № 4. С. 8-10.</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Телешевский В. И., Соколов В. А. Лазерная измерительная информационная система для повышения точности многокоординатных станков с ЧПУ // Вестник МГТУ «Станкин». 2011. № 4. С. 8-10.</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit6"><label>6</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Фирма Renishaw. Датчики положения (энкодеры) [Офиц. сайт]. //www.renishaw.ru/ru/position-encoders-6331 (дата обращения: 16.05.2016).</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Фирма Renishaw. Датчики положения (энкодеры) [Офиц. сайт]. //www.renishaw.ru/ru/position-encoders-6331 (дата обращения: 16.05.2016).</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit7"><label>7</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Фирма Heidenhain. Измерительная техника и системы ЧПУ для задач позиционирования, требующих высокой точности [Офиц. сайт]. http://www.heidenhain.ru (дата обращения: 16.05.2016).</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Фирма Heidenhain. Измерительная техника и системы ЧПУ для задач позиционирования, требующих высокой точности [Офиц. сайт]. http://www.heidenhain.ru (дата обращения: 16.05.2016).</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit8"><label>8</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Фирма Renishaw. Системы для проверки точности и калибровки станков и координатно-измерительных машин [Офиц. сайт] http://www.renishaw.ru (дата обращения: 16.05.2016).</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Фирма Renishaw. Системы для проверки точности и калибровки станков и координатно-измерительных машин [Офиц. сайт] http://www.renishaw.ru (дата обращения: 16.05.2016).</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit9"><label>9</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Фирма Hewlett-Packard. Системы для проверки точности и калибровки станков и координатно-измерительных машин [Офиц. сайт]. http://www.hp.com (дата обращения: 16.05.2016).</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Фирма Hewlett-Packard. Системы для проверки точности и калибровки станков и координатно-измерительных машин [Офиц. сайт]. http://www.hp.com (дата обращения: 16.05.2016).</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit10"><label>10</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Гришин С. Г. Гетеродинная лазерная интерференционная система для измерения линейных перемещений с анизотропным акустооптическим преобразованием частоты света / Автореф. дис. на соиск. учён. степ. канд. техн. наук. М.: МГТУ «СТАНКИН», 2012.</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Гришин С. Г. Гетеродинная лазерная интерференционная система для измерения линейных перемещений с анизотропным акустооптическим преобразованием частоты света / Автореф. дис. на соиск. учён. степ. канд. техн. наук. М.: МГТУ «СТАНКИН», 2012.</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit11"><label>11</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Michalecki G. Automatic Calibration of Gauge Blocks measured by Optical Interferometry // Meas. Sci. Rev. 2001. V. 1. № 1. P. 93-96.</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Michalecki G. Automatic Calibration of Gauge Blocks measured by Optical Interferometry // Meas. Sci. Rev. 2001. V. 1. № 1. P. 93-96.</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit12"><label>12</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Игнатьев П. С., Кольнер Л. С., Индукаев К. В., Телешевский В. И. Лазерная модуляционная интерференционная микроскопия как средство контроля формы и шероховатости оптических поверхностей // Измерительная техника. 2015. № 7. С. 32-35.</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Игнатьев П. С., Кольнер Л. С., Индукаев К. В., Телешевский В. И. Лазерная модуляционная интерференционная микроскопия как средство контроля формы и шероховатости оптических поверхностей // Измерительная техника. 2015. № 7. С. 32-35.</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit13"><label>13</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Григорьев С. Н., Андреев А. Г., Игнатьев П. С., Индукаев К. В., Кольнер Л. С., Осипов П. А. Метрологическая аттестация лазерных микроскопов на основе принципов модуляционной интерферометрии с управляемым фазовым сдвигом // Вестник МГТУ «Станкин». 2015. № 3 (34). С. 67-75.</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Григорьев С. Н., Андреев А. Г., Игнатьев П. С., Индукаев К. В., Кольнер Л. С., Осипов П. А. Метрологическая аттестация лазерных микроскопов на основе принципов модуляционной интерферометрии с управляемым фазовым сдвигом // Вестник МГТУ «Станкин». 2015. № 3 (34). С. 67-75.</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit14"><label>14</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Гришин С. Г. Оценка фазовой погрешности в гетеродинных лазерных интерференционных измерительных системах // Измерительная техника. 2011. № 8. С. 11-13.</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Гришин С. Г. Оценка фазовой погрешности в гетеродинных лазерных интерференционных измерительных системах // Измерительная техника. 2011. № 8. С. 11-13.</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit15"><label>15</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">ГОСТ Р 8.736-2011. ГСИ. Государственная система обеспечения единства измерений. Измерения прямые многократные. Методы обработки результатов измерений. Основные положения.</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">ГОСТ Р 8.736-2011. ГСИ. Государственная система обеспечения единства измерений. Измерения прямые многократные. Методы обработки результатов измерений. Основные положения.</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit16"><label>16</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Мастеренко Д. А. Информационный аспект статистической обработки сильно дискретизованных наблюдений (байесовский подход) // Вестник МГТУ «Станкин». 2011. № 3 (15). С. 150-155.</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Мастеренко Д. А. Информационный аспект статистической обработки сильно дискретизованных наблюдений (байесовский подход) // Вестник МГТУ «Станкин». 2011. № 3 (15). С. 150-155.</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit17"><label>17</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Мастеренко Д. А. Выбор наилучшей оценки измеряемой величины по сильно дискретизованным наблюдениям // Измерительная техника. 2011. № 7. С. 17-20.</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Мастеренко Д. А. Выбор наилучшей оценки измеряемой величины по сильно дискретизованным наблюдениям // Измерительная техника. 2011. № 7. С. 17-20.</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit18"><label>18</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Мастеренко Д. А. Исследование оценок параметров линейной статистической модели по сильно дискретизованным наблюдениям // Вестник МГТУ «Станкин». 2012. № 3 (22). С. 89-93.</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Мастеренко Д. А. Исследование оценок параметров линейной статистической модели по сильно дискретизованным наблюдениям // Вестник МГТУ «Станкин». 2012. № 3 (22). С. 89-93.</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit19"><label>19</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Мастеренко Д. А. Повышение точности информационно-измерительных систем автоматизированного производства на основе методов статистической обработки сильно дискретизованных наблюдений / Автореф. дис. на соиск. уч. степ. докт. техн. наук. М.: МГТУ «СТАНКИН», 2015.</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Мастеренко Д. А. Повышение точности информационно-измерительных систем автоматизированного производства на основе методов статистической обработки сильно дискретизованных наблюдений / Автореф. дис. на соиск. уч. степ. докт. техн. наук. М.: МГТУ «СТАНКИН», 2015.</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit20"><label>20</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">ГОСТ Р ИСО 5725-1-2002. Точность (правильность и прецизионность) методов и результатов измерений. Ч. 1. Основные положения и определения.</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">ГОСТ Р ИСО 5725-1-2002. Точность (правильность и прецизионность) методов и результатов измерений. Ч. 1. Основные положения и определения.</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit21"><label>21</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">ГОСТ Р ИСО 5725-2-2002. Точность (правильность и прецизионность) методов и результатов измерений. Ч. 2. Основной метод определения повторяемости и воспроизводимости стандартного метода измерений.</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">ГОСТ Р ИСО 5725-2-2002. Точность (правильность и прецизионность) методов и результатов измерений. Ч. 2. Основной метод определения повторяемости и воспроизводимости стандартного метода измерений.</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit22"><label>22</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">ГОСТ Р ИСО 5725-3-2002. Точность (правильность и прецизионность) методов и результатов измерений. Ч. 3. Промежуточные показатели прецизионности стандартного метода измерений.</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">ГОСТ Р ИСО 5725-3-2002. Точность (правильность и прецизионность) методов и результатов измерений. Ч. 3. Промежуточные показатели прецизионности стандартного метода измерений.</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit23"><label>23</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">ГОСТ Р ИСО 5725-4-2002. Точность (правильность и прецизионность) методов и результатов измерений. Ч. 4. Основные методы определения правильности стандартного метода измерений.</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">ГОСТ Р ИСО 5725-4-2002. Точность (правильность и прецизионность) методов и результатов измерений. Ч. 4. Основные методы определения правильности стандартного метода измерений.</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit24"><label>24</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">ГОСТ Р ИСО 5725-5-2002. Точность (правильность и прецизионность) методов и результатов измерений. Ч. 5. Альтернативные методы определения прецизионности стандартного метода измерений.</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">ГОСТ Р ИСО 5725-5-2002. Точность (правильность и прецизионность) методов и результатов измерений. Ч. 5. Альтернативные методы определения прецизионности стандартного метода измерений.</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit25"><label>25</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">ГОСТ Р ИСО 5725-6-2002. Точность (правильность и прецизионность) методов и результатов измерений. Ч. 6. Использование значений точности на практике.</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">ГОСТ Р ИСО 5725-6-2002. Точность (правильность и прецизионность) методов и результатов измерений. Ч. 6. Использование значений точности на практике.</mixed-citation></citation-alternatives></ref></ref-list><fn-group><fn fn-type="conflict"><p>The authors declare that there are no conflicts of interest present.</p></fn></fn-group></back></article>
