Предложен новый фемтосекундный корреляционный нелинейно-оптический профилометр с микрометровым пространственным разрешением для повышения точности измерений профиля неоднородности поверхности на расстоянии до 1 км. Принцип работы данного профилометра основан на определении расстояния до сканируемого объекта методом измерений временного интервала между последовательностями опорных (зондирующих) и отражённых фемтосекундных лазерных импульсов. Далее восстанавливается профиль шероховатой поверхности с помощью одномерного пространственного распределения излучения второй гармоники при пространственно-временном совмещении последовательностей зондирующих и отражённых импульсов в нелинейном кристалле. Показано, что пространственное разрешение профилометра составляет не более 5 мкм.
For improving the measurement accuracy of the profile of surface irregularities at a distance of 1 km a new femtosecond correlation nonlinear optical profiler with a micron spatial resolution is offered. In the proposed profilometer at first the distance to the object to be scanned by measuring the interval between the sequences of the reference (probing) and reflected femtosecond laser pulses is determined. Then the profile of the rough surface by measuring the one-dimensional spatial distribution of the second harmonic radiation when performing the space-time alignment of the probe and reflected pulse sequences in a nonlinear crystal is restored. It is shown that the spatial resolution of the profilometer is not more than 5 microns.
The authors declare that there are no conflicts of interest present.