<?xml version="1.0" encoding="UTF-8"?>
<!DOCTYPE article PUBLIC "-//NLM//DTD JATS (Z39.96) Journal Publishing DTD v1.3 20210610//EN" "JATS-journalpublishing1-3.dtd">
<article article-type="research-article" dtd-version="1.3" xmlns:mml="http://www.w3.org/1998/Math/MathML" xmlns:xlink="http://www.w3.org/1999/xlink" xmlns:xsi="http://www.w3.org/2001/XMLSchema-instance" xml:lang="ru"><front><journal-meta><journal-id journal-id-type="publisher-id">izmertech</journal-id><journal-title-group><journal-title xml:lang="ru">Измерительная техника</journal-title><trans-title-group xml:lang="en"><trans-title>Izmeritel`naya Tekhnika</trans-title></trans-title-group></journal-title-group><issn pub-type="ppub">0368-1025</issn><issn pub-type="epub">2949-5237</issn><publisher><publisher-name>ФГУП "ВНИИФТРИ"</publisher-name></publisher></journal-meta><article-meta><article-id custom-type="elpub" pub-id-type="custom">izmertech-761</article-id><article-categories><subj-group subj-group-type="heading"><subject>Research Article</subject></subj-group><subj-group subj-group-type="section-heading" xml:lang="ru"><subject>НАНОМЕТРОЛОГИЯ</subject></subj-group></article-categories><title-group><article-title>Динамический метод наноиндентирования</article-title><trans-title-group xml:lang="en"><trans-title></trans-title></trans-title-group></title-group><contrib-group><contrib contrib-type="author" corresp="yes"><name-alternatives><name name-style="eastern" xml:lang="ru"><surname>Мещеряков</surname><given-names>В. В.</given-names></name></name-alternatives><email xlink:type="simple">noemail@neicon.ru</email><xref ref-type="aff" rid="aff-1"/></contrib><contrib contrib-type="author" corresp="yes"><name-alternatives><name name-style="eastern" xml:lang="ru"><surname>Масленников</surname><given-names>В. В.</given-names></name></name-alternatives><email xlink:type="simple">noemail@neicon.ru</email><xref ref-type="aff" rid="aff-2"/></contrib><contrib contrib-type="author" corresp="yes"><name-alternatives><name name-style="eastern" xml:lang="ru"><surname>Мелекесов</surname><given-names>Э. В.</given-names></name></name-alternatives><email xlink:type="simple">noemail@neicon.ru</email><xref ref-type="aff" rid="aff-3"/></contrib></contrib-group><aff xml:lang="ru" id="aff-1"><institution>Национальный исследовательский ядерный университет «МИФИ»; Технологический институт сверхтвёрдых и новых углеродных материалов</institution><country>Russian Federation</country></aff><aff xml:lang="ru" id="aff-2"><institution>Национальный исследовательский ядерный университет «МИФИ»</institution><country>Russian Federation</country></aff><aff xml:lang="ru" id="aff-3"><institution>Технологический институт сверхтвёрдых и новых углеродных материалов</institution><country>Russian Federation</country></aff><pub-date pub-type="collection"><year>2017</year></pub-date><pub-date pub-type="epub"><day>07</day><month>02</month><year>2023</year></pub-date><volume>0</volume><issue>8</issue><fpage>15</fpage><lpage>19</lpage><permissions><copyright-statement>Copyright &amp;#x00A9; ФГУП "ВНИИФТРИ", 2023</copyright-statement><copyright-year>2023</copyright-year><copyright-holder xml:lang="ru">ФГУП "ВНИИФТРИ"</copyright-holder><copyright-holder xml:lang="en">ФГУП "ВНИИФТРИ"</copyright-holder><license xlink:href="https://www.izmt.ru/jour/about/submissions#copyrightNotice" xlink:type="simple"><license-p>https://www.izmt.ru/jour/about/submissions#copyrightNotice</license-p></license></permissions><self-uri xlink:href="https://www.izmt.ru/jour/article/view/761">https://www.izmt.ru/jour/article/view/761</self-uri><abstract><p>Предложен новый динамический метод измерения локального значения твёрдости и контактной жёсткости в наномасштабном диапазоне с использованием зонда в режиме автоколебаний на частоте собственного резонанса. Показана возможность измерения силы контактного взаимодействия зонда с образцом в диапазоне от десяти до нескольких сотен микроньютонов по сдвигу частоты собственного резонанса зонда при разрешении до сотни наноньютонов. Достоинством метода является отсутствие дрейфовой составляющей измерительного сигнала на временном интервале испытательного цикла. Это обеспечивает работоспособность метода без специальных условий вибро- и термоизоляции, необходимых при инструментальном индентировании.</p></abstract><trans-abstract xml:lang="en"><p>A new dynamic method for measuring the hardness and stiffness of the contact at the nanoscale, which provides comparable values in terms of accuracy with "static" method of instrumental indentation at greatly reduced demands on the vibration and thermal insulation of the measuring head is proposed. The main idea is to use a probe in the self-oscillation mode on the eigenfrequency. The article describes the possibility of measuring the force of contact interaction of the probe with the sample in the range of up to mN units by shift of eigenfrequency of probe that provides a force value resolution to hundreds nN.</p></trans-abstract><kwd-group xml:lang="ru"><kwd>нанотвёрдость</kwd><kwd>жёсткость</kwd><kwd>инструментальное индентирование</kwd><kwd>модуль Юнга</kwd><kwd>частота собственного резонанса зонда</kwd><kwd>nanohardness</kwd><kwd>stiffness</kwd><kwd>instrumental indentation</kwd><kwd>Young's modulus</kwd><kwd>the resonant eigenfrequency of probe</kwd></kwd-group></article-meta></front><back><ref-list><title>References</title><ref id="cit1"><label>1</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Oliver W. C., Pharr G. M. Measurement of hardness and elastic modulus by instrumented indentation: Advances in understanding and refinements to methodology // J. Mater. Res. 2004. V. 19. No. 1. P. 3-20.</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Oliver W. C., Pharr G. M. Measurement of hardness and elastic modulus by instrumented indentation: Advances in understanding and refinements to methodology // J. Mater. Res. 2004. V. 19. No. 1. P. 3-20.</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit2"><label>2</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">ГОСТ Р 8.748-2011. Измерение твёрдости и других характеристик материалов при инструментальном индентировании.</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">ГОСТ Р 8.748-2011. Измерение твёрдости и других характеристик материалов при инструментальном индентировании.</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit3"><label>3</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Головин Ю. И. Наноиндентирование и механические свойства твердых тел в субмикрообьёмах, тонких приповерхностных слоях и плёнках (Обзор)// Физика твердого тела. 2008. Т. 50. Вып. 12. С. 2113-2142.</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Головин Ю. И. Наноиндентирование и механические свойства твердых тел в субмикрообьёмах, тонких приповерхностных слоях и плёнках (Обзор)// Физика твердого тела. 2008. Т. 50. Вып. 12. С. 2113-2142.</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit4"><label>4</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Asif S. A. S., Whal K. J., Colton R. J., Warren O. L. Quantitative imaging of nanoscale mechanical properties using hybrid nanoindentation and force modulation // J. Appl. Phys. 2001. V. 90. P. 1192.</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Asif S. A. S., Whal K. J., Colton R. J., Warren O. L. Quantitative imaging of nanoscale mechanical properties using hybrid nanoindentation and force modulation // J. Appl. Phys. 2001. V. 90. P. 1192.</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit5"><label>5</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Giessibl F. J., Piemeier F., Eguchi T., An T., Hasegawa Yu. Comparison of force sensors for atomic force microscopy based on quartz tuning forks and length-extensional resonators // Phys. Rev. 2011. V. B 84. Р. 125409.</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Giessibl F. J., Piemeier F., Eguchi T., An T., Hasegawa Yu. Comparison of force sensors for atomic force microscopy based on quartz tuning forks and length-extensional resonators // Phys. Rev. 2011. V. B 84. Р. 125409.</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit6"><label>6</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Ooe H, Fujii M., Tomitori M., Arai T. Evaluation and optimization of quartz resonant-frequency retuned fork force sensors with high Q factors, and the associated electric circuits, for non-contact atomic force microscopy // Rev. Sci. Instrum. 2016. V.87. Р. 023702. doi: 10.1063/1.4941065.</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Ooe H, Fujii M., Tomitori M., Arai T. Evaluation and optimization of quartz resonant-frequency retuned fork force sensors with high Q factors, and the associated electric circuits, for non-contact atomic force microscopy // Rev. Sci. Instrum. 2016. V.87. Р. 023702. doi: 10.1063/1.4941065.</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit7"><label>7</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Sidney R. Cohen, Estelle Kalfon-Cohen. Dynamic nanoindentation by instrumented nanoindentation and force microscopy: A comparative review // Beilstein J. Nanotechnol. 2013. V.4. P. 815-833. doi:10.3762/bjnano.4.93.</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Sidney R. Cohen, Estelle Kalfon-Cohen. Dynamic nanoindentation by instrumented nanoindentation and force microscopy: A comparative review // Beilstein J. Nanotechnol. 2013. V.4. P. 815-833. doi:10.3762/bjnano.4.93.</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit8"><label>8</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Sader J. E., Jarvis S. P. Accurate formulas for interaction force and energy in frequency modulation force spectroscopy //Appl. Phys. Lett. 2004. V. 84. No.10. P. 1801-1803. doi:10.1063/1.1667267.</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Sader J. E., Jarvis S. P. Accurate formulas for interaction force and energy in frequency modulation force spectroscopy //Appl. Phys. Lett. 2004. V. 84. No.10. P. 1801-1803. doi:10.1063/1.1667267.</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit9"><label>9</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Гоголинский К. В., Решетов В.Н., Усеинов А.С. Измерение твердости в субмикронном и нанометровом диапазонах линейных размеров // Мир измерений. 2010. № 8. С. 41-47.</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Гоголинский К. В., Решетов В.Н., Усеинов А.С. Измерение твердости в субмикронном и нанометровом диапазонах линейных размеров // Мир измерений. 2010. № 8. С. 41-47.</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit10"><label>10</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Meshtcheryakov V. V., Meshtcheryakov A. V. Scan speed control for tapping mode SPM // Nanoscale Res. Lett. 2012. V. 7. No. 1. P. 121-125.</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Meshtcheryakov V. V., Meshtcheryakov A. V. Scan speed control for tapping mode SPM // Nanoscale Res. Lett. 2012. V. 7. No. 1. P. 121-125.</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit11"><label>11</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Сивухин Д. В. Общий курс физики. Учеб. пособие: для вузов. В 5 т. Т.I. Механика. М.: ФИЗМАТЛИТ, 2005.</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Сивухин Д. В. Общий курс физики. Учеб. пособие: для вузов. В 5 т. Т.I. Механика. М.: ФИЗМАТЛИТ, 2005.</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit12"><label>12</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Крылов Н. М., Боголюбов Н. Н. Введение в нелинейную механику. Москва, Ижевск: НИЦ «Регулярная и хаотическая динамика», 2004.</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Крылов Н. М., Боголюбов Н. Н. Введение в нелинейную механику. Москва, Ижевск: НИЦ «Регулярная и хаотическая динамика», 2004.</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit13"><label>13</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Бесекерский В. А., Попов Е. И. Теория систем автоматического управления. СПб.: Изд-во «Профессия», 2003.</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Бесекерский В. А., Попов Е. И. Теория систем автоматического управления. СПб.: Изд-во «Профессия», 2003.</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit14"><label>14</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Масленников В. В., Мещеряков В. В., Довгополая Е. А. Метод анализа САР, описываемых математической моделью с кубическим характеристическим уравнением // Автоматика и Телемеханика. 2016. № 12. С. 59-69.</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Масленников В. В., Мещеряков В. В., Довгополая Е. А. Метод анализа САР, описываемых математической моделью с кубическим характеристическим уравнением // Автоматика и Телемеханика. 2016. № 12. С. 59-69.</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit15"><label>15</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Pal Jen Wei, Jen Fin Lin. Modified method for continuous stiffness measurement // J. Mater. Res. 2009. V. 24. No. 3. P. 599-606.</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Pal Jen Wei, Jen Fin Lin. Modified method for continuous stiffness measurement // J. Mater. Res. 2009. V. 24. No. 3. P. 599-606.</mixed-citation></citation-alternatives></ref></ref-list><fn-group><fn fn-type="conflict"><p>The authors declare that there are no conflicts of interest present.</p></fn></fn-group></back></article>
