izmertechИзмерительная техникаIzmeritel`naya Tekhnika0368-10252949-5237ФГУП "ВНИИФТРИ"izmertech-716Research ArticleЭЛЕКТРОМАГНИТНЫЕ ИЗМЕРЕНИЯELECTROMAGNETIC MEASUREMENTSШум квантования дельта-сигма аналого-цифрового преобразователя для различных законов изменения входного сигналаДиденкоВ. И.didenkovi@mail.ruИвановА. В.noemail@neicon.ruВороновА. С.noemail@neicon.ruНациональный исследовательский университет «МЭИ»Russian FederationОАО «Московское конструкторское бюро «Компас»Russian Federation201307022023045761Copyright © Диденко В.И., Иванов А.В., Воронов А.С., 20232023Диденко В.И., Иванов А.В., Воронов А.С.Диденко В.И., Иванов А.В., Воронов А.С.Данная работа распространяется под лицензией Creative Commons Attribution 4.0.This work is licensed under a Creative Commons Attribution 4.0 License.https://www.izmt.ru/jour/article/view/716

Рассмотрены шумы квантования на выходах модулятора и цифрового фильтра дельта-сигма аналого-цифрового преобразователя. Аналитическое и имитационное моделирование использовано при различных законах изменения входного сигнала и для различной реализации цифрового фильтра.

Quantization noise is investigated at the outputs of a modulator and a digital filter for delta-sigma analog-to-digital converter (ADC). Modeling and simulation were used for different laws of input signal change and several realizations of the digital filter.

дельта-сигма аналого-цифровой преобразовательшум квантованияdelta-sigma ADCquantization noiseReferencesДиденко В. И., Иванов А. В. Метрологический подход к исследованию шума квантования // Измерительная техника. 2009. № 5. С. 51–55; Didenko V. I., Ivanov A. V. A metrological approach to the investigation of the quantization noise of delta-sigma ADCs // Measurements Techniques. 2009. V. 52. N 5. P. 521–527.Диденко В. И., Иванов А. В. Метрологический подход к исследованию шума квантования // Измерительная техника. 2009. № 5. С. 51–55; Didenko V. I., Ivanov A. V. A metrological approach to the investigation of the quantization noise of delta-sigma ADCs // Measurements Techniques. 2009. V. 52. N 5. P. 521–527.Bennett W. R. Spectra of Quantized Signals // Bell Systems Techn. J. 1948. V. 27. P. 446–472.Bennett W. R. Spectra of Quantized Signals // Bell Systems Techn. J. 1948. V. 27. P. 446–472.Шахов Э. К. SD-АЦП: процессы передискретизации, шейпинга шкма квантования и децимации //Датчики и системы. 2006. № 11. С. 50–57.Шахов Э. К. SD-АЦП: процессы передискретизации, шейпинга шкма квантования и децимации //Датчики и системы. 2006. № 11. С. 50–57.Sigma-Delta ADC’s&DAC’s // Appl. Note AN-283. Analog Devices (USA), 1993 [Электрон. ресурс]. http://www.analog.com/static/imported-files/application_notes/292524291525717245054923680458171AN283.pdf (дата обращения: 16.12.2012 г.).Sigma-Delta ADC’s&DAC’s // Appl. Note AN-283. Analog Devices (USA), 1993 [Электрон. ресурс]. http://www.analog.com/static/imported-files/application_notes/292524291525717245054923680458171AN283.pdf (дата обращения: 16.12.2012 г.).Диденко В. И., Тепловодский А. В., Иванов А. В. Точность моделирования измерительных устройств //Датчики и системы. 2009. № 7. С. 56–62.Диденко В. И., Тепловодский А. В., Иванов А. В. Точность моделирования измерительных устройств //Датчики и системы. 2009. № 7. С. 56–62.Didenko V. I, Ivanov A. V., Teplovodskiy A. V. New approach to theory of sigma-delta analog-to-digital converters // Proc. 15th IMECO TC4 Symp. and 12th Workshop on ADC Modelling and Testing. Iaşi (Rumania), 2007. P. 3–8.Didenko V. I, Ivanov A. V., Teplovodskiy A. V. New approach to theory of sigma-delta analog-to-digital converters // Proc. 15th IMECO TC4 Symp. and 12th Workshop on ADC Modelling and Testing. Iaşi (Rumania), 2007. P. 3–8.Didenko V. I., Ivanov A. V. Distribution Laws of Quantization Noise for Sigma-Delta Modulator // Proc. 16th IMECO TC4 Symp. and 13th Workshop on ADC Modelling and Testing. Florence (Italy), 2008. P. 995–1000.Didenko V. I., Ivanov A. V. Distribution Laws of Quantization Noise for Sigma-Delta Modulator // Proc. 16th IMECO TC4 Symp. and 13th Workshop on ADC Modelling and Testing. Florence (Italy), 2008. P. 995–1000.Didenko V. I., Movchan A. L. Minimization of number of metrological parameters for data acquisition systems // IEEE Trans. Instrum. and Measur. 2002. V. 51. P. 88–91.Didenko V. I., Movchan A. L. Minimization of number of metrological parameters for data acquisition systems // IEEE Trans. Instrum. and Measur. 2002. V. 51. P. 88–91.Пугачев В. С. Теория вероятностей и математическая статистика. М.: Наука, 1979.Пугачев В. С. Теория вероятностей и математическая статистика. М.: Наука, 1979.IEEE 1241. Standard of terminology and test methods for analog-to-digital converters. 1996.IEEE 1241. Standard of terminology and test methods for analog-to-digital converters. 1996.Massey F. J. The Kolmogorov–Smirnov test for goodness of fit // J. American Statistical Association. 1951. V. 46. N 253. P. 68–78.Massey F. J. The Kolmogorov–Smirnov test for goodness of fit // J. American Statistical Association. 1951. V. 46. N 253. P. 68–78.Jarque С. М., Bera A. K. A test for normality of observations and regression residuals // Int. Statistical Rev. 1987. V. 55. N 2. P. 163–172.Jarque С. М., Bera A. K. A test for normality of observations and regression residuals // Int. Statistical Rev. 1987. V. 55. N 2. P. 163–172.

The authors declare that there are no conflicts of interest present.