izmertechИзмерительная техникаIzmeritel`naya Tekhnika0368-10252949-5237ФГУП "ВНИИФТРИ"izmertech-710Research ArticleОПТИКО-ФИЗИЧЕСКИЕ ИЗМЕРЕНИЯOPTICOPHYSICAL MEASUREMENTSПотери в самокалибрующихся трап-детекторах за счет диффузного рассеянияКовалевА. А.noemail@neicon.ruЛиберманА. А.noemail@neicon.ruМикрюковА. С.noemail@neicon.ruМоскалюкС. А.mrsergik@mail.ruВсероссийский научно-исследовательский институт оптико-физических измеренийRussian Federation201307022023043842Copyright © ФГУП "ВНИИФТРИ", 20232023ФГУП "ВНИИФТРИ"ФГУП "ВНИИФТРИ"https://www.izmt.ru/jour/about/submissions#copyrightNoticehttps://www.izmt.ru/jour/article/view/710

Проанализированы потери в трап-детекторе в результате поглощения на его стенках части диффузно-рассеянного лазерного излучения. Приведены результаты измерений индикатрис диффузно-рассеянного излучения от рабочих поверхностей фотодиодов Hamamatsu S6337, S1337. Построена приближенная модель распространения излучения в трап-детекторе, учитывающая реальную форму индикатрис рассеяния. Изучены влияние количества актов диффузного рассеяния излучения и числа его отражений на точность расчета рассматриваемых потерь и их зависимость от поляризации падающего лазерного излучения.

The losses in the trap detector due to absorption of diffusely scattered laser radiation on its walls are analyzed. The measurements results for the indicatrix of this radiation from the working surface of photodiodes Hamamatsu S6337 and S1337 are given. The approximate model of distribution of radiation in the trap detector, which takes into account the real profile of the indicatrix of scattering is constructed. The effect of acts of the diffuse scattering quantity and of the number of scattering reflections on the accuracy of the considered losses calculation is analyzed. The influence of polarization of the incident laser radiation on these losses value is investigated.

лазерное излучениетрап-детектордиффузное рассеяниеlaser emissiontrap detectordiffuse scatteringReferencesFox N. P. Trap Detectors and their Properties // Metrologia. 1991. V. 28. P. 197–202.Fox N. P. Trap Detectors and their Properties // Metrologia. 1991. V. 28. P. 197–202.Schrama C. A. e. a. Comparison of monochromator-based and laser-based cryogenic radiometry // Metrologia. 1998. V. 35. P. 431–435.Schrama C. A. e. a. Comparison of monochromator-based and laser-based cryogenic radiometry // Metrologia. 1998. V. 35. P. 431–435.Ковалев А. А. др. Определение внутренней квантовой эффективности фотодиода при помощи его вольт-амперных характеристик // Измерительная техника. 2011. № 2. С. 33–36; Kovalev A. A. e. a. Determination of the internal quantum efficiency of a photodiode by means of its current-voltage characteristic // Measurement Techniques. 2011. V.54. N 2. P. 157–161.Ковалев А. А. др. Определение внутренней квантовой эффективности фотодиода при помощи его вольт-амперных характеристик // Измерительная техника. 2011. № 2. С. 33–36; Kovalev A. A. e. a. Determination of the internal quantum efficiency of a photodiode by means of its current-voltage characteristic // Measurement Techniques. 2011. V.54. N 2. P. 157–161.Ковалев А. А. и др. Вычисление поглощенной фотодиодом мощности излучения по его экспериментальным вольт-амперным характеристикам // Измерительная техника. 2012. № 1. С. 40–43; Kovalev A. A. e. a. Calculation of the radiation power absorbed by a photodiode from its experimental current-voltage characteristics // Measurement Techniques. 2012. V.55. N 1. P. 57–62.Ковалев А. А. и др. Вычисление поглощенной фотодиодом мощности излучения по его экспериментальным вольт-амперным характеристикам // Измерительная техника. 2012. № 1. С. 40–43; Kovalev A. A. e. a. Calculation of the radiation power absorbed by a photodiode from its experimental current-voltage characteristics // Measurement Techniques. 2012. V.55. N 1. P. 57–62.Гуревич М. М. Фотометрия (теория, методы и приборы). Л.: Энергоатомиздат, 1983.Гуревич М. М. Фотометрия (теория, методы и приборы). Л.: Энергоатомиздат, 1983.Eppeldauer G. P., Lynch D. C. Opto-Mechanical and Electronic Design of a Tunnel-Trap Si Radiometer // J. Res. Natl. Inst. Stand. Technol. 2000. V. 105. P. 813–828.Eppeldauer G. P., Lynch D. C. Opto-Mechanical and Electronic Design of a Tunnel-Trap Si Radiometer // J. Res. Natl. Inst. Stand. Technol. 2000. V. 105. P. 813–828.Шерклиф У. Поляризованный свет. М.: Мир, 1965.Шерклиф У. Поляризованный свет. М.: Мир, 1965.Ландау Л. В., Лифшиц Е. М. Электродинамика сплошных сред. М.: Наука, 1982.Ландау Л. В., Лифшиц Е. М. Электродинамика сплошных сред. М.: Наука, 1982.Houston J. M., Livigni D. J. Comparison of Two Cryogenic Radiometers at NIST // J. Res. Natl. Inst. Stand. Technol. 2001. V. 106. P. 641–647.Houston J. M., Livigni D. J. Comparison of Two Cryogenic Radiometers at NIST // J. Res. Natl. Inst. Stand. Technol. 2001. V. 106. P. 641–647.

The authors declare that there are no conflicts of interest present.