izmertechИзмерительная техникаIzmeritel`naya Tekhnika0368-10252949-5237ФГУП "ВНИИФТРИ"izmertech-707Research ArticleНАНОМЕТРОЛОГИЯСтандартные образцы наночастиц Au и ZnO для калибровки малоугловых рентгеновских дифрактометровЗапорожецМ. А.noemail@neicon.ruВолковВ. В.noemail@neicon.ruСульяновС. Н.noemail@neicon.ruРустамоваЕ. Г.fil@igic.ras.ruГубинС. П.noemail@neicon.ruМитюхляевВ. Б.noemail@neicon.ruКузинА. Ю.fgupnicpv@mail.ruТодуаП. А.noemail@neicon.ruАвиловА. С.noemail@neicon.ruИнститут кристаллографии им. А. В. ШубниковаRussian FederationИнститут общей и неорганической химии им. Н. С. КурнаковаRussian FederationНаучно-исследовательский центр по изучению свойств поверхности и вакуума. МоскваRussian Federation201307022023042630Copyright © Запорожец М.А., Волков В.В., Сульянов С.Н., Рустамова Е.Г., Губин С.П., Митюхляев В.Б., Кузин А.Ю., Тодуа П.А., Авилов А.С., 20232023Запорожец М.А., Волков В.В., Сульянов С.Н., Рустамова Е.Г., Губин С.П., Митюхляев В.Б., Кузин А.Ю., Тодуа П.А., Авилов А.С.Запорожец М.А., Волков В.В., Сульянов С.Н., Рустамова Е.Г., Губин С.П., Митюхляев В.Б., Кузин А.Ю., Тодуа П.А., Авилов А.С.Данная работа распространяется под лицензией Creative Commons Attribution 4.0.This work is licensed under a Creative Commons Attribution 4.0 License.https://www.izmt.ru/jour/article/view/707

Разработаны стандартные образцы на основе наночастиц Au и ZnO для калибровки малоугловых рентгеновских дифрактометров. Структурные параметры полученных стандартных образцов измерены при помощи просвечивающего электронного микроскопа. Подтверждены средние значения размерных параметров наночастиц и осуществлена дополнительная характеризация стандартных образцов с использованием комплекса методов исследования, включающего оптическую спектроскопию, рентгенофазный анализ и синхротронное излучение.

The certified reference materials (CRM) based on Au nanoparticles and ZnO for small-angle X-ray diffractometers calibration are developed. The structure parameters of CRM have been measured by transmission electron microscope. The confirmation of the mean values of the nanoparticles size parameters and additional characterization of CRM is carried out by means of the several research methods, such as optical spectroscopy, X-ray phase analysis and synchrotron radiation.

стандартные образцынаночастицымалоугловые рентгеновские дифрактометрыпросвечивающий электронный микроскопкалибровкаcertified reference materialsnanoparticlessmall-angle X-ray diffractometerstransmission electron microscopecalibrationReferencesSun D. е. а. Purification and stabilization of colloidal ZnO nanoparticles in methanol // J. Sol-Gel Sci Technol. 2007. V. 43. Р. 237–243.Sun D. е. а. Purification and stabilization of colloidal ZnO nanoparticles in methanol // J. Sol-Gel Sci Technol. 2007. V. 43. Р. 237–243.Небукина Е. Г., Аршакуни А. А., Губин С. П. Наночастицы оксида цинка в матрице этиленпроплендиенового каучука // Журнал неорганической химии. 2009. Т. 54. № 11. С. 1763–1766.Небукина Е. Г., Аршакуни А. А., Губин С. П. Наночастицы оксида цинка в матрице этиленпроплендиенового каучука // Журнал неорганической химии. 2009. Т. 54. № 11. С. 1763–1766.ГОСТ 8.736–2013. ГСИ. Прямые измерения с многократными наблюдениями. Методы обработки результатов наблюдений. Основные положения.ГОСТ 8.736–2013. ГСИ. Прямые измерения с многократными наблюдениями. Методы обработки результатов наблюдений. Основные положения.Sulyanov S. N., Popov A. N., Kheiker D. M. Using a two-dimensional detector for X-ray powder diffractometry // J. Appl. Cryst. 1994. V. 27. P. 934–942.Sulyanov S. N., Popov A. N., Kheiker D. M. Using a two-dimensional detector for X-ray powder diffractometry // J. Appl. Cryst. 1994. V. 27. P. 934–942.Sulyanov S. е. а. 2θ-scanning 2D-area detector for high quality powder data collection using synchrotron radiation // Kristallogr. Proc. 2011. V.1. P.175–180.Sulyanov S. е. а. 2θ-scanning 2D-area detector for high quality powder data collection using synchrotron radiation // Kristallogr. Proc. 2011. V.1. P.175–180.Хейкер Д. М. и др. //Кристаллография. 2007. № 2. Р. 374–380.Хейкер Д. М. и др. //Кристаллография. 2007. № 2. Р. 374–380.Boultif A., Louer D. Powder pattern indexing with the dichotomy method. // J. Appl. Cryst. 2004. V. 37. P. 724–731.Boultif A., Louer D. Powder pattern indexing with the dichotomy method. // J. Appl. Cryst. 2004. V. 37. P. 724–731.

The authors declare that there are no conflicts of interest present.