<?xml version="1.0" encoding="UTF-8"?>
<!DOCTYPE article PUBLIC "-//NLM//DTD JATS (Z39.96) Journal Publishing DTD v1.3 20210610//EN" "JATS-journalpublishing1-3.dtd">
<article article-type="research-article" dtd-version="1.3" xmlns:mml="http://www.w3.org/1998/Math/MathML" xmlns:xlink="http://www.w3.org/1999/xlink" xmlns:xsi="http://www.w3.org/2001/XMLSchema-instance" xml:lang="ru"><front><journal-meta><journal-id journal-id-type="publisher-id">izmertech</journal-id><journal-title-group><journal-title xml:lang="ru">Измерительная техника</journal-title><trans-title-group xml:lang="en"><trans-title>Izmeritel`naya Tekhnika</trans-title></trans-title-group></journal-title-group><issn pub-type="ppub">0368-1025</issn><issn pub-type="epub">2949-5237</issn><publisher><publisher-name>ФГУП "ВНИИФТРИ"</publisher-name></publisher></journal-meta><article-meta><article-id custom-type="elpub" pub-id-type="custom">izmertech-637</article-id><article-categories><subj-group subj-group-type="heading"><subject>Research Article</subject></subj-group><subj-group subj-group-type="section-heading" xml:lang="ru"><subject>ОБЩИЕ ВОПРОСЫ МЕТРОЛОГИИ И ИЗМЕРИТЕЛЬНОЙ ТЕХНИКИ</subject></subj-group><subj-group subj-group-type="section-heading" xml:lang="en"><subject>GENERAL PROBLEMS OF METROLOGY AND MEASUREMENT TECHNIQUES</subject></subj-group></article-categories><title-group><article-title>Анализ достоверности измерительного контроля энергопроизводительности фотоэлектрических модулей</article-title><trans-title-group xml:lang="en"><trans-title></trans-title></trans-title-group></title-group><contrib-group><contrib contrib-type="author" corresp="yes"><name-alternatives><name name-style="eastern" xml:lang="ru"><surname>Богомолова</surname><given-names>С. А.</given-names></name></name-alternatives><email xlink:type="simple">s_bogomolova@mail.ru</email><xref ref-type="aff" rid="aff-1"/></contrib><contrib contrib-type="author" corresp="yes"><name-alternatives><name name-style="eastern" xml:lang="ru"><surname>Лукашов</surname><given-names>Ю. Е.</given-names></name></name-alternatives><email xlink:type="simple">luksh103@vniims.ru</email><xref ref-type="aff" rid="aff-2"/></contrib><contrib contrib-type="author" corresp="yes"><name-alternatives><name name-style="eastern" xml:lang="ru"><surname>Шварц</surname><given-names>М. З.</given-names></name></name-alternatives><email xlink:type="simple">shvarts@scell.ioffe.ru</email><xref ref-type="aff" rid="aff-3"/></contrib></contrib-group><aff xml:lang="ru" id="aff-1"><institution>Чувашский государственный университет им. И. Н. Ульянова</institution><country>Russian Federation</country></aff><aff xml:lang="ru" id="aff-2"><institution>Всероссийский научно-исследовательский институт метрологической службы</institution><country>Russian Federation</country></aff><aff xml:lang="ru" id="aff-3"><institution>Физико-технический институт им. А. Ф. Иоффе РАН</institution><country>Russian Federation</country></aff><pub-date pub-type="collection"><year>2014</year></pub-date><pub-date pub-type="epub"><day>07</day><month>02</month><year>2023</year></pub-date><volume>0</volume><issue>12</issue><fpage>6</fpage><lpage>10</lpage><permissions><copyright-statement>Copyright &amp;#x00A9; ФГУП "ВНИИФТРИ", 2023</copyright-statement><copyright-year>2023</copyright-year><copyright-holder xml:lang="ru">ФГУП "ВНИИФТРИ"</copyright-holder><copyright-holder xml:lang="en">ФГУП "ВНИИФТРИ"</copyright-holder><license xlink:href="https://www.izmt.ru/jour/about/submissions#copyrightNotice" xlink:type="simple"><license-p>https://www.izmt.ru/jour/about/submissions#copyrightNotice</license-p></license></permissions><self-uri xlink:href="https://www.izmt.ru/jour/article/view/637">https://www.izmt.ru/jour/article/view/637</self-uri><abstract><p>Представлена методика анализа результатов измерений нормируемых выходных характеристик фотоэлектрических модулей при описании системы контроля их энергопроизводительности. Определены статистические характеристики распределений вероятностей нормируемых параметров и погрешностей оценок их значений. Сформирована математическая модель описания вероятностей ошибок 1-го и 2-го рода в зависимости от стандартных неопределенностей трех основных нормируемых фотоэлектрических параметров. При заданном показателе достоверности контроля (суммарном риске потребителя) определены стандартные неопределенности фотоэлектрических параметров.</p></abstract><trans-abstract xml:lang="en"><p>A procedure of data analysis at description of the system of measuring control of photoelectric module power generation - is presented. The statistical characteristics of probability distributions for normalized parameters and for errors of their values estimation have been determined. A mathematical model for describing the probabilities of I and II type errors depending on standard uncertainties for three basic photoelectric parameters has been formed. At the preset value of control reliability indicator (consumer total risk) the values of standard uncertainties of photoelectric parameters have been determined.</p></trans-abstract><kwd-group xml:lang="ru"><kwd>измерительный контроль</kwd><kwd>достоверность</kwd><kwd>фотоэлектрический модуль</kwd><kwd>энергопроизводительность</kwd><kwd>фотоэлектрические параметры</kwd><kwd>measuring control</kwd><kwd>reliability</kwd><kwd>photoelectric module</kwd><kwd>power generation</kwd><kwd>photoelectric characteristics</kwd></kwd-group></article-meta></front><back><ref-list><title>References</title><ref id="cit1"><label>1</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">JCGM 106. Оценивание данных измерений. Роль неопределенности измерения в оценке соответствия</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">JCGM 106. Оценивание данных измерений. Роль неопределенности измерения в оценке соответствия</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit2"><label>2</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">ГОСТ Р ИСО 10576-1-2006. Статистические методы. Руководство по оценке соответствия установленным требованиям. Часть 1. Общие принципы.</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">ГОСТ Р ИСО 10576-1-2006. Статистические методы. Руководство по оценке соответствия установленным требованиям. Часть 1. Общие принципы.</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit3"><label>3</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Руководство МЭК 115:2007. Применение неопределенности измерения в деятельности по оценке соответствия в электротехнике.</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Руководство МЭК 115:2007. Применение неопределенности измерения в деятельности по оценке соответствия в электротехнике.</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit4"><label>4</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">ГОСТ Р 8.731-2010. ГСИ. Системы допускового контроля. Основные положения</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">ГОСТ Р 8.731-2010. ГСИ. Системы допускового контроля. Основные положения</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit5"><label>5</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Дунаев Б. Б. Точность измерений при контроле качества. К.: Технiка, 1981.</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Дунаев Б. Б. Точность измерений при контроле качества. К.: Технiка, 1981.</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit6"><label>6</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">МИ 1317-2004. ГСИ. Результаты и характеристики погрешности измерений. Формы представления. Способы использования при испытаниях образцов продукции и контроле их параметров.</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">МИ 1317-2004. ГСИ. Результаты и характеристики погрешности измерений. Формы представления. Способы использования при испытаниях образцов продукции и контроле их параметров.</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit7"><label>7</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Богомолова С. А., Лукашов Ю. Е., Шварц М. З. Оценка расширенной неопределенности результата измерения тока короткого замыкания тонкопленочных фотоэлектрических модулей // Измерительная техника. 2013. № 11. С. 7-12; Bogomolova S. A., Lukashov Yu. E., Shvarts M. Z. Estimate of the Expanded Uncertainty in the Result of Measuring the Short Circuit Current of Thin-Film Photovoltaic Modules // Measurement Techniques. 2014. V. 56. N. 11. P. 1209-1215.</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Богомолова С. А., Лукашов Ю. Е., Шварц М. З. Оценка расширенной неопределенности результата измерения тока короткого замыкания тонкопленочных фотоэлектрических модулей // Измерительная техника. 2013. № 11. С. 7-12; Bogomolova S. A., Lukashov Yu. E., Shvarts M. Z. Estimate of the Expanded Uncertainty in the Result of Measuring the Short Circuit Current of Thin-Film Photovoltaic Modules // Measurement Techniques. 2014. V. 56. N. 11. P. 1209-1215.</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit8"><label>8</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Bogomolova S. A., Gudovskikh A. S., Shvarts M. Z. Evaluation of the Uncertainty in Measuring IV Characteristics of the Thin-Film Modules // Proc. 28th Europ. Photovoltaic Solar Energy Conference and Exhibition. Paris (France), 2013. P. 3527-353.</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Bogomolova S. A., Gudovskikh A. S., Shvarts M. Z. Evaluation of the Uncertainty in Measuring IV Characteristics of the Thin-Film Modules // Proc. 28th Europ. Photovoltaic Solar Energy Conference and Exhibition. Paris (France), 2013. P. 3527-353.</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit9"><label>9</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Вентцель Е. С. Теория вероятностей: Учеб. для вузов. М.: Высшая школа, 1999.</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Вентцель Е. С. Теория вероятностей: Учеб. для вузов. М.: Высшая школа, 1999.</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit10"><label>10</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Руководство по выражению неопределенности измерения / Пер. с англ. СПб.: ВНИИМ им. Д. И. Менделеева, 1999.</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Руководство по выражению неопределенности измерения / Пер. с англ. СПб.: ВНИИМ им. Д. И. Менделеева, 1999.</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit11"><label>11</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">StatSoft [Офиц. сайт]. http://www.statsoft.com (дата обращения 08.08.2014 г.)</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">StatSoft [Офиц. сайт]. http://www.statsoft.com (дата обращения 08.08.2014 г.)</mixed-citation></citation-alternatives></ref></ref-list><fn-group><fn fn-type="conflict"><p>The authors declare that there are no conflicts of interest present.</p></fn></fn-group></back></article>
