izmertechИзмерительная техникаIzmeritel`naya Tekhnika0368-10252949-5237ФГУП "ВНИИФТРИ"izmertech-567Research ArticleГОСУДАРСТВЕННЫЕ ЭТАЛОНЫSTATE STANDARDSГосударственный первичный эталон единиц комплексной диэлектрической проницаемости в диапазоне частот от 1 до 178,4 ГГцЕгоровВ. Н.noemail@neicon.ruКащенкоМ. В.kashenko@niiftri.irk.ruМасаловВ. Л.noemail@neicon.ruТокареваЕ. Ю.noemail@neicon.ruНонгКУОК КУАНГ.noemail@neicon.ruВосточно-Сибирский филиал Всероссийского научно-исследовательского института физико-технических и радиотехнических измеренийRussian FederationНациональный исследовательский Иркутский государственный технический университетRussian Federation2014070220230137Copyright © ФГУП "ВНИИФТРИ", 20232023ФГУП "ВНИИФТРИ"ФГУП "ВНИИФТРИ"https://www.izmt.ru/jour/about/submissions#copyrightNoticehttps://www.izmt.ru/jour/article/view/567

Представлен состав государственного первичного эталона единиц комплексной диэлектрической проницаемости в диапазоне частот от 1 до 178,4 ГГц, методы воспроизведения и передачи размеров единиц. Описан примененный в эталоне способ цифровой обработки характеристик измерительных резонаторов. Приведены метрологические характеристики эталона и результаты измерений диэлектрических параметров эталонных мер.

The composition of national primary standard of dielectric permittivity in frequency range from 1 to 178,4 GHz, the methods of reproduction and units sizes transmission are presented. The method of digital processing of measuring resonators characteristics used in the standard is described. The metrological characteristics of standard and the measurement results of dielectric parameters of standard measures are presented.

эталондиэлектрическая проницаемостьтангенс угла диэлектрических потерьstandardpermittivitydielectric loss tangenReferencesГОСТ 27496.2-87. Материалы электроизоляционные. Методы определения диэлектрических свойств на частотах свыше 300 МГц. Резонансные методы.ГОСТ 27496.2-87. Материалы электроизоляционные. Методы определения диэлектрических свойств на частотах свыше 300 МГц. Резонансные методы.ГОСТ Р 8.623-2006. ГСИ. Относительная диэлектрическая проницаемость и тангенс угла диэлектрических потерь твердых диэлектриков. Методики выполнения измерений в диапазоне сверхвысоких частот.ГОСТ Р 8.623-2006. ГСИ. Относительная диэлектрическая проницаемость и тангенс угла диэлектрических потерь твердых диэлектриков. Методики выполнения измерений в диапазоне сверхвысоких частот.IEC 61338-1-3. Waveguide type dielectric resonators. Part 1-3: General information and test condition - Measurement method of complex relative permittivity for dielectric resonator materials at microwave frequency.IEC 61338-1-3. Waveguide type dielectric resonators. Part 1-3: General information and test condition - Measurement method of complex relative permittivity for dielectric resonator materials at microwave frequency.IEC 62562-2010. Cavity resonator method to measure the complex permittivity of low-loss dielectric plates.IEC 62562-2010. Cavity resonator method to measure the complex permittivity of low-loss dielectric plates.IEC 60377-2. Methods for the Determination of the Dielectric Properties of Insulating Materials at Frequencies Above 300 MHz. Part 2: Resonance Methods.IEC 60377-2. Methods for the Determination of the Dielectric Properties of Insulating Materials at Frequencies Above 300 MHz. Part 2: Resonance Methods.Егоров В. Н. Резонансные методы исследования диэлектриков на СВЧ (обзор) // Приборы и техника эксперимента. 2007. Т. 50. № 2. С. 5- 38.Егоров В. Н. Резонансные методы исследования диэлектриков на СВЧ (обзор) // Приборы и техника эксперимента. 2007. Т. 50. № 2. С. 5- 38.Егоров В. Н., Кащенко М. В. Измерение малых диэлектрических потерь в объемном резонаторе // Измерительная техника. 2002. №1. С. 61-65; Egorov V. N., Kashchenko M. V. The measurement of small dielectric losses in a cavity resonator // Measurement Techniques. 2002. V. 45. N. 1. P. 93-101.Егоров В. Н., Кащенко М. В. Измерение малых диэлектрических потерь в объемном резонаторе // Измерительная техника. 2002. №1. С. 61-65; Egorov V. N., Kashchenko M. V. The measurement of small dielectric losses in a cavity resonator // Measurement Techniques. 2002. V. 45. N. 1. P. 93-101.Егоров В. Н., Кащенко М. В., Онхонов Р. Р. Точность диэлектрических измерений в объемном цилиндрическом - резонаторе // Измерительная техника. 2003. № 10. С.41-45; Egorov V. N., Kashchenko M. V., Onkhonov R. R. The accuracy of dielectric measurements in a cylindrical cavity H01p-resonator // Measurement Techniques. 2003. V. 46. N. 10. P. 972-978.Егоров В. Н., Кащенко М. В., Онхонов Р. Р. Точность диэлектрических измерений в объемном цилиндрическом - резонаторе // Измерительная техника. 2003. № 10. С.41-45; Egorov V. N., Kashchenko M. V., Onkhonov R. R. The accuracy of dielectric measurements in a cylindrical cavity H01p-resonator // Measurement Techniques. 2003. V. 46. N. 10. P. 972-978.Егоров В. Н., Токарева Е. Ю. Метод металлодиэлектрического резонатора в измерениях параметров радиоматериалов // Измерительная техника. 2005. № 9. С. 65-70; Egorov V. N., Tokareva E. Yu. The Metal-Dielectric Resonator Method of Measuring the Parameters of Radio Materials // Measurement Techniques. 2005. V.48. N. 9. P.934-943.Егоров В. Н., Токарева Е. Ю. Метод металлодиэлектрического резонатора в измерениях параметров радиоматериалов // Измерительная техника. 2005. № 9. С. 65-70; Egorov V. N., Tokareva E. Yu. The Metal-Dielectric Resonator Method of Measuring the Parameters of Radio Materials // Measurement Techniques. 2005. V.48. N. 9. P.934-943.Взятышев В. Ф., Добромыслов В. С. Mетод дискового диэлектрического резонатора для измерения высококачественных диэлектриков в миллиметровом диапазоне длин волн // Электротехническая промышленность. Кабельная техника. 1978. Вып. 10(164). С. 6-8.Взятышев В. Ф., Добромыслов В. С. Mетод дискового диэлектрического резонатора для измерения высококачественных диэлектриков в миллиметровом диапазоне длин волн // Электротехническая промышленность. Кабельная техника. 1978. Вып. 10(164). С. 6-8.Егоров В. Н., Костромин В. В. Методика измерения полимеров в миллиметровом диапазоне волн при температурах 4,2…350 К // Электронная техника. Сер. Электроника СВЧ. 1988. Вып. 10(414). С. 34-37.Егоров В. Н., Костромин В. В. Методика измерения полимеров в миллиметровом диапазоне волн при температурах 4,2…350 К // Электронная техника. Сер. Электроника СВЧ. 1988. Вып. 10(414). С. 34-37.Gullen A. L. Millimeter-Wave Open Resonator Techniques // Infrared and Millimeter Waves. 1983. V. 10. Pt. 2. P. 233-281.Gullen A. L. Millimeter-Wave Open Resonator Techniques // Infrared and Millimeter Waves. 1983. V. 10. Pt. 2. P. 233-281.Егоров В. Н. Характеристики резонаторов сверхвысоких частот с нерезонансным просачиванием мощности // Изв. высш. учеб. заведений. Радиофизика. 2010. № 8. С. 493-503.Егоров В. Н. Характеристики резонаторов сверхвысоких частот с нерезонансным просачиванием мощности // Изв. высш. учеб. заведений. Радиофизика. 2010. № 8. С. 493-503.ГОСТ 8.381-2009. ГСИ. Эталоны. Способы выражения точности.ГОСТ 8.381-2009. ГСИ. Эталоны. Способы выражения точности.РМГ 43-2001. ГСИ. Применение «Руководства по выражению неопределенности измерений».РМГ 43-2001. ГСИ. Применение «Руководства по выражению неопределенности измерений».Балаханов М. В. и др. Радиотехнические эталоны для приоритетных научно-технических направлений и новейших технологий. Менделеево: Изд-во ВНИИФТРИ, 2012.Балаханов М. В. и др. Радиотехнические эталоны для приоритетных научно-технических направлений и новейших технологий. Менделеево: Изд-во ВНИИФТРИ, 2012.

The authors declare that there are no conflicts of interest present.