izmertechИзмерительная техникаIzmeritel`naya Tekhnika0368-10252949-5237ФГУП "ВНИИФТРИ"izmertech-535Research ArticleЭЛЕКТРОМАГНИТНЫЕ ИЗМЕРЕНИЯELECTROMAGNETIC MEASUREMENTSМетодика и аппаратно-программный комплекс для измерений электрофизических параметров барьерного разрядаЕмельяновО. А.oaemel2@gmail.comШеметМ. В.noemail@neicon.ruС.-Петербургский государственный политехнический университетRussian Federation201407022023064550Copyright © Емельянов О.А., Шемет М.В., 20232023Емельянов О.А., Шемет М.В.Емельянов О.А., Шемет М.В.Данная работа распространяется под лицензией Creative Commons Attribution 4.0.This work is licensed under a Creative Commons Attribution 4.0 License.https://www.izmt.ru/jour/article/view/535

Разработаны методика и программно-аппаратный комплекс для исследования основных характеристик и особенностей развития барьерного разряда в воздушных субмиллиметровых промежутках при атмосферном давлении. Программное обеспечение предусматривает обработку экспериментальных данных с использованием метода регуляризации Тихонова.

The methodology and measuring system have been developed for the study of electrophysical properties of dielectric barrier discharge in submillimeter air gaps at atmospheric pressure. The software applies Tikhonov regularization method for experimental data processing.

барьерный разрядчастичный разрядповерхностный зарядемкостный зондdielectric barrier dischargepartial dischargesurface chargecapacitive probeReferencesBruggeman P., Brandenburg R. Atmospheric pressure discharge filaments and microplasmas: physics, chemistry and diagnostics // J. Phys. D: Appl. Phys. 2013. V. 46. N. 46. 464001. P. 1-28.Bruggeman P., Brandenburg R. Atmospheric pressure discharge filaments and microplasmas: physics, chemistry and diagnostics // J. Phys. D: Appl. Phys. 2013. V. 46. N. 46. 464001. P. 1-28.Kogelschatz U. Applications of Microplasmas and Microreactor Technology // Contrib. Plasma Phys. 2007. V. 47. N. 1-2. P. 80-88.Kogelschatz U. Applications of Microplasmas and Microreactor Technology // Contrib. Plasma Phys. 2007. V. 47. N. 1-2. P. 80-88.Morshuis P. H. F. Degradation of Solid Dielectrics due to Internal Partial Discharge: Some thoughts on progress made and where to go now // IEEE Trans. Diel. Electr. Ins. 2005. V.Morshuis P. H. F. Degradation of Solid Dielectrics due to Internal Partial Discharge: Some thoughts on progress made and where to go now // IEEE Trans. Diel. Electr. Ins. 2005. V.N. 5. P. 905-913.N. 5. P. 905-913.Bartnikas R. Partial discharges. Their mechanism, detection and measurement // IEEE Trans. Diel. Electr. Ins. 2002. V. 9. N. 5. P. 763-808.Bartnikas R. Partial discharges. Their mechanism, detection and measurement // IEEE Trans. Diel. Electr. Ins. 2002. V. 9. N. 5. P. 763-808.Бобров Ю. К., Гусейн-заде Н. Г., Рухадзе А. А., Юргеленас Ю. В. Физические модели и механизмы электрического пробоя газов. М.: Изд-во МГУ, 2012.Бобров Ю. К., Гусейн-заде Н. Г., Рухадзе А. А., Юргеленас Ю. В. Физические модели и механизмы электрического пробоя газов. М.: Изд-во МГУ, 2012.Davies D. K. The examination of the electrical properties of insulators by surface charge measurement // J. Sci. Instrum. 1967. V. 44. N. 7. P. 521-524.Davies D. K. The examination of the electrical properties of insulators by surface charge measurement // J. Sci. Instrum. 1967. V. 44. N. 7. P. 521-524.Foord T. R. Measurement of the distribution of surface electric charge by use of a capacitive probe // J. Phys. Eng. 1969. V. 2. N. 5. P. 411-413.Foord T. R. Measurement of the distribution of surface electric charge by use of a capacitive probe // J. Phys. Eng. 1969. V. 2. N. 5. P. 411-413.Harris L. B., Fiasson J. Vibrating capacitor measurement of surface charge // J. Phys. E: Sci. Instrum. 1984. V.Harris L. B., Fiasson J. Vibrating capacitor measurement of surface charge // J. Phys. E: Sci. Instrum. 1984. V.N. 9. P. 788-792.N. 9. P. 788-792.Devins J.C., Reynolds S.I. Rotating Probe Electrometer // Rev. Sci. Instrum. 1984. V. 28. N. 1. P. 11-13.Devins J.C., Reynolds S.I. Rotating Probe Electrometer // Rev. Sci. Instrum. 1984. V. 28. N. 1. P. 11-13.Gerhard-Multhaupt R., Petry W. High-resolution probing of surface-charge distributions on electret samples // J. Phys. Eng: Sci. Instrum. 1983. V. 16. N.Gerhard-Multhaupt R., Petry W. High-resolution probing of surface-charge distributions on electret samples // J. Phys. Eng: Sci. Instrum. 1983. V. 16. N.P. 418-420.P. 418-420.Zhu Y. e. a. The dynamic measurement of surface charge distribution deposited from partial discharge in air by Pockels effect technique // J. Phys. D: Appl. Phys. 1996. V. 29. N. 11. P. 2892-2900.Zhu Y. e. a. The dynamic measurement of surface charge distribution deposited from partial discharge in air by Pockels effect technique // J. Phys. D: Appl. Phys. 1996. V. 29. N. 11. P. 2892-2900.Stollenwerk L., Laven J. G., Purwins H. G. Spatially Resolved Surface-Charge Measurement in a Planar Dielectric-Barrier Discharge System. // Phys. Rev. Lett. 2007. V. 98. N. 25. P. 1-4.Stollenwerk L., Laven J. G., Purwins H. G. Spatially Resolved Surface-Charge Measurement in a Planar Dielectric-Barrier Discharge System. // Phys. Rev. Lett. 2007. V. 98. N. 25. P. 1-4.Wintle H. J. Interpretation of atomic force microscope (AFM) signals from surface charge on insulators // Meas. Sci. Technol. 1997. V. 8. N.Wintle H. J. Interpretation of atomic force microscope (AFM) signals from surface charge on insulators // Meas. Sci. Technol. 1997. V. 8. N.P. 508-513.P. 508-513.Gibalov V. I., Pietsch G. J. Dynamics of dielectric barrier discharges in different arrangements // Plasma Sources Sci. Technol. 2012. V. 21. N. 2. 024010. P. 1-35.Gibalov V. I., Pietsch G. J. Dynamics of dielectric barrier discharges in different arrangements // Plasma Sources Sci. Technol. 2012. V. 21. N. 2. 024010. P. 1-35.Kumada A., Okabe Sh., Hidaka K. Residual charge distribution of positive surface streamer // J. Phys. D: Appl. Phys. 2009. V. 42. N. 9. 095209. P. 1-8.Kumada A., Okabe Sh., Hidaka K. Residual charge distribution of positive surface streamer // J. Phys. D: Appl. Phys. 2009. V. 42. N. 9. 095209. P. 1-8.Takuma T., Yashima M., Kawamoto T. Principle of Surface Charge Measurement for Thick Insulating Specimens // IEEE Trans. Diel. Electr. Ins. 1998. V. 5. N. 4. P. 497-504.Takuma T., Yashima M., Kawamoto T. Principle of Surface Charge Measurement for Thick Insulating Specimens // IEEE Trans. Diel. Electr. Ins. 1998. V. 5. N. 4. P. 497-504.Тихонов А. Н., Арсенин В. Я. Методы решения некорректных задач. М.: Наука, 1979.Тихонов А. Н., Арсенин В. Я. Методы решения некорректных задач. М.: Наука, 1979.Верлань А. Ф., Сизиков В. С. Интегральные уравнения: методы, алгоритмы, программы. Киев: Изд-во «Наукова Думка», 1986.Верлань А. Ф., Сизиков В. С. Интегральные уравнения: методы, алгоритмы, программы. Киев: Изд-во «Наукова Думка», 1986.

The authors declare that there are no conflicts of interest present.