izmertechИзмерительная техникаIzmeritel`naya Tekhnika0368-10252949-5237ФГУП "ВНИИФТРИ"izmertech-511Research ArticleНАНОМЕТРОЛОГИЯРазработка стандартных образцов и методов калибровки малоугловых рентгеновских дифрактометров для сертификации и стандартизации продукции наноиндустрииАвиловА. С.noemail@neicon.ruБатуринА. С.fgupnicpv@mail.ruВолковВ. В.noemail@neicon.ruДьяковаЮ. А.noemail@neicon.ruЕрмаковаМ. А.noemail@neicon.ruКузинА. Ю.noemail@neicon.ruМарченковаМ. А.noemail@neicon.ruМитюхляевВ. Б.noemail@neicon.ruСерегинА. Ю.noemail@neicon.ruСульяновС. Н.noemail@neicon.ruТерещенкоЕ. Ю.noemail@neicon.ruТодуаП. А.noemail@neicon.ruИнститут кристаллографии им. А.В. Шубникова РАНRussian FederationНаучно-исследовательский центр по изучению свойств поверхности и вакуумаRussian FederationМосковский физико-технический институтRussian Federation201307022023092731Copyright © ФГУП "ВНИИФТРИ", 20232023ФГУП "ВНИИФТРИ"ФГУП "ВНИИФТРИ"https://www.izmt.ru/jour/about/submissions#copyrightNoticehttps://www.izmt.ru/jour/article/view/511

Разработаны стандартные образцы толщины бислоев ленгмюровских пленок стеарата свинца на кварцевой подложке и методы калибровки с их использованием малоугловых рентгеновских дифрактометров.

The certified reference materials (RM) of the thickness of bilayers of Langmuir-Blodgett PbSt2 films on the quartz substrate for calibration of small-angle X-ray diffractometers used for certification and standardization of nanoindustry productions were developed.

стандартные образцыленгмюровские пленкималоугловые рентгеновские дифрактометрыкалибровкаcertified reference materialsLangmuir-Blodgett filmssmall-angle X-ray diffractometerscalibrationReferencesBlodgett K. B. Films built by depositing successive monomolecular layers on a solid surface // J.Am. Chem. Soc. 1935. V. 57. N. 6. P. 100–1022.Blodgett K. B. Films built by depositing successive monomolecular layers on a solid surface // J.Am. Chem. Soc. 1935. V. 57. N. 6. P. 100–1022.Блинов Л. М. Ленгмюровские пленки // УФН. 1988. Т. 155. № 3. С. 443–480.Блинов Л. М. Ленгмюровские пленки // УФН. 1988. Т. 155. № 3. С. 443–480.Schwartz D. K. Langmuir-Blodgett Film Structure // Surf. Sci. Rep. 1997. V. 27. P. 241–334.Schwartz D. K. Langmuir-Blodgett Film Structure // Surf. Sci. Rep. 1997. V. 27. P. 241–334.Peng J. B., Barnes G. T., Gentle I. R. The structures of Langmuir-Blodgett films of fatty acids and their salts // Adv. Colloid Interface Sci. 2001. V. 91. N. 2. P. 163–219.Peng J. B., Barnes G. T., Gentle I. R. The structures of Langmuir-Blodgett films of fatty acids and their salts // Adv. Colloid Interface Sci. 2001. V. 91. N. 2. P. 163–219.Клечковская В. В. и др. Исследование процесса образования нанокристаллов PbS в пленках Ленгмюра–Блоджетт стеарата и бегената свинца методами электронографии и рентгеновской рефлектометрии// Поверхность. Рентген., синхротрон. и нейтрон. исслед. 2007. № 6. С. 20–25.Клечковская В. В. и др. Исследование процесса образования нанокристаллов PbS в пленках Ленгмюра–Блоджетт стеарата и бегената свинца методами электронографии и рентгеновской рефлектометрии// Поверхность. Рентген., синхротрон. и нейтрон. исслед. 2007. № 6. С. 20–25.Hohne Z. U., Mohwald H. The influence of counterions and hydrophobic moieties on the thermostability of Langmuir-Blodgett multilayers // Thin Solid Films. 1994. V. 243. N. 1–2. P. 425–430.Hohne Z. U., Mohwald H. The influence of counterions and hydrophobic moieties on the thermostability of Langmuir-Blodgett multilayers // Thin Solid Films. 1994. V. 243. N. 1–2. P. 425–430.Pietsch Ž. U. e.a. The domain structure of LB multilayers prepared from fatty acid salts // Thin Solid Films. 1996. V. 284/285. P. 387–391.Pietsch Ž. U. e.a. The domain structure of LB multilayers prepared from fatty acid salts // Thin Solid Films. 1996. V. 284/285. P. 387–391.Yang B., Qiao Y. Structural characterization of Langmuir–Blodgett films by X-ray diffraction in transmission geometry//Thin Solid Films. 1998. V. 330. N. 2. P. 157–160.Yang B., Qiao Y. Structural characterization of Langmuir–Blodgett films by X-ray diffraction in transmission geometry//Thin Solid Films. 1998. V. 330. N. 2. P. 157–160.Prakash M., Ketterson J. B., Dutta P. Study of in-plane structure in lead-fatty acid LB films using X-ray diffraction // Thin Solid Films. 1985. V. 134. P. 1–4.Prakash M., Ketterson J. B., Dutta P. Study of in-plane structure in lead-fatty acid LB films using X-ray diffraction // Thin Solid Films. 1985. V. 134. P. 1–4.Barberka T. A. e.a. Investigation of the in-plane structure of Pb and Ni stearate multilayers by means of grazing incidence X-ray diffraction // Thin Solid Films. 1994. V. 244. P. 1061–1066.Barberka T. A. e.a. Investigation of the in-plane structure of Pb and Ni stearate multilayers by means of grazing incidence X-ray diffraction // Thin Solid Films. 1994. V. 244. P. 1061–1066.Malik A. e.a. Structures of head-group and tail-group monolayers in a Langmuir–Blodgett film//Phys.Rev. B. 1995. V. 52. N. 16. R11654–R11657.Malik A. e.a. Structures of head-group and tail-group monolayers in a Langmuir–Blodgett film//Phys.Rev. B. 1995. V. 52. N. 16. R11654–R11657.Rothberg L. e.a. Thermal disordering of Langmuir–Blodgett films of cadmium stearate on sapphire//Chem.Phys. Lett. 1987. V. 133. N. 1. P. 67–72.Rothberg L. e.a. Thermal disordering of Langmuir–Blodgett films of cadmium stearate on sapphire//Chem.Phys. Lett. 1987. V. 133. N. 1. P. 67–72.Kenn R. M., Tippmann-Krayer P., Möhwald H. Thickness and temperature dependent structure of Cd arachidate Langmuir–Blodgett films // Thin Solid Films. 1992. V. 210–211. N. 2. P. 577–582.Kenn R. M., Tippmann-Krayer P., Möhwald H. Thickness and temperature dependent structure of Cd arachidate Langmuir–Blodgett films // Thin Solid Films. 1992. V. 210–211. N. 2. P. 577–582.ГОСТ 8.531–2002. ГСИ. Стандартные образцы состава монолитных и дисперсных материалов. Способы оценивания однородности.ГОСТ 8.531–2002. ГСИ. Стандартные образцы состава монолитных и дисперсных материалов. Способы оценивания однородности.Р 50.2.031–2003. ГСИ. Рекомендации по метрологии. Стандартные образцы состава и свойств веществ и материалов. Методика оценивания характеристики стабильности.Р 50.2.031–2003. ГСИ. Рекомендации по метрологии. Стандартные образцы состава и свойств веществ и материалов. Методика оценивания характеристики стабильности.Хейкер Д. М. и др. Станция белковой кристаллографии на пучке СИ из поворотного магнита накопителя «Сибирь-2» // Кристаллография. 2007. Т. 52. С. 374–380.Хейкер Д. М. и др. Станция белковой кристаллографии на пучке СИ из поворотного магнита накопителя «Сибирь-2» // Кристаллография. 2007. Т. 52. С. 374–380.Sulyanov S. N., Popov A. N., Kheiker D. M. Using a two-dimensional detector for X-ray powder diffractometry//J. Appl. Cryst. 1994. V. 27. P. 934–942.Sulyanov S. N., Popov A. N., Kheiker D. M. Using a two-dimensional detector for X-ray powder diffractometry//J. Appl. Cryst. 1994. V. 27. P. 934–942.

The authors declare that there are no conflicts of interest present.