<?xml version="1.0" encoding="UTF-8"?>
<!DOCTYPE article PUBLIC "-//NLM//DTD JATS (Z39.96) Journal Publishing DTD v1.3 20210610//EN" "JATS-journalpublishing1-3.dtd">
<article article-type="research-article" dtd-version="1.3" xmlns:mml="http://www.w3.org/1998/Math/MathML" xmlns:xlink="http://www.w3.org/1999/xlink" xmlns:xsi="http://www.w3.org/2001/XMLSchema-instance" xml:lang="ru"><front><journal-meta><journal-id journal-id-type="publisher-id">izmertech</journal-id><journal-title-group><journal-title xml:lang="ru">Измерительная техника</journal-title><trans-title-group xml:lang="en"><trans-title>Izmeritel`naya Tekhnika</trans-title></trans-title-group></journal-title-group><issn pub-type="ppub">0368-1025</issn><issn pub-type="epub">2949-5237</issn><publisher><publisher-name>ФГУП "ВНИИФТРИ"</publisher-name></publisher></journal-meta><article-meta><article-id custom-type="elpub" pub-id-type="custom">izmertech-498</article-id><article-categories><subj-group subj-group-type="heading"><subject>Research Article</subject></subj-group><subj-group subj-group-type="section-heading" xml:lang="ru"><subject>ТЕПЛОФИЗИЧЕСКИЕ ИЗМЕРЕНИЯ</subject></subj-group><subj-group subj-group-type="section-heading" xml:lang="en"><subject>THERMOPHYSIC MEASUREMENTS</subject></subj-group></article-categories><title-group><article-title>Оптико-электронная измерительная система высокотемпературного дилатометра</article-title><trans-title-group xml:lang="en"><trans-title></trans-title></trans-title-group></title-group><contrib-group><contrib contrib-type="author" corresp="yes"><name-alternatives><name name-style="eastern" xml:lang="ru"><surname>Бронштейн</surname><given-names>И. Г.</given-names></name></name-alternatives><email xlink:type="simple">kb@jupiter.spb.ru</email><xref ref-type="aff" rid="aff-1"/></contrib><contrib contrib-type="author" corresp="yes"><name-alternatives><name name-style="eastern" xml:lang="ru"><surname>Иночкин</surname><given-names>Ф. М.</given-names></name></name-alternatives><email xlink:type="simple">noemail@neicon.ru</email><xref ref-type="aff" rid="aff-2"/></contrib><contrib contrib-type="author" corresp="yes"><name-alternatives><name name-style="eastern" xml:lang="ru"><surname>Круглов</surname><given-names>С. К.</given-names></name></name-alternatives><email xlink:type="simple">noemail@neicon.ru</email><xref ref-type="aff" rid="aff-2"/></contrib><contrib contrib-type="author" corresp="yes"><name-alternatives><name name-style="eastern" xml:lang="ru"><surname>Компан</surname><given-names>Т. А.</given-names></name></name-alternatives><email xlink:type="simple">t.a.kompan@vniim.ru</email><xref ref-type="aff" rid="aff-3"/></contrib><contrib contrib-type="author" corresp="yes"><name-alternatives><name name-style="eastern" xml:lang="ru"><surname>Кондратьев</surname><given-names>С. В.</given-names></name></name-alternatives><email xlink:type="simple">noemail@neicon.ru</email><xref ref-type="aff" rid="aff-3"/></contrib><contrib contrib-type="author" corresp="yes"><name-alternatives><name name-style="eastern" xml:lang="ru"><surname>Коренев</surname><given-names>А. С.</given-names></name></name-alternatives><email xlink:type="simple">noemail@neicon.ru</email><xref ref-type="aff" rid="aff-3"/></contrib><contrib contrib-type="author" corresp="yes"><name-alternatives><name name-style="eastern" xml:lang="ru"><surname>Пухов</surname><given-names>Н. Ф.</given-names></name></name-alternatives><email xlink:type="simple">noemail@neicon.ru</email><xref ref-type="aff" rid="aff-3"/></contrib></contrib-group><aff xml:lang="ru" id="aff-1"><institution>Санкт-Петербургский научно-исследовательский университет информационных технологий, механики и оптики</institution><country>Russian Federation</country></aff><aff xml:lang="ru" id="aff-2"><institution>Санкт-петербургский политехнический университет</institution><country>Russian Federation</country></aff><aff xml:lang="ru" id="aff-3"><institution>Всероссийский научно-исследовательский институт метрологии им. Д. И. Менделеева</institution><country>Russian Federation</country></aff><pub-date pub-type="collection"><year>2015</year></pub-date><pub-date pub-type="epub"><day>07</day><month>02</month><year>2023</year></pub-date><volume>0</volume><issue>12</issue><fpage>38</fpage><lpage>42</lpage><permissions><copyright-statement>Copyright &amp;#x00A9; Бронштейн И.Г., Иночкин Ф.М., Круглов С.К., Компан Т.А., Кондратьев С.В., Коренев А.С., Пухов Н.Ф., 2023</copyright-statement><copyright-year>2023</copyright-year><copyright-holder xml:lang="ru">Бронштейн И.Г., Иночкин Ф.М., Круглов С.К., Компан Т.А., Кондратьев С.В., Коренев А.С., Пухов Н.Ф.</copyright-holder><copyright-holder xml:lang="en">Бронштейн И.Г., Иночкин Ф.М., Круглов С.К., Компан Т.А., Кондратьев С.В., Коренев А.С., Пухов Н.Ф.</copyright-holder><license xml:lang="ru" license-type="creative-commons-attribution" xlink:href="https://creativecommons.org/licenses/by/4.0/" xlink:type="simple"><license-p>Данная работа распространяется под лицензией Creative Commons Attribution 4.0.</license-p></license><license xml:lang="en" license-type="creative-commons-attribution" xlink:href="https://creativecommons.org/licenses/by/4.0/" xlink:type="simple"><license-p>This work is licensed under a Creative Commons Attribution 4.0 License.</license-p></license></permissions><self-uri xlink:href="https://www.izmt.ru/jour/article/view/498">https://www.izmt.ru/jour/article/view/498</self-uri><abstract><p>Описана новая оптико-электронная измерительная система высокотемпературного дилатометра, позволяющая измерять тепловое расширение твердых образцов материалов в широком диапазоне температур 1000-3000 К. Предложена методика измерений удлинения образца с учетом коррекции параметров системы в процессе измерений. Получены экспериментальные результаты.</p></abstract><trans-abstract xml:lang="en"><p>The new optoelectronic measuring system for high-temperature dilatometer to measure the thermal expansion of solid samples of materials within the wide temperature range 1000-3000 K is described. The new procedure of sample elongation measurement has been proposed with taking into account the system parameters correction during the measurement. The experimental results have been obtained.</p></trans-abstract><kwd-group xml:lang="ru"><kwd>681.2.08</kwd><kwd>высокотемпературный дилатометр</kwd><kwd>оптико-электронная система</kwd><kwd>метод парной телемикроскопии</kwd><kwd>температурный коэффициент линейного расширения</kwd><kwd>high-temperature dilatometer</kwd><kwd>optoelectronic system</kwd><kwd>paired telemicroscopy method</kwd><kwd>thermal coefficient of linear expansion</kwd></kwd-group></article-meta></front><back><ref-list><title>References</title><ref id="cit1"><label>1</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Аматуни А. Н. Методы и приборы для определения температурных коэффициентов линейного расширения материалов. М.: Изд-во стандартов, 1972.</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Аматуни А. Н. Методы и приборы для определения температурных коэффициентов линейного расширения материалов. М.: Изд-во стандартов, 1972.</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit2"><label>2</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Droting W. R. Development of a Laser Interferometric Dilatometer. [Электрон. ресурс] http://link.springer.com/chapter/10.1007/978-1-4684-8267-6_6 (дата обращения 01.03.2015 г.)</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Droting W. R. Development of a Laser Interferometric Dilatometer. [Электрон. ресурс] http://link.springer.com/chapter/10.1007/978-1-4684-8267-6_6 (дата обращения 01.03.2015 г.)</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit3"><label>3</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Blankinship E. A., Guenther A. H. An automated optical dilatometer for inhomogeneously expanding material // Proc. Conf. «Thermal Expansion-1973». AJP. N. J. 1974. N. 17. P. 167-176.</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Blankinship E. A., Guenther A. H. An automated optical dilatometer for inhomogeneously expanding material // Proc. Conf. «Thermal Expansion-1973». AJP. N. J. 1974. N. 17. P. 167-176.</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit4"><label>4</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Roberts R. B. Absolute dilatometry using a polarization interferometer // J. Phys. Е: Sci. Instrum. 1981. V. 14. N. 12. P. 1386-1388.</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Roberts R. B. Absolute dilatometry using a polarization interferometer // J. Phys. Е: Sci. Instrum. 1981. V. 14. N. 12. P. 1386-1388.</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit5"><label>5</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">James J. D., Spittle J. A., Brown S. G. R., Evans R. W. A review of measurement techniques for the thermal expansion coefficient of metals and alloys at elevated temperatures // Meas. Sci. Technol. 2001. N. 12 P. 1-15.</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">James J. D., Spittle J. A., Brown S. G. R., Evans R. W. A review of measurement techniques for the thermal expansion coefficient of metals and alloys at elevated temperatures // Meas. Sci. Technol. 2001. N. 12 P. 1-15.</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit6"><label>6</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Cho Yen Ho, Taylor R. E. Thermal expansion of solids. ASM International, 1998.</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Cho Yen Ho, Taylor R. E. Thermal expansion of solids. ASM International, 1998.</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit7"><label>7</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Аматуни А. Н., Компан Т. А., Коренев А. С., Малютина Т. И., Ильин Г. Л. Автоматические интерференционные дилатометры для диапазона температур 90-1500 К // Электронная техника. 1991. Сер. 8. Вып. 5(147). С. 16-18.</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Аматуни А. Н., Компан Т. А., Коренев А. С., Малютина Т. И., Ильин Г. Л. Автоматические интерференционные дилатометры для диапазона температур 90-1500 К // Электронная техника. 1991. Сер. 8. Вып. 5(147). С. 16-18.</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit8"><label>8</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Аматуни А. Н., Компан Т. А., Малютина Т. И., Романов В. Н., Шевченко Е. Б. Создание комплекса эталонных средств измерений ТКЛР на основе применения ОКГ, автоматики и вычислительной техники // Метрология и точные измерения. 1981. № 12. С. 10-13.</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Аматуни А. Н., Компан Т. А., Малютина Т. И., Романов В. Н., Шевченко Е. Б. Создание комплекса эталонных средств измерений ТКЛР на основе применения ОКГ, автоматики и вычислительной техники // Метрология и точные измерения. 1981. № 12. С. 10-13.</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit9"><label>9</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Компан Т. А., Коренев А. С., Лукин А. С. Автоматизированная система дилатометрических измерений с многопараметрической обработкой интерференционной картины // Измерительная техника. 2001. № 6. С. 31-35.</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Компан Т. А., Коренев А. С., Лукин А. С. Автоматизированная система дилатометрических измерений с многопараметрической обработкой интерференционной картины // Измерительная техника. 2001. № 6. С. 31-35.</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit10"><label>10</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Grant B. M. B., Stone H. J., Withers P. J., Preuss M. High-temperature strain field measurement using digital image correlation // J. Strain Anal. Eng. Des. 2009. V. 44 N. 4. P. 263-271.</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Grant B. M. B., Stone H. J., Withers P. J., Preuss M. High-temperature strain field measurement using digital image correlation // J. Strain Anal. Eng. Des. 2009. V. 44 N. 4. P. 263-271.</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit11"><label>11</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Bing Pan, Dafang Wu, Zhaoyang Wang, Yong Xia. High-temperature digital image correlation method for full-field deformation measurement at 1200 ºC // Meas. Sci. Technol. 2001. N. 22. P. 1-11.</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Bing Pan, Dafang Wu, Zhaoyang Wang, Yong Xia. High-temperature digital image correlation method for full-field deformation measurement at 1200 ºC // Meas. Sci. Technol. 2001. N. 22. P. 1-11.</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit12"><label>12</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Xiang Guo, Jin Liang, Zhengzong Tang, Binggang Cao, Miao Yu. High-temperature digital image correlation method for full-field deformation measurement captured with filters at 2600 °C using spraying to form speckle patterns // Opt. Eng. 2014. V. 53 N. 6. P. 063101.</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Xiang Guo, Jin Liang, Zhengzong Tang, Binggang Cao, Miao Yu. High-temperature digital image correlation method for full-field deformation measurement captured with filters at 2600 °C using spraying to form speckle patterns // Opt. Eng. 2014. V. 53 N. 6. P. 063101.</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit13"><label>13</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Компан Т. А., Кондратьев С. В., Коренев А. С., Пухов Н. Ф., Бронштейн И. Г., Иночкин Ф. М., Круглов С. К. Расширение температурного диапазона Государственного первичного эталона единицы температурного коэффициента линейного расширения твердых тел // Измерительная техника. 2015. № 12. С.</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Компан Т. А., Кондратьев С. В., Коренев А. С., Пухов Н. Ф., Бронштейн И. Г., Иночкин Ф. М., Круглов С. К. Расширение температурного диапазона Государственного первичного эталона единицы температурного коэффициента линейного расширения твердых тел // Измерительная техника. 2015. № 12. С.</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit14"><label>14</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Пат. № 2263336 РФ. Телеобъектив с вынесенным входным зрачком / И. Л. Анитропова-Лившиц, И. Г. Бронштейн // Изобретения. 2005. № 30.</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Пат. № 2263336 РФ. Телеобъектив с вынесенным входным зрачком / И. Л. Анитропова-Лившиц, И. Г. Бронштейн // Изобретения. 2005. № 30.</mixed-citation></citation-alternatives></ref></ref-list><fn-group><fn fn-type="conflict"><p>The authors declare that there are no conflicts of interest present.</p></fn></fn-group></back></article>
