<?xml version="1.0" encoding="UTF-8"?>
<!DOCTYPE article PUBLIC "-//NLM//DTD JATS (Z39.96) Journal Publishing DTD v1.3 20210610//EN" "JATS-journalpublishing1-3.dtd">
<article article-type="research-article" dtd-version="1.3" xmlns:mml="http://www.w3.org/1998/Math/MathML" xmlns:xlink="http://www.w3.org/1999/xlink" xmlns:xsi="http://www.w3.org/2001/XMLSchema-instance" xml:lang="ru"><front><journal-meta><journal-id journal-id-type="publisher-id">izmertech</journal-id><journal-title-group><journal-title xml:lang="ru">Измерительная техника</journal-title><trans-title-group xml:lang="en"><trans-title>Izmeritel`naya Tekhnika</trans-title></trans-title-group></journal-title-group><issn pub-type="ppub">0368-1025</issn><issn pub-type="epub">2949-5237</issn><publisher><publisher-name>ФГУП "ВНИИФТРИ"</publisher-name></publisher></journal-meta><article-meta><article-id custom-type="elpub" pub-id-type="custom">izmertech-481</article-id><article-categories><subj-group subj-group-type="heading"><subject>Research Article</subject></subj-group><subj-group subj-group-type="section-heading" xml:lang="ru"><subject>ИЗМЕРЕНИЯ В ИНФОРМАЦИОННЫХ ТЕХНОЛОГИЯХ</subject></subj-group><subj-group subj-group-type="section-heading" xml:lang="en"><subject>MEASUREMENTS IN INFORMATION TECHNOLOGIES</subject></subj-group></article-categories><title-group><article-title>Обнаружение ошибок в арифметико-логических устройствах процессоров информационно-измерительных систем</article-title><trans-title-group xml:lang="en"><trans-title></trans-title></trans-title-group></title-group><contrib-group><contrib contrib-type="author" corresp="yes"><name-alternatives><name name-style="eastern" xml:lang="ru"><surname>Павлов</surname><given-names>А. А.</given-names></name></name-alternatives><email xlink:type="simple">svi-rv@mail.ru</email><xref ref-type="aff" rid="aff-1"/></contrib><contrib contrib-type="author" corresp="yes"><name-alternatives><name name-style="eastern" xml:lang="ru"><surname>Царьков</surname><given-names>А. Н.</given-names></name></name-alternatives><email xlink:type="simple">info@iifrf.ru</email><xref ref-type="aff" rid="aff-2"/></contrib><contrib contrib-type="author" corresp="yes"><name-alternatives><name name-style="eastern" xml:lang="ru"><surname>Корсунский</surname><given-names>Д. А.</given-names></name></name-alternatives><email xlink:type="simple">info@iifrf.ru</email><xref ref-type="aff" rid="aff-2"/></contrib><contrib contrib-type="author" corresp="yes"><name-alternatives><name name-style="eastern" xml:lang="ru"><surname>Волков</surname><given-names>В. З.</given-names></name></name-alternatives><email xlink:type="simple">svi-rv@mail.ru</email><xref ref-type="aff" rid="aff-1"/></contrib></contrib-group><aff xml:lang="ru" id="aff-1"><institution>Военная академия Ракетных войск стратегического назначения им. Петра Великого</institution><country>Russian Federation</country></aff><aff xml:lang="ru" id="aff-2"><institution>Межрегиональное общественное учреждение «Институт инженерной физики»</institution><country>Russian Federation</country></aff><pub-date pub-type="collection"><year>2018</year></pub-date><pub-date pub-type="epub"><day>07</day><month>02</month><year>2023</year></pub-date><volume>0</volume><issue>6</issue><fpage>35</fpage><lpage>41</lpage><permissions><copyright-statement>Copyright &amp;#x00A9; ФГУП "ВНИИФТРИ", 2023</copyright-statement><copyright-year>2023</copyright-year><copyright-holder xml:lang="ru">ФГУП "ВНИИФТРИ"</copyright-holder><copyright-holder xml:lang="en">ФГУП "ВНИИФТРИ"</copyright-holder><license xlink:href="https://www.izmt.ru/jour/about/submissions#copyrightNotice" xlink:type="simple"><license-p>https://www.izmt.ru/jour/about/submissions#copyrightNotice</license-p></license></permissions><self-uri xlink:href="https://www.izmt.ru/jour/article/view/481">https://www.izmt.ru/jour/article/view/481</self-uri><abstract><p>Предложена регулярная процедура адаптации алгебраического линейного кода для обнаружения ошибок в арифметико-логических устройствах процессоров информационно-измерительных систем. Выявлены закономерности, определяющие соотношения между арифметико-логическими операциями и значениями контрольных разрядов линейного кода относительно данных операций. Показано, что данные закономерности позволяют сформулировать правила получения значений поправок к контрольным разрядам кода для обнаружения одиночных и двойных ошибок при минимальной информационной избыточности, аппаратурных и временных затратах</p></abstract><trans-abstract xml:lang="en"><p>A regular procedure is proposed for adapting the algebraic linear code for detecting errors in the arithmetic logic units of the information-measuring system processors The regularities that determine the relationships between arithmetic logic operations and the values of the control bits of the linear code with respect to these operations are revealed, which allow to formulate rules for obtaining corrections to the code check values, for detecting single and double errors with minimal information redundancy, hardware and time costs</p></trans-abstract><kwd-group xml:lang="ru"><kwd>информационно-измерительная система</kwd><kwd>микропроцессор</kwd><kwd>микроконтроллер</kwd><kwd>корректирующий алгебраический линейный код</kwd><kwd>одиночные и двойные ошибки</kwd><kwd>информационные разряды</kwd><kwd>контрольные разряды</kwd><kwd>алгебраические операции</kwd><kwd>логические операции</kwd><kwd>information-measurement system</kwd><kwd>microprocessor</kwd><kwd>microcontroller</kwd><kwd>correcting algebraic linear code</kwd><kwd>single and double errors</kwd><kwd>information bits</kwd><kwd>check digits</kwd><kwd>algebraic operations</kwd><kwd>logical operations</kwd></kwd-group></article-meta></front><back><ref-list><title>References</title><ref id="cit1"><label>1</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Клаассен К. Б.: Основы измерений. Электронные методы и приборы в измерительной технике. М.: Постмаркет, 2000.</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Клаассен К. Б.: Основы измерений. Электронные методы и приборы в измерительной технике. М.: Постмаркет, 2000.</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit2"><label>2</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Раннёв Г. Г. Информационно-измерительная техника и технологии. М.: Высшая школа, 2001.</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Раннёв Г. Г. Информационно-измерительная техника и технологии. М.: Высшая школа, 2001.</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit3"><label>3</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Раннёв Г. Г., Тарасенко А. П. Методы и средства измерений, М.: Академия, 2004.</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Раннёв Г. Г., Тарасенко А. П. Методы и средства измерений, М.: Академия, 2004.</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit4"><label>4</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Муха Ю. Л., Королева И. Ю. Информационно-измерительные системы. Волгоград: Волгоградский ГТУ, 2015.</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Муха Ю. Л., Королева И. Ю. Информационно-измерительные системы. Волгоград: Волгоградский ГТУ, 2015.</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit5"><label>5</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Островерхов Е. В. Микропроцессор с интегрированным модулем для автоматизации измерений электрических величин [Электрон. ресурс]: http://storage.tusur.ru/riles/8849/ЭП (дата обращения 20.01.2018).</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Островерхов Е. В. Микропроцессор с интегрированным модулем для автоматизации измерений электрических величин [Электрон. ресурс]: http://storage.tusur.ru/riles/8849/ЭП (дата обращения 20.01.2018).</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit6"><label>6</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">АВЛГ.468711.001-2005. Системы автоматизированные информационно-измерительные для контроля и учёта энергоресурсов «Меркурий-Энергоучёт». Технические условия.</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">АВЛГ.468711.001-2005. Системы автоматизированные информационно-измерительные для контроля и учёта энергоресурсов «Меркурий-Энергоучёт». Технические условия.</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit7"><label>7</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Щербаков Н. С. Достоверность работы цифровых устройств. М.: Машиностроение, 1989.</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Щербаков Н. С. Достоверность работы цифровых устройств. М.: Машиностроение, 1989.</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit8"><label>8</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Hagbae Kim, Kang G. Shin. Evaluation of Fault Tolerance Latency from Real-Time Application´s Perspectives // IEEE Transactions on computers, 2000. V. 49. No. 1. P. 55-64.</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Hagbae Kim, Kang G. Shin. Evaluation of Fault Tolerance Latency from Real-Time Application´s Perspectives // IEEE Transactions on computers, 2000. V. 49. No. 1. P. 55-64.</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit9"><label>9</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Борисов К. Ю., Павлов А. А., Павлов П. А., Царьков А. Н., Хоруженко О. В. Рациональное кодирование информации для обнаружения ошибок в устройствах хранения и передачи информации измерительной техники. // Измерительная техника. 2011. № 12. С. 22-25.</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Борисов К. Ю., Павлов А. А., Павлов П. А., Царьков А. Н., Хоруженко О. В. Рациональное кодирование информации для обнаружения ошибок в устройствах хранения и передачи информации измерительной техники. // Измерительная техника. 2011. № 12. С. 22-25.</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit10"><label>10</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Naseer R., Draper J. Parallel Double Error Correcting Code Design to Mitigate Multi-Bit Upsets in SRAMs // Information Sciences Institute University of Southern California, IEEE Trans Device. Mater 2008. V. 6. P. 222-225.</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Naseer R., Draper J. Parallel Double Error Correcting Code Design to Mitigate Multi-Bit Upsets in SRAMs // Information Sciences Institute University of Southern California, IEEE Trans Device. Mater 2008. V. 6. P. 222-225.</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit11"><label>11</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Павлов А. А., Павлов П. А., Царьков А. Н., Хоруженко О. В. Функционально-кодовый контроль ошибок в автоматизированных системах измерительной техники // Измерительная техника. 2009. № 9. С. 3-5.</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Павлов А. А., Павлов П. А., Царьков А. Н., Хоруженко О. В. Функционально-кодовый контроль ошибок в автоматизированных системах измерительной техники // Измерительная техника. 2009. № 9. С. 3-5.</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit12"><label>12</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Павлов А. А., Царьков А. Н., Хоруженко О. В., Павлов П. А. Метод контроля ошибок в устройствах хранения и передачи информации автоматизированных систем измерительной техники // Измерительная техника. 2010. № 11. С. 21-25.</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Павлов А. А., Царьков А. Н., Хоруженко О. В., Павлов П. А. Метод контроля ошибок в устройствах хранения и передачи информации автоматизированных систем измерительной техники // Измерительная техника. 2010. № 11. С. 21-25.</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit13"><label>13</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Павлов А. А., Царьков А. Н., Павлов П. А., Корсунский Д. А, Волков В. З. Обнаружение ошибок в запоминающих устройствах информационно-измерительных систем // Измерительная техника. 2017. № 10. С. 12-16.</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Павлов А. А., Царьков А. Н., Павлов П. А., Корсунский Д. А, Волков В. З. Обнаружение ошибок в запоминающих устройствах информационно-измерительных систем // Измерительная техника. 2017. № 10. С. 12-16.</mixed-citation></citation-alternatives></ref></ref-list><fn-group><fn fn-type="conflict"><p>The authors declare that there are no conflicts of interest present.</p></fn></fn-group></back></article>
