<?xml version="1.0" encoding="UTF-8"?>
<!DOCTYPE article PUBLIC "-//NLM//DTD JATS (Z39.96) Journal Publishing DTD v1.3 20210610//EN" "JATS-journalpublishing1-3.dtd">
<article article-type="research-article" dtd-version="1.3" xmlns:mml="http://www.w3.org/1998/Math/MathML" xmlns:xlink="http://www.w3.org/1999/xlink" xmlns:xsi="http://www.w3.org/2001/XMLSchema-instance" xml:lang="ru"><front><journal-meta><journal-id journal-id-type="publisher-id">izmertech</journal-id><journal-title-group><journal-title xml:lang="ru">Измерительная техника</journal-title><trans-title-group xml:lang="en"><trans-title>Izmeritel`naya Tekhnika</trans-title></trans-title-group></journal-title-group><issn pub-type="ppub">0368-1025</issn><issn pub-type="epub">2949-5237</issn><publisher><publisher-name>ФГУП "ВНИИФТРИ"</publisher-name></publisher></journal-meta><article-meta><article-id custom-type="elpub" pub-id-type="custom">izmertech-422</article-id><article-categories><subj-group subj-group-type="heading"><subject>Research Article</subject></subj-group><subj-group subj-group-type="section-heading" xml:lang="ru"><subject>НАНОМЕТРОЛОГИЯ</subject></subj-group></article-categories><title-group><article-title>Разработка экспериментально-аналитической методики определения температурных деформаций концевых мер длины в нанометровом диапазоне</article-title><trans-title-group xml:lang="en"><trans-title></trans-title></trans-title-group></title-group><contrib-group><contrib contrib-type="author" corresp="yes"><name-alternatives><name name-style="eastern" xml:lang="ru"><surname>Башевская</surname><given-names>О. С.</given-names></name></name-alternatives><email xlink:type="simple">bashevskaya@mail.ru</email><xref ref-type="aff" rid="aff-1"/></contrib><contrib contrib-type="author" corresp="yes"><name-alternatives><name name-style="eastern" xml:lang="ru"><surname>Бушуев</surname><given-names>С. В.</given-names></name></name-alternatives><email xlink:type="simple">noemail@neicon.ru</email><xref ref-type="aff" rid="aff-1"/></contrib><contrib contrib-type="author" corresp="yes"><name-alternatives><name name-style="eastern" xml:lang="ru"><surname>Подураев</surname><given-names>Ю. В.</given-names></name></name-alternatives><email xlink:type="simple">noemail@neicon.ru</email><xref ref-type="aff" rid="aff-1"/></contrib><contrib contrib-type="author" corresp="yes"><name-alternatives><name name-style="eastern" xml:lang="ru"><surname>Ковальский</surname><given-names>М. Г.</given-names></name></name-alternatives><email xlink:type="simple">kovalskiy@micron.ru</email><xref ref-type="aff" rid="aff-2"/></contrib><contrib contrib-type="author" corresp="yes"><name-alternatives><name name-style="eastern" xml:lang="ru"><surname>Кайнер</surname><given-names>Г. Б.</given-names></name></name-alternatives><email xlink:type="simple">noemail@neicon.ru</email><xref ref-type="aff" rid="aff-2"/></contrib><contrib contrib-type="author" corresp="yes"><name-alternatives><name name-style="eastern" xml:lang="ru"><surname>Ромаш</surname><given-names>Е. В.</given-names></name></name-alternatives><email xlink:type="simple">noemail@neicon.ru</email><xref ref-type="aff" rid="aff-1"/></contrib><contrib contrib-type="author" corresp="yes"><name-alternatives><name name-style="eastern" xml:lang="ru"><surname>Мельниченко</surname><given-names>Е. А.</given-names></name></name-alternatives><email xlink:type="simple">noemail@neicon.ru</email><xref ref-type="aff" rid="aff-1"/></contrib></contrib-group><aff xml:lang="ru" id="aff-1"><institution>Московский государственный технологический университет «СТАНКИН»</institution><country>Russian Federation</country></aff><aff xml:lang="ru" id="aff-2"><institution>ОАО ”НИИизмерения</institution><country>Russian Federation</country></aff><pub-date pub-type="collection"><year>2014</year></pub-date><pub-date pub-type="epub"><day>07</day><month>02</month><year>2023</year></pub-date><volume>0</volume><issue>3</issue><fpage>8</fpage><lpage>11</lpage><permissions><copyright-statement>Copyright &amp;#x00A9; Башевская О.С., Бушуев С.В., Подураев Ю.В., Ковальский М.Г., Кайнер Г.Б., Ромаш Е.В., Мельниченко Е.А., 2023</copyright-statement><copyright-year>2023</copyright-year><copyright-holder xml:lang="ru">Башевская О.С., Бушуев С.В., Подураев Ю.В., Ковальский М.Г., Кайнер Г.Б., Ромаш Е.В., Мельниченко Е.А.</copyright-holder><copyright-holder xml:lang="en">Башевская О.С., Бушуев С.В., Подураев Ю.В., Ковальский М.Г., Кайнер Г.Б., Ромаш Е.В., Мельниченко Е.А.</copyright-holder><license xml:lang="ru" license-type="creative-commons-attribution" xlink:href="https://creativecommons.org/licenses/by/4.0/" xlink:type="simple"><license-p>Данная работа распространяется под лицензией Creative Commons Attribution 4.0.</license-p></license><license xml:lang="en" license-type="creative-commons-attribution" xlink:href="https://creativecommons.org/licenses/by/4.0/" xlink:type="simple"><license-p>This work is licensed under a Creative Commons Attribution 4.0 License.</license-p></license></permissions><self-uri xlink:href="https://www.izmt.ru/jour/article/view/422">https://www.izmt.ru/jour/article/view/422</self-uri><abstract><p>Рассмотрено влияние температурных деформаций концевых мер длины на процесс контроля прецизионных деталей. Предложена и экспериментально апробирована экспериментально-аналитическая методика определения температурных деформаций концевых мер длины, используемая при проведении линейных измерений в нанометровом диапазоне.</p></abstract><trans-abstract xml:lang="en"><p>The influence of thermal strains of end standards of meter on the precision elements control process is considered. The experimental-analytical procedure of determination of end standards of meter temperature deformations used at linear nanoscale measurements is suggested and tested experimentally.</p></trans-abstract><kwd-group xml:lang="ru"><kwd>температурные деформации</kwd><kwd>концевые меры длины</kwd><kwd>нанометровый диапазон</kwd><kwd>temperature deformations</kwd><kwd>end standards of meter</kwd><kwd>nanometer range</kwd></kwd-group></article-meta></front><back><ref-list><title>References</title><ref id="cit1"><label>1</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Кайнер Г. Б. Совершенствование метрологического обеспечения технологий обработки прецизионных деталей в нанометровом диапазоне // Измерительная техника. 2007. № 8. С. 22-27; Kainer G. B. Improvement in metrological provision for processing technology of precision components in the nanometer range // Measurement Techniques. 2007. V. 50. N. 8. P. 833-840.</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Кайнер Г. Б. Совершенствование метрологического обеспечения технологий обработки прецизионных деталей в нанометровом диапазоне // Измерительная техника. 2007. № 8. С. 22-27; Kainer G. B. Improvement in metrological provision for processing technology of precision components in the nanometer range // Measurement Techniques. 2007. V. 50. N. 8. P. 833-840.</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit2"><label>2</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Кайнер Г. Б. Новые методы оценки деформаций при измерении линейных параметров прецизионных деталей в нанометровом диапазоне // Измерительная техника. 2008. № 2. С. 6-10; Kainer G. B. New methods for estimating deformations in measurement of the linear parameters of precision parts in the nanometric range // Measurement Techniques. 2008. V. 51. N. 12. P. 1262-1268.</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Кайнер Г. Б. Новые методы оценки деформаций при измерении линейных параметров прецизионных деталей в нанометровом диапазоне // Измерительная техника. 2008. № 2. С. 6-10; Kainer G. B. New methods for estimating deformations in measurement of the linear parameters of precision parts in the nanometric range // Measurement Techniques. 2008. V. 51. N. 12. P. 1262-1268.</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit3"><label>3</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Марков Н. Н, Сацердотов П. А. Погрешности от температурных деформаций при линейных измерениях. М.: Машиностроение, 1976.</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Марков Н. Н, Сацердотов П. А. Погрешности от температурных деформаций при линейных измерениях. М.: Машиностроение, 1976.</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit4"><label>4</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">ГОСТ 8.592-2009. ГСИ. Меры рельефные нанометрического диапазона из монокристаллического кремния.</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">ГОСТ 8.592-2009. ГСИ. Меры рельефные нанометрического диапазона из монокристаллического кремния.</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit5"><label>5</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Башевская О. С. и др. Исследование влияния температурных деформаций на точность линейных измерений // Измерительная техника. 2013. № 9. С. 34-36; Bashevskaya O. S. An Investigation of the Influence of Temperature Deformations on the Precision of Linear Measurements // Measurement Techniques. 2013. V. 56. N. 9. P. 1016-1020.</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Башевская О. С. и др. Исследование влияния температурных деформаций на точность линейных измерений // Измерительная техника. 2013. № 9. С. 34-36; Bashevskaya O. S. An Investigation of the Influence of Temperature Deformations on the Precision of Linear Measurements // Measurement Techniques. 2013. V. 56. N. 9. P. 1016-1020.</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit6"><label>6</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Башевская О. С., Кайнер Г. Б., Ромаш Е. В. Комплексная оценка тепловизионным методом состояния доведенных поверхностей в машиностроении // Контроль. Диагностика 2012. № 12. С. 36-42.</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Башевская О. С., Кайнер Г. Б., Ромаш Е. В. Комплексная оценка тепловизионным методом состояния доведенных поверхностей в машиностроении // Контроль. Диагностика 2012. № 12. С. 36-42.</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit7"><label>7</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Игнатьев П. С. и др. Применение интерференционной микроскопии для анализа микро- и нанорельефа и дефектов поверхностей крупногабаритных деталей в различных отраслях промышленности // Вестник МГТУ Станкин. 2011. Т. 2. № 4. С. 150-155.</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Игнатьев П. С. и др. Применение интерференционной микроскопии для анализа микро- и нанорельефа и дефектов поверхностей крупногабаритных деталей в различных отраслях промышленности // Вестник МГТУ Станкин. 2011. Т. 2. № 4. С. 150-155.</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit8"><label>8</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">ГОСТ 8.050-73. ГСИ. Нормальные условия выполнения линейных и угловых измерений.</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">ГОСТ 8.050-73. ГСИ. Нормальные условия выполнения линейных и угловых измерений.</mixed-citation></citation-alternatives></ref></ref-list><fn-group><fn fn-type="conflict"><p>The authors declare that there are no conflicts of interest present.</p></fn></fn-group></back></article>
