izmertechИзмерительная техникаIzmeritel`naya Tekhnika0368-10252949-5237ФГУП "ВНИИФТРИ"izmertech-347Research ArticleГОСУДАРСТВЕННЫЕ ЭТАЛОНЫSTATE STANDARDSГосударственный первичный эталон единиц комплексной диэлектрической проницаемости в диапазоне частот от 10 Гц до 10 МГц ГЭТ 121-2015АлтаевО. О.dep14@niiftri.irk.ruЕгоровВ. Н.noemail@neicon.ruКащенкоМ. В.noemail@neicon.ruМасаловВ. Л.noemail@neicon.ruТокареваЕ. Ю.noemail@neicon.ruВосточно-Сибирский филиал Всероссийского научно-исследовательского института физико-технических и радиотехнических измеренийRussian Federation2017070220230137Copyright © ФГУП "ВНИИФТРИ", 20232023ФГУП "ВНИИФТРИ"ФГУП "ВНИИФТРИ"https://www.izmt.ru/jour/about/submissions#copyrightNoticehttps://www.izmt.ru/jour/article/view/347

Представлен состав Государственного первичного эталона единиц комплексной диэлектрической проницаемости в диапазоне частот от 10 Гц до 10 МГц. Описаны используемые в эталоне методы измерений диэлектрической проницаемости и тангенса угла диэлектрических потерь. Приведены метрологические характеристики эталона и результаты измерений диэлектрических параметров эталонных мер.

A structure of the national primary permittivity unit standard of the frequency range from 10 Hz to 10 MHz is presented. The measurement methods for dielectric permittivity and tangent of dielectric loss are described. Metrological characteristics of the standard and measurement results of dielectric parameters of the standard reference specimens are given.

диэлектрическая проницаемостьтангенс угла диэлектрических потерьпервичный эталонэталонные мерыpermittivitydielectric loss tangentprimary standardstandard reference specimensReferencesЭмме Ф. Диэлектрические измерения. М.: Химия, 1967.Эмме Ф. Диэлектрические измерения. М.: Химия, 1967.Брандт А. А. Исследование диэлектриков на сверхвысоких частотах. M.: ФИЗМАТЛИТ, 1963.Брандт А. А. Исследование диэлектриков на сверхвысоких частотах. M.: ФИЗМАТЛИТ, 1963.Казарновский Д. М., Яманов С. А. Радиотехнические материалы. М.: Высшая школа, 1967.Казарновский Д. М., Яманов С. А. Радиотехнические материалы. М.: Высшая школа, 1967.ГОСТ 22372-77. Материалы диэлектрические. Методы определения диэлектрической проницаемости и тангенса угла диэлектрических потерь в диапазоне частот от 100 до 5×106 Гц.ГОСТ 22372-77. Материалы диэлектрические. Методы определения диэлектрической проницаемости и тангенса угла диэлектрических потерь в диапазоне частот от 100 до 5×106 Гц.ГОСТ 6581-75. Материалы электроизоляционные жидкие. Методы электрических испытаний.ГОСТ 6581-75. Материалы электроизоляционные жидкие. Методы электрических испытаний.ASTM D 150-98 (Reapproved 2004). Методы определения диэлектрической проницаемости и диэлектрических потерь твердых электроизоляционных материалов при переменном токе.ASTM D 150-98 (Reapproved 2004). Методы определения диэлектрической проницаемости и диэлектрических потерь твердых электроизоляционных материалов при переменном токе.ГСССД 33-82. Таблицы стандартных справочных данных. Кварцевое стекло КУ, КВ, КИ; Оптическая керамика КО-1; Фториды кальция, магния, бария; Хлориды калия и натрия; Окись алюминия. Диэлектрическая проницаемость при температуре 293 К в частотном диапазоне от 10-1 до 1011 Гц. Температурный коэффициент диэлектрической проницаемости.ГСССД 33-82. Таблицы стандартных справочных данных. Кварцевое стекло КУ, КВ, КИ; Оптическая керамика КО-1; Фториды кальция, магния, бария; Хлориды калия и натрия; Окись алюминия. Диэлектрическая проницаемость при температуре 293 К в частотном диапазоне от 10-1 до 1011 Гц. Температурный коэффициент диэлектрической проницаемости.ГСССД 24-81. Таблицы стандартных справочных данных. Пентан, гексан, гептан, октан, нонан, бензол, сероуглерод, четыреххлористый углерод, циклогексан. Диэлектрическая проницаемость и ее температурный коэффициент в диапазоне частот от 0,1 до 1011 Гц при температурах от 273 до 333 К.ГСССД 24-81. Таблицы стандартных справочных данных. Пентан, гексан, гептан, октан, нонан, бензол, сероуглерод, четыреххлористый углерод, циклогексан. Диэлектрическая проницаемость и ее температурный коэффициент в диапазоне частот от 0,1 до 1011 Гц при температурах от 273 до 333 К.ГСССД 178-96. Оптические стекла ЛК 105, К8, ТК 21. Диэлектрическая проницаемость и тангенс угла диэлектрических потерь при температуре 293 К в частотном диапазоне от 10-1 до 106 Гц.ГСССД 178-96. Оптические стекла ЛК 105, К8, ТК 21. Диэлектрическая проницаемость и тангенс угла диэлектрических потерь при температуре 293 К в частотном диапазоне от 10-1 до 106 Гц.Гудков О. И., Егоров В. Н., Кащенко М. В. Современное состояние и перспективы развития метрологического обеспечения диэлектрических измерений // Измерительная техника. 1994. № 12. C. 34-40.Гудков О. И., Егоров В. Н., Кащенко М. В. Современное состояние и перспективы развития метрологического обеспечения диэлектрических измерений // Измерительная техника. 1994. № 12. C. 34-40.Егоров В. Н., Масалов В. Л., Кащенко М. В., Токарева Е. Ю. Концепция развития метрологического обеспечения в области диэлектрических измерений // Известия вузов. Физика. 2010. № 9/2. C. 207-210.Егоров В. Н., Масалов В. Л., Кащенко М. В., Токарева Е. Ю. Концепция развития метрологического обеспечения в области диэлектрических измерений // Известия вузов. Физика. 2010. № 9/2. C. 207-210.Andeen C., Fontantlla J., Shuele D. Accurate determination of dielertric соnstant by the method of substitution // Rev. Sci. Instrum. 1970. V. 41. P. 1573.Andeen C., Fontantlla J., Shuele D. Accurate determination of dielertric соnstant by the method of substitution // Rev. Sci. Instrum. 1970. V. 41. P. 1573.Lynch A. C. Меаsurements of the dielectric properties of low-loss materials // Proc. IEE. 1965. V. 112. N. 2. P. 426-431.Lynch A. C. Меаsurements of the dielectric properties of low-loss materials // Proc. IEE. 1965. V. 112. N. 2. P. 426-431.ГОСТ 8.381-2009 ГСИ. Эталоны. Способы выражения точности.ГОСТ 8.381-2009 ГСИ. Эталоны. Способы выражения точности.ГОСТ Р 54500.3-2011. Руководство ИСО/МЭК 98-3:2008. Неопределенность измерения. Часть 3. Руководство по выражению неопределенности измерения.ГОСТ Р 54500.3-2011. Руководство ИСО/МЭК 98-3:2008. Неопределенность измерения. Часть 3. Руководство по выражению неопределенности измерения.

The authors declare that there are no conflicts of interest present.