izmertechИзмерительная техникаIzmeritel`naya Tekhnika0368-10252949-5237ФГУП "ВНИИФТРИ"izmertech-290Research ArticleРАДИОТЕХНИЧЕСКИЕ ИЗМЕРЕНИЯRADIO MEASUREMENTSМобильный адаптируемый измеритель характеристик низкочастотных шумов для диагностики электровакуумных приборовВоробьевМ. Д.vorobyevmd@mpei.ruЮдаевД. Н.noemail@neicon.ruНаучный исследовательский университет «МЭИ»Russian Federation201707022023075861Copyright © ФГУП "ВНИИФТРИ", 20232023ФГУП "ВНИИФТРИ"ФГУП "ВНИИФТРИ"https://www.izmt.ru/jour/about/submissions#copyrightNoticehttps://www.izmt.ru/jour/article/view/290

Разработано мобильное измерительное оборудование, адаптируемое для измерений низкочастотных шумов электровакуумных приборов с широким диапазоном импедансных характеристик. Создано управляющее программное обеспечение, позволяющее в автоматическом режиме проводить измерения и обработку полученных результатов. Показана возможность определения диагностических параметров термоэлектронных катодов электровакуумных приборов.

Mobile measuring equipment adaptive for measurement low-frequency noise characteristics of vacuum tubes with wide range impedance was developed. Software to control operation of equipment, automatic measurements and processing results was created. The possibility of determining the diagnostic parameters for thermionic cathodes in vacuum tubes was demonstrated.

низкочастотные шумыизмерительное оборудованиедиагностические параметрытермоэлектронные катодыlow-frequency noisemeasuring equipmentdiagnostic parametersthermionic cathodesReferencesХодневич С. П., Киселёв А. Б. Низкочастотные шумы и эмиссионная неоднородность окислов щелочноземельных металлов // Электронная техника. Сер. 1. Электроника СВЧ. 1972. Вып. 7. С. 23-32.Ходневич С. П., Киселёв А. Б. Низкочастотные шумы и эмиссионная неоднородность окислов щелочноземельных металлов // Электронная техника. Сер. 1. Электроника СВЧ. 1972. Вып. 7. С. 23-32.Гродзенский С. Я. Физико-статистические методы исследования надёжности электронных приборов // Обзоры по электронной технике. Сер.1. Электроника СВЧ. М.: ЦНИИ “Электроника”, 1990.Гродзенский С. Я. Физико-статистические методы исследования надёжности электронных приборов // Обзоры по электронной технике. Сер.1. Электроника СВЧ. М.: ЦНИИ “Электроника”, 1990.Пат. 2065635 РФ. Способ неразрушающего контроля качества катодов электронно-лучевых трубок / М. Д. Воробьев, С. М. Склизнев, Л. П.Смирнов, П. А. Цветков // Изобретения. 1996. № 8.Пат. 2065635 РФ. Способ неразрушающего контроля качества катодов электронно-лучевых трубок / М. Д. Воробьев, С. М. Склизнев, Л. П.Смирнов, П. А. Цветков // Изобретения. 1996. № 8.Vandamme L. R. J. Noise as a diagnostic tool for quality and reliability of electronic devices // IEEE Trans. Electron Devices. 1994. V. 41. No.11. P. 2176 - 2187.Vandamme L. R. J. Noise as a diagnostic tool for quality and reliability of electronic devices // IEEE Trans. Electron Devices. 1994. V. 41. No.11. P. 2176 - 2187.Воробьёв М.Д., Юдаев Д.Н. Шумовая диагностика термокатодов в составе электронно-лучевой пушки // Прикладная физика, М.: 2010г. - с.60 - 65.Воробьёв М.Д., Юдаев Д.Н. Шумовая диагностика термокатодов в составе электронно-лучевой пушки // Прикладная физика, М.: 2010г. - с.60 - 65.Воробьев М.Д., Чирков М.Н., Шитов Е.М., Юдаев Д.Н., Акимов П.И., Смирнов В.Н. Шумовые параметры дефектов эмитирующей поверхности термоэлектронных катодов // Радиотехника и электроника, т.61, № 7, 2016г. - с.711 - 716.Воробьев М.Д., Чирков М.Н., Шитов Е.М., Юдаев Д.Н., Акимов П.И., Смирнов В.Н. Шумовые параметры дефектов эмитирующей поверхности термоэлектронных катодов // Радиотехника и электроника, т.61, № 7, 2016г. - с.711 - 716.Шитов Е.М. Программно-аппаратный комплекс для шумовой диагностики термоэлектронных катодов электровакуумных приборов: Автореф. дис. на соиск. учен. степ. канд. техн. наук. Рязань, 2014.Шитов Е.М. Программно-аппаратный комплекс для шумовой диагностики термоэлектронных катодов электровакуумных приборов: Автореф. дис. на соиск. учен. степ. канд. техн. наук. Рязань, 2014.Оппенгейм А., Шафер Р., Боев С. Ф. Цифровая обработка сигналов. М.: Техносфера, 2012.Оппенгейм А., Шафер Р., Боев С. Ф. Цифровая обработка сигналов. М.: Техносфера, 2012.Воробьев М.Д., Кумов Я.С., Чудин В.Г., Юдаев Д.Н. Низкочастотные шумы, создаваемые дефектами эмитирующей поверхности термоэлектронных катодов. СТНО-2016, Т.2, 2016г. - с.167 - 170.Воробьев М.Д., Кумов Я.С., Чудин В.Г., Юдаев Д.Н. Низкочастотные шумы, создаваемые дефектами эмитирующей поверхности термоэлектронных катодов. СТНО-2016, Т.2, 2016г. - с.167 - 170.Macfarlane G.G. A theory of contact noise in semiconductors // Proc. Physic. Soc. 1950. Section B. V. 63. No. 10. P. 807 - 814.Macfarlane G.G. A theory of contact noise in semiconductors // Proc. Physic. Soc. 1950. Section B. V. 63. No. 10. P. 807 - 814.

The authors declare that there are no conflicts of interest present.