<?xml version="1.0" encoding="UTF-8"?>
<!DOCTYPE article PUBLIC "-//NLM//DTD JATS (Z39.96) Journal Publishing DTD v1.3 20210610//EN" "JATS-journalpublishing1-3.dtd">
<article article-type="research-article" dtd-version="1.3" xmlns:mml="http://www.w3.org/1998/Math/MathML" xmlns:xlink="http://www.w3.org/1999/xlink" xmlns:xsi="http://www.w3.org/2001/XMLSchema-instance" xml:lang="ru"><front><journal-meta><journal-id journal-id-type="publisher-id">izmertech</journal-id><journal-title-group><journal-title xml:lang="ru">Измерительная техника</journal-title><trans-title-group xml:lang="en"><trans-title>Izmeritel`naya Tekhnika</trans-title></trans-title-group></journal-title-group><issn pub-type="ppub">0368-1025</issn><issn pub-type="epub">2949-5237</issn><publisher><publisher-name>ФГУП "ВНИИФТРИ"</publisher-name></publisher></journal-meta><article-meta><article-id pub-id-type="doi">10.32446/0368-1025it.2026-4-102-110</article-id><article-id custom-type="elpub" pub-id-type="custom">izmertech-2574</article-id><article-categories><subj-group subj-group-type="heading"><subject>Research Article</subject></subj-group><subj-group subj-group-type="section-heading" xml:lang="ru"><subject>ФИЗИКО-ХИМИЧЕСКИЕ ИЗМЕРЕНИЯ</subject></subj-group><subj-group subj-group-type="section-heading" xml:lang="en"><subject>PHYSICOCHEMICAL MEASUREMENTS</subject></subj-group></article-categories><title-group><article-title>Оценка интенсивности приэлектродных электрохимических процессов на полярных срезах ионных диэлектрических кристаллов по токам короткого замыкания: подбор токопроводящего покрытия</article-title><trans-title-group xml:lang="en"><trans-title>Estimation of the intensity of near-electrode electrochemical processes on the surface of polar crystal cuts based on the temperature dependencies of short-circuit currents: selection of a conductive coating</trans-title></trans-title-group></title-group><contrib-group><contrib contrib-type="author" corresp="yes"><contrib-id contrib-id-type="orcid">https://orcid.org/0000-0003-4057-9718</contrib-id><name-alternatives><name name-style="eastern" xml:lang="ru"><surname>Козлова</surname><given-names>Н. С.</given-names></name><name name-style="western" xml:lang="en"><surname>Kozlova</surname><given-names>N. S.</given-names></name></name-alternatives><bio xml:lang="ru"><p>Нина Семёновна Козлова, канд. физ.-мат. наук, старший научный сотрудник, ведущий эксперт</p><p>119049, Москва, Ленинский просп., д. 4, стр. 1</p></bio><bio xml:lang="en"><p>Nina S. Kozlova, Cand. Sc. (Physics and Mathematics), Senior Researcher, Leading Expert</p><p>119049, Moscow, Leninsky ave., 4, building 1</p></bio><email xlink:type="simple">kozlova_nina@mail.ru</email><xref ref-type="aff" rid="aff-1"/></contrib><contrib contrib-type="author" corresp="yes"><contrib-id contrib-id-type="orcid">https://orcid.org/0000-0002-5844-5673</contrib-id><name-alternatives><name name-style="eastern" xml:lang="ru"><surname>Забелина</surname><given-names>Е. В.</given-names></name><name name-style="western" xml:lang="en"><surname>Zabelina</surname><given-names>E. V.</given-names></name></name-alternatives><bio xml:lang="ru"><p>Евгения Викторовна Забелина, канд. физ.-мат. наук, заведующий лабораторией</p><p>119049, Москва, Ленинский просп., д. 4, стр. 1</p></bio><bio xml:lang="en"><p>Evgenia V. Zabelina, Cand. Sc. (Physics and Mathematics), Head of the Laboratory</p><p>119049, Moscow, Leninsky ave., 4, building 1</p></bio><email xlink:type="simple">zabelina.ev@misis.ru</email><xref ref-type="aff" rid="aff-1"/></contrib><contrib contrib-type="author" corresp="yes"><contrib-id contrib-id-type="orcid">https://orcid.org/0009-0006-1447-3310</contrib-id><name-alternatives><name name-style="eastern" xml:lang="ru"><surname>Умылин</surname><given-names>В. Е.</given-names></name><name name-style="western" xml:lang="en"><surname>Umylin</surname><given-names>V. E.</given-names></name></name-alternatives><bio xml:lang="ru"><p>Владислав Евгеньевич Умылин, аспирант, инженер научного проекта</p><p>119049, Москва, Ленинский просп., д. 4, стр. 1</p></bio><bio xml:lang="en"><p>Vladislav E. Umylin, Postgraduate Student, Research Project Engineer</p><p>119049, Moscow, Leninsky ave., 4, building 1</p></bio><email xlink:type="simple">v.umylin@misis.ru</email><xref ref-type="aff" rid="aff-1"/></contrib><contrib contrib-type="author" corresp="yes"><contrib-id contrib-id-type="orcid">https://orcid.org/0009-0003-5466-3125</contrib-id><name-alternatives><name name-style="eastern" xml:lang="ru"><surname>Корчагин</surname><given-names>А. В.</given-names></name><name name-style="western" xml:lang="en"><surname>Korchagin</surname><given-names>A. V.</given-names></name></name-alternatives><bio xml:lang="ru"><p>Александр Владимирович Корчагин, лаборант-исследователь</p><p>119049, Москва, Ленинский просп., д. 4, стр. 1</p></bio><bio xml:lang="en"><p>Alexander V. Korchagin, Research Assistant</p><p>119049, Moscow, Leninsky ave., 4, building 1</p></bio><email xlink:type="simple">korchagin.av@edu.misis.ru</email><xref ref-type="aff" rid="aff-1"/></contrib></contrib-group><aff-alternatives id="aff-1"><aff xml:lang="ru"><institution>Национальный исследовательский технологический университет «МИСИС»</institution><country>Россия</country></aff><aff xml:lang="en"><institution>National University of Science and Technology “MISIS”</institution><country>Russian Federation</country></aff></aff-alternatives><pub-date pub-type="collection"><year>2026</year></pub-date><pub-date pub-type="epub"><day>22</day><month>08</month><year>2026</year></pub-date><volume>75</volume><issue>4</issue><fpage>102</fpage><lpage>110</lpage><permissions><copyright-statement>Copyright &amp;#x00A9; Козлова Н.С., Забелина Е.В., Умылин В.Е., Корчагин А.В., 2026</copyright-statement><copyright-year>2026</copyright-year><copyright-holder xml:lang="ru">Козлова Н.С., Забелина Е.В., Умылин В.Е., Корчагин А.В.</copyright-holder><copyright-holder xml:lang="en">Kozlova N.S., Zabelina E.V., Umylin V.E., Korchagin A.V.</copyright-holder><license xml:lang="ru" license-type="creative-commons-attribution" xlink:href="https://creativecommons.org/licenses/by/4.0/" xlink:type="simple"><license-p>Данная работа распространяется под лицензией Creative Commons Attribution 4.0.</license-p></license><license xml:lang="en" license-type="creative-commons-attribution" xlink:href="https://creativecommons.org/licenses/by/4.0/" xlink:type="simple"><license-p>This work is licensed under a Creative Commons Attribution 4.0 License.</license-p></license></permissions><self-uri xlink:href="https://www.izmt.ru/jour/article/view/2574">https://www.izmt.ru/jour/article/view/2574</self-uri><abstract><p>При создании современных устройств пьезо-, акустои оптоэлектроники, работающих в широком диапазоне температур, применяют рабочие элементы из полярных срезов ионных диэлектрических кристаллов полярных и полярно-нейтральных классов. На поверхности полярных срезов наносят токопроводящие покрытия, что приводит к деградации (вплоть до разрушения) кристаллических элементов. Однако природа такой деградации пока не установлена. Теоретически обоснованы механизмы возникновения электродвижущей силы и ионного переноса в системе «ионный диэлектрик металл (токопроводящее покрытие)». Показано, что основным фактором деградации активных элементов является процесс электрохимического разложения полярных срезов при контакте кристалла с металлическим токопроводящим покрытием, обусловленный различием свойств противоположных сторон полярных срезов кристаллов. При контакте поверхности полярных срезов кристаллов даже с одинаковыми токопроводящими покрытиями образуются разные продукты электрохимических реакций или одни и те же продукты разной концентрации. Это приводит к возникновению разности потенциалов и электродвижущей силы, которая индуцирует токи короткого замыкания. Определение токов короткого замыкания и их температурных зависимостей позволяет оценить интенсивность приэлектродных электрохимических процессов: чем меньше сила токов короткого замыкания, тем слабее электрохимические процессы. В данной работе обобщены результаты многолетних исследований токов короткого замыкания в ряде кристаллов, полученные авторами настоящей статьи. Описаны измерения электрических токов модельных кристаллов иодата лития на созданном ранее испытательном комплексе «СКИП» в рамках авторской методики измерений с использованием стандартного образца высокоомного сопротивления (100 МОм). Основной блок комплекса термокамера в виде трубчатой электропечи. Исследованы функциональные кристаллы лангатата с различными токопроводящими покрытиями, выращенные в разных атмосферах. Измерены температурные зависимости токов короткого замыкания полярных срезов данных кристаллов. Обнаружено, что с увеличением температуры в термокамере могут изменяться значение и направление протекания токов короткого замыкания из-за усиления процессов фазообразования, что подтверждается результатами фазового анализа. По результатам измерений токов короткого замыкания, подтверждённых данными фазового анализа, для лангатата наиболее подходящим вариантом токопроводящего покрытия является иридий.</p></abstract><trans-abstract xml:lang="en"><p>Active elements of polar cuts of ionic dielectric crystals of polar and polar-neutral classes with applied on their surface conductive coatings are used to create modern devices of piezo-, acousto-, optoelectronics operating in a wide temperature range. Conductive coatings are applied to the surface of polar slices, which leads to degradation of the crystal elements up to their destruction. However, the nature of such degradation has not yet been established. The mechanisms of electromotive force generation and ion transport in the «ionic dielectric-metal conductive coating» system have been theoretically substantiated. The main factor in the degradation of active elements is the electrochemical decomposition of polar cuts in contact with a metal conductive coating, which is caused by the difference in properties between the opposite sides of the polar cuts. Upon contact of the surface of the polar cuts of crystals, even with the same conductive coating, different products of electrochemical reactions or the same products of different concentrations are formed. This leads to a potential difference and an electromotive force, which induces short-circuit currents. The determination of the presence of short-circuit currents, their values and temperature dependences makes it possible to estimate the intensity of near-electrode electrochemical processes: the lower the strength of short-circuit currents, the weaker the electrochemical processes. This paper summarizes the results of long-term studies of short-circuit currents in a number of crystals obtained by the authors of this article. Measurements of electric currents of model lithium iodate crystals on the previously created SKIP test complex are described within the framework of the author's measurement methodology using a standard sample of high-resistance (100 mOhm). The main unit of the complex is a thermal chamber in the form of a tubular electric furnace. The successful application of the method of measuring the temperature dependences of short-circuit currents for the selection of conductive coatings of polar cuts of functional langatate crystals grown in different atmospheres with different conductive coatings is shown. It was found that as the temperature in the thermal chamber increases, the values and direction of the short-circuit currents may change due to the intensification of phase formation processes, which is confirmed by the results of phase analysis. The material of the conductive coatings that exhibited the lowest short-circuit currents and the fewest changes in current polarity was iridium.</p></trans-abstract><kwd-group xml:lang="ru"><kwd>токи короткого замыкания</kwd><kwd>ионные диэлектрические кристаллы</kwd><kwd>полярные срезы</kwd><kwd>электрохимические процессы</kwd><kwd>электрохимическое саморазложение</kwd><kwd>фазовый состав</kwd><kwd>достоверность измерений</kwd><kwd>токопроводящее покрытие</kwd><kwd>электрическое сопротивление</kwd><kwd>спадание тока от времени</kwd></kwd-group><kwd-group xml:lang="en"><kwd>short-circuit currents</kwd><kwd>ionic dielectric crystals</kwd><kwd>polar cuts</kwd><kwd>electrochemical processes</kwd><kwd>electrochemical selfdecomposition</kwd><kwd>phase composition</kwd><kwd>measurement accuracy</kwd><kwd>conductive coating</kwd><kwd>electrical resistance</kwd><kwd>current decay with time</kwd></kwd-group></article-meta></front><back><ref-list><title>References</title><ref id="cit1"><label>1</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Шаскольская М. П. Кристаллография. Высшая школа, Москва (1984).</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Shaskol’skaya M. P. Crystallography. Vysshaya Shkola Publ., Moscow (1984). (In Russ.)</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit2"><label>2</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Желудев И. С. Физика кристаллических диэлектриков. Наука, Москва (1968).</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Zheludev I. S. Physics of Crystalline Dielectrics. Nauka Publ., Moscow (1968). (In Russ.)</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit3"><label>3</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Gotmare S. W., Leontsev S. O., Eitel R. E. Thermal degradation and aging of high-temperature piezoelectric ceramics. Journal American Ceramic Society, 93(7), 1965–1969 (2010). https://doi.org/10.1111/j.1551-2916.2010.03663.x</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Gotmare S. W., Leontsev S. O., Eitel R. E. Thermal degradation and aging of high-temperature piezoelectric ceramics Journal American Ceramic Society, 93(7), 1965–1969 (2010). https://doi.org/10.1111/j.1551-2916.2010.03663.x</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit4"><label>4</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Schulze W. A., Ogino K. Review of literature on aging of dielectrics. Ferroelectrics, 87, 361–377 (1988). https://doi.org/10.1080/00150198808201399</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Schulze W. A., Ogino K. Review of literature on aging of dielectrics. Ferroelectrics, 87, 361–377 (1988). https://doi.org/10.1080/00150198808201399</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit5"><label>5</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Genenko Y. A., Glaum J., Hoffmann M. J., Albe K. Mechanisms of aging and fatigue in ferroelectrics. Materials Science and Engineering: B, 192, 52–82 (2015). https://doi.org/10.1016/j.mseb.2014.10.003 ; https://elibrary.ru/soiqpk</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Genenko Y. A., Glaum J., Hoffmann M. J., Albe K. Mechanisms of aging and fatigue in ferroelectrics. Materials Science and Engineering: B, 192, 52–82 (2015). https://doi.org/10.1016/j.mseb.2014.10.003 ; https://elibrary.ru/soiqpk</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit6"><label>6</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Шпортенко А. С., Кубасов И. В., Кислюк А. М., Турутин А. В., Малинкович М. Д., Пархоменко Ю. Н. Влияние контактных явлений на измерение электропроводности восстановленного ниобата лития. Известия высших учебных заведений. Материалы электронной техники, 24(3), 199–210 (2021). https://doi.org/10.17073/1609-3577-2021-3-199-210 ; https://elibrary.ru/jzzsfx</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Shportenko A. S., Kubasov I. V., Kislyuk A. M., Turutin A. V., Malinkovich M. D., Parkhomenko Yu. N. Influence of contact phenomena on the measurement of electrical conductivity of reduced lithium niobate. Materials of Electronics Engineering, 24(3), 199–210 (2021). (In Russ.) https://doi.org/10.17073/1609-3577-2021-3-199-210 ; https://elibrary.ru/jzzsfx</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit7"><label>7</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Козлова Н. С., Забелина Е. В. Влияние приэлектродных процессов на достоверность электрофизических измерений диэлектрических кристаллов. Тезисы докладов VII Международной научно-технической конференции «Метрология физико-химических измерений», Ярославль, 2–5 сентября 2025 г., с. 97–99, ВНИИФТРИ, Менделеево (2025). https://elibrary.ru/gonmsj</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Kozlova N. S., Zabelina E. V. Influence of near-electrode processes on the reliability of electrophysical measurements of dielectric crystals. Abstracts of the VII International Scientific and Technical Conference “Metrology of Physicochemical Measurements”, Yaroslavl, 2–5 September, 2025. VNIIFTRI, Mendeleevo, pp. 97–99 (2025). (In Russ.) https://elibrary.ru/gonmsj</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit8"><label>8</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Блистанов А. А., Козлова, Н. С., Гераськин В. В. Влияние поверхностных состояний на особенности фазовых превращений и формирование структурных дефектов в кристаллах иодата лития. Известия высших учебных заведений. Цветная металлургия, 4, 66–71 (1996).</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Blistanov A. A., Kozlova N. S., Geras’kin V. V. Influence of surface states on the features of phase transformations and the formation of structural defects in lithium iodate crystals. Izvestiya vuzov. Tsvetnaya metallurgiya, (4), 66–71 (1996). (In Russ.)</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit9"><label>9</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Blistanov A. A., Kozlova N. S., Geras’kin V. V. The phenomenon of electrochemical self-decomposition in polar dielectrics. Ferroelectrics, 198(1), 61–66 (1997). https://doi.org/10.1080/00150199708228338 ; https://elibrary.ru/mqsoch</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Blistanov A. A., Kozlova N. S., Geras’kin V. V. The phenomenon of electrochemical self-decomposition in polar dielectrics. Ferroelectrics, 198(1), 61–66 (1997). https://doi.org/10.1080/00150199708228338; https://elibrary.ru/mqsoch</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit10"><label>10</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Блистанов А. А., Козлова Н. С., Гераськин В. В. Явление электрохимического разложения полярных диэлектрических кристаллов (диплом № 216). Научные открытия: Сборник кратких описаний научных открытий, научных гипотез, (2), 20 (2002).</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Blistanov A. A., Kozlova N. S., Geras’kin V. V. The phenomenon of electrochemical decomposition of polar dielectric crystals (Diploma No. 216). Nauchnye otkrytiya: Sbornik kratkikh opisanii nauchnykh otkrytii, nauchnykh gipotez, (2), 20 (2002). (In Russ.)</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit11"><label>11</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Zhu Yong, Zhang Dao-Fan, Xu Zheng-Yi. The electrical properties of KLiSO4 single crystals. Acta Physica Sinica, 31(8), 1073–1079 (1982). (In Chin.) https://doi.org/10.7498/aps.31.1073</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Zhu Yong, Zhang Dao-Fan, Xu Zheng-Yi. The electrical properties of KLiSO4 single crystals. Acta Physica Sinica, 31(8), 1073–1079 (1982). (In Chin.) https://doi.org/10.7498/aps.31.1073</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit12"><label>12</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Juhasz C., Gil-Zambrano J. L. Spontaneous electric currents from nylon films. Journal of Physics D: Applied Physics, 15(2), 327–336 (1982). https://doi.org/10.1088/0022-3727/15/2/019</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Juhasz C., Gil-Zambrano J. L. Spontaneous electric currents from nylon films. Journal of Physics D: Applied Physics, 15(2), 327–336 (1982). https://doi.org/10.1088/0022-3727/15/2/019</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit13"><label>13</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Sharma R., Sud L. V. Temperature-dependent currents in unpolarised poly(vinyl alcohol). Journal of Physics D: Applied Physics, 14(9), 1671–1676 (1981). https://doi.org/10.1088/0022-3727/14/9/015</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Sharma R., Sud L. V. Temperature-dependent currents in unpolarised poly(vinyl alcohol). Journal of Physics D: Applied Physics, 14(9), 1671–1676 (1981). https://doi.org/10.1088/0022-3727/14/9/015</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit14"><label>14</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Srivastava J. P., Shrivastava S. K., Srivastava A. P. Thermally stimulated discharge currents from unpoled iodine doped polyvinylacetate. Japanese Journal of Applied Physics, 20(12), 2439–2442 (1981). https://doi.org/10.1143/JJAP.20.2439</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Srivastava J. P., Shrivastava S. K., Srivastava A. P. Thermally stimulated discharge currents from unpoled iodine doped polyvinylacetate. Japanese Journal of Applied Physics, 20(12), 2439–2442 (1981). https://doi.org/10.1143/JJAP.20.2439</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit15"><label>15</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Kozlova N. S., Zabelina E. V., Kozlova A. P., Buzanov O. A. Features of behavior of near-electrode processes of dielectric crystals. 2019 IEEE International Symposium on Applications of Ferroelectrics (ISAF), Lausanne, Switzerland, July 14–19, 2019. https://doi.org/10.1109/ISAF43169.2019.9034964 ; https://elibrary.ru/cycgnf</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Kozlova N. S., Zabelina E. V., Kozlova A. P., Buzanov O. A. Features of behavior of near-electrode processes of dielectric crystals. 2019 IEEE International Symposium on Applications of Ferroelectrics (ISAF), Lausanne, Switzerland, July 14–19, 2019. https://doi.org/10.1109/ISAF43169.2019.9034964 ; https://elibrary.ru/cycgnf</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit16"><label>16</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Козлова Н. С., Забелина Е. В., Быкова М. Б., Козлова А. П. Особенности проявления поверхностных электрохимических процессов в сегнетоэлектрических кристаллах с низкотемпературными фазовыми переходами. Известия высших учебных заведений. Материалы электронной техники, 21(3), 146–155 (2018). https://doi.org/10.17073/1609-3577-2018-3-146-155 ; https://elibrary.ru/dsiaew</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Kozlova N. S., Zabelina E. V., Bykova M. B., Kozlova A. P. Features of manifestation of surface electrochemical processes in ferroelectric crystals with low-temperature phase transitions. Materials of Electronics Engineering, 21(3), 146–155 (2018). (In Russ.) https://doi.org/10.17073/1609-3577-2018-3-146-155 ; https://elibrary.ru/dsiaew</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit17"><label>17</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Умылин В. Е., Козлова Н. С., Забелина Е. В., Корчагин А. В., Петраков В. С. Зависимость токов короткого замыкания от температуры в кристаллах α-LiIO3. Известия высших учебных заведений. Материалы электронной техники, 28(1), 25–33 (2025). https://doi.org/10.17073/1609-3577j.met202503.639 ; https://elibrary.ru/ctjfsb</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Umylin V. E., Kozlova N. S., Zabelina E. V., Korchagin A. V., Petrakov V. S. Temperature dependence of short-circuit currents in α-LiIO3 crystals. Materials of Electronics Engineering, 28(1), 25–33 (2025). (In Russ.) https://doi.org/10.17073/1609-3577j.met202503.639 ; https://elibrary.ru/ctjfsb</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit18"><label>18</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Иодат лития: выращивание кристаллов, их свойства и применение. Под ред. Богданова С. В. Наука, Сибирское отделение, Новосибирск (1980).</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Lithium iodate: Crystal growth, properties, and applications. Bogdanov S. V. (ed.). Nauka Publ., Novosibirsk (1980). (In Russ.)</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit19"><label>19</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Поплавко Ю. М. Физика диэлектриков. Вища школа, Киев (1980).</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Poplavko Yu. M. Physics of Dielectrics. Vishcha Shkola Publ., Kiev (1980). (In Russ.)</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit20"><label>20</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Safyanov I. V., Dzhabrailov K. A., Gematudinov R. A. Study of the possibility of using langatate and langasite crystals as a sensing element in vehicle weight sensors in dynamics. 2022 Intelligent Technologies and Electronic Devices in Vehicle and Road Transport Complex (TIRVED) IEEE, Moscow, November 10–11 2022, pp. 1–5 (2022). https://doi.org/10.1109/TIRVED56496.2022.9965510</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Safyanov I. V., Dzhabrailov K. A., Gematudinov R. A. Study of the possibility of using langatate and langasite crystals as a sensing element in vehicle weight sensors in dynamics. 2022 Intelligent Technologies and Electronic Devices in Vehicle and Road Transport Complex (TIRVED) IEEE, Moscow, November 10–11 2022, pp. 1–5 (2022). https://doi.org/10.1109/TIRVED56496.2022.9965510</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit21"><label>21</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Wang S., Thinakaran G., Ji C., Dai P., Guo G., Shen L., Bao N. Growth of large langatate (La3Ta0.5Ga5.5O14, LTG) crystals with high electrical resistivity. Materials Research Bulletin, 152, 111848 (2022). https://doi.org/10.1016/j.materresbull.2022.111848 ; https://elibrary.ru/fqhrqp</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Wang S., Thinakaran G., Ji C., Dai P., Guo G., Shen L., Bao N. Growth of large langatate (La3Ta0.5Ga5.5O14, LTG) crystals with high electrical resistivity. Materials Research Bulletin, 152, 111848 (2022). https://doi.org/10.1016/j.materresbull.2022.111848 ; https://elibrary.ru/fqhrqp</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit22"><label>22</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Wang S., Wang X., Ji C., Dai P., Shen L., Bao N. Growth of high-quality langatate crystals by the Czochralski method with elimination of Ga2O3 volatilization. CrystEngComm, 26(9), 1312–1318 (2024). https://doi.org/10.1039/d3ce01198d ; https://elibrary.ru/ooygvc</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Wang S., Wang X., Ji C., Dai P., Shen L., Bao N. Growth of high-quality langatate crystals by the Czochralski method with elimination of Ga2O3 volatilization. CrystEngComm, 26(9), 1312–1318 (2024). https://doi.org/10.1039/d3ce01198d ; https://elibrary.ru/ooygvc</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit23"><label>23</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Boutahraoui B., Ghezal E. A., Nehari A. et al. Impact of growth atmosphere on langatate (La3Ga5.5Ta0.5O14) crystals grown by Czochralski technique and its coloration. Optical Materials, 128, 112409 (2022). https://doi.org/10.1016/j.optmat.2022.112409 ; https://elibrary.ru/ifewwq</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Boutahraoui B., Ghezal E. A., Nehari A. et al. Impact of growth atmosphere on langatate (La3Ga5.5Ta0.5O14) crystals grown by Czochralski technique and its coloration. Optical Materials, 128, 112409 (2022). https://doi.org/10.1016/j.optmat.2022.112409 ; https://elibrary.ru/ifewwq</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit24"><label>24</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Mill B. V., Maximov B. A., Pisarevsky Yu. V., Danilova N. P., Markina M. P., Pavlovska A., Werner S., Schneider J. Phase transitions in langasite family crystals. IEEE Ultrasonics, Ferroelectrics and Frequency Control Joint 50th Anniversary Conference, Montreal, Canada, August 23–27 2004, pp. 52–60. https://doi.org/10.1109/FREQ.2004.1418428</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Mill B. V., Maximov B. A., Pisarevsky Yu. V., Danilova N. P., Markina M. P., Pavlovska A., Werner S., Schneider J. Phase transitions in langasite family crystals. IEEE Ultrasonics, Ferroelectrics and Frequency Control Joint 50th Anniversary Conference, Montreal, Canada, August 23–27 2004. https://doi.org/10.1109/FREQ.2004.1418428</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit25"><label>25</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Кугаенко О. М., Базалевская С. С., Сагалова Т. Б., Петраков В. С., Бузанов О. А., Сахаров С. А. Высокотемпературная устойчивость фазового состава кристаллов семейства лангасита. Известия РАН. Серия физическая, 78(10), 1322–1329 (2014). https://doi.org/10.7868/S0367676514100135; https://elibrary.ru/snwuxn</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Kugaenko O. M., Bazalevskaya S. S., Sagalova T. B., Petrakov V. S., Buzanov O. A., Sakharov S. A. High-temperature stability of the phase composition of langasite family crystals. Izvestiya RAN. Seriya fizicheskaya, 78(10), 1322–1329 (2014). (In Russ.) https://doi.org/10.7868/S0367676514100135; https://elibrary.ru/snwuxn</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit26"><label>26</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Базалевская С. С., Кугаенко О. М., Петраков В. С., Бузанов О. А., Сахаров С. А. Исследование температурного диапазона работоспособности монокристаллических пьезоэлектрических элементов на основе кристаллов семейства лангасита. Известия РАН. Серия физическая, 80(10), 1423–1429 (2016). https://doi.org/10.7868/S0367676516100069 ; https://elibrary.ru/wlnlmp</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Bazalevskaya S. S., Kugaenko O. M., Petrakov V. S., Buzanov O. A., Sakharov S. A. Study of the temperature range of operability of single-crystal piezoelectric elements based on langasite family crystals. Izvestiya RAN. Seriya fizicheskaya, 80(10), 1423–1429 (2016). (In Russ.) https://doi.org/10.7868/S0367676516100069 ; https://elibrary.ru/wlnlmp</mixed-citation></citation-alternatives></ref></ref-list><fn-group><fn fn-type="conflict"><p>The authors declare that there are no conflicts of interest present.</p></fn></fn-group></back></article>
