<?xml version="1.0" encoding="UTF-8"?>
<!DOCTYPE article PUBLIC "-//NLM//DTD JATS (Z39.96) Journal Publishing DTD v1.3 20210610//EN" "JATS-journalpublishing1-3.dtd">
<article article-type="research-article" dtd-version="1.3" xmlns:mml="http://www.w3.org/1998/Math/MathML" xmlns:xlink="http://www.w3.org/1999/xlink" xmlns:xsi="http://www.w3.org/2001/XMLSchema-instance" xml:lang="ru"><front><journal-meta><journal-id journal-id-type="publisher-id">izmertech</journal-id><journal-title-group><journal-title xml:lang="ru">Измерительная техника</journal-title><trans-title-group xml:lang="en"><trans-title>Izmeritel`naya Tekhnika</trans-title></trans-title-group></journal-title-group><issn pub-type="ppub">0368-1025</issn><issn pub-type="epub">2949-5237</issn><publisher><publisher-name>ФГУП "ВНИИФТРИ"</publisher-name></publisher></journal-meta><article-meta><article-id custom-type="elpub" pub-id-type="custom">izmertech-25</article-id><article-categories><subj-group subj-group-type="heading"><subject>Research Article</subject></subj-group><subj-group subj-group-type="section-heading" xml:lang="ru"><subject>ТЕПЛОФИЗИЧЕСКИЕ ИЗМЕРЕНИЯ</subject></subj-group><subj-group subj-group-type="section-heading" xml:lang="en"><subject>THERMOPHYSIC MEASUREMENTS</subject></subj-group></article-categories><title-group><article-title>Оценка методической погрешности при фотоэмиссионных измерениях температуры</article-title><trans-title-group xml:lang="en"><trans-title></trans-title></trans-title-group></title-group><contrib-group><contrib contrib-type="author" corresp="yes"><name-alternatives><name name-style="eastern" xml:lang="ru"><surname>Вязова</surname><given-names>Е. А.</given-names></name></name-alternatives><email xlink:type="simple">viazava.kate@gmail.com</email><xref ref-type="aff" rid="aff-1"/></contrib><contrib contrib-type="author" corresp="yes"><name-alternatives><name name-style="eastern" xml:lang="ru"><surname>Каспаров</surname><given-names>К. Н.</given-names></name></name-alternatives><email xlink:type="simple">noemail@neicon.ru</email><xref ref-type="aff" rid="aff-1"/></contrib><contrib contrib-type="author" corresp="yes"><name-alternatives><name name-style="eastern" xml:lang="ru"><surname>Пенязьков</surname><given-names>О. Г.</given-names></name></name-alternatives><email xlink:type="simple">noemail@neicon.ru</email><xref ref-type="aff" rid="aff-1"/></contrib></contrib-group><aff xml:lang="ru" id="aff-1"><institution>Институт тепло- и массообмена им. А. В. Лыкова НАН Беларуси</institution><country>Russian Federation</country></aff><pub-date pub-type="collection"><year>2018</year></pub-date><pub-date pub-type="epub"><day>07</day><month>02</month><year>2023</year></pub-date><volume>0</volume><issue>1</issue><fpage>32</fpage><lpage>35</lpage><permissions><copyright-statement>Copyright &amp;#x00A9; ФГУП "ВНИИФТРИ", 2023</copyright-statement><copyright-year>2023</copyright-year><copyright-holder xml:lang="ru">ФГУП "ВНИИФТРИ"</copyright-holder><copyright-holder xml:lang="en">ФГУП "ВНИИФТРИ"</copyright-holder><license xlink:href="https://www.izmt.ru/jour/about/submissions#copyrightNotice" xlink:type="simple"><license-p>https://www.izmt.ru/jour/about/submissions#copyrightNotice</license-p></license></permissions><self-uri xlink:href="https://www.izmt.ru/jour/article/view/25">https://www.izmt.ru/jour/article/view/25</self-uri><abstract><p>Рассмотрена зависимость методической погрешности фотоэмиссионных измерений температуры объекта от его излучательной способности, селективности спектральной характеристики и температуры поверхности. Приведены графические зависимости для определения методической погрешности при температуре 2000 К в диапазоне значений селективности излучательной способности -0,1…-0,7 с шагом 0,05.</p></abstract><trans-abstract xml:lang="en"><p>Dependence of procedural error of temperature measurements by the photoemission method from surface emissivity, spectral characteristic selectivity and temperature is shown. Graph for procedural error definition at temperature T = 2000 K in range of selectivity from -0,1 to -0,7 with increment 0,05 was made as an example.</p></trans-abstract><kwd-group xml:lang="ru"><kwd>температура</kwd><kwd>методическая погрешность</kwd><kwd>излучательная способность</kwd><kwd>temperature</kwd><kwd>procedural error</kwd><kwd>emissivity</kwd></kwd-group></article-meta></front><back><ref-list><title>References</title><ref id="cit1"><label>1</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Каспаров К. Н. Фотоэмиссионный анализ оптического излучения. Минск: Беларуская навука, 2011.</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Каспаров К. Н. Фотоэмиссионный анализ оптического излучения. Минск: Беларуская навука, 2011.</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit2"><label>2</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Kasparov K. N., Zaretskii N. I. Nonoptical Method of Spectral Cathode-Luminescence Analysis // Scanning. 1991. V. 13. No. 6. P. 415-418.</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Kasparov K. N., Zaretskii N. I. Nonoptical Method of Spectral Cathode-Luminescence Analysis // Scanning. 1991. V. 13. No. 6. P. 415-418.</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit3"><label>3</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Зевадский Ю. Э., Самойлов Д. В. Фотоэмиссионный метод измерения спектров для спектрофотометрического определения констант ионизации // Известия СПбГИ(ТУ). 2009. № 6 (32). С. 44-49.</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Зевадский Ю. Э., Самойлов Д. В. Фотоэмиссионный метод измерения спектров для спектрофотометрического определения констант ионизации // Известия СПбГИ(ТУ). 2009. № 6 (32). С. 44-49.</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit4"><label>4</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Kasparov K. N., Ivlev G. D., Belaziorava L. I., Mironov V. N., Penyazkov O. G. High temperature measurement in fast phenomena by spectrometry of photoelectrons // High Temperatures-High Pressures. 2012. V. 41. No. 5. P. 325-340.</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Kasparov K. N., Ivlev G. D., Belaziorava L. I., Mironov V. N., Penyazkov O. G. High temperature measurement in fast phenomena by spectrometry of photoelectrons // High Temperatures-High Pressures. 2012. V. 41. No. 5. P. 325-340.</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit5"><label>5</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Pat 2015/0124244 USA. Emissivity independent optical pyrometer: INT CL G01J 5/08 (2006.01) / Earl D. D., Kisner R. A. UT-Battelle, LLC. - № 14/072,380; date of filling 05.11.2013; publ. date 07.05.2015.</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Pat 2015/0124244 USA. Emissivity independent optical pyrometer: INT CL G01J 5/08 (2006.01) / Earl D. D., Kisner R. A. UT-Battelle, LLC. - № 14/072,380; date of filling 05.11.2013; publ. date 07.05.2015.</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit6"><label>6</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Магунов А. Н. Измерение температуры объектов с неизвестной излучательной способностью методом спектральной пирометрии // Научное приборостроение. 2010. Т. 20. №3. С. 22-26.</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Магунов А. Н. Измерение температуры объектов с неизвестной излучательной способностью методом спектральной пирометрии // Научное приборостроение. 2010. Т. 20. №3. С. 22-26.</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit7"><label>7</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Zhi-Wei Jiang, Zi-Xue Luo, Huai-Chun Zhou. A simple measurement method of temperature and emissivity of coal-fired flames from visible radiation image and its application in a CFB boiler furnace // Fuel. 2009. V. 88. P. 980-987.</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Zhi-Wei Jiang, Zi-Xue Luo, Huai-Chun Zhou. A simple measurement method of temperature and emissivity of coal-fired flames from visible radiation image and its application in a CFB boiler furnace // Fuel. 2009. V. 88. P. 980-987.</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit8"><label>8</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Арсеньева-Гейль А. Н. Внешний фотоэффект с полупроводников и диэлектриков. М.: Гостехиздат, 1957.</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Арсеньева-Гейль А. Н. Внешний фотоэффект с полупроводников и диэлектриков. М.: Гостехиздат, 1957.</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit9"><label>9</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Добрецов Л. Н., Гомоюнова М. В. Эмиссионная электроника М.: Наука, 1966.</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Добрецов Л. Н., Гомоюнова М. В. Эмиссионная электроника М.: Наука, 1966.</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit10"><label>10</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Власов В. Ф. Электровакуумные приборы. М.: Гос. изд-во литературы по вопросам связи и радио, 1949, С.98 -118.</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Власов В. Ф. Электровакуумные приборы. М.: Гос. изд-во литературы по вопросам связи и радио, 1949, С.98 -118.</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit11"><label>11</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Излучательные свойства твердых материалов: справочник / Под ред. А. Е. Шейндлина. М.: Энергия, 1974.</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Излучательные свойства твердых материалов: справочник / Под ред. А. Е. Шейндлина. М.: Энергия, 1974.</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit12"><label>12</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Гуревич М. М. Введение в фотометрию. М.: Энергия, 1968.</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Гуревич М. М. Введение в фотометрию. М.: Энергия, 1968.</mixed-citation></citation-alternatives></ref></ref-list><fn-group><fn fn-type="conflict"><p>The authors declare that there are no conflicts of interest present.</p></fn></fn-group></back></article>
