<?xml version="1.0" encoding="UTF-8"?>
<!DOCTYPE article PUBLIC "-//NLM//DTD JATS (Z39.96) Journal Publishing DTD v1.3 20210610//EN" "JATS-journalpublishing1-3.dtd">
<article article-type="research-article" dtd-version="1.3" xmlns:mml="http://www.w3.org/1998/Math/MathML" xmlns:xlink="http://www.w3.org/1999/xlink" xmlns:xsi="http://www.w3.org/2001/XMLSchema-instance" xml:lang="ru"><front><journal-meta><journal-id journal-id-type="publisher-id">izmertech</journal-id><journal-title-group><journal-title xml:lang="ru">Измерительная техника</journal-title><trans-title-group xml:lang="en"><trans-title>Izmeritel`naya Tekhnika</trans-title></trans-title-group></journal-title-group><issn pub-type="ppub">0368-1025</issn><issn pub-type="epub">2949-5237</issn><publisher><publisher-name>ФГУП "ВНИИФТРИ"</publisher-name></publisher></journal-meta><article-meta><article-id pub-id-type="doi">10.32446/0368-1025it.2026-1-101-110</article-id><article-id custom-type="elpub" pub-id-type="custom">izmertech-2418</article-id><article-categories><subj-group subj-group-type="heading"><subject>Research Article</subject></subj-group><subj-group subj-group-type="section-heading" xml:lang="ru"><subject>ДИСКУССИОННЫЕ ВОПРОСЫ МЕТРОЛОГИИ</subject></subj-group><subj-group subj-group-type="section-heading" xml:lang="en"><subject>DISCUSSION ISSUES OF METROLOGY</subject></subj-group></article-categories><title-group><article-title>Пути решения проблем создания предиктивных измерительных систем</article-title><trans-title-group xml:lang="en"><trans-title>Ways to solve the problems of creating predictive measurement systems</trans-title></trans-title-group></title-group><contrib-group><contrib contrib-type="author" corresp="yes"><contrib-id contrib-id-type="orcid">https://orcid.org/0000-0002-5882-3160</contrib-id><name-alternatives><name name-style="eastern" xml:lang="ru"><surname>Сулаберидзе</surname><given-names>В. Ш.</given-names></name><name name-style="western" xml:lang="en"><surname>Sulaberidze</surname><given-names>V. Sh.</given-names></name></name-alternatives><bio xml:lang="ru"><p>Владимир Шалвович Сулаберидзе, д-р техн. наук, старший научный сотрудник, ведущий научный сотрудник научно-исследовательской лаборатории теоретической метрологии</p><p>190005, Санкт-Петербург, Московский пр., 19</p></bio><bio xml:lang="en"><p>Vladimir Sh. Sulaberidze, D. Sci. (Engineering), Senior Researcher, Leading Researcher of the Research Laboratory of Theoretical Metrology</p><p>190005, St. Petersburg, Moskovsky ave., 19</p></bio><email xlink:type="simple">sula_vlad@mail.ru</email><xref ref-type="aff" rid="aff-1"/></contrib><contrib contrib-type="author" corresp="yes"><contrib-id contrib-id-type="orcid">https://orcid.org/0000-0002-6222-5884</contrib-id><name-alternatives><name name-style="eastern" xml:lang="ru"><surname>Чуновкина</surname><given-names>А. Г.</given-names></name><name name-style="western" xml:lang="en"><surname>Chunovkina</surname><given-names>A. G.</given-names></name></name-alternatives><bio xml:lang="ru"><p>Анна Гурьевна Чуновкина, д-р техн. наук, руководитель отдела метрологии; профессор кафедры метрологического обеспечения инновационных технологий и промышленной безопасности</p><p>190005, Санкт-Петербург, Московский пр., 19; 190121, Санкт-Петербург, ул. Большая Морская, д. 67, лит. А</p></bio><bio xml:lang="en"><p>Anna G. Chunovkina, D. Sci. (Engineering), Head of the Metrology Department; Professor at the Department of Metrological Support for Innovative Technologies and Industrial Safety</p><p>190005, St. Petersburg, Moskovsky ave., 19; 190121, Russia, St. Petersburg, Bolshaya Morskaya st., 67, bldg. A</p></bio><email xlink:type="simple">a.g.chunovkina@vniim.ru</email><xref ref-type="aff" rid="aff-2"/></contrib><contrib contrib-type="author" corresp="yes"><name-alternatives><name name-style="eastern" xml:lang="ru"><surname>Пронин</surname><given-names>А. Н.</given-names></name><name name-style="western" xml:lang="en"><surname>Pronin</surname><given-names>A. N.</given-names></name></name-alternatives><bio xml:lang="ru"><p>Антон Николаевич Пронин, генеральный директор </p><p>190005, Санкт-Петербург, Московский пр., 19</p></bio><bio xml:lang="en"><p>Anton N. Pronin, Director </p><p>190005, St. Petersburg, Moskovsky ave, 19</p></bio><email xlink:type="simple">A.N.Pronin@vniim.ru</email><xref ref-type="aff" rid="aff-1"/></contrib><contrib contrib-type="author" corresp="yes"><contrib-id contrib-id-type="orcid">https://orcid.org/0009-0005-0472-6962</contrib-id><name-alternatives><name name-style="eastern" xml:lang="ru"><surname>Неклюдова</surname><given-names>А. А.</given-names></name><name name-style="western" xml:lang="en"><surname>Nekliudova</surname><given-names>A. A.</given-names></name></name-alternatives><bio xml:lang="ru"><p>Анастасия Александровна Неклюдова, канд. техн. наук, главный метролог,доцент кафедры теоретической и прикладной метрологии; доцент кафедры метрологического обеспечения инновационных технологий и промышленной безопасности</p><p>190005, Санкт-Петербург, Московский пр., 19; 190121, Санкт-Петербург, ул. Большая Морская, д. 67, лит. А</p><p>ResearcherID: O-3887–2018</p></bio><bio xml:lang="en"><p>Anastasia A. Nekliudova, Cand. Sci. (Engineering), Chief Metrologist, Associate Professor of the Department of Theoretical and Applied Metrology; Associate Professor at the Department of Metrological Support for Innovative Technologies and Industrial Safety</p><p>190005, St. Petersburg, Moskovsky ave, 19; 190121, St. Petersburg, BolshayaMorskaya st., 67, bldg. A</p><p>ResearcherID: O-3887–2018</p></bio><email xlink:type="simple">a.a.tsurko@vniim.ru</email><xref ref-type="aff" rid="aff-2"/></contrib><contrib contrib-type="author" corresp="yes"><contrib-id contrib-id-type="orcid">https://orcid.org/0000-0002-9868-1531</contrib-id><name-alternatives><name name-style="eastern" xml:lang="ru"><surname>Томский</surname><given-names>К. А.</given-names></name><name name-style="western" xml:lang="en"><surname>Tomskyi</surname><given-names>K. A.</given-names></name></name-alternatives><bio xml:lang="ru"><p>Константин Абрамович Томский, д-р техн. наук, профессор кафедры «Теоретическая и прикладная метрология»</p><p>190005, Санкт-Петербург, Московский пр., 19</p></bio><bio xml:lang="en"><p>Konstantin A. Tomskyi, D. Sci. (Engineering), Professor of the Department of Theoretical and Applied Metrology</p><p>190005, St. Petersburg, Moskovsky ave., 19</p></bio><email xlink:type="simple">tka46@mail.ru</email><xref ref-type="aff" rid="aff-3"/></contrib></contrib-group><aff-alternatives id="aff-1"><aff xml:lang="ru"><institution>Всероссийский научно-исследовательский институт метрологии им. Д. И. Менделеева</institution><country>Россия</country></aff><aff xml:lang="en"><institution>D. I. Mendeleyev Institute for Metrology</institution><country>Russian Federation</country></aff></aff-alternatives><aff-alternatives id="aff-2"><aff xml:lang="ru"><institution>Всероссийский научно-исследовательский институт метрологии им. Д. И. Менделеева; Санкт-Петербургский государственный университет аэрокосмического приборостроения</institution><country>Россия</country></aff><aff xml:lang="en"><institution>D. I. Mendeleyev Institute for Metrology; Saint-Petersburg State University of Aerospace Instrumentation</institution><country>Russian Federation</country></aff></aff-alternatives><aff xml:lang="ru" id="aff-3"><institution>Всероссийский научно-исследовательский институт метрологии им. Д. И. Менделеева</institution><country>Russian Federation</country></aff><pub-date pub-type="collection"><year>2026</year></pub-date><pub-date pub-type="epub"><day>14</day><month>03</month><year>2026</year></pub-date><volume>75</volume><issue>1</issue><fpage>101</fpage><lpage>110</lpage><permissions><copyright-statement>Copyright &amp;#x00A9; ФГУП "ВНИИФТРИ", 2026</copyright-statement><copyright-year>2026</copyright-year><copyright-holder xml:lang="ru">ФГУП "ВНИИФТРИ"</copyright-holder><copyright-holder xml:lang="en">ФГУП "ВНИИФТРИ"</copyright-holder><license xlink:href="https://www.izmt.ru/jour/about/submissions#copyrightNotice" xlink:type="simple"><license-p>https://www.izmt.ru/jour/about/submissions#copyrightNotice</license-p></license></permissions><self-uri xlink:href="https://www.izmt.ru/jour/article/view/2418">https://www.izmt.ru/jour/article/view/2418</self-uri><abstract><p>Рассмотрены основные проблемы создания предиктивных измерительных систем. Показана роль предиктивной аналитики, цифровых моделей и цифровых двойников измерительных систем в прогнозировании дрейфа метрологических характеристик, оценке остаточного ресурса и снижения риска метрологического отказа. Рассмотрены ключевые аспекты развития интеллектуальных измерительных систем: требования к метрологическому обеспечению и особенности средств измерений на основе искусственного интеллекта, влияние их много компонентности и непрозрачности алгоритмов на процедуры поверки, калибровки и метрологического самоконтроля. На основе действующих стандартов и научных публикаций оценена терминология, используемая в данной области, предложено определение предиктивной измерительной системы, включающее функции прогнозирования как параметров технологического процесса, так и метрологической надёжности средств измерений. Сформулированы рекомендации по совершенствованию методов оценки риска метрологического отказа и отмечена необходимость детализации требований к интеллектуальным измерительным системам посредством разработки (пересмотра) стандартов.</p></abstract><trans-abstract xml:lang="en"><p>The main problems of creating predictive measurement systems are considered. The role of predictive analytics, digital models and digital twins of measuring systems in predicting the drift of metrological characteristics, estimating the remaining resource and reducing the risk of metrological failure is shown. The key aspects of the development of intelligent measuring systems are considered: requirements for metrological support and features of measuring instruments based on artifi cial intelligence, the infl uence of their multicomponence and opacity of algorithms on the procedures of verifi cation, calibration and metrological self-control. Based on current standards and scientifi c publications, the terminology used in this fi eld is evaluated, and a defi nition of a predictive measuring system is proposed, including functions for predicting both process parameters and the metrological dependability of measuring instruments. Recommendations are formulated to improve methods for assessing the risk of metrological failure and the need to detail the requirements for intelligent measuring systems through the development (revision) of standards is noted.</p></trans-abstract><kwd-group xml:lang="ru"><kwd>интеллектуальная измерительная система</kwd><kwd>адаптивная измерительная система</kwd><kwd>предиктивная&#13;
измерительная система</kwd><kwd>автоматизированная техническая система</kwd><kwd>автоматизированная измерительная система</kwd><kwd>предиктивная аналитика</kwd><kwd>цифровизация технологического процесса</kwd><kwd>цифровой двойник</kwd><kwd>средства измерений</kwd><kwd>искусственный интеллект</kwd><kwd>метрологическая надёжность</kwd><kwd>риск метрологического отказа</kwd></kwd-group><kwd-group xml:lang="en"><kwd>intelligent measuring system</kwd><kwd>adaptive measuring system</kwd><kwd>predictive measuring system</kwd><kwd>automated&#13;
technical system</kwd><kwd>automated measuring system</kwd><kwd>predictive analytics</kwd><kwd>digitalization of the technological process</kwd><kwd>digital twin</kwd><kwd>measuring instruments</kwd><kwd>artificial intelligence</kwd><kwd>metrological dependability</kwd><kwd>risk of metrological failure</kwd></kwd-group><funding-group><funding-statement xml:lang="ru">Авторы заявляют, что во время подготовки данной рукописи не было получено никаких средств, грантов или другой поддержки.</funding-statement><funding-statement xml:lang="en">The authors declare that no funds, grants, or other supports were received during the preparation of this manuscript.</funding-statement></funding-group></article-meta></front><back><ref-list><title>References</title><ref id="cit1"><label>1</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Шепелева О. С., Ткачёва К. А. Этика и «цифра»: этические проблемы цифровых технологий. https://ethics. cdto.ranepa.ru (дата обращения: 08.06.2025).</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Shepeleva O. S., Tkacheva K. A. Ethics and “numbers”: ethical issues of digital technologies. (In Russ.) https://ethics. cdto.ranepa.ru (accessed: 8 Jun 2025).</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit2"><label>2</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Искусственный интеллект в России: разработка и применение: доклад. Под ред. Гохберга Л. М., Рудника П. Б., Абдрахмановой Г. И. Национальный исследовательский университет «Высшая школа экономики», Москва (2025). https://issek.hse.ru/mirror/pubs/share/1053986532.pdf (дата обращения: 08.06.2025).</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Artifi cial intelligence in Russia: development and application: report. Gokhberg L. M., Rudnik P. B., Abdrakhmanova G. I. (ed.), National Research University Higher School of Economics, Moscow (2025). (In Russ.) https://issek.hse.ru/ (accessed: 8 June 2025).</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit3"><label>3</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Сигель Э. Просчитать будущее: Кто кликнет, купит, соврёт или умрёт. Альпина Паблишер, Москва (2014).</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Siegel E. Calculate the future: Whoever clicks, buys, lies or dies. Al’pina Pablisher, Moscow (2014). (In Russ.)</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit4"><label>4</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Shabbir J., Anwer T. Artifi cial Intelligence and its role in near future. 1 Apr 2018. . https://doi.org/10.48550/arXiv.1804.01396</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Shabbir J., Anwer T. Artifi cial Intelligence and its role in near future. 1 Apr 2018. https://doi.org/10.48550/arXiv.1804.01396</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit5"><label>5</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Qomariyah N. N. Artifi cial Intelligence Defi nition. https://international.binus.ac.id/computer-science/2020/11/09/artifi cialintelligence-defi nition/ (дата обращения: 20.05.2025).</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Qomariyah N. N. Artifi cial Intelligence Defi nition. https://international.binus.ac.id/computer-science/2020/11/09/artifi cialintelligence-definition/ (accessed: 20 May 2025).</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit6"><label>6</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">De Kleijn M., Siebert M. Huggett S. Artificial Intelligence: how knowledge is created, transferred and used (2019). https://repository.ifla.org/handle/20.500.14598/6732 (дата обращения: 28.01.2026).</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">De Kleijn M., Siebert M. Huggett S. Artifi cial Intelligence: how knowledge is created, transferred and used (2019). https://repository.ifla.org/handle/20.500.14598/6732 (accessed: 28 Jan 2026).</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit7"><label>7</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Artifi cial Intelligence, machine learning, and deep learning: same context, different concepts (2018). https://master-iesc-angers. com/artifi cial-intelligence-machine-learning-and-deep-learning-same-context-different-concepts/ (дата обращения: 20.05.2025).</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Artifi cial Intelligence, machine learning, and deep learning: same context, different concepts. (2018). https://master-iescangers.com/artificial-intelligence-machine-learning-and-deep-learning-same-context-different-concepts/ (accessed: 20 May 2025).</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit8"><label>8</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Legg S., Hutter M. A collection of defi nitions of intelligence. 25 Jun 2007. https://doi.org/10.48550/arXiv.0706.3639</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Legg S., Hutter M. A collection of defi nitions of intelligence. 25 Jun 2007. https://doi.org/10.48550/arXiv.0706.3639</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit9"><label>9</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Nilsson N. J. The Quest for Artifi cial Intelligence: A History of Ideas and Achievements. Cambridge University Press, England (2010).</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Nilsson N. J. The Quest for Artifi cial Intelligence: A History of Ideas and Achievements. Cambridge University Press, England (2010). 10. Russell S., Norvig P. Artifi cial Intelligence: A Modern Approach. 4th US ed. Prentice Hall, USA (2020). 11. Martinez R. Artificial Intelligence: Distinguishing Between Types &amp; Defi nitions (2019). https://www.academia.edu/102674235/Artifi cial_Intelligence_Distinguishing_Between_Types_and_Defi nitions (accessed: 20 May 2025).</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit10"><label>10</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Russell S., Norvig P. Artifi cial Intelligence: A Modern Approach. 4th US ed. Prentice Hall, USA (2020).</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Valtorta M. Artifi cial Intelligence. University of South Carolina, Columbia (2008).</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit11"><label>11</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Martinez R. Artifi cial Intelligence: Distinguishing Between Types &amp; Defi nitions (2019). https://www.academia.edu/102674235/Artifi cial_Intelligence_Distinguishing_Between_Types_and_Definitions (дата обращения: 20.05.2025).</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Winston P. H. Artifi cial Intelligence. Addison-Wesley Publishing Company, USA (1992).</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit12"><label>12</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Valtorta M. Artifi cial Intelligence. University of South Carolina, Columbia (2008).</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Ballester O. An Artifi cial Intelligence defi nition and classifi cation framework for public sector applications. DG.O’21: Proc. 22nd Annual International Conference on Digital Government Research, June 09–11, 2021, Omaha, NE, USA, рр. 67–75 (2021). https://doi.org/10.1145/3463677.3463709</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit13"><label>13</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Winston P. H. Artifi cial Intelligence. Addison-Wesley Publishing Company, USA (1992).</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Solopchenko G. N. Measurement information systems. Study guide for university students. Izdatel’stvo Politekhnicheskogo un-ta, St. Petersburg (2015). (In Russ.)</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit14"><label>14</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Ballester O. An Artifi cial Intelligence defi nition and classifi cation framework for public sector applications. DG.O’21: Proc. 22nd Annual International Conference on Digital Government Research, June 09–11, 2021, Omaha, NE, USA, рр. 67–75 (2021). https://doi.org/10.1145/3463677.3463709</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Udovichenko E. T., Bragin A. A., Semenyuk A. L. et al. Metrological support of measuring information systems (theory, methodology, organization). Izdatel’stvo standartov, Moscow (1991). (In Russ.)</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit15"><label>15</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Солопченко Г. Н. Измерительные информационные системы. Учебное пособие для студентов высших учебных заведений. Изд-во Политехнического ун-та, Санкт-Петербург (2015).</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Yashin V. N. Evaluation of metrological reliability of measuring instruments by method of generating functions. Vestnik of Samara State Technical University. Technical Sciences Series. 28(2), 84–96 (2020). (In Russ.) https://doi.org/10.14498/tech.2020.2.6 ; https://elibrary.ru/cvwgnc</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit16"><label>16</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Удовиченко Е. Т., Брагин А. А., Семенюк А. Л. и др. Метрологическое обеспечение измерительных информационных систем (теория, методология, организация). Издательство стандартов, Москва (1991).</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Protasov A. A., Shirmanov A. V., Radomanov S. I. Priority tasks of the introduction of artifi cial intelligence technologies in the interests of automating the activities of military command and control bodies. Informatization and communication, (2), 91–94 (2021). (In Russ.) https://doi.org/10.34219/2078-8320-2021-12-2-91-94 ; https://www.elibrary.ru/maeexo</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit17"><label>17</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Яшин В. Н. Оценка метрологической надежности средств измерений с использованием метода производящих функций. Вестник Самарского государственного технического университета. Серия «Технические науки». 28(2), 84–96 (2020). https://doi.org/10.14498/tech.2020.2.6 ; https://elibrary.ru/cvwgnc</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Vedurmudi A. P., Miličević K., Kok G. et al. Automation in sensor network metrology: An overview of methods and their implementations. Measurement: Sensors, Supplement, 38, 101799 (2025). https://doi.org/10.1016/j.measen.2024.101799 ; https://elibrary.ru/ivhsxa</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit18"><label>18</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Протасов А. А., Ширманов А. В., Радоманов С. И. Первоочередные задачи внедрения технологий искусственного интеллекта в интересах автоматизации деятельности органов военного управления. Информатизация и связь, (2), 91–94 (2021). https://doi.org/10.34219/2078-8320-2021-12-2-91-94 ; https://www.elibrary.ru/maeexo 1</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Prokopchina S. V. A new direction in artifi cial intelligence: measuring artifi cial intelligence. XXVII International Conference on Soft Computing and Measurements (SCM’2024), 22–24 May, 2024, Russia, St. Petersburg, 1, 3–6 (2024). (In Russ.) https://elibrary.ru/rthbvl</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit19"><label>19</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Vedurmudi A. P., Miličević K., Kok G. et al. Automation in sensor network metrology: An overview of methods and their implementations. Measurement: Sensors, Supplement, 38, 101799 (2025). https://doi.org/10.1016/j.measen.2024.101799 ; https://elibrary.ru/ivhsxa</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Borovkov A. I., Ryabov Yu. A., Kukushkin K. V., Maruseva V. M., Kulemin V. Yu. Digital twins and the digital transformation of defense industry enterprises. Vestnik Vost-Sibirskoj otkrytoj akademii, (32), 2 (2019). (I n Russ.) https://elibrary.ru/zaxcot</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit20"><label>20</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Прокопчина С. В. Новое направление в искусственном интеллекте: измерительный искусственный интеллект. Международная конференция по мягким вычислениям и измерениям (SCM’2024): сборник докладов, 1, 3–6 (2024). https://elibrary.ru/rthbvl</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Fridman A. E. Theory of metrological dependability of measuring instruments and other technical means having precision characteristics. Doctor’s dissertation Technical sciences, D. I. Mendeleev Institute for Metrology, St. Petersburg (1994). (In Russ.)</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit21"><label>21</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Боровков А. И., Рябов Ю. А., Кукушкин К. В., Марусева В. М., Кулемин В. Ю. Цифровые двойники и цифровая трансформация предприятий ОПК. Вестник Восточно-Сибирской открытой академии, (32), 2 (2019). https://elibrary.ru/zaxcot</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Novitskiy P. V., Zograf I. A., Labunets V. S. The dynamics of measurement error. Energoatomizdat. Leningr. otd-nie, Leningrad (1990). (In Russ.)</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit22"><label>22</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Фридман А. Э. Теория метрологической надёжности средств измерений и других технических средств, имеющих точностные характеристики: дис. докт. техн. наук. Всероссийский научно-исследовательский институт метрологии им. Д. И. Менделеева, Санкт-Петербург (1994). https://elibrary.ru/nlithv</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Sulaberidze V. Sh., Neklyudova A. A. Metrological reliability of measurement instruments and assessment of the risk of metrological failure. Transactions of the TSTU, 29(4), 574–585 (2023). (In Russ.) https://doi.org/10.17277/vestnik.2023.04.pp.574-585 ; https://elibrary.ru/gndjys</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit23"><label>23</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Новицкий П. В., Зограф И. А., Лабунец В. С. Динамика погрешности средств измерений. Энергоатомиздат. Ленингр. отд-ние, Ленинград (1990).</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Sulaberidze V. Sh., Neklyudova A. A., Mikheev V. A. Metrological Dependability of measuring instruments. Educational and methodical manual. Renome, St. Petersburg (2023). (In Russ.)</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit24"><label>24</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Сулаберидзе В. Ш., Неклюдова А. А. Метрологическая надежность средств измерений и оценка риска метрологического отказа. Вестник Тамбовского государственного технического университета, 29(4), 574–585 (2023). https://doi.org/10.17277/vestnik.2023.04.pp.574-585 ; https://elibrary.ru/gndjys</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Сулаберидзе В. Ш., Неклюдова А. А. Метрологическая надежность средств измерений и оценка риска метрологического отказа. Вестник Тамбовского государственного технического университета, 29(4), 574–585 (2023). https://doi.org/10.17277/vestnik.2023.04.pp.574-585 ; https://elibrary.ru/gndjys</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit25"><label>25</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Сулаберидзе В. Ш., Неклюдова А. А., Михеев В. А. Метрологическая надёжность средств измерений. Учебно-методическое пособие. Реноме, Санкт-Петербург (2023).</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Сулаберидзе В. Ш., Неклюдова А. А., Михеев В. А. Метрологическая надёжность средств измерений. Учебно-методическое пособие. Реноме, Санкт-Петербург (2023).</mixed-citation></citation-alternatives></ref></ref-list><fn-group><fn fn-type="conflict"><p>The authors declare that there are no conflicts of interest present.</p></fn></fn-group></back></article>
