Владимир Ильич Миронченко
г. Балашиха, Московская обл.
Vladimir I. Mironchenko
Balashikha, Moscow region
Рассмотрены методы сокращения времени контроля партии изделий серийного производства. Существующие методы не позволяют проконтролировать всю партию изделий за один цикл контроля одного изделия. Разработан метод, позволяющий сократить до минимально возможного время её контроля одним средством контроля независимо от статистических характеристик параметров изделий партии. Метод применим для контроля изделий определённого класса в партии одним средством контроля с использованием образцов. Контролируемый параметр изделия имеет два различных значения. При достижении одного значения изделие признается годным, а при достижении другого – дефектным. Контроль (например, электромагнитных реле) проводится с использованием образцов с известными значениями контролируемого параметра. Согласно методу задают объём партии, условия измерения, критерий дефектности изделия при установленных условиях. К каждому изделию партии параллельно выходам, по которым контролируют параметр, подключают образец. Значение контролируемого параметра образца отличается от указанных выше значений контролируемого параметра изделия. Образцы соединяют последовательно, нумеруют по порядку позиции расположения образцов с изделиями. Задают значение параметра первого образца, параметры остальных образцов задают в виде геометрической прогрессии со знаменателем два в степени, зависящей от номера позиции образца. Измеряют контролируемый параметр одновременно всех изделий партии с образцами, определяют суммарное значение контролируемого параметра, делят его на значение параметра первого образца. Получают частное и находят ближайшее к нему целое число, которое представляют в двоичной системе счисления. Номер позиции дефектного изделия определяют по разряду этого числа, в котором есть единица, если дефектом считается достижение первого значения контролируемого параметра изделия, или есть нуль, если дефектом считается достижение второго значения. Представлена функциональная схема устройства для реализации разработанного метода и описана работа устройства. Приведён пример использования метода. Метод позволяет сократить время контроля партии по сравнению с методом поштучного контроля в количество раз, равное объёму партии. Результаты настоящей работы полезны специалистам по автоматизации контроля штучных изделий и технологам при разработке технологических процессов, включающих операции контроля изделий.
The problem of reducing the control time of a batch of mass-produced products is considered. The existing methods do not allow to control the entire batch of products in one cycle of control of one product. A method has been developed that makes it possible to find defective products in a batch and reduce to the minimum possible the time of its control by one control tool, regardless of the statistical characteristics of the batch product parameters. The method is applicable to the control of products whose controlled parameter has two different values, when one value is reached, the product is considered suitable, and when the other is reached, it is defective, and the products can be connected in series. According to the method, the batch volume, measurement conditions, and product defect criteria are set under specified conditions. A sample is connected to each product of the batch in parallel to the outputs used to control the parameter. The value of the controlled parameter of the sample differs from the above values of the controlled parameter of the product. The samples are connected sequentially, numbered according to the order of the position of the samples with the products.The parameter value of the first sample is set, the parameters of the remaining samples are set as a geometric progression with a denominator of two to the degree depending on the number of the sample position. The controlled parameter is measured simultaneously for all products of the batch with samples, the total value of the controlled parameter is determined, and it is divided by the value of the parameter of the first sample. They get the quotient and find the integer closest to it, which is represented in binary notation. The item number of the defective product is determined by the digit of this number, which contains one if the achievement of the first value of the controlled parameter of the product is considered a defect, or zero if the achievement of the second value is considered a defect. The functional diagram of the device for the implementation of the developed method is given and the operation of the device is described. An example of using the method is given. The method allows to reduce the batch control time to the minimum possible – one cycle of product control. At the same time, the batch control time by this method is reduced by a factor equal to the batch volume compared to the batch control method. The results of this work are useful for automation specialists in the control of individual products and technologists in the development of technological processes involving product control operations.
The authors declare that there are no conflicts of interest present.