izmertechИзмерительная техникаIzmeritel`naya Tekhnika0368-10252949-5237ФГУП "ВНИИФТРИ"izmertech-230Research ArticleОБЩИЕ ВОПРОСЫ МЕТРОЛОГИИ И ИЗМЕРИТЕЛЬНОЙ ТЕХНИКИGENERAL PROBLEMS OF METROLOGY AND MEASUREMENT TECHNIQUESОсобенности принятия решения по результатам сличений эталоновСулоеваЕ. С.suloewa@list.ruЦветковЭ. И.noemail@neicon.ruРзиеваМ. Т.noemail@neicon.ruС.-Петербургский государственный электротехнический университетRussian Federation2014070220230737Copyright © ФГУП "ВНИИФТРИ", 20232023ФГУП "ВНИИФТРИ"ФГУП "ВНИИФТРИ"https://www.izmt.ru/jour/about/submissions#copyrightNoticehttps://www.izmt.ru/jour/article/view/230

Рассмотрена процедура обработки результатов групповых сличений эталонов, позволяющая установить вероятность превышения неисключенной систематической погрешностью установленного допустимого значения для каждого эталона

The procedure of processing of standards comparison data allowing to determine the probability of exceeding by the non-exceptional the determined value of permissible error for each standard is considered.

сличениетранспортируемые эталоныметрологический анализcomparisontransportable standardsmetrological analysisReferencesBIPM. [Офиц. сайт]. http://www.bipm.org/ (дата обращения 18.02.2014 г.).BIPM. [Офиц. сайт]. http://www.bipm.org/ (дата обращения 18.02.2014 г.).Report on CIPM key comparison of the second phase multiples and submultiples of the kilogram (CCM.M-K5). [Электрон. версия] http://kcdb.bipm.org/appendixb/appbresults/ccm.m-k5/ccm.m-k5_final_report.pdf (дата обращения 18.02.2014 г.).Report on CIPM key comparison of the second phase multiples and submultiples of the kilogram (CCM.M-K5). [Электрон. версия] http://kcdb.bipm.org/appendixb/appbresults/ccm.m-k5/ccm.m-k5_final_report.pdf (дата обращения 18.02.2014 г.).Чуновкина А.Г. Оценивание данных ключевых сличений национальных эталонов. СПб.: НПО «Профессионал», 2009.Чуновкина А.Г. Оценивание данных ключевых сличений национальных эталонов. СПб.: НПО «Профессионал», 2009.Цветков Э.И. Анализ результатов сличения двух эталонов.// Измерительная техника. 2013. № 4.С. 11-14; Tsvetkov E. I. Analysis of the results of a comparison of two standards // Measurement Techniques. 2013. V.Цветков Э.И. Анализ результатов сличения двух эталонов.// Измерительная техника. 2013. № 4.С. 11-14; Tsvetkov E. I. Analysis of the results of a comparison of two standards // Measurement Techniques. 2013. V.N. 4. P. 368-371.N. 4. P. 368-371.Сулоева Е.С. Возможности имитационного моделирования при сличении двух эталонов // Вестник СЗО МА. 2012. Вып. 27. С.55-64.Сулоева Е.С. Возможности имитационного моделирования при сличении двух эталонов // Вестник СЗО МА. 2012. Вып. 27. С.55-64.Сулоева Е.С. Исследование вероятностей ошибок первого и второго рода от состава априорных знаний и устанавливаемый условий // Вестник СЗ ОМА. 2012. Вып. 28.С. 48-51.Сулоева Е.С. Исследование вероятностей ошибок первого и второго рода от состава априорных знаний и устанавливаемый условий // Вестник СЗ ОМА. 2012. Вып. 28.С. 48-51.Сулоева Е.С. Особенности принятия решения о годности сличаемых эталонов при стандартном составе априорных знаний // Изв. ВолгГТУ. Серия электроника, измерительная техника, радиотехника и связь. 2013. № 23. С. 78-81.Сулоева Е.С. Особенности принятия решения о годности сличаемых эталонов при стандартном составе априорных знаний // Изв. ВолгГТУ. Серия электроника, измерительная техника, радиотехника и связь. 2013. № 23. С. 78-81.

The authors declare that there are no conflicts of interest present.