<?xml version="1.0" encoding="UTF-8"?>
<!DOCTYPE article PUBLIC "-//NLM//DTD JATS (Z39.96) Journal Publishing DTD v1.3 20210610//EN" "JATS-journalpublishing1-3.dtd">
<article article-type="research-article" dtd-version="1.3" xmlns:mml="http://www.w3.org/1998/Math/MathML" xmlns:xlink="http://www.w3.org/1999/xlink" xmlns:xsi="http://www.w3.org/2001/XMLSchema-instance" xml:lang="ru"><front><journal-meta><journal-id journal-id-type="publisher-id">izmertech</journal-id><journal-title-group><journal-title xml:lang="ru">Измерительная техника</journal-title><trans-title-group xml:lang="en"><trans-title>Izmeritel`naya Tekhnika</trans-title></trans-title-group></journal-title-group><issn pub-type="ppub">0368-1025</issn><issn pub-type="epub">2949-5237</issn><publisher><publisher-name>ФГУП "ВНИИФТРИ"</publisher-name></publisher></journal-meta><article-meta><article-id custom-type="elpub" pub-id-type="custom">izmertech-215</article-id><article-categories><subj-group subj-group-type="heading"><subject>Research Article</subject></subj-group><subj-group subj-group-type="section-heading" xml:lang="ru"><subject>ЛИНЕЙНЫЕ И УГЛОВЫЕ ИЗМЕРЕНИЯ</subject></subj-group><subj-group subj-group-type="section-heading" xml:lang="en"><subject>LINEAR AND ANGULAR MEASUREMENTS</subject></subj-group></article-categories><title-group><article-title>Прецизионные фотоэлектрические преобразователи перемещения в нанометрии</article-title><trans-title-group xml:lang="en"><trans-title></trans-title></trans-title-group></title-group><contrib-group><contrib contrib-type="author" corresp="yes"><name-alternatives><name name-style="eastern" xml:lang="ru"><surname>Янушкин</surname><given-names>В. Н.</given-names></name></name-alternatives><email xlink:type="simple">noemail@neicon.ru</email><xref ref-type="aff" rid="aff-1"/></contrib><contrib contrib-type="author" corresp="yes"><name-alternatives><name name-style="eastern" xml:lang="ru"><surname>Коляда</surname><given-names>Ю. Б.</given-names></name></name-alternatives><email xlink:type="simple">yura_kolyada@mail.ru</email><xref ref-type="aff" rid="aff-1"/></contrib></contrib-group><aff xml:lang="ru" id="aff-1"><institution>Московский государственный технический университет им. Н. Э. Баумана</institution><country>Russian Federation</country></aff><pub-date pub-type="collection"><year>2014</year></pub-date><pub-date pub-type="epub"><day>07</day><month>02</month><year>2023</year></pub-date><volume>0</volume><issue>8</issue><fpage>16</fpage><lpage>18</lpage><permissions><copyright-statement>Copyright &amp;#x00A9; ФГУП "ВНИИФТРИ", 2023</copyright-statement><copyright-year>2023</copyright-year><copyright-holder xml:lang="ru">ФГУП "ВНИИФТРИ"</copyright-holder><copyright-holder xml:lang="en">ФГУП "ВНИИФТРИ"</copyright-holder><license xlink:href="https://www.izmt.ru/jour/about/submissions#copyrightNotice" xlink:type="simple"><license-p>https://www.izmt.ru/jour/about/submissions#copyrightNotice</license-p></license></permissions><self-uri xlink:href="https://www.izmt.ru/jour/article/view/215">https://www.izmt.ru/jour/article/view/215</self-uri><abstract><p>Рассмотрена возможность использования в нанометрии разработанного цифрового фотоэлектрического интерферометра для измерений малых перемещений. Проанализирован частный случай использования интерферометра, имеющего достаточные показатели по точности, надежности, функциональности и высокий индекс интерполяции для цифровой фиксации перемещений в нанометровом диапазоне.</p></abstract><trans-abstract xml:lang="en"><p>The possibility of using the digital photoelectric interferometer in nanometry to measure the small displacements is considered. In particular the analysis of use of interferometer with a high interpolation index for digital record of displacements in nanometer range due to its high accuracy, reliability and functionality - has been carried out.</p></trans-abstract><kwd-group xml:lang="ru"><kwd>цифровой фотоэлектрический интерферометр</kwd><kwd>нанометрия</kwd><kwd>индекс интерполяции</kwd><kwd>use of digital photoelectric interferometer in nanometry</kwd><kwd>interpolation index</kwd><kwd>accuracy</kwd><kwd>reliability</kwd><kwd>functionality and ease of operation</kwd></kwd-group></article-meta></front><back><ref-list><title>References</title><ref id="cit1"><label>1</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Новиков Ю. А., Тодуа П. А. Нанотехнология и нанометрология // Наноиндустрия, 2007, № 1. С.20-22.</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Новиков Ю. А., Тодуа П. А. Нанотехнология и нанометрология // Наноиндустрия, 2007, № 1. С.20-22.</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit2"><label>2</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Преснухин Л. Н., Шаньгин В. Ф., Шаталов Ю. А. Фотоэлектрические преобразователи информации. М: Машиностроение, 1974.</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Преснухин Л. Н., Шаньгин В. Ф., Шаталов Ю. А. Фотоэлектрические преобразователи информации. М: Машиностроение, 1974.</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit3"><label>3</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Коляда Ю. Б. и др. Перспективы применения экстремальной счетно-интерполяционной системы в устройствах точного измерения линейных и угловых перемещений // Измерительная техника. 2002. № 6. C. 15-18; Kolyada Yu. B. Prospects for Using a Digital Extremal Counting Interpolation System in Devices for Accurately Measuring Linear and Angular Displacements // Measurement Techniques. 2002. V. 45. N. 6. P. 589-592.</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Коляда Ю. Б. и др. Перспективы применения экстремальной счетно-интерполяционной системы в устройствах точного измерения линейных и угловых перемещений // Измерительная техника. 2002. № 6. C. 15-18; Kolyada Yu. B. Prospects for Using a Digital Extremal Counting Interpolation System in Devices for Accurately Measuring Linear and Angular Displacements // Measurement Techniques. 2002. V. 45. N. 6. P. 589-592.</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit4"><label>4</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">А. с. 261484 СССР. Фотоэлектрическое устройство для измерения перемещений двух частей механизма / А. В. Мироненко, А. В. Балашов, Ю. Б. Коляда // Бюл. изобрет. 1970. № 5.</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">А. с. 261484 СССР. Фотоэлектрическое устройство для измерения перемещений двух частей механизма / А. В. Мироненко, А. В. Балашов, Ю. Б. Коляда // Бюл. изобрет. 1970. № 5.</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit5"><label>5</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Коляда Ю. Б., Янушкин В. Н. Исследования и разработка способов коррекции погрешностей преобразователей с совмещенными функциями // Измерительная техника. 2001. № 3. С. 29-33; Kolyada Yu. B., Yanushkin V. N. Investigation and Development of Methods of Correcting the Errors of Converters with Joint Functions // Measurement Techniques. 2001. V. 44. N. 3. P. 265-269.</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Коляда Ю. Б., Янушкин В. Н. Исследования и разработка способов коррекции погрешностей преобразователей с совмещенными функциями // Измерительная техника. 2001. № 3. С. 29-33; Kolyada Yu. B., Yanushkin V. N. Investigation and Development of Methods of Correcting the Errors of Converters with Joint Functions // Measurement Techniques. 2001. V. 44. N. 3. P. 265-269.</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit6"><label>6</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">А. с. 1422002 СССР. Устройство для измерения перемещений / А. В. Мироненко, Г. П. Дмитриев, Ю. Б. Коляда, В. Н. Янушкин // Бюл. изобрет. 1988. № 33.</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">А. с. 1422002 СССР. Устройство для измерения перемещений / А. В. Мироненко, Г. П. Дмитриев, Ю. Б. Коляда, В. Н. Янушкин // Бюл. изобрет. 1988. № 33.</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit7"><label>7</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Янушкин В. Н., Коляда Ю. Б. Комплексное решение проблемы повышения точности измерения // Измерительная техника. 2014. № 3. С. 20-23.</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Янушкин В. Н., Коляда Ю. Б. Комплексное решение проблемы повышения точности измерения // Измерительная техника. 2014. № 3. С. 20-23.</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit8"><label>8</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Янушкин В. Н., Коляда Ю. Б., Крушняк Н. Т. Приоритетное направление развития прецизионной техники измерения // Метрология. 2014. № 3. С. 20-24.</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Янушкин В. Н., Коляда Ю. Б., Крушняк Н. Т. Приоритетное направление развития прецизионной техники измерения // Метрология. 2014. № 3. С. 20-24.</mixed-citation></citation-alternatives></ref></ref-list><fn-group><fn fn-type="conflict"><p>The authors declare that there are no conflicts of interest present.</p></fn></fn-group></back></article>
