<?xml version="1.0" encoding="UTF-8"?>
<!DOCTYPE article PUBLIC "-//NLM//DTD JATS (Z39.96) Journal Publishing DTD v1.3 20210610//EN" "JATS-journalpublishing1-3.dtd">
<article article-type="research-article" dtd-version="1.3" xmlns:mml="http://www.w3.org/1998/Math/MathML" xmlns:xlink="http://www.w3.org/1999/xlink" xmlns:xsi="http://www.w3.org/2001/XMLSchema-instance" xml:lang="ru"><front><journal-meta><journal-id journal-id-type="publisher-id">izmertech</journal-id><journal-title-group><journal-title xml:lang="ru">Измерительная техника</journal-title><trans-title-group xml:lang="en"><trans-title>Izmeritel`naya Tekhnika</trans-title></trans-title-group></journal-title-group><issn pub-type="ppub">0368-1025</issn><issn pub-type="epub">2949-5237</issn><publisher><publisher-name>ФГУП "ВНИИФТРИ"</publisher-name></publisher></journal-meta><article-meta><article-id pub-id-type="doi">10.32446/0368-1025it.2024-2-35-41</article-id><article-id custom-type="elpub" pub-id-type="custom">izmertech-2101</article-id><article-categories><subj-group subj-group-type="heading"><subject>Research Article</subject></subj-group><subj-group subj-group-type="section-heading" xml:lang="ru"><subject>ЛИНЕЙНЫЕ И УГЛОВЫЕ ИЗМЕРЕНИЯ</subject></subj-group><subj-group subj-group-type="section-heading" xml:lang="en"><subject>LINEAR AND ANGULAR MEASUREMENTS</subject></subj-group></article-categories><title-group><article-title>Погрешность координатных измерений при фазовой модуляции цифровым растром</article-title><trans-title-group xml:lang="en"><trans-title>Accuracy of coordinate measurements at phase modulation by digital raster</trans-title></trans-title-group></title-group><contrib-group><contrib contrib-type="author" corresp="yes"><contrib-id contrib-id-type="orcid">https://orcid.org/0000-0002-8043-3943</contrib-id><name-alternatives><name name-style="eastern" xml:lang="ru"><surname>Соломатин</surname><given-names>В. А.</given-names></name><name name-style="western" xml:lang="en"><surname>Solomatin</surname><given-names>V. A.</given-names></name></name-alternatives><bio xml:lang="ru"><p>Владимир Алексеевич Соломатин, заведующий кафедрой оптико-электронных приборов</p><p>Москва</p></bio><bio xml:lang="en"><p>Vladimir A. Solomatin, head of the Department of Optoelectronic Devices</p><p>Moscow</p></bio><email xlink:type="simple">vsolomatin@mail.ru</email><xref ref-type="aff" rid="aff-1"/></contrib><contrib contrib-type="author" corresp="yes"><contrib-id contrib-id-type="orcid">https://orcid.org/0000-0003-0054-3155</contrib-id><name-alternatives><name name-style="eastern" xml:lang="ru"><surname>Откупман</surname><given-names>Д. Г.</given-names></name><name name-style="western" xml:lang="en"><surname>Otkupman</surname><given-names>D. G.</given-names></name></name-alternatives><bio xml:lang="ru"><p>Дмитрий Григорьевич Откупман, преподаватель кафедры оптико-электронных приборов</p><p>Москва</p></bio><bio xml:lang="en"><p>Dmitriy G. Otkupman, lecturer at the Department of Optical-Electronic Devices</p><p>Moscow</p></bio><email xlink:type="simple">odvk@ya.ru</email><xref ref-type="aff" rid="aff-1"/></contrib></contrib-group><aff-alternatives id="aff-1"><aff xml:lang="ru"><institution>Московский государственный университет геодезии и картографии (МИИГАиК)</institution><country>Россия</country></aff><aff xml:lang="en"><institution>Moscow State University of Geodesy and Cartography (MIIGAiK)</institution><country>Russian Federation</country></aff></aff-alternatives><pub-date pub-type="collection"><year>2024</year></pub-date><pub-date pub-type="epub"><day>05</day><month>04</month><year>2024</year></pub-date><volume>0</volume><issue>2</issue><fpage>35</fpage><lpage>41</lpage><permissions><copyright-statement>Copyright &amp;#x00A9; Соломатин В.А., Откупман Д.Г., 2024</copyright-statement><copyright-year>2024</copyright-year><copyright-holder xml:lang="ru">Соломатин В.А., Откупман Д.Г.</copyright-holder><copyright-holder xml:lang="en">Solomatin V.A., Otkupman D.G.</copyright-holder><license xml:lang="ru" license-type="creative-commons-attribution" xlink:href="https://creativecommons.org/licenses/by/4.0/" xlink:type="simple"><license-p>Данная работа распространяется под лицензией Creative Commons Attribution 4.0.</license-p></license><license xml:lang="en" license-type="creative-commons-attribution" xlink:href="https://creativecommons.org/licenses/by/4.0/" xlink:type="simple"><license-p>This work is licensed under a Creative Commons Attribution 4.0 License.</license-p></license></permissions><self-uri xlink:href="https://www.izmt.ru/jour/article/view/2101">https://www.izmt.ru/jour/article/view/2101</self-uri><abstract><p>Рассмотрена разработка оптико-электронных средств измерений линейных и угловых величин на основе многоэлементных приёмников излучения (фотоматриц) с применением цифрового фазового анализатора (цифрового растра). Показано, что в отличие от фазового растра с механическим приводом цифровой растр обеспечивает возможность автоматизации и повышение точности измерений, уменьшение массогабаритных характеристик средства измерений. Предложен способ построения цифрового растра, основанный на использовании фотоматриц в сочетании с компьютерными технологиями. Для обеспечения требуемой точности разрабатываемых оптико-электронных средств исследованы источники и составляющие погрешности измерений. Изучено влияние дискретной структуры цифрового растра на погрешность измерения координаты изображения. Получены математические выражения для расчёта предельных значений погрешностей координатных измерений, обусловленных паразитной фазовой модуляцией, которая возникает при использовании цифрового растра (погрешности дискретизации). Определена зависимость данных погрешностей от параметров изображения и размера пиксела. Показано, что по допустимой предельной погрешности дискретизации можно рассчитать требуемые размеры пиксела фотоматрицы, при этом размер пиксела дискретизации может быть больше размера пиксела фотоматрицы, что весьма существенно с точки зрения энергетических соотношений. Полученные результаты будут полезны при разработке оптико-электронных средств угловых и линейных измерений с цифровыми растрами.</p></abstract><trans-abstract xml:lang="en"><p>The development of optical-electronic instruments for measuring linear and angular quantities based on focal-plane array (photomatrices) using a digital phase analyzer (digital raster) is considered. It is shown that, unlike a phase raster with a mechanical drive, a digital raster provides the possibility of automation and increased measurement accuracy, reducing the weight and size characteristics of the measuring instrument. A method for constructing a digital raster is proposed, based on the use of photomatrices in combination with computer technologies. To ensure the required accuracy of the developed opto-electronic devices, the sources and components of the measurement error were investigated. The influence of the discrete structure of a digital raster on the error in measuring image coordinates has been studied. Mathematical expressions are obtained for calculating the limiting values of coordinate measurement errors caused by parasitic phase modulation that occurs when using a digital raster (sampling error). The dependence of these errors on image parameters and pixel size has been determined. It is shown that, based on the permissible maximum sampling error, it is possible to calculate the required dimensions of a photomatrix pixel, while the size of the sampling pixel can be larger than the size of the photomatrix pixel, which is very signifi cant from the point of view of energy relations. The results obtained will be useful in the development of optical-electronic means of angular and linear measurements with digital rasters.</p></trans-abstract><kwd-group xml:lang="ru"><kwd>цифровой растр</kwd><kwd>фазовая модуляция</kwd><kwd>координатные измерения</kwd><kwd>погрешность измерений</kwd></kwd-group><kwd-group xml:lang="en"><kwd>digital raster (reticles)</kwd><kwd>phase modulation</kwd><kwd>coordinate measurements</kwd><kwd>measurement error</kwd></kwd-group></article-meta></front><back><ref-list><title>References</title><ref id="cit1"><label>1</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Мосягин Г. М., Немтинов В. Б., Лебедев Е. Н. Теория оптико-электронных систем. Машиностроение, Москва (1990).</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Mosyagin G. M., Nemtinov V. B., Lebedev E. N. Teoriya optiko-elektronnyh system [Theory of optical-electronic systems], Mashinostroenie Publ., Moscow (1990). (In Russ.)</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit2"><label>2</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Порфирьев Л. Ф. Теория оптико-электронных приборов и систем. Машиностроение, Ленинград (1980).</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Porfi r’ev L. F. Teoriya optiko-elektronnyh priborov i system [Theory of optical-electronic devices and systems], Mashinostroenie Publ., Leningrad (1980). (In Russ.)</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit3"><label>3</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Соломатин В. А., Шилин В. А. Фазовые оптико-электронные преобразователи. Машиностроение, Москва (1986).</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Solomatin V. A., SHilin V. A. Fazovye optiko-elektronnye preobrazovateli [Phase optical-electronic converters], Mashinostroenie Publ., Moscow (1986). (In Russ.)</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit4"><label>4</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Откупман Д. Г. Генерация идеальных тестовых изображений. Прикладная оптика-2022: сборник тезисов XV Международной научной конференции, Санкт-Петербург, 15–16 декабря 2022. Скифия-принт, Санкт-Петербург (2023). С. 220. https://elibrary.ru/atcfgq</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Otkupman D. G. Generaciya ideal’nyh testovyh izobrazhenij. Abstracts of Papers of the 15 International Scientifi c Conference “Applied Optics-2022”, St. Petersburg, December, 15–16, 2022, St. Petersburg, Skifi a-print Publ. (2023), p. 220.</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit5"><label>5</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Гонсалес Р., Вудс Р. Цифровая обработка изображений. Изд. 3-е, испр. и доп. Техносфера, Москва (2019).</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Gonzalez R., Woods R. Digital Image Processing, 4th Edition, Pearson, London (2018).</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit6"><label>6</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Neil Collings. Fourier Optics in Image Processing, CRC Press, (2019).</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Neil Collings. Fourier Optics in Image Processing, CRC Press, (2019).</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit7"><label>7</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Соломатин В. А. Теория и преобразование сигналов в оптико-электронных системах. Инновационное машиностроение, Москва (2023).</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Solomatin V. A. Teoriya i preobrazovanie signalov v optiko-elektronnyh sistemah [Theory and conversion of signals in optoelectronic systems], Innovacionnoe mashinostroenie Publ., Moscow (2023). (In Russ.)</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit8"><label>8</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Криксунов Л. З. Справочник по основам инфракрасной техники. Советское радио, Москва (1978).</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Kriksunov L. Z. Spravochnik po osnovam infrakrasnoj tekhniki [A Guide to the Basics of Infrared Technology], Sovetskoe radio Publ., Moscow (1978). (In Russ.)</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit9"><label>9</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Кружилов И. С. О влиянии относительного размера изображения на погрешность определения координат. Компьютерная оптика, 33(2), 210–215 (2009).</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Kruzhilov I. S. Optimal picture size for the purpose of minimal detection error of coordinate. Computer optics, 33(2), 210–215 (2009). (In Russ.)</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit10"><label>10</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Li Guo Sheng, Yong Lv, Li Shuang Liu, Rui Geng, Xiao Ying Li. A high accuracy sub-pixel light spot positioning algorithm. Applied Mechanics and Materials, 644–650, 1459–1463 (2014). https://doi.org/10.4028/www.scientifi c.net/AMM.644-650.1459</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Li Guo Sheng, Yong Lv, Li Shuang Liu, Rui Geng, Xiao Ying Li. A high accuracy sub-pixel light spot positioning algorithm. Applied Mechanics and Materials, 644–650, 1459–1463 (2014). https://doi.org/10.4028/www.scientifi c.net/AMM.644-650.1459</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit11"><label>11</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Старосотников Н. О., Федорцев Р. В. Сравнение по точности алгоритмов определения координат центров изображений в оптико-электронных приборах. Наука и техника, 17(1), 79–86 (2018). https://doi.org/10.21122/2227-1031-2018-17-1-79-86</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Starasotnikau M. A., Feodortsau R. V. Accuracy comparison of algorithms for determination of image center coordinates in optoelectronic devices. Science and Technique, 17(1), 79–86 (2018). http://dx.doi.org/10.21122/2227-1031-2018-17-1-79-86</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit12"><label>12</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Min Wan, John J. Healy, John T. Sheridan. Fast, sub-pixel accurate, displacement measurement method: optical and terahertz systems. Optics Letters, 2020, 45(24), 6611-6614. https://doi.org/10.1364/OL.413011</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Min Wan, John J. Healy, John T. Sheridan. Fast, sub-pixel accurate, displacement measurement method: optical and terahertz systems. Optics Letters, 2020, 45(24), 6611-6614. https://doi.org/10.1364/OL.413011</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit13"><label>13</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Kai Zha ng, Xin Wang, Fanlin Yang, Bo Ai, Jinshan Zhu. Sub-pixel registration of multi-resolution imagery by correlation matching of the bathymetry-related features. Optics Express, 29(9), 13359–13372 (2021). https://doi.org/10.1364/OE.422866</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Kai Zhang, Xin Wang, Fanlin Yang, Bo Ai, Jinshan Zhu. Sub-pixel registration of multi-resolution imagery by correlation matching of the bathymetry-related features. Optics Express, 29(9), 13359–13372 (2021). https://doi.org/10.1364/OE.422866</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit14"><label>14</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Sheng Fu, Fei Xing, Zheng You. Dual-pixel tracking of the fast-moving target based on window complementary modulation. Optics Express, 30(22), 39747–39761 (2022). https://doi.org/10.1364/OE.475249</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Sheng Fu, Fei Xing, Zheng You. Dual-pixel tracking of the fast-moving target based on window complementary modulation. Optics Express, 30(22), 39747–39761 (2022). https://doi.org/10.1364/OE.475249</mixed-citation></citation-alternatives></ref></ref-list><fn-group><fn fn-type="conflict"><p>The authors declare that there are no conflicts of interest present.</p></fn></fn-group></back></article>
