<?xml version="1.0" encoding="UTF-8"?>
<!DOCTYPE article PUBLIC "-//NLM//DTD JATS (Z39.96) Journal Publishing DTD v1.3 20210610//EN" "JATS-journalpublishing1-3.dtd">
<article article-type="research-article" dtd-version="1.3" xmlns:mml="http://www.w3.org/1998/Math/MathML" xmlns:xlink="http://www.w3.org/1999/xlink" xmlns:xsi="http://www.w3.org/2001/XMLSchema-instance" xml:lang="ru"><front><journal-meta><journal-id journal-id-type="publisher-id">izmertech</journal-id><journal-title-group><journal-title xml:lang="ru">Измерительная техника</journal-title><trans-title-group xml:lang="en"><trans-title>Izmeritel`naya Tekhnika</trans-title></trans-title-group></journal-title-group><issn pub-type="ppub">0368-1025</issn><issn pub-type="epub">2949-5237</issn><publisher><publisher-name>ФГУП "ВНИИФТРИ"</publisher-name></publisher></journal-meta><article-meta><article-id pub-id-type="doi">10.32446/0368-1025it.2023-12-17</article-id><article-id custom-type="elpub" pub-id-type="custom">izmertech-1978</article-id><article-categories><subj-group subj-group-type="heading"><subject>Research Article</subject></subj-group><subj-group subj-group-type="section-heading" xml:lang="ru"><subject>ГОСУДАРСТВЕННЫЕ ЭТАЛОНЫ</subject></subj-group><subj-group subj-group-type="section-heading" xml:lang="en"><subject>STATE STANDARDS</subject></subj-group></article-categories><title-group><article-title>Государственный первичный эталон единиц комплексной диэлектрической проницаемости в диапазоне частот 0,1–178,4 ГГц ГЭТ 110-2023</article-title><trans-title-group xml:lang="en"><trans-title>Primary standard for complex units of permittivity at frequency range 0.1–178.4 GHz GET 110-2023</trans-title></trans-title-group></title-group><contrib-group><contrib contrib-type="author" corresp="yes"><name-alternatives><name name-style="eastern" xml:lang="ru"><surname>Егоров</surname><given-names>В. Н.</given-names></name><name name-style="western" xml:lang="en"><surname>Egorov</surname><given-names>V. N.</given-names></name></name-alternatives><bio xml:lang="ru"><p>Виктор Николаевич Егоров</p><p>Иркутск</p><p> </p></bio><bio xml:lang="en"><p>Viktor N. Egorov</p><p>Irkutsk</p></bio><email xlink:type="simple">egorov@vniiftri-irk.ru</email><xref ref-type="aff" rid="aff-1"/></contrib><contrib contrib-type="author" corresp="yes"><name-alternatives><name name-style="eastern" xml:lang="ru"><surname>Токарева</surname><given-names>Е. Ю.</given-names></name><name name-style="western" xml:lang="en"><surname>Tokareva</surname><given-names>E. Yu.</given-names></name></name-alternatives><bio xml:lang="ru"><p>Елена Юрьевна Токарева</p><p>Иркутск</p></bio><bio xml:lang="en"><p>Elena Yu. Tokareva</p><p>Irkutsk</p></bio><email xlink:type="simple">dep14@vniiftri-irk.ru</email><xref ref-type="aff" rid="aff-1"/></contrib><contrib contrib-type="author" corresp="yes"><name-alternatives><name name-style="eastern" xml:lang="ru"><surname>Прокопьева</surname><given-names>Е. К.</given-names></name><name name-style="western" xml:lang="en"><surname>Prokop’eva</surname><given-names>E. K.</given-names></name></name-alternatives><bio xml:lang="ru"><p>Екатерина Кимовна Прокопьева</p><p>Иркутск</p></bio><bio xml:lang="en"><p>Ekaterina K. Prokop’eva</p><p>Irkutsk</p></bio><xref ref-type="aff" rid="aff-1"/></contrib><contrib contrib-type="author" corresp="yes"><name-alternatives><name name-style="eastern" xml:lang="ru"><surname>Малай</surname><given-names>И. М.</given-names></name><name name-style="western" xml:lang="en"><surname>Malay</surname><given-names>I. M.</given-names></name></name-alternatives><bio xml:lang="ru"><p>Иван Михайлович Малай</p><p>г. п. Менделеево, Московская обл.</p></bio><bio xml:lang="en"><p>Ivan M. Malay</p><p>Mendeleevo, Moscow Region</p></bio><email xlink:type="simple">malay@vniiftri.ru</email><xref ref-type="aff" rid="aff-2"/></contrib><contrib contrib-type="author" corresp="yes"><name-alternatives><name name-style="eastern" xml:lang="ru"><surname>Туен</surname><given-names>Ле Куанг</given-names></name><name name-style="western" xml:lang="en"><surname>Tuyen</surname><given-names>Le Quang</given-names></name></name-alternatives><bio xml:lang="ru"><p>Иркутск</p></bio><bio xml:lang="en"><p>Le Quang Tuyen</p><p>Irkutsk</p></bio><email xlink:type="simple">lequangtuyen1402@gmail.com</email><xref ref-type="aff" rid="aff-3"/></contrib></contrib-group><aff-alternatives id="aff-1"><aff xml:lang="ru"><institution>Восточно-Сибирский филиал Всероссийского научно-исследовательского института физико-технических и радиотехнических измерений</institution><country>Россия</country></aff><aff xml:lang="en"><institution>East-Siberian Branch of Russian Metrological Institute of Technical Physics and Radio Engineering</institution><country>Russian Federation</country></aff></aff-alternatives><aff-alternatives id="aff-2"><aff xml:lang="ru"><institution>Всероссийский научно-исследовательский институт физико-технических и радиотехнических измерений</institution><country>Россия</country></aff><aff xml:lang="en"><institution>Russian Metrological Institute of Technical Physics and Radio Engineering</institution><country>Russian Federation</country></aff></aff-alternatives><aff-alternatives id="aff-3"><aff xml:lang="ru"><institution>Иркутский национальный исследовательский технический университет</institution><country>Россия</country></aff><aff xml:lang="en"><institution>Irkutsk National Research Technical University</institution><country>Russian Federation</country></aff></aff-alternatives><pub-date pub-type="collection"><year>2023</year></pub-date><pub-date pub-type="epub"><day>20</day><month>09</month><year>2023</year></pub-date><volume>0</volume><issue>8</issue><fpage>12</fpage><lpage>17</lpage><permissions><copyright-statement>Copyright &amp;#x00A9; Егоров В.Н., Токарева Е.Ю., Прокопьева Е.К., Малай И.М., Туен Л., 2023</copyright-statement><copyright-year>2023</copyright-year><copyright-holder xml:lang="ru">Егоров В.Н., Токарева Е.Ю., Прокопьева Е.К., Малай И.М., Туен Л.</copyright-holder><copyright-holder xml:lang="en">Egorov V.N., Tokareva E.Y., Prokop’eva E.K., Malay I.M., Tuyen L.</copyright-holder><license xml:lang="ru" license-type="creative-commons-attribution" xlink:href="https://creativecommons.org/licenses/by/4.0/" xlink:type="simple"><license-p>Данная работа распространяется под лицензией Creative Commons Attribution 4.0.</license-p></license><license xml:lang="en" license-type="creative-commons-attribution" xlink:href="https://creativecommons.org/licenses/by/4.0/" xlink:type="simple"><license-p>This work is licensed under a Creative Commons Attribution 4.0 License.</license-p></license></permissions><self-uri xlink:href="https://www.izmt.ru/jour/article/view/1978">https://www.izmt.ru/jour/article/view/1978</self-uri><abstract><p>Проведены исследования в области измерений диэлектрических параметров материалов. Изучены перспективные высокоточные методы измерений комплексной диэлектрической проницаемости слабопоглощающих материалов в дециметровом диапазоне длин волн и нерезонансный метод измерения диэлектрических параметров материалов с повышенными диэлектрическими потерями. Для измерений комплексной диэлектрической проницаемости слабопоглощающих материалов в дециметровом диапазоне длин волн разработаны резонансный метод измерения в коаксиальном резонаторе с регулируемым ёмкостным зазором и метод измерения в объёмном H011-резонаторе с диэлектрическим заполнением. Для измерения повышенных диэлектрических потерь 10–2–10–1 разработан метод линии передач с использованием нерезонансного измерительного преобразователя на основе экранированного диэлектрического волновода – измеряемого образца. Разработанные методы применены в Государственном первичном эталоне комплексной диэлектрической проницаемости в диапазоне частот от 0,1 до 178,4 ГГц ГЭТ 110-2023. Частотный диапазон эталона составляет 0,1–178,4 ГГц, диапазон воспроизводимых значений относительной диэлектрической проницаемости 1,2–500, тангенса угла диэлектрических потерь 10–8–10–1. Область применения ГЭТ 110-2023 – метрологическое обеспечение контроля диэлектриков при производстве радиочастотных кабелей, телекоммуникационного оборудования, электронных компонентов и др.  </p></abstract><trans-abstract xml:lang="en"><p>The article is dedicated to research in the fi eld of measuring the dielectric parameters of materials. The aim of the research is to study promising methods for measuring the complex dielectric permittivity of weakly absorbing materials in the decimeter wavelength range, as well as the non-resonant method for measuring the dielectric parameters of materials with high dielectric losses. In order to achieve the set goal of improving the state primary standard of complex dielectric permittivity in the frequency range from 1 to 178.4 GHz, tasks were set to expand the frequency range to 0.1 GHz and the range of reproducible values of the dielectric loss tangent to 10–1. As a result of the improvement, new equipment was introduced into the composition of the standard, and new measurement methods were developed. To measure the complex dielectric permittivity of weakly absorbing materials in the decimeter wavelength range, a resonant measurement method in a coaxial resonator with a shortening capacitive gap and a measurement method in a bulk H011-resonator with dielectric fi lling were developed. To measure elevated dielectric losses up to 10–2–10–1, a measurement method using a non-resonant measuring transducer based on a shielded dielectric waveguide with a measured dielectric sample as such a waveguide has been developed. The developed methods are applied in the Primary standard of complex dielectric permittivity in the frequency range from 0.1 to 178.4 GHz, GET 110-2023. The frequency range of the standard is 0.1–178.4 GHz, the range of reproducible values of relative dielectric permittivity is 1.2–500, dielectric loss tangent 10–8–10–1. The scope of application of GET 110-2023 is metrological support of dielectric control in production of radio frequency cables, telecommunication equipment, electronic components, etc.</p></trans-abstract><kwd-group xml:lang="ru"><kwd>коаксиальный резонатор</kwd><kwd>резонансная частота</kwd><kwd>добротность</kwd><kwd>нерезонансный преобразователь</kwd><kwd>диэлектрические параметры</kwd></kwd-group><kwd-group xml:lang="en"><kwd>coaxial resonator</kwd><kwd>resonant frequency</kwd><kwd>quality factor</kwd><kwd>non-resonance fi xture</kwd><kwd>dielectric parameters</kwd></kwd-group></article-meta></front><back><ref-list><title>References</title><ref id="cit1"><label>1</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Егоров В. Н., Кащенко М. В., Масалов В. Л., Токарева Е. Ю., Нонг Куок Куанг. Государственный первичный эталон единиц комплексной диэлектрической проницаемости в диапазоне частот от 1 до 178,4 ГГц // Измерительная техника. 2014. № 1. С. 3–7. https://www.elibrary.ru/ryetov [Egorov V. N., Kashchenko M. V., Masalov V. L., Tokareva E. Yu., Quang N. Q. Measurement Techniques, 2014, vol. 57, no. 1, pp. 1–7 https://doi.org/10.1007/s11018-014-0398-z ]</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Егоров В. Н., Кащенко М. В., Масалов В. Л., Токарева Е. Ю., Нонг Куок Куанг. Государственный первичный эталон единиц комплексной диэлектрической проницаемости в диапазоне частот от 1 до 178,4 ГГц // Измерительная техника. 2014. № 1. С. 3–7. https://www.elibrary.ru/ryetov [Egorov V. N., Kashchenko M. V., Masalov V. L., Tokareva E. Yu., Quang N. Q. Measurement Techniques, 2014, vol. 57, no. 1, pp. 1–7 https://doi.org/10.1007/s11018-014-0398-z ]</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit2"><label>2</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Baker-Jarvis J. R., Riddle B. F. Dielectric Measurements Using a Reentrant Cavity: Mode-Matching Analysis, Technical Note (NIST TN), National Institute of Standards and Technology, Gaithersburg, MD, 1996, vol. 1384, pp. 1–13.</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Baker-Jarvis J. R., Riddle B. F. Dielectric Measurements Using a Reentrant Cavity: Mode-Matching Analysis, Technical Note (NIST TN), National Institute of Standards and Technology, Gaithersburg, MD, 1996, vol. 1384, pp. 1–13.</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit3"><label>3</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Carter R. G., Feng J., Becker U. IEEE Transactions on Microwave Theory and Techniques, Dec. 2007, vol. 55, no. 12, pp. 2531–2538. https://doi.org/10.1109/TMTT.2007.909750</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Carter R. G., Feng J., Becker U. IEEE Transactions on Microwave Theory and Techniques, Dec. 2007, vol. 55, no. 12, pp. 2531–2538. https://doi.org/10.1109/TMTT.2007.909750</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit4"><label>4</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Kanai Y., Tsukamoto T., Miyakawa M., Kashiwa T. IEEE Transactions on Magnetics, July 2000, vol. 36, no. 4, pp. 1750–1753. https://doi.org/10.1109/20.877782</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Kanai Y., Tsukamoto T., Miyakawa M., Kashiwa T. IEEE Transactions on Magnetics, July 2000, vol. 36, no. 4, pp. 1750–1753. https://doi.org/10.1109/20.877782</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit5"><label>5</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Thompson F., Haigh A. D., Dillon B. M., Gibson A. A. P. IEE Proceedings – Science, Measurement and Technology, 2003, vol. 150, no. 3, pp. 113–117. https://doi.org/10.1049/ip-smt:20030011</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Thompson F., Haigh A. D., Dillon B. M., Gibson A. A. P. IEE Proceedings – Science, Measurement and Technology, 2003, vol. 150, no. 3, pp. 113–117. https://doi.org/10.1049/ip-smt:20030011</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit6"><label>6</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Baker-Jarvis J. Transmission/Refl ection and Short-Circuit Line Permittivity Measurement Methods, Technical Note (NIST TN), National Institute of Standards and Technology, Gaithersburg, MD, 1990, vol. 1341, pp. 78–148.</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Baker-Jarvis J. Transmission/Refl ection and Short-Circuit Line Permittivity Measurement Methods, Technical Note (NIST TN), National Institute of Standards and Technology, Gaithersburg, MD, 1990, vol. 1341, pp. 78–148.</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit7"><label>7</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Kato Y., Horibe M., Ameya M., Kurokawa S., Shimada Y. New uncertainty analysis and simplifi ed verifi cation method for permittivity measurements using the Transmission/Refl ection method by utilizing a weighted factor, 29th Conference on Precision Electromagnetic Measurements (CPEM 2014), Rio de Janeiro, Brazil, 2014, pp. 186–187. https://doi.org/10.1109/TIM.2015.2401231</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Kato Y., Horibe M., Ameya M., Kurokawa S., Shimada Y. New uncertainty analysis and simplifi ed verifi cation method for permittivity measurements using the Transmission/Refl ection method by utilizing a weighted factor, 29th Conference on Precision Electromagnetic Measurements (CPEM 2014), Rio de Janeiro, Brazil, 2014, pp. 186–187. https://doi.org/10.1109/TIM.2015.2401231</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit8"><label>8</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Ligthart L. P. IEEE Transactions on Microwave Theory and Techniques, Mar. 1983, vol. 31, no. 3, pp. 249–254. https://doi.org/10.1109/TMTT.1983.1131471</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Ligthart L. P. IEEE Transactions on Microwave Theory and Techniques, Mar. 1983, vol. 31, no. 3, pp. 249–254. https://doi.org/10.1109/TMTT.1983.1131471</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit9"><label>9</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Коаксиальный измерительный резонатор с неизлучающим окном для ввода образца: пат. № 2626746 РФ / В. Н. Егоров, В. В. Костромин // Изобретения. Полезные модели. 2017. № 22. [Egorov V. N., Kostromin V. V. RF Patent no. 2626746, Inventions. Utility models, no. 22 (2017)]</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Коаксиальный измерительный резонатор с неизлучающим окном для ввода образца: пат. № 2626746 РФ / В. Н. Егоров, В. В. Костромин // Изобретения. Полезные модели. 2017. № 22. [Egorov V. N., Kostromin V. V. RF Patent no. 2626746, Inventions. Utility models, no. 22 (2017)]</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit10"><label>10</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Коаксиальный измерительный резонатор с цилиндрическим электродом и регулируемым емкостным зазором: пат. № 2680109 РФ / В. Н. Егоров, Ле Куанг Туен // Изобретения. Полезные модели. 2019. № 5. [Egorov V. N., Le Kuang Tuen, RF Patent no. 2680109, Inventions. Utility models, no. 5 (2019)]</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Коаксиальный измерительный резонатор с цилиндрическим электродом и регулируемым емкостным зазором: пат. № 2680109 РФ / В. Н. Егоров, Ле Куанг Туен // Изобретения. Полезные модели. 2019. № 5. [Egorov V. N., Le Kuang Tuen, RF Patent no. 2680109, Inventions. Utility models, no. 5 (2019)]</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit11"><label>11</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Добромыслов В. С. Колебания в металлодиэлектрическом резонаторе с лейкосапфировым стержнем // Радиотехника и электроника. 1988. Т. 33. № 4. С. 705–715. [Dobromyslov V. S. Radiotekhnika i elektronika [Radio engineering and electronics], 1988, vol. 33, no. 4, pp. 705–715 (In Russ.)]</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Добромыслов В. С. Колебания в металлодиэлектрическом резонаторе с лейкосапфировым стержнем // Радиотехника и электроника. 1988. Т. 33. № 4. С. 705–715. [Dobromyslov V. S. Radiotekhnika i elektronika [Radio engineering and electronics], 1988, vol. 33, no. 4, pp. 705–715 (In Russ.)]</mixed-citation></citation-alternatives></ref></ref-list><fn-group><fn fn-type="conflict"><p>The authors declare that there are no conflicts of interest present.</p></fn></fn-group></back></article>
