<?xml version="1.0" encoding="UTF-8"?>
<!DOCTYPE article PUBLIC "-//NLM//DTD JATS (Z39.96) Journal Publishing DTD v1.3 20210610//EN" "JATS-journalpublishing1-3.dtd">
<article article-type="research-article" dtd-version="1.3" xmlns:mml="http://www.w3.org/1998/Math/MathML" xmlns:xlink="http://www.w3.org/1999/xlink" xmlns:xsi="http://www.w3.org/2001/XMLSchema-instance" xml:lang="ru"><front><journal-meta><journal-id journal-id-type="publisher-id">izmertech</journal-id><journal-title-group><journal-title xml:lang="ru">Измерительная техника</journal-title><trans-title-group xml:lang="en"><trans-title>Izmeritel`naya Tekhnika</trans-title></trans-title-group></journal-title-group><issn pub-type="ppub">0368-1025</issn><issn pub-type="epub">2949-5237</issn><publisher><publisher-name>ФГУП "ВНИИФТРИ"</publisher-name></publisher></journal-meta><article-meta><article-id pub-id-type="doi">10.32446/0368-1025it.2021-6-44-50</article-id><article-id custom-type="elpub" pub-id-type="custom">izmertech-1913</article-id><article-categories><subj-group subj-group-type="heading"><subject>Research Article</subject></subj-group><subj-group subj-group-type="section-heading" xml:lang="ru"><subject>РАДИОТЕХНИЧЕСКИЕ ИЗМЕРЕНИЯ</subject></subj-group><subj-group subj-group-type="section-heading" xml:lang="en"><subject>RADIO MEASUREMENTS</subject></subj-group></article-categories><title-group><article-title>Методические погрешности измерений коэффициента зеркального отражения плоских образцов материалов на измерительных стендах двух типов</article-title><trans-title-group xml:lang="en"><trans-title>Methodical errors in measuring the specular reflection coefficient from a planar sample of material for two types of measuring facilities</trans-title></trans-title-group></title-group><contrib-group><contrib contrib-type="author" corresp="yes"><name-alternatives><name name-style="eastern" xml:lang="ru"><surname>Гильмутдинов</surname><given-names>Р. В.</given-names></name><name name-style="western" xml:lang="en"><surname>Gilmutdinov</surname><given-names>R. V.</given-names></name></name-alternatives><bio xml:lang="ru"><p>Руслан Валерьевич Гильмутдинов</p><p>г. Долгопрудный, Московская обл.</p></bio><bio xml:lang="en"><p>Ruslan V. Gilmutdinov</p><p>Dolgoprudny, Moscow Region</p></bio><email xlink:type="simple">gipponn555@gmail.com</email><xref ref-type="aff" rid="aff-1"/></contrib><contrib contrib-type="author" corresp="yes"><name-alternatives><name name-style="eastern" xml:lang="ru"><surname>Краснолобов</surname><given-names>И. И.</given-names></name><name name-style="western" xml:lang="en"><surname>Krasnolobov</surname><given-names>I. I.</given-names></name></name-alternatives><bio xml:lang="ru"><p>Игорь Иванович Краснолобов</p><p>Москва</p></bio><bio xml:lang="en"><p>Igor I. Krasnolobov</p><p>Moscow</p></bio><email xlink:type="simple">krasnolobov__ig@mail.ru</email><xref ref-type="aff" rid="aff-2"/></contrib><contrib contrib-type="author" corresp="yes"><name-alternatives><name name-style="eastern" xml:lang="ru"><surname>Меньших</surname><given-names>Н. Л.</given-names></name><name name-style="western" xml:lang="en"><surname>Menshikh</surname><given-names>N. L.</given-names></name></name-alternatives><bio xml:lang="ru"><p>Николай Леонидович Меньших</p><p>г. Долгопрудный, Московская обл.;</p><p>Москва</p></bio><bio xml:lang="en"><p>Nikolay L. Menshikh</p><p>Dolgoprudny, Moscow Region;</p><p>Moscow</p></bio><email xlink:type="simple">menshikh@gmail.com</email><xref ref-type="aff" rid="aff-3"/></contrib><contrib contrib-type="author" corresp="yes"><name-alternatives><name name-style="eastern" xml:lang="ru"><surname>Федоров</surname><given-names>С. А.</given-names></name><name name-style="western" xml:lang="en"><surname>Fedorov</surname><given-names>S. A.</given-names></name></name-alternatives><bio xml:lang="ru"><p>Сергей Александрович Федоров</p><p>Москва</p></bio><bio xml:lang="en"><p>Sergey A. Fedorov</p><p>Moscow</p></bio><email xlink:type="simple">fys99@mail.ru</email><xref ref-type="aff" rid="aff-2"/></contrib></contrib-group><aff-alternatives id="aff-1"><aff xml:lang="ru"><institution>Московский физико-технический институт (национальный исследовательский университет)</institution><country>Россия</country></aff><aff xml:lang="en"><institution>Moscow Institute of Physics and Technology</institution><country>Russian Federation</country></aff></aff-alternatives><aff-alternatives id="aff-2"><aff xml:lang="ru"><institution>Институт теоретической и прикладной электродинамики РАН</institution><country>Россия</country></aff><aff xml:lang="en"><institution>Institute of Theoretical and Applied Electrodynamics RAS</institution><country>Russian Federation</country></aff></aff-alternatives><aff-alternatives id="aff-3"><aff xml:lang="ru"><institution>Московский физико-технический институт (национальный исследовательский университет);&#13;
&#13;
Институт теоретической и прикладной электродинамики РАН</institution><country>Россия</country></aff><aff xml:lang="en"><institution>Moscow Institute of Physics and Technology;&#13;
Institute of Theoretical and Applied Electrodynamics RAS</institution><country>Russian Federation</country></aff></aff-alternatives><pub-date pub-type="collection"><year>2021</year></pub-date><pub-date pub-type="epub"><day>04</day><month>08</month><year>2023</year></pub-date><volume>0</volume><issue>6</issue><fpage>44</fpage><lpage>50</lpage><permissions><copyright-statement>Copyright &amp;#x00A9; ФГУП "ВНИИФТРИ", 2023</copyright-statement><copyright-year>2023</copyright-year><copyright-holder xml:lang="ru">ФГУП "ВНИИФТРИ"</copyright-holder><copyright-holder xml:lang="en">ФГУП "ВНИИФТРИ"</copyright-holder><license xlink:href="https://www.izmt.ru/jour/about/submissions#copyrightNotice" xlink:type="simple"><license-p>https://www.izmt.ru/jour/about/submissions#copyrightNotice</license-p></license></permissions><self-uri xlink:href="https://www.izmt.ru/jour/article/view/1913">https://www.izmt.ru/jour/article/view/1913</self-uri><abstract><p>Рассмотрены два метода измерений бистатических характеристик рассеяния плоских образцов материалов. Проведены экспериментальные исследования и численное моделирование коэффициента зеркального отражения образцов магнитодиэлектриков в зависимости от угла падения волны в бистатической схеме постановки эксперимента (вращение приёмной и передающей антенн) и в моностатической схеме с использованием двугранного уголкового отражателя (вращение объекта). Характеристики магнитодиэлектрического плоского образца измерены в Институте теоретической и прикладной электродинамики Российской академии наук на двух стендах с соответствующей схемой эксперимента. Для выявления погрешностей используемых методов проведено численное моделирование измерения коэффициента зеркального отражения исследуемого образца методом интегральных уравнений (методом моментов) в программе FEKO в постановке двух схем экспериментов. Проведено сравнение полученных результатов между собой и с результатами аналитических расчётов коэффициента зеркального отражения, проведённых по формулам Френеля при рассмотрении бесконечного плоского слоя материала. Данные расчёты позволяют сравнить методические погрешности измерения коэффициента зеркального отражения в двух рассматриваемых схемах эксперимента. Показано, что методическая погрешность результатов измерений с использованием уголкового отражателя (отклонение от аналитического расчёта) на 1–2 дБ больше, чем при измерениях на бистатическом стенде. Результаты экспериментов и численного моделирования находятся в соответствии друг с другом. Выводы, полученные в данной работе применимы к любым экспериментальным установкам для исследования плоских материалов.</p></abstract><trans-abstract xml:lang="en"><p>This paper is discussed two methods for measuring the bistatic scattering characteristics of flat samples of the material. The experimental studies and numerical simulations of the dependence of the specular reflection coefficient on the incident angle of wave on a flat material sample carried out in the bistatic scheme of the experiment (rotation of the receiving and transmitting antennas) and in the monostatic scheme using a dihedral corner reflector (rotation of the object). Measurements for the magnetodielectric flat sample were carried out in ITAE RAS on two test facilities with the corresponding scheme of the experiment. To identify the errors of the methods used, we carried out numerical simulations of the measurement of the specular reflection coefficient of the sample under test by the method of integral equations (method of moments) in the FEKO program in the formulation of two experimental schemes. The obtained results were compared with each other and with the results of analytical calculations of the specular reflection coefficient carried out using the Fresnel formulas when considering an infinite flat layer of material. These calculations make it possible to compare the methodical errors in measuring the reflection coefficient in the two considered experimental schemes. It was shown that the results of the measurements using the corner reflector give methodical errors (deviations from the analytical calculation) by 1–2 dB more than the measurements on the bistatic facility. The results of experiments and numerical simulations are in agreement with each other. The conclusions obtained in this work are applicable to any experimental facilities for the study of planar materials.</p></trans-abstract><kwd-group xml:lang="ru"><kwd>бистатические измерения</kwd><kwd>коэффициент отражения</kwd><kwd>метод моментов</kwd><kwd>FEKO</kwd><kwd>безэховая камера</kwd><kwd>двугранный уголковый отражатель</kwd></kwd-group><kwd-group xml:lang="en"><kwd>bistatic measurements</kwd><kwd>reflection coefficient</kwd><kwd>method of moments</kwd><kwd>FEKO</kwd><kwd>anechoic chamber</kwd><kwd>dihedral corner reflector</kwd></kwd-group></article-meta></front><back><ref-list><title>References</title><ref id="cit1"><label>1</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Sudha Rani K., Krishna Chaitanya T., International Journal of Engineering and Technical Research, 2015, vol. 3, no. 7, pp. 84–93.</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Sudha Rani K., Krishna Chaitanya T., International Journal of Engineering and Technical Research, 2015, vol. 3, no. 7, pp. 84–93.</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit2"><label>2</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Álvarez H. F, Gómez M. E., Las-Heras F., IEEE Transactions on Instrumentation and Measurement, 2020, vol. 69, no. 4, pp. 1737–1744. https://doi.org/10.1109/TIM.2019.2913721</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Álvarez H. F, Gómez M. E., Las-Heras F., IEEE Transactions on Instrumentation and Measurement, 2020, vol. 69, no. 4, pp. 1737–1744. https://doi.org/10.1109/TIM.2019.2913721</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit3"><label>3</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Knott E. F., Shaeff er J. F., Tuley M. T., Radar cross section, Boston, SciTech Publ., 1993, second edition, 477 p.</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Knott E. F., Shaeff er J. F., Tuley M. T., Radar cross section, Boston, SciTech Publ., 1993, second edition, 477 p.</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit4"><label>4</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Eyraud C., Geff rin J.-M., Sabouroux P., Chaumet P. C., Tortel H., Giovannini H., Litman A., Radio Science, 2008, vol. 43, no. 4, p. RS4018. https://doi.org/10.1029/2008RS003836</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Eyraud C., Geff rin J.-M., Sabouroux P., Chaumet P. C., Tortel H., Giovannini H., Litman A., Radio Science, 2008, vol. 43, no. 4, p. RS4018. https://doi.org/10.1029/2008RS003836</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit5"><label>5</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Röding M., Sommerkorn G., Häfner S., Ihlow A., Jovanoska S., Thomä R. S., Proc. of the 47th European Microwave conf., Nuremberg, Germany, 10–12 Oct. 2017. https://doi.org/10.23919/EuMC.2017.8231083</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Röding M., Sommerkorn G., Häfner S., Ihlow A., Jovanoska S., Thomä R. S., Proc. of the 47th European Microwave conf., Nuremberg, Germany, 10–12 Oct. 2017. https://doi.org/10.23919/EuMC.2017.8231083</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit6"><label>6</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Daout F., Schmitt F., 2014 IEEE Conference on Antenna Measurements &amp; Applications (CAMA), Antibes Juan-les-Pins, France, 16–19 Nov. 2014. https://doi.org/10.1109/CAMA.2014.7003455</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Daout F., Schmitt F., 2014 IEEE Conference on Antenna Measurements &amp; Applications (CAMA), Antibes Juan-les-Pins, France, 16–19 Nov. 2014. https://doi.org/10.1109/CAMA.2014.7003455</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit7"><label>7</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Umari M. H., Ghodgaonkar D. K., Varadan V. V., Varadan V. K., IEEE Transactions on Instrumentation and Measurement, 1991, vol. 40, no. 1, pp. 19–24. https://doi.org/10.1109/19.69942</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Umari M. H., Ghodgaonkar D. K., Varadan V. V., Varadan V. K., IEEE Transactions on Instrumentation and Measurement, 1991, vol. 40, no. 1, pp. 19–24. https://doi.org/10.1109/19.69942</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit8"><label>8</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Fedorov S. A., Gilmutdinov R. V., Menshikh N. L., 2020 7th All-Russian Microwave Conference (RMC), Moscow, Russia, 25– 27 Nov. 2020. https://doi.org/10.1109/RMC50626.2020.9312243</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Fedorov S. A., Gilmutdinov R. V., Menshikh N. L., 2020 7th All-Russian Microwave Conference (RMC), Moscow, Russia, 25– 27 Nov. 2020. https://doi.org/10.1109/RMC50626.2020.9312243</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit9"><label>9</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Варенцов Е. Л., Дудкин М. И., Илларионов И. А. Измерение коэффициента отражения радиопоглощающих материалов в широком диапазоне частот методом инверсного апертурного анализа // XXIV Международная научно-техническая конференция «Информационные системы и технологии» ИСТ2018. Н. Новгород, Россия, 20 апреля 2018. Н. Новгород: НГТУ им. Алексеева, 2018. C. 27.</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Varentsov Ye. L., Dudkin M. I., Illarionov I. A., Proc. XXIV</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit10"><label>10</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Гаврилов А. А., Кирьянов О. В., Мартынов Н. А., Забалуев В. Е., Баранов С. О., Дубровин Ю. А. Измерение угловой зависимости модуля коэффициента отражения радиопоглощающих материалов и покрытий в свободном пространстве // Измерительная техника. 2012. № 7. C. 58–62.</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">International Scientifi c and Technical Conference “Information Systems and Technologies” ICT-2018), Nizhny Novgorod, Russia, April 20, 2018, NGTU Publ., 2018, p. 27. (In Russ.)</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit11"><label>11</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Ведюшкин Г. А., Чернышов М. Г. Угловой отражатель в полосной линии при измерении коэффициента отражения // Измерительная техника. 1991. № 12. C. 29–31.</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Gavrilov A. A., Kir’yanov O. E., Martynov N. A., Zabaluev V. E., Baranov S. O., Dubrovin Yu. A., Measurement Techniques, 2012, vol. 55, no. 7, pp. 826–833. https://doi.org/10.1007/s11018-012-0046-4</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit12"><label>12</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Hua Yan, Hong-Cheng Yin, Sheng Li, and Liang-Sheng Li, IEEE Transactions on Antennas and Propagation, 2019, vol. 67, no. 7. https://doi.org/10.1109/TAP.2019.2911268</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Vedyushkin G. A., Chernyshov M. G., Measurements Techniques, 1991, vol. 34, no. 12, pp. 1245–1248. https://doi.org/10.1007/BF00982566</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit13"><label>13</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Фридман А. Э. Основы метрологии. Современный курс. СПб.: НПО «Профессионал», 2008. 284 с.</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Hua Yan, Hong-Cheng Yin, Sheng Li, and Liang-Sheng Li, IEEE Transactions on Antennas and Propagation, 2019, vol. 67, no. 7. https://doi.org/10.1109/TAP.2019.2911268damentalsofMetrology.Moderncourse], St. Petersburg, NPO “Professional” Publ., 2008, 284 p. (In Russ.)</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit14"><label>14</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Балабуха Н. П., Зубов А. С., Солосин В. С. Компактные полигоны для измерения характеристик рассеяния. М.: Наука, 2007.</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Balabukha N. P., Zubov A. S., Solosin V. S., Kompaktnyye poligony dlya izmereniya kharakteristik rasseyaniya [Compact polygons for measuring scatter characteristics], Moscow, Nauka Publ., 2007. (In Russ.)</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit15"><label>15</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Гильмутдинов Р. В., Меньших Н. Л., Федоров С. А. Краевые эффекты в бистатических измерениях характеристик рассеяния образцов материалов // Журнал радиоэлектроники [электронный журнал]. 2020. № 10. https://doi.org/10.30898/1684-1719.2020.10.6</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Gilmutdinov R. V., Menshikh N. L., Fedorov S. A., Journal of Radio Electronics, 2020, no. 10. (In Russ.) https://doi.org/10.30898/1684-1719.2020.10.6</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit16"><label>16</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Федоров С. А., Меньших Н. Л., Солосин В. С. Стенд для измерений бистатических параметров рассеяния малоразмерных объектов // XI Всероссийская научно-техническая конференция «Метрология в радиоэлектронике», Менделеево, Московская обл., 19–21 июня 2018 г. Менделеево: ВНИИФТРИ, 2018.</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Fedorov S. A., Menshikh N. L., Solosin V. S., Proc. XI AllRussian Scientifi c and Technical Conference “Metrology in Radio Electronics”, Mendeleevo, Moscow region, June 19–21, 2018, Mendeleevo, VNIIFTRI, 2018.</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit17"><label>17</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Федоров С. А., Меньших Н. Л. Измерительный комплекс для определения параметров двухпозиционного рассеяния ЭМВ // VI Микроволновая конференция, Москва, 27–29 ноября 2018. М.: ИРЭ РАН, с. 109.</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Fedorov S. A., Menshikh N. L., Proc. 6th All-Russian Microwave Conference, Moscow, 27–29 November 2018, Moscow, 2018, Kotel’nikov Institute of Radio Engineering and Electronics of RAS, p. 109. (In Russ.)</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit18"><label>18</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Кобак В. О. Радиолокационные отражатели. М.: Советское радио, 1975. 212 с.</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Kobak V. O., Radiolokatsionnyye otrazhateli [Radar refl ectors], Moscow, Sovetskoye radio Publ., 1975, 212 p. (In Russ.)</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit19"><label>19</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Иванова В. И., Кибец С. Г., Краснолобов И. И., Лагарьков А. Н., Политико А. А., Семененко В. Н., Чистяев В. А. Разработка широкополосного радиопоглощающего покрытия с высокими эксплуатационными свойствами // Журнал радиоэлектроники [электронный журнал]. 2016. № 7. URL: http://jre. cplire.ru/jre/jul16/5/text.pdf (дата обращения: 30.04.2021).</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Ivanova V. I., Kibets S. G., Krasnolobov I. I., Lagarkov A. N., Politiko A. A., Semenenko V. N., Chistyaev V. A., Journal Radio Electronics, 2016, no. 7, available at: http://jre.cplire.ru/jre/jul16/5/text.pdf (accessed: 11.05.2021).</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit20"><label>20</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Семененко В. Н., Чистяев В. А., Политико А. А., Басков К. М. Стенд для измерения в свободном пространстве радиофизических параметров // Измерительная техника. 2019. № 2. С. 55–59. https://doi.org/10.32446/0368-1025it.2019-2-55-59</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Semenenko V. N., Chistyaev V. A., Politiko A. A., Baskov K. M., Measurements Techniques, 2019, vol. 62, no. 2, pp. 161–166. https://doi.org/10.1007/s11018-019-01601-5</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit21"><label>21</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Бреховских Л. М. Волны в слоистых средах. М.: Наука, 1973. 503 с.</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Brekhovskikh L. M., Waves in layered media, Imprint, Academic Press, 1976, 520 p.</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit22"><label>22</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Jakobus U., Marchand R. G., Ludick D. J., IEEE Transactions on Electromagnetic Compatibility, 2014, vol. 56, no. 4. https://doi.org/10.1109/TEMC.2014.2299408</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Jakobus U., Marchand R. G., Ludick D. J., IEEE Transactions on Electromagnetic Compatibility, 2014, vol. 56, no. 4. https://doi.org/10.1109/TEMC.2014.2299408</mixed-citation></citation-alternatives></ref></ref-list><fn-group><fn fn-type="conflict"><p>The authors declare that there are no conflicts of interest present.</p></fn></fn-group></back></article>
