<?xml version="1.0" encoding="UTF-8"?>
<!DOCTYPE article PUBLIC "-//NLM//DTD JATS (Z39.96) Journal Publishing DTD v1.3 20210610//EN" "JATS-journalpublishing1-3.dtd">
<article article-type="research-article" dtd-version="1.3" xmlns:mml="http://www.w3.org/1998/Math/MathML" xmlns:xlink="http://www.w3.org/1999/xlink" xmlns:xsi="http://www.w3.org/2001/XMLSchema-instance" xml:lang="ru"><front><journal-meta><journal-id journal-id-type="publisher-id">izmertech</journal-id><journal-title-group><journal-title xml:lang="ru">Измерительная техника</journal-title><trans-title-group xml:lang="en"><trans-title>Izmeritel`naya Tekhnika</trans-title></trans-title-group></journal-title-group><issn pub-type="ppub">0368-1025</issn><issn pub-type="epub">2949-5237</issn><publisher><publisher-name>ФГУП "ВНИИФТРИ"</publisher-name></publisher></journal-meta><article-meta><article-id pub-id-type="doi">10.32446/0368-1025it.2021-5-26-30</article-id><article-id custom-type="elpub" pub-id-type="custom">izmertech-1883</article-id><article-categories><subj-group subj-group-type="heading"><subject>Research Article</subject></subj-group><subj-group subj-group-type="section-heading" xml:lang="ru"><subject>ЭЛЕКТРОМАГНИТНЫЕ ИЗМЕРЕНИЯ</subject></subj-group><subj-group subj-group-type="section-heading" xml:lang="en"><subject>ELECTROMAGNETIC MEASUREMENTS</subject></subj-group></article-categories><title-group><article-title>Государственная поверочная схема для средств измерений электрического сопротивления постоянного и переменного токов</article-title><trans-title-group xml:lang="en"><trans-title>State verification scheme for means of measuring DC and AC electrical resistance</trans-title></trans-title-group></title-group><contrib-group><contrib contrib-type="author" corresp="yes"><contrib-id contrib-id-type="orcid">https://orcid.org/0000-0001-9629-9091</contrib-id><name-alternatives><name name-style="eastern" xml:lang="ru"><surname>Клионский</surname><given-names>М. Д.</given-names></name><name name-style="western" xml:lang="en"><surname>Klionsky</surname><given-names>M. D.</given-names></name></name-alternatives><bio xml:lang="ru"><p>Марк Данилович Клионский</p><p>Санкт-Петербург</p></bio><bio xml:lang="en"><p>Mark D. Klionsky</p><p>St. Petersburg</p></bio><email xlink:type="simple">m.d.klionsky@vniim.ru</email><xref ref-type="aff" rid="aff-1"/></contrib><contrib contrib-type="author" corresp="yes"><contrib-id contrib-id-type="orcid">https://orcid.org/0000-0002-8174-556X</contrib-id><name-alternatives><name name-style="eastern" xml:lang="ru"><surname>Самодуров</surname><given-names>И. А.</given-names></name><name name-style="western" xml:lang="en"><surname>Samodurov</surname><given-names>I. A.</given-names></name></name-alternatives><bio xml:lang="ru"><p>Игорь Александрович Самодуров</p><p>Санкт-Петербург</p></bio><bio xml:lang="en"><p>Igor A. Samodurov</p><p>St. Petersburg</p></bio><email xlink:type="simple">i.a.samodurov@vniim.ru</email><xref ref-type="aff" rid="aff-1"/></contrib></contrib-group><aff-alternatives id="aff-1"><aff xml:lang="ru"><institution>Всероссийский научно-исследовательский институт метрологии им. Д. И. Менделеева</institution><country>Россия</country></aff><aff xml:lang="en"><institution>D. I. Mendeleev Institute for Metrology</institution><country>Russian Federation</country></aff></aff-alternatives><pub-date pub-type="collection"><year>2021</year></pub-date><pub-date pub-type="epub"><day>25</day><month>07</month><year>2023</year></pub-date><volume>0</volume><issue>5</issue><fpage>26</fpage><lpage>30</lpage><permissions><copyright-statement>Copyright &amp;#x00A9; ФГУП "ВНИИФТРИ", 2023</copyright-statement><copyright-year>2023</copyright-year><copyright-holder xml:lang="ru">ФГУП "ВНИИФТРИ"</copyright-holder><copyright-holder xml:lang="en">ФГУП "ВНИИФТРИ"</copyright-holder><license xlink:href="https://www.izmt.ru/jour/about/submissions#copyrightNotice" xlink:type="simple"><license-p>https://www.izmt.ru/jour/about/submissions#copyrightNotice</license-p></license></permissions><self-uri xlink:href="https://www.izmt.ru/jour/article/view/1883">https://www.izmt.ru/jour/article/view/1883</self-uri><abstract><p>Рассмотрены вопросы разработки государственной поверочной схемы для средств измерений электрического сопротивления постоянного и переменного токов в связи с появлением высокоточных мостов, внедрением в метрологическую практику мер и магазинов сопротивления, обладающих весьма малым температурным коэффициентом (0,02–0,5)·10–6 К–1, высокостабильных переходных мер, электронных калибраторов сопротивления, мер сопротивления переменного тока, используемых как на постоянном, так и на переменном токе. Даны рекомендации по присвоению статуса эталона измерительным шунтам, мерам и измерителям сопротивления с погрешностью 0,005–0,5 %, достаточной для проведения поверки средств измерений. Разработана, утверждена и описана государственная поверочная схема для средств измерений электрического сопротивления постоянного и переменного токов, которая состоит из двух частей: первая часть распространяется на меры, магазины и измерители электрического сопротивления, вторая часть – на измерительные шунты и измерители сопротивления шунтов. Вторая часть введена в государственную поверочную схему впервые. Уточнены показатели точности для эталонов всех уровней, приведены условия исследования средств измерений для присвоения статуса эталона, критерии оценки метрологических характеристик.</p></abstract><trans-abstract xml:lang="en"><p>The need to develop a new state verification scheme (SVS) is caused by the emergence of high-precision bridges, resistance measures and boxes with a low temperature coefficient (0,02–0,5) ppm/К, highly stable transient measures, electronic resistance calibrators, and high frequency resistance measures. Recommendations how to assign the status of a working standard to measures, R-meters and measuring shunts with accuracy from 0,005 % to 0,500 %, sufficient for verification of measuring instruments, are given. SVS consists of two parts: part 1 covers electrical resistance measures, boxes and R-meters, part 2 – to measuring shunts and shunt resistance meters. Part 2 was introduced to the SVS for the first time. The revised indicators of accuracy for working standards of all levels are considered, conditions for the investigation of measuring instruments for assigning the status of a working standard, criteria for assessing metrological characteristics are given.</p></trans-abstract><kwd-group xml:lang="ru"><kwd>электрическое сопротивление</kwd><kwd>поверочная схема</kwd><kwd>эталон</kwd><kwd>измерительный шунт</kwd></kwd-group><kwd-group xml:lang="en"><kwd>electrical resistance</kwd><kwd>verification scheme</kwd><kwd>working standard</kwd><kwd>measuring shunt</kwd></kwd-group></article-meta></front><back><ref-list><title>References</title><ref id="cit1"><label>1</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Самодуров И. А. Передача единицы электрического сопротивления в область тераом в соответствии с ГПС электрического сопротивления // Сборник докладов 75-й науч.-техн. конф. СПб НТО РЭС им. А. С. Попова, посвящённой Дню радио, 2020, СПб. С. 264–265. URL: https://confntores.etu.ru/assets/files/2020/cp/pages/s11.html(датаобращения:24.04.2020).</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Samodurov I. A., Сollection of reports of the 75th International Scientifi c and Technical Conference, 2020, St. Petersburg, pp. 264–265, available at: https://conf-tores.etu.ru/assets/files/2020/cp/pages/s11.html(accesed:24.04.2020).(In Russ.)</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit2"><label>2</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Semenov Y., Samodurov I., CPEM 2010, Daejeon, Korea (South), 2010, pp. 643–644. https://doi.org/10.1109/CPEM.2010.5544296</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Semenov Y., Samodurov I., CPEM 2010, Daejeon, Korea (South), 2010, pp. 643–644. https://doi.org/10.1109/CPEM.2010.5544296</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit3"><label>3</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Lisowski M., Krawczyk K., IEEE Transactions on Instrumentation and Measurement, June 2013, vol. 62, no. 6, pp. 1749–1754. https://doi.org/10.1109/TIM.2013.2250132</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Lisowski M., Krawczyk K., IEEE Transactions on Instrumentation and Measurement, June 2013, vol. 62, no. 6, pp. 1749– 1754. https://doi.org/10.1109/TIM.2013.2250132</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit4"><label>4</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Jarrett D. G., Dupree A. J., CPEM 2010, Daejeon, Korea (South), 2010, pp. 571–572. https://doi.org/10.1109/CPEM.2010.5544805</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Jarrett D. G., Dupree A. J., CPEM 2010, Daejeon, Korea (South), 2010, pp. 571–572. https://doi.org/10.1109/CPEM.2010.5544805</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit5"><label>5</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Jarret D. G., Kraft M.E., 10 TΩ and 100 TΩ resistance measurements at NIST, X-Semetro Congress, Digest, Buenos Aires, Argentina, Sept. 25–27, 2013.</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Jarret D. G., Kraft M.E., 10 TΩ and 100 TΩ resistance measurements at NIST, X-Semetro Congress, Digest, Buenos Aires, Argentina, Sept. 25–27, 2013.</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit6"><label>6</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Jeckelmann B., Zeier M., Metrologia, 2010, vol. 47, 01006. https://doi.org/10.1088/0026-1394/47/1A/01006</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Jeckelmann B., Zeier M., Metrologia, 2010, vol. 47, 01006. https://doi.org/10.1088/0026-1394/47/1A/01006</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit7"><label>7</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Bohacek J., Wood B. M., Metrologia, 2001, vol. 38, no. 3, pp. 241–248. https://doi.org/10.1109/CPEM.2000.850932</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Bohacek J., Wood B. M., Metrologia, 2001, vol. 38, no. 3, pp. 241–248. https://doi.org/10.1109/CPEM.2000.850932</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit8"><label>8</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Awan S. A., Kibble B. P., IEEE Transactions on Instrumentation and Measurement, April 2005, vol. 54, no. 2, pp. 516–520. https://doi.org/10.1109/TIM.2005.843582</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Awan S. A., Kibble B. P., IEEE Transactions on Instrumentation and Measurement, April 2005, vol. 54, no. 2, pp. 516–520. https://doi.org/10.1109/TIM.2005.843582</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit9"><label>9</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Filipski P. S., Boecker M., Garcocz M., 2007 IEEE Instrumentation &amp; Measurement Technology Conference IMTC 2007, Warsaw, Poland, 2007, pp. 1–4. https://doi.org/10.1109/IMTC.2007.379124</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Filipski P. S., Boecker M., Garcocz M., 2007 IEEE Instrumentation &amp; Measurement Technology Conference IMTC 2007, Warsaw, Poland, 2007, pp. 1–4. https://doi.org/10.1109/IMTC.2007.379124</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit10"><label>10</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Клионский М. Д., Шипелев К. И. Метод сличения шунтов с мерой сопротивления // Сборник докладов 75-й науч.-техн. конф. СПб НТО РЭС им. А. С. Попова, посвящённой Дню радио, 2020, СПб. С. 262–263. URL:https://confntores.etu.ru/assets/files/2020/cp/pages/s11.html(датаобращения:24.04.2020).</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Klionsky M. D., Shipelev K. I., Сollection of reports of the 75th International Scientifi c and Technical Conference 2020, St. Petersburg, pp. 262–263, available at: https://confntores.etu.ru/assets/files/2020/cp/pages/s11.html(accesed:24.04.2020).(In Russ.)</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit11"><label>11</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru"></mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en"></mixed-citation></citation-alternatives></ref></ref-list><fn-group><fn fn-type="conflict"><p>The authors declare that there are no conflicts of interest present.</p></fn></fn-group></back></article>
