izmertechИзмерительная техникаIzmeritel`naya Tekhnika0368-10252949-5237ФГУП "ВНИИФТРИ"izmertech-182Research ArticleНАНОМЕТРОЛОГИЯОсобенности примененияупорядоченных пленок молекул фуллеренов для калибровки сканирующих туннельных микроскоповпри измерении геометрических параметров объектовКузинА. Ю.fgupnicpv@mail.ruТодуаП. А.noemail@neicon.ruПановВ. И.spm@spmlab.phys.msu.ruОрешкинА. И.noemail@neicon.ruНаучно-исследовательский центр по изучению свойств поверхности и вакуума,МоскваRussian FederationМосковский государственный университет им. М.В. Ломоносова, МоскваRussian Federation201307022023021015Copyright © ФГУП "ВНИИФТРИ", 20232023ФГУП "ВНИИФТРИ"ФГУП "ВНИИФТРИ"https://www.izmt.ru/jour/about/submissions#copyrightNoticehttps://www.izmt.ru/jour/article/view/182

Продемонстрирована возможность использования упорядоченных пленок молекул фуллеренов в качестве эталонных объектов для калибровки сканирующих туннельных микроскопов.

The possibility of application of ordered films of fulleren molecules as reference samples for scanning tunnel microscope calibration has been demonstrated.

сканирующий туннельный микроскопфуллеренкалибровкареконструкция кремнияscanning tunnel microscopefullerencalibrationsilicon reconstructionReferencesBinnig G., Rohrer H.Scanning tunneling microscopy // Helv. Phys. Acta.1982. V.55.N 6. P.726–735.Binnig G., Rohrer H.Scanning tunneling microscopy // Helv. Phys. Acta.1982. V.55.N 6. P.726–735.Binnig G., Quate C. F., Gerber Ch.Atomic force microscope // Phys. Rev. Lett. 1986. V.56.N 9. P.930–933.Binnig G., Quate C. F., Gerber Ch.Atomic force microscope // Phys. Rev. Lett. 1986. V.56.N 9. P.930–933.Lewis A. e. a.Scanning optical microscopy with 500 Å spatial resolution //Biophys. J. 1983. V.41. P.405a.Lewis A. e. a.Scanning optical microscopy with 500 Å spatial resolution //Biophys. J. 1983. V.41. P.405a.Pohl D.W., Denk W., Lanz M.Optical stethoscopy: image recording with resolution l/20 // Appl. Phys. Lett. 1984. V.44.N7.P.651–653.Pohl D.W., Denk W., Lanz M.Optical stethoscopy: image recording with resolution l/20 // Appl. Phys. Lett. 1984. V.44.N7.P.651–653.Кузин А.Ю.и др.Применение реконструированной поверхности кремния для калибровки сканирующих туннельных микроскопов//Измерительная техника.2012. № 7.С. 26–29;Кузин А.Ю.и др.Применение реконструированной поверхности кремния для калибровки сканирующих туннельных микроскопов//Измерительная техника.2012. № 7.С. 26–29;A. Yu. Kuzin e. a. Reconstructed silicon surfaces for calibration of scanning tunnel microscopes // Measurement Techniques. 2012. V. 55. N 7.P. 773–779.A. Yu. Kuzin e. a. Reconstructed silicon surfaces for calibration of scanning tunnel microscopes // Measurement Techniques. 2012. V. 55. N 7.P. 773–779.Sadowski J.T.e. a.Stability of the quasicubic phase in the initial stage of the growth of bismuth films on Si(111)-7×7//J. Appl. Phys.2006. V. 99.P. 014904.Sadowski J.T.e. a.Stability of the quasicubic phase in the initial stage of the growth of bismuth films on Si(111)-7×7//J. Appl. Phys.2006. V. 99.P. 014904.Sadowski J.T. e. a.Epitaxial C60 thin films on Bi(0001)//Surface Sci.2007. V. 601. P. L136–L139.Sadowski J.T. e. a.Epitaxial C60 thin films on Bi(0001)//Surface Sci.2007. V. 601. P. L136–L139.Oreshkin A.I.e. a.Formation of highly crystalline C60 molecular films on Bi(0001)/Si(111) surface// JETP Lett.2007. V. 86. N 8. P. 522–525.Oreshkin A.I.e. a.Formation of highly crystalline C60 molecular films on Bi(0001)/Si(111) surface// JETP Lett.2007. V. 86. N 8. P. 522–525.Oreshkin A.I.e. a.STM/STS study of C60F36 molecules adsorption on 7x7-Si(111) // JETP Lett.2007. V. 85.N 1.P.40–45.Oreshkin A.I.e. a.STM/STS study of C60F36 molecules adsorption on 7x7-Si(111) // JETP Lett.2007. V. 85.N 1.P.40–45.

The authors declare that there are no conflicts of interest present.