izmertechИзмерительная техникаIzmeritel`naya Tekhnika0368-10252949-5237ФГУП "ВНИИФТРИ"izmertech-176Research ArticleМЕДИЦИНСКИЕ И БИОЛОГИЧЕСКИЕ ИЗМЕРЕНИЯMEDICAL AND BIOLOGICAL MEASUREMENTSОпределение метрологических характеристик сканирующего ближнепольного оптического микроскопа при исследовании биологических объектовБулыгинФ. В.noemail@neicon.ruДрачеваО. Е.o.dracheva@vniiofi.ruКутузовН. П.noemail@neicon.ruЛясковскийВ. Л.noemail@neicon.ruМаксимовГ. В.noemail@neicon.ruНиколаевЮ. А.noemail@neicon.ruВсероссийский научно-исследовательский институт оптико-физических измеренийRussian FederationМосковский государственный университет имени М. В. ЛомоносоваRussian Federation2013070220230105559Copyright © ФГУП "ВНИИФТРИ", 20232023ФГУП "ВНИИФТРИ"ФГУП "ВНИИФТРИ"https://www.izmt.ru/jour/about/submissions#copyrightNoticehttps://www.izmt.ru/jour/article/view/176

Предложены методы определения основных метрологических характеристик сканирующего ближнепольного оптического микроскопа – масштабного коэффициента и пространственного разрешения, характеризующегося как диаметр оптического зонда. Исследована возможность использования предложенного метода для калибровки сканирующего ближнепольного оптического микроскопа непосредственно в процессе измерений параметров биологических объектов.

The methods of the scanning near-field optical microscope main metrological characteristics determination are proposed. These characteristics include a scale factor and a spatial resolution characterized as an optical probe diameter. The possibility of the proposed method usage for scanning near-field optical microscope calibration directly during the biological objects parameters measurement has been studied.

сканирующий ближнепольный оптический микроскопмасштабный коэффициентдиаметр оптического зондаnear-field scanning optical microscopescale factoroptical probe diameterReferencesKoopman M. e. a. Near-field scanning optical microscopy in liquid for high resolution single molecule detection on dendritic cells // FEBS Lett. 2004. N 573. P. 6–10.Koopman M. e. a. Near-field scanning optical microscopy in liquid for high resolution single molecule detection on dendritic cells // FEBS Lett. 2004. N 573. P. 6–10.Hwang J. e. a. Domains in cell plasma membranes investigated by near-field scanning optical microscopy // J. Biophys. 1998. N 74. P. 2184–2190.Hwang J. e. a. Domains in cell plasma membranes investigated by near-field scanning optical microscopy // J. Biophys. 1998. N 74. P. 2184–2190.Enderle Th. e. a. Membrane specific mapping and colocalization of malarial and host skeletal proteins in the Plasmodium falciparum infected erythrocyte by dual-color near-field scanning optical microscopy // PNAS. 1997. N 94. С. 520–525.Enderle Th. e. a. Membrane specific mapping and colocalization of malarial and host skeletal proteins in the Plasmodium falciparum infected erythrocyte by dual-color near-field scanning optical microscopy // PNAS. 1997. N 94. С. 520–525.Dunn R. Near-field Scanning Optical Microscopy // Chem. Rev. 1999. N 99. P. 2891–2897.Dunn R. Near-field Scanning Optical Microscopy // Chem. Rev. 1999. N 99. P. 2891–2897.Reimer L. Scanning Electron Microscopy. Berlin: Springer-Verlag, 1985.Reimer L. Scanning Electron Microscopy. Berlin: Springer-Verlag, 1985.Vigoureux J., Depasse F., Girard C. Superresolution of near-field optical microscopy defined from properties of confined electromagnetic waves // Applied Optics. 1992. N 31. P. 3036–3045.Vigoureux J., Depasse F., Girard C. Superresolution of near-field optical microscopy defined from properties of confined electromagnetic waves // Applied Optics. 1992. N 31. P. 3036–3045.Bethe H. Theory of Diffraction by Small Holes // Phys. Rev. 1944. 66, 163.Bethe H. Theory of Diffraction by Small Holes // Phys. Rev. 1944. 66, 163.Жданов Г. С., Либенсон М. Н., Марциновский Г. А. Ближнепольная оптика. СПб.: ГУ ИТМО, 2007.Жданов Г. С., Либенсон М. Н., Марциновский Г. А. Ближнепольная оптика. СПб.: ГУ ИТМО, 2007.Sy-Hann Chen e. a. Convenient near-field optical measurement and analysis of polysterene spheres // Vacuum. 2006. N 81. P. 129–132.Sy-Hann Chen e. a. Convenient near-field optical measurement and analysis of polysterene spheres // Vacuum. 2006. N 81. P. 129–132.Industrial Metrology: Surfaces and Roundness. London: Springer-Verlag, 2002.Industrial Metrology: Surfaces and Roundness. London: Springer-Verlag, 2002.Булыгин Ф. В., Лясковский В. Л. Исследование методов измерения диаметра электронного зонда сканирующих электронных микроскопов с помощью современных мер нанометрового диапазона // Метрология. 2010. № 7. C. 34–43.Булыгин Ф. В., Лясковский В. Л. Исследование методов измерения диаметра электронного зонда сканирующих электронных микроскопов с помощью современных мер нанометрового диапазона // Метрология. 2010. № 7. C. 34–43.

The authors declare that there are no conflicts of interest present.