<?xml version="1.0" encoding="UTF-8"?>
<!DOCTYPE article PUBLIC "-//NLM//DTD JATS (Z39.96) Journal Publishing DTD v1.3 20210610//EN" "JATS-journalpublishing1-3.dtd">
<article article-type="research-article" dtd-version="1.3" xmlns:mml="http://www.w3.org/1998/Math/MathML" xmlns:xlink="http://www.w3.org/1999/xlink" xmlns:xsi="http://www.w3.org/2001/XMLSchema-instance" xml:lang="ru"><front><journal-meta><journal-id journal-id-type="publisher-id">izmertech</journal-id><journal-title-group><journal-title xml:lang="ru">Измерительная техника</journal-title><trans-title-group xml:lang="en"><trans-title>Izmeritel`naya Tekhnika</trans-title></trans-title-group></journal-title-group><issn pub-type="ppub">0368-1025</issn><issn pub-type="epub">2949-5237</issn><publisher><publisher-name>ФГУП "ВНИИФТРИ"</publisher-name></publisher></journal-meta><article-meta><article-id pub-id-type="doi">10.32446/0369-1025it.2020-2-44-49</article-id><article-id custom-type="elpub" pub-id-type="custom">izmertech-1728</article-id><article-categories><subj-group subj-group-type="heading"><subject>Research Article</subject></subj-group><subj-group subj-group-type="section-heading" xml:lang="ru"><subject>ОПТИКО-ФИЗИЧЕСКИЕ ИЗМЕРЕНИЯ</subject></subj-group><subj-group subj-group-type="section-heading" xml:lang="en"><subject>OPTICOPHYSICAL MEASUREMENTS</subject></subj-group></article-categories><title-group><article-title>Сравнение чувствительности рефрактометрических методов нарушенного полного внутреннего отражения и поверхностного плазмонного резонанса</article-title><trans-title-group xml:lang="en"><trans-title>Comparison of sensitivity of the refractometric methods of frustrated total internal refection and surface plasmon resonance</trans-title></trans-title-group></title-group><contrib-group><contrib contrib-type="author" corresp="yes"><name-alternatives><name name-style="eastern" xml:lang="ru"><surname>Павлов</surname><given-names>И. Н.</given-names></name><name name-style="western" xml:lang="en"><surname>Pavlov</surname><given-names>I. N.</given-names></name></name-alternatives><bio xml:lang="ru"><p>Москва</p></bio><bio xml:lang="en"><p>Ilya N. Pavlov</p><p>Moscow</p></bio><email xlink:type="simple">inpavlov@bk.ru</email><xref ref-type="aff" rid="aff-1"/></contrib></contrib-group><aff-alternatives id="aff-1"><aff xml:lang="ru"><institution>Национальный исследовательский университет «МЭИ»</institution><country>Россия</country></aff><aff xml:lang="en"><institution>National Research University “MPEI”</institution><country>Russian Federation</country></aff></aff-alternatives><pub-date pub-type="collection"><year>2020</year></pub-date><pub-date pub-type="epub"><day>14</day><month>06</month><year>2023</year></pub-date><volume>0</volume><issue>2</issue><fpage>45</fpage><lpage>49</lpage><permissions><copyright-statement>Copyright &amp;#x00A9; ФГУП "ВНИИФТРИ", 2023</copyright-statement><copyright-year>2023</copyright-year><copyright-holder xml:lang="ru">ФГУП "ВНИИФТРИ"</copyright-holder><copyright-holder xml:lang="en">ФГУП "ВНИИФТРИ"</copyright-holder><license xlink:href="https://www.izmt.ru/jour/about/submissions#copyrightNotice" xlink:type="simple"><license-p>https://www.izmt.ru/jour/about/submissions#copyrightNotice</license-p></license></permissions><self-uri xlink:href="https://www.izmt.ru/jour/article/view/1728">https://www.izmt.ru/jour/article/view/1728</self-uri><abstract><p>В последние годы широко распространён оптический метод исследования тонкого пограничного слоя сред, основанный на явлении поверхностного плазмонного резонанса. Одно из достоинств этого метода – экспериментально установленная высокая чувствительность. Согласно теоретическим расчётам большей чувствительностью обладает другой схожий оптический метод исследования на основе явления нарушенного полного внутреннего отражения. Выполнено сравнение чувствительностей к изменению показателя преломления тонкого пограничного слоя исследуемой среды двух указанных оптических рефрактометрических методов – поверхностного плазмонного резонанса и нарушенного полного внутреннего отражения. Показано, что в одинаковых экспериментальных условиях оба метода имеют схожие чувствительности к изменению показателя преломления тонкого пограничного слоя изучаемой среды и поэтому каждый из них достоин внимания при выборе метода исследования в каждом конкретном случае.</p></abstract><trans-abstract xml:lang="en"><p>Two optical methods, namely surface plasmon resonance imaging and frustrated total internal reflection, are described in the paper in terms of comparing their sensitivity to change of refractive index of a thin boundary layer of an investigated medium. It is shown that, despite the fact that the theoretically calculated sensitivity is higher for the frustrated total internal reflection method, and the fact that usually in practice the surface plasmon resonance method, on the contrary, is considered more sensitive, under the same experimental conditions both methods show a similar result.</p></trans-abstract><kwd-group xml:lang="ru"><kwd>поверхностный плазмонный резонанс</kwd><kwd>нарушенное полное внутреннее отражение</kwd><kwd>оптические методы исследования</kwd><kwd>пограничный слой</kwd><kwd>чувствительность по показателю преломления.</kwd></kwd-group><kwd-group xml:lang="en"><kwd>surface plasmon resonance</kwd><kwd>frustrated total internal reflection</kwd><kwd>optical methods of investigation</kwd><kwd>boundary layer</kwd><kwd>sensitivity to refractive index</kwd></kwd-group></article-meta></front><back><ref-list><title>References</title><ref id="cit1"><label>1</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Hashemi M. A., Heron C. M., Meccanica, 2019, vol. 54 (4–5), pp. 653–665. DOI:10.1007/s11012-019-00966-9</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Hashemi M. A., Heron C. M., Meccanica, 2019, vol. 54 (4–5), pp. 653–665. DOI:10.1007/s11012-019-00966-9</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit2"><label>2</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Berh D., Scherzinger A., Otto N., Jiang X., Klämbt C., Risse B., Computers in Biology and Medicine, 2018, no. 93, рp. 189–199. DOI:10.1016/j.compbiomed.2017.12.017</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Berh D., Scherzinger A., Otto N., Jiang X., Klämbt C., Risse B., Computers in Biology and Medicine, 2018, no. 93, рp. 189–199. DOI:10.1016/j.compbiomed.2017.12.017</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit3"><label>3</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Smith N. D., Sharp J. S., Science and Justice, 2017, vol. 57 (3), рp. 193–198. DOI: 10.1016/j.scijus.2017.03.003</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Smith N. D., Sharp J. S., Science and Justice, 2017, vol. 57 (3), рp. 193–198. DOI:10.1016/j.scijus.2017.03.003</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit4"><label>4</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Grebenikova N. M., Smirnov K. J., Artemiev V. V., Davydov V. V. and Kruzhalov S. V., Journal of Physics: Conference Series, 2018, vol. 1038, р. 012089. DOI:10.1088/1742-6596/1038/1/012089</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Grebenikova N. M., Smirnov K. J., Artemiev V. V., Davydov V. V. and Kruzhalov S. V., Journal of Physics: Conference Series, 2018, vol. 1038, р. 012089. DOI:10.1088/1742-6596/1038/1/012089</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit5"><label>5</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Zhu P., Journal of Optics (United Kingdom), 2016, vol. 18 (2), р. 025403. DOI:10.1088/2040-8978/18/2/025403</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Zhu P., Journal of Optics (United Kingdom), 2016, vol. 18 (2), р. 025403. DOI:10.1088/2040-8978/18/2/025403</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit6"><label>6</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Терентьев В. С., Симонов В. А. Экспериментальный метод изготовления согласованной металл-диэлектрической структуры для сенсора на основе эффекта нарушенного полного внутреннего отражения // Автометрия. 2015. Т. 51. № 6. C. 89–98.</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Terent’ev V. S., Simonov V. A., Avtometriya, 2015, no. 6, рр. 89–98.</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit7"><label>7</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Pavlov I. N., Rinkevichyus B. S., Optical Memory and Neural Networks (Information Optics), 2009, vol. 18, no. 4, рp. 322–327. DOI:10.3103/S1060992X09040110</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Pavlov I. N., Rinkevichyus B. S., Optical Memory and Neural Networks (Information Optics), 2009, vol. 18, no. 4, рp. 322–327. DOI:10.3103/S1060992X09040110</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit8"><label>8</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Павлов И. Н., Ринкевичюс Б. С., Толкачев А. В. Лазерный визуализатор пристеночных слоёв жидкости // Измерительная техника. 2010. № 10. С. 33–35.</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Pavlov I. N., Rinkevichyus B. S., Tolkachev A. V., Measurement Techniques, 2011, vol. 53, no. 10, рp. 1130–1134.</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit9"><label>9</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Павлов И. Н., Ринкевичюс Б. С., Толкачев А. В. Визуализация процессов кристаллизации в пристеночном слое капли воды // Метрология. 2013. № 3. С. 11–17.</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Pavlov I. N., Rinkevichyus B. S., Tolkachev A. V., Measurement Techniques, 2013. vol. 56, no. 3, рp. 271–274.</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit10"><label>10</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Pavlov I. N., Rinkevichyus B. S., Tolkachev A. V., Instruments and Experimental Techniques, 2013, no. 56 (2), рp. 242–246. DOI:10.1134/S0020441213020103</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Pavlov I. N., Rinkevichyus B. S., Tolkachev A. V., Instruments and Experimental Techniques, 2013, no. 56 (2), рp. 242–246. DOI:10.1134/S0020441213020103</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit11"><label>11</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Khodyko Yu. A., Saverchenko V. I. and Fisenko S. P., Interfacial Phenomena and Heat Transfer, 2018, vol. 6 (3), рp. 231–238. DOI:10.1615/InterfacPhenomHeatTransfer.2019029624</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Khodyko Yu. A., Saverchenko V. I. and Fisenko S. P., Interfacial Phenomena and Heat Transfer, 2018, vol. 6 (3), рp. 231–238. DOI:10.1615/InterfacPhenomHeatTransfer.2019029 624</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit12"><label>12</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Pavlov I. N., Rinkevichyus B. S., Vedyashkina A. V., Journal of Physics: Conference Series, 2016, vol. 737, р. 012044. DOI:10.1088/1742-6596/737/1/012044</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Pavlov I. N., Rinkevichyus B. S., Vedyashkina A. V., Journal of Physics: Conference Series, 2016, vol. 737, р. 012044. DOI:10.1088/1742-6596/737/1/012044</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit13"><label>13</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Борн М., Вольф Э. Основы оптики: Пер. с англ. С. Н. Бреуса и др. / Под ред. Г. П. Мотулевич. изд. 2-е, испр. М.: Наука, 1973. 720 с.</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Born M. and Wolf E., Principles of optics, London, UK, Cambridge university press, 1959.</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit14"><label>14</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Новотный Л., Хехт Б. Основы нанооптики: Пер. с англ. А. А. Коновко, О. А. Шутовой / Под ред. В. В. Самарцева. М.: Физматлит, 2009. 483 с.</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Novotny L. and Hecht B., Principles of nano-optics, London, UK, Cambridge university press, 2006. DOI:10.1017/СВО9780511813535</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit15"><label>15</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Pavlov I. N., Rinkevichyus B. S., Tolkachev A. V., Scientifi c Visualization, 2014, no. 3, рp. 1–13.</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Pavlov I. N., Rinkevichyus B. S., Tolkachev A. V., Scientifi c Visualization, 2014, no. 3, рp. 1–13.</mixed-citation></citation-alternatives></ref></ref-list><fn-group><fn fn-type="conflict"><p>The authors declare that there are no conflicts of interest present.</p></fn></fn-group></back></article>
