<?xml version="1.0" encoding="UTF-8"?>
<!DOCTYPE article PUBLIC "-//NLM//DTD JATS (Z39.96) Journal Publishing DTD v1.3 20210610//EN" "JATS-journalpublishing1-3.dtd">
<article article-type="research-article" dtd-version="1.3" xmlns:mml="http://www.w3.org/1998/Math/MathML" xmlns:xlink="http://www.w3.org/1999/xlink" xmlns:xsi="http://www.w3.org/2001/XMLSchema-instance" xml:lang="ru"><front><journal-meta><journal-id journal-id-type="publisher-id">izmertech</journal-id><journal-title-group><journal-title xml:lang="ru">Измерительная техника</journal-title><trans-title-group xml:lang="en"><trans-title>Izmeritel`naya Tekhnika</trans-title></trans-title-group></journal-title-group><issn pub-type="ppub">0368-1025</issn><issn pub-type="epub">2949-5237</issn><publisher><publisher-name>ФГУП "ВНИИФТРИ"</publisher-name></publisher></journal-meta><article-meta><article-id pub-id-type="doi">10.32446/0368-1025it.2020-2-38-44</article-id><article-id custom-type="elpub" pub-id-type="custom">izmertech-1727</article-id><article-categories><subj-group subj-group-type="heading"><subject>Research Article</subject></subj-group><subj-group subj-group-type="section-heading" xml:lang="ru"><subject>ОПТИКО-ФИЗИЧЕСКИЕ ИЗМЕРЕНИЯ</subject></subj-group><subj-group subj-group-type="section-heading" xml:lang="en"><subject>OPTICOPHYSICAL MEASUREMENTS</subject></subj-group></article-categories><title-group><article-title>Мониторинг высоковольтного напряжения с помощью оптоволоконной рециркуляционной измерительной системы</article-title><trans-title-group xml:lang="en"><trans-title>High-voltage monitoring by the fiber-optic recirculating measuring system</trans-title></trans-title-group></title-group><contrib-group><contrib contrib-type="author" corresp="yes"><name-alternatives><name name-style="eastern" xml:lang="ru"><surname>Поляков</surname><given-names>А. В.</given-names></name><name name-style="western" xml:lang="en"><surname>Polyakov</surname><given-names>A. V.</given-names></name></name-alternatives><bio xml:lang="ru"><p>Минск</p></bio><bio xml:lang="en"><p>Alexandre V. Polyakov</p><p>Minsk</p></bio><email xlink:type="simple">polyakov@bsu.by</email><xref ref-type="aff" rid="aff-1"/></contrib><contrib contrib-type="author" corresp="yes"><name-alternatives><name name-style="eastern" xml:lang="ru"><surname>Ксенофонтов</surname><given-names>М. А.</given-names></name><name name-style="western" xml:lang="en"><surname>Ksenofontov</surname><given-names>M. A.</given-names></name></name-alternatives><bio xml:lang="ru"><p>Минск</p></bio><bio xml:lang="en"><p>Michail A. Ksenofontov</p><p>Minsk</p></bio><email xlink:type="simple">lab_dozator@mail.ru</email><xref ref-type="aff" rid="aff-2"/></contrib></contrib-group><aff-alternatives id="aff-1"><aff xml:lang="ru"><institution>Белорусский государственный университет</institution><country>Беларусь</country></aff><aff xml:lang="en"><institution>Belarusian State University</institution><country>Belarus</country></aff></aff-alternatives><aff-alternatives id="aff-2"><aff xml:lang="ru"><institution>Научно-исследовательское учреждение «Институт прикладных физических проблем им. А. Н. Севченко»&#13;
Белорусского государственного университета</institution><country>Беларусь</country></aff><aff xml:lang="en"><institution>Research Institution “Institute of Applied Physical Problems named after A. N. Sevchenko” of Belarusian State University</institution><country>Belarus</country></aff></aff-alternatives><pub-date pub-type="collection"><year>2020</year></pub-date><pub-date pub-type="epub"><day>14</day><month>06</month><year>2023</year></pub-date><volume>0</volume><issue>2</issue><fpage>38</fpage><lpage>44</lpage><permissions><copyright-statement>Copyright &amp;#x00A9; ФГУП "ВНИИФТРИ", 2023</copyright-statement><copyright-year>2023</copyright-year><copyright-holder xml:lang="ru">ФГУП "ВНИИФТРИ"</copyright-holder><copyright-holder xml:lang="en">ФГУП "ВНИИФТРИ"</copyright-holder><license xlink:href="https://www.izmt.ru/jour/about/submissions#copyrightNotice" xlink:type="simple"><license-p>https://www.izmt.ru/jour/about/submissions#copyrightNotice</license-p></license></permissions><self-uri xlink:href="https://www.izmt.ru/jour/article/view/1727">https://www.izmt.ru/jour/article/view/1727</self-uri><abstract><p>Оптические технологии измерения электрических величин в высоковольтной электроэнергетике обладают уникальными свойствами и значительными достоинствами: использование оптических волокон обеспечивает высокую устойчивость измерительного оборудования к электромагнитным помехам и гальваническую развязку высоковольтных датчиков; на передаваемые от оптических датчиков по волоконно-оптическим линиям связи данные не оказывают влияние внешние электромагнитные поля; исключаются проблемы, связанные с контурами заземления, отсутствуют побочные электромагнитные излучения и перекрёстные помехи между каналами. Представлена структура и принцип действия квазираспределённой рециркуляционной оптоволоконной системы мониторинга высоковольтных напряжений. Чувствительный элемент системы – комбинация пьезокерамической трубки с волоконным световодом, в котором происходит обратный поперечный пьезоэффект. Принцип измерения электрического напряжения основан на регистрации изменения частоты рециркуляции под воздействием приложенного напряжения. При расположении измерительных секций в порядке возрастания измеряемых действующих напряжений относительно приёмопередающего блока достигается относительная разрешающая способность 0,30–0,45 % для PZT-5Н и 0,8–1,2 % для PZT-4 в диапазоне напряжений 20–150 кВ.</p></abstract><trans-abstract xml:lang="en"><p>Optical technologies for measuring electrical quantities attract great attention due to their unique properties and signifi cant advantages over other technologies used in high-voltage electric power industry: the use of optical fibers ensures high stability of measuring equipment to electromagnetic interference and galvanic isolation of high-voltage sensors; external electromagnetic fields do not influence the data transmitted from optical sensors via fiber-optic communication lines; problems associated with ground loops are eliminated, there are no side electromagnetic radiation and crosstalk between the channels. The structure and operation principle of a quasi-distributed fiber-optic high-voltage monitoring system is presented. The sensitive element is a combination of a piezo-ceramic tube with an optical fiber wound around it. The device uses reverse transverse piezoelectric effect. The measurement principle is based on recording the change in the recirculation frequency under the applied voltage influence. When the measuring sections are arranged in ascending order of the measured effective voltages relative to the receiving-transmitting unit, a relative resolution of 0,3–0,45 % is achieved for the PZT-5H and 0,8–1,2 % for the PZT-4 in the voltage range 20–150 kV.</p></trans-abstract><kwd-group xml:lang="ru"><kwd>высоковольтное напряжение</kwd><kwd>волоконно-оптическая измерительная система</kwd><kwd>частота рециркуляции</kwd><kwd>обратный поперечный пьезоэффект</kwd><kwd>разрешающая способность</kwd></kwd-group><kwd-group xml:lang="en"><kwd>high voltage</kwd><kwd>fiber-optic measuring system</kwd><kwd>recirculation frequency</kwd><kwd>reverse transverse piezoelectric effect</kwd><kwd>resolution.</kwd></kwd-group></article-meta></front><back><ref-list><title>References</title><ref id="cit1"><label>1</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Feng Pan, Xia Xiao, Yan Xu, and Shiyan Ren, Sensors, 2011, vol. 11, no. 7, рр. 6593–6602. DOI:10.3390/s110706593</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Feng Pan, Xia Xiao, Yan Xu, and Shiyan Ren, Sensors, 2011, vol. 11, no. 7, рр. 6593–6602. DOI:10.3390/s110706593</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit2"><label>2</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Kumada A., and Hidaka K., IEEE Trans. Power Delivery, 2013, vol. 28, no. 3, рр. 1306–1313. DOI:10.1109/TPWRD.2013.2250315</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Kumada A., and Hidaka K., IEEE Trans. Power Delivery, 2013, vol. 28, no. 3, рр. 1306–1313. DOI:10.1109/TPWRD.2013.2250315</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit3"><label>3</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Han R., Yang Q., Sima W., Zhang Y., and Sun S., Electric Power Systems Research, 2016, vol. 139, рр. 93–100. DOI:10.1016/j.epsr.2015.11.037</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Han R., Yang Q., Sima W., Zhang Y., and Sun S., Electric Power Systems Research, 2016, vol. 139, рр. 93–100. DOI:10.1016/j.epsr.2015.11.037</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit4"><label>4</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Soobong Kim, Jaehee Park, and Won-Taek Han, Microwave and Optical Technology Letters, 2009. vol. 51, no. 7, рр. 1689–1691. DOI:10.1002/mop.24434</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Soobong Kim, Jaehee Park, and Won-Taek Han, Microwave and Optical Technology Letters, 2009. vol. 51, no. 7, рр. 1689–1691. DOI:10.1002/mop.24434</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit5"><label>5</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Chen X., He S., Li D., Wang K., Fan Y., and Wu S., IEEE Sensors Journal, 2016, vol. 16, no. 2, рр. 349–354. DOI:10.1109/JSEN.2015.2479921</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Chen X., He S., Li D., Wang K., Fan Y., and Wu S., IEEE Sensors Journal, 2016, vol. 16, no. 2, рр. 349–354. DOI:10.1109/JSEN.2015.2479921</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit6"><label>6</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Gagliardi G., Marignetti F., Patent EP3055703A1 (17 August 2016).</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Gagliardi G., Marignetti F., Patent EP3055703A1 (17 August 2016).</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit7"><label>7</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Qing Yang, Yanxiao He, Shangpeng Sun, Mandan Luo, and Rui Han, Review of Scientifi c Instruments, 2017, vol. 88, no. 10, рр. 500–505. DOI:10.1063/1.4986046</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Qing Yang, Yanxiao He, Shangpeng Sun, Mandan Luo, and Rui Han, Review of Scientifi c Instruments, 2017, vol. 88, no. 10, рр. 500–505. DOI:10.1063/1.4986046</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit8"><label>8</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Wang P., Semenova Y., Wu Q., and Farrell G. A., Optics and Laser Technology, 2011, vol. 43, no. 5, рр. 922–924. DOI:10.1016/j.optlastec.2011.01.003</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Wang P., Semenova Y., Wu Q., and Farrell G. A., Optics, and Laser Technology, 2011, vol. 43, no. 5, рр. 922–924. DOI:10.1016/j.optlastec.2011.01.003</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit9"><label>9</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Поляков А. В., Чубаров С. И. Стабильность частоты рециркуляции в кольцевых структурах с волоконно-оптической линией задержки // Известия вузов. Приборостроение. 2003. Т. 46. № 5. С. 49–55.</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Polyakov A. V., Chubarov S. I., Journal of Instrument Engineering, 2003, vol. 46, no. 5, рр. 49–55.</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit10"><label>10</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Ксенофонтов М. А., Поляков А. В. Стабильность частоты рециркуляции в замкнутых оптоэлектронных системах регенеративного типа // Электроника-инфо. 2010. № 5. С. 76–80.</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Ksenofontov M. A., Polyakov A. V., Elektronika-info, 2010, no. 5, pp. 76–80 (in Russian).</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit11"><label>11</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Pacheco M., Mendoza Santoyo F., Mendez A., and Zenteno L. A., Measurement Science and Technology, 1999. vol. 10, no. 9, рр. 777–782. DOI:10.1088/0957-0233/10/9/303</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Pacheco M., Mendoza Santoyo F., Mendez A., and Zenteno L. A., Measurement Science and Technology, 1999. vol. 10, no. 9, рр. 777–782. DOI:10.1088/0957-0233/10/9/303</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit12"><label>12</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Fusiek G., Niewczas P., Dziuda L., and McDonald J. R., Optical Engineering, 2005, vol. 44, no. 11, рр. 1–6. DOI:10.1117/1.2124627</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Fusiek G., Niewczas P., Dziuda L., and McDonald J. R., Optical Engineering, 2005, vol. 44, no. 11, рр. 1–6. DOI:10.1117/1.2124627</mixed-citation></citation-alternatives></ref></ref-list><fn-group><fn fn-type="conflict"><p>The authors declare that there are no conflicts of interest present.</p></fn></fn-group></back></article>
