izmertechИзмерительная техникаIzmeritel`naya Tekhnika0368-10252949-5237ФГУП "ВНИИФТРИ"10.32446/0368-1025it.2022-10-26-30izmertech-1653Research ArticleОПТИКО-ФИЗИЧЕСКИЕ ИЗМЕРЕНИЯOPTICOPHYSICAL MEASUREMENTSЭталонная установка для воспроизведения, хранения и передачи двумерного пространственного распределения единицы показателя преломления твёрдых веществReference system for observation, storing and transmitting a two-dimensional spatial distribution (profile) of solids refractve index unithttps://orcid.org/0000-0003-0237-4738ВишняковГ. Н.VishnyakovG. N.

Геннадий Николаевич Вишняков

Москва

Gennady N. Vishnyakov

Moscow

vish@vniiofi.ruhttps://orcid.org/0000-0002-4356-301XМинаевВ. Л.MinaevV. L.

Владимир Леонидович Минаев

Москва

Vladimir L. Minaev

Moscow

minaev@vniiofi.ruhttps://orcid.org/0000-0003-1827-6075БочкареваС. С.BochkarevaS. S.

Светлана Сергеевна Бочкарева

Москва

Svetlana S. Bochkareva

Moscow

sbochkareva@vniiofi.ruВсероссийский научно-исследовательский институт оптико-физических измерений; Московский государственный технический университет имени Н. Э. Баумана (национальный исследовательский университет)РоссияAll-Russian Research Institute for Optical and Physical Measurements; Bauman Moscow State Technical UniversityRussian FederationВсероссийский научно-исследовательский институт оптико-физических измерений; Московский государственный технический университет имени Н. Э. Баумана (национальный исследовательский университет); Национальный исследовательский университет «Высшая школа экономики»РоссияAll-Russian Research Institute for Optical and Physical Measurements; Bauman Moscow State Technical University; HSE UniversityRussian FederationВсероссийский научно-исследовательский институт оптико-физических измеренийРоссияAll-Russian Research Institute for Optical and Physical MeasurementsRussian Federation2022250520230102630Copyright © ФГУП "ВНИИФТРИ", 20232023ФГУП "ВНИИФТРИ"ФГУП "ВНИИФТРИ"https://www.izmt.ru/jour/about/submissions#copyrightNoticehttps://www.izmt.ru/jour/article/view/1653

Рассмотрены вопросы метрологического обеспечения средств измерений двумерного пространственного распределения (профиля) единицы показателя преломления твёрдых веществ. Разработана эталонная установка, которая включена в состав Государственного первичного эталона единицы показателя преломления ГЭТ 138-2021. Представлены состав, принцип работы и основные метрологические характеристики эталонной установки, основу которой составляет цифровой интерферометр для измерения двумерного пространственного распределения (профиля) показателя преломления тонких срезов заготовок градиентных стекловолокон. Эталонная установка из состава ГЭТ 138-2021 обеспечивает единство измерений для средств измерений профиля показателя преломления, так называемых оптических анализаторов заготовок градиентных стекловолокон и оптических волокон. Приведены результаты экспериментальных исследований ГЭТ 138-2021 в части воспроизведения двумерного пространственного распределения единицы показателя преломления.

The issues of metrological support of measuring instruments of two-dimensional spatial distribution (profile) of the refractive index unit of solid substances are considered. A reference setup has been developed, which is included in the State primary standard of the refractive index unit GET 138-2021. The composition, principle of operation, and main metrological characteristics of the reference setup, which is based on a digital interferometer for measuring the two-dimensional spatial distribution (profit le) of the refractive index of thin sections of preforms of graded glass fibers, are presented. The reference setup from GET 138-2021 for the first time ensures the uniformity of measurements for measuring instruments for the refractive index profile, the so-called optical analyzers of preforms and the fiber itself, which are used in the production of optical glass fibers. The results of experimental studies of GET 138-2021 in terms of reproducing the two-dimensional spatial distribution of a refractive index unit are presented.

государственный первичный эталонстекловолокнозаготовка стекловолокнапрофиль показателя преломленияцифровой интерферометрstate primary standardglass fiberfiber preformrefractive index profiledigital interferometerза изготовление тонких срезов заготовок градиентного волокна авторы выражают благодарность научному сотруднику Лаборатории специального стекла ООО НТО «ИРЭ-Полюс» (Московская обл., г. Фрязино) В. С. Брунову.the authors express gratitude to V. S. Brunov, scientifi c researcher at the Special Glass Laboratory of IRE-Polyus (Moscow region, Fryazino), for fabricating thin sections of gradient fiber preforms.ReferencesИванова С. М., Елисеев О. В., Михайленко А. С., Студеникин О. Л. Обзор методов первичных параметров оптического волокна // Научно-технический вестник информационных технологий, механики и оптики. 2008. № 51. С. 78–83.Ivanova S. M., Eliseev O. V., Mikhailenko A. S., Studenikin O. L., Overview of optical fi ber primary parameter methods, Sci. Tech. J. Inf. Technol. Mech. Opt., 2008, no. 51, pp. 78–83. (In Russ.)Ding M., Fan D., Wang W., Luo Y., Peng G.-D., Basics of Optical Fiber Measurements, In: Peng G.-D. (eds) Handbook of Optical Fibers, Springer, Singapore, 2018, pp. 1–39. https://doi.org/10.1007/978-981-10-1477-2_57-2Ding M., Fan D., Wang W., Luo Y., Peng G.-D., Basics of Optical Fiber Measurements, In: Peng G.-D. (eds) Handbook of Optical Fibers, Springer, Singapore, 2018, pp. 1–39. https://doi.org/10.1007/978-981-10-1477-2_57-2Chu P. L., Electronics Letters, 1977, vol. 13, no. 24, рp. 736–738. https://doi.org/10.1049/el:19770520Chu P. L., Electronics Letters, 1977, vol. 13, no. 24, рp. 736–738. https://doi.org/10.1049/el:19770520Гауэр Д. Волоконно-оптические линии связи: Пер. с англ. М.: Радио и связь, 1992. 100 с.Gowar J., Optical Communication Systems, Prentice-Hall Inlernalional, Inc., London, Prentice/Hall International, Englewood Cliffs, NJ, 1984, 577 p.Marcuse D., Principles of Optical Fiber Measurement, N.Y., Academic Press, 1981, 360 p.Marcuse D., Principles of Optical Fiber Measurement, N.Y., Academic Press, 1981, 360 p.Philen D. L., Measurement and Characterization of Optical Fibers, In: Lin C. (eds), Optoelectronic Technology and Lightwave Communications Systems, Springer, Dordrecht, 1989, рр. 51–78. https://doi.org/10.1007/978-94-011-7035-2_2Philen D. L., Measurement and Characterization of Optical Fibers, In: Lin C. (eds), Optoelectronic Technology and Lightwave Communications Systems, Springer, Dordrecht, 1989, рр. 51–78. https://doi.org/10.1007/978-94-011-7035-2_2Stewart W. J., A new technique for measuring the refractive index profiles of graded index optical fibers, Tech. Digest, Int. Conf. Integrated Optics and Opt. Fiber Commun., Tokyo, Japan, July 1977, pp. 395, C2-2.Stewart W.J., A new technique for measuring the refractive index profi les of graded index optical fi bers, Tech. Digest, Int. Conf. Integrated Optics and Opt. Fiber Commun., Tokyo, Japan, July 1977, pp. 395, C2-2.Афанасьев А. Н., Иванов А. Ф., Махров В. И., Шибаев А. А., Мялицин Л. А., Платонов Н. Н. Измеритель профиля показателя преломления показателя преломления оптических кварцевых заготовок // Известия Челябинского научного центра. 2003. № 4. С. 15–19.Afanas’ev A. N., Ivanov A. F., Makhrov V. I., Shibaev A. A., Myalitsin L. A., Platonov N. N., Refractive Index Profi le Meter for Optical Quartz Preforms, Izvestiya Chelyabinskogo nauchnogo tsentra, 2003, no. 4, pp. 15–19 (In Russ.)Вишняков Г. Н., Минаев В. Л., Бочкарева С. С. Государственный первичный эталон единицы показателя преломления ГЭТ 138-2021 // Измерительная техника. 2022. № 5. С. 4–9. https://doi.org/10.32446/0368-1025it.2022-5-4-9Vishnyakov G. N., Minaev V. L., Bochkareva S. S., Izmeritel`naya Tekhnika, 2022, no. 5, pp. 4–9. (In Russ.) https://doi.org/10.32446/0368-1025it.2022-5-4-9Yablon A. D., Multiwavelength optical fiber refractive index profiling, Proc. SPIE 7580, Fiber Lasers VII: Technology, Systems, and Applications, 2010, 758015. https://doi.org/10.1117/12.841883Yablon A. D. Multiwavelength optical fi ber refractive index profi ling, Proc. SPIE 7580, Fiber Lasers VII: Technology, Systems, and Applications, 2010, 758015. https://doi.org/10.1117/12.841883

The authors declare that there are no conflicts of interest present.