<?xml version="1.0" encoding="UTF-8"?>
<!DOCTYPE article PUBLIC "-//NLM//DTD JATS (Z39.96) Journal Publishing DTD v1.3 20210610//EN" "JATS-journalpublishing1-3.dtd">
<article article-type="research-article" dtd-version="1.3" xmlns:mml="http://www.w3.org/1998/Math/MathML" xmlns:xlink="http://www.w3.org/1999/xlink" xmlns:xsi="http://www.w3.org/2001/XMLSchema-instance" xml:lang="ru"><front><journal-meta><journal-id journal-id-type="publisher-id">izmertech</journal-id><journal-title-group><journal-title xml:lang="ru">Измерительная техника</journal-title><trans-title-group xml:lang="en"><trans-title>Izmeritel`naya Tekhnika</trans-title></trans-title-group></journal-title-group><issn pub-type="ppub">0368-1025</issn><issn pub-type="epub">2949-5237</issn><publisher><publisher-name>ФГУП "ВНИИФТРИ"</publisher-name></publisher></journal-meta><article-meta><article-id pub-id-type="doi">10.32446/0368-1025it.2022-8-58-61</article-id><article-id custom-type="elpub" pub-id-type="custom">izmertech-1646</article-id><article-categories><subj-group subj-group-type="heading"><subject>Research Article</subject></subj-group><subj-group subj-group-type="section-heading" xml:lang="ru"><subject>ЭЛЕКТРОМАГНИТНЫЕ ИЗМЕРЕНИЯ</subject></subj-group><subj-group subj-group-type="section-heading" xml:lang="en"><subject>ELECTROMAGNETIC MEASUREMENTS</subject></subj-group></article-categories><title-group><article-title>Оценка погрешностей прототипа вольтметра на базе микроконтроллера ATmega8 и виртуальной модели вольтметра в среде Proteus</article-title><trans-title-group xml:lang="en"><trans-title>Error estimation of voltmeter on ATmega8 Microcontroller and virtual device in Proteus</trans-title></trans-title-group></title-group><contrib-group><contrib contrib-type="author" corresp="yes"><contrib-id contrib-id-type="orcid">https://orcid.org/0000-0002-5705-0282</contrib-id><name-alternatives><name name-style="eastern" xml:lang="ru"><surname>Епифанцев</surname><given-names>К. В.</given-names></name><name name-style="western" xml:lang="en"><surname>Epifantsev</surname><given-names>К. V.</given-names></name></name-alternatives><bio xml:lang="ru"><p>Кирилл Валерьевич Епифанцев</p><p>Санкт-Петербург, Россия</p></bio><bio xml:lang="en"><p>Кirill V. Epifantsev</p><p> St. Petersburg</p></bio><email xlink:type="simple">epifancew@gmail.com</email><xref ref-type="aff" rid="aff-1"/></contrib><contrib contrib-type="author" corresp="yes"><contrib-id contrib-id-type="orcid">https://orcid.org/0000-0002-6265-7302</contrib-id><name-alternatives><name name-style="eastern" xml:lang="ru"><surname>Ефремов</surname><given-names>Н. Ю.</given-names></name><name name-style="western" xml:lang="en"><surname>Efremov</surname><given-names>N. Yu.</given-names></name></name-alternatives><bio xml:lang="ru"><p>Николай Юрьевич Ефремов</p><p>Санкт-Петербург, Россия</p></bio><bio xml:lang="en"><p>Nikolay Yu. Efremov</p><p>St. Petersburg</p></bio><email xlink:type="simple">nikolajefremov@yandex.ru</email><xref ref-type="aff" rid="aff-1"/></contrib><contrib contrib-type="author" corresp="yes"><name-alternatives><name name-style="eastern" xml:lang="ru"><surname>Шишкова</surname><given-names>М. М.</given-names></name><name name-style="western" xml:lang="en"><surname>Shishkova</surname><given-names>M. M.</given-names></name></name-alternatives><bio xml:lang="ru"><p>Мария Максимовна Шишкова</p><p>Санкт-Петербург, Россия</p></bio><bio xml:lang="en"><p>Maria M. Shishkova</p><p>St. Petersburg</p></bio><email xlink:type="simple">kolmarden99@gmail.com</email><xref ref-type="aff" rid="aff-1"/></contrib></contrib-group><aff-alternatives id="aff-1"><aff xml:lang="ru"><institution>Санкт-Петербургский государственный университет аэрокосмического приборостроения</institution><country>Россия</country></aff><aff xml:lang="en"><institution>St. Petersburg State University of Aerospace Instrumentation</institution><country>Russian Federation</country></aff></aff-alternatives><pub-date pub-type="collection"><year>2022</year></pub-date><pub-date pub-type="epub"><day>24</day><month>05</month><year>2023</year></pub-date><volume>0</volume><issue>8</issue><fpage>58</fpage><lpage>61</lpage><permissions><copyright-statement>Copyright &amp;#x00A9; ФГУП "ВНИИФТРИ", 2023</copyright-statement><copyright-year>2023</copyright-year><copyright-holder xml:lang="ru">ФГУП "ВНИИФТРИ"</copyright-holder><copyright-holder xml:lang="en">ФГУП "ВНИИФТРИ"</copyright-holder><license xlink:href="https://www.izmt.ru/jour/about/submissions#copyrightNotice" xlink:type="simple"><license-p>https://www.izmt.ru/jour/about/submissions#copyrightNotice</license-p></license></permissions><self-uri xlink:href="https://www.izmt.ru/jour/article/view/1646">https://www.izmt.ru/jour/article/view/1646</self-uri><abstract><p>Рассмотрены особенности разработки прототипов и виртуальных моделей средств измерений. Исследованы погрешности двух вольтметров постоянного тока – прототипа на макетной плате и его виртуальной модели. Прототип вольтметра реализован на микроконтроллере ATmega8 с четырёхразрядным индикатором, виртуальная модель разработана в среде Proteus и полностью повторяет принципиальную схему прототипа. В качестве эталонных средств калибровки вольтметров использованы источник питания GW Instek GPC и лабораторный мультиметр VOLTCRAFT MXD. Оценены абсолютная и относительная погрешности прототипа и виртуальной модели вольтметра в диапазоне 0–6 В. Установлено, что в диапазоне 0–1 В высокая относительная погрешность измерения напряжения прототипом вольтметра обусловлена влиянием погрешности установки напряжения источника питания, а также отклонениями от номиналов действительных значений параметров элементов схемы. Минимальная относительная погрешность измерения напряжения прототипом вольтметра составила менее 1 % в диапазоне 5–6 В. Проведён сравнительный анализ результатов оценки погрешностей прототипа и виртуальной модели вольтметра и сделан вывод о сравнимой точности виртуальной модели и реального прототипа при равных параметрах качества электроэнергии. Полученные результаты будут полезны при исследованиях качества напряжения на этапах разработки прототипов и виртуальных моделей средств измерений других типов.</p></abstract><trans-abstract xml:lang="en"><p>The problem of evaluation of metrological characteristics of prototypes and virtual measuring instruments is considered. In the article are presented results of a study of the measurement error of two DC voltmeters – a device on a prototyping board and a virtual voltmeter. The prototype is implemented on an ATmega8 microcontroller with a 4-bit indicator, the virtual device is developed in the Proteus environment and completely repeats the schematic diagram of the prototype. The GW Instek GPC power supply and the VOLTCRAFT MXD laboratory multimeter were used as reference tools. Estimates of the absolute and relative error of the prototype and the virtual device in the range of 0–6 V. A high level of error in the range up to 1 V was determined for the prototype. A comparative analysis of the results of error estimation of the two studied devices was carried out. The results obtained will be useful in planning and conducting similar studies of other types of measuring instruments in scientific and educational organizations.</p></trans-abstract><kwd-group xml:lang="ru"><kwd>погрешность измерений</kwd><kwd>вольтметр</kwd><kwd>макетная плата</kwd><kwd>микроконтроллер</kwd><kwd>прототип</kwd><kwd>виртуальная модель</kwd><kwd>Proteus</kwd><kwd>мультиметр</kwd></kwd-group><kwd-group xml:lang="en"><kwd>measurement error</kwd><kwd>voltmeter</kwd><kwd>prototyping board</kwd><kwd>microcontroller</kwd><kwd>prototypes</kwd><kwd>virtual measuring device</kwd><kwd>Proteus</kwd><kwd>multimeter</kwd></kwd-group></article-meta></front><back><ref-list><title>References</title><ref id="cit1"><label>1</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Хюммель Кристи, Ширман Сэм. Виртуальные приборы и проектирование DSP-систем // Компоненты и Технологии. 2008. № 3(80). С. 38–42.</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Khyummel’ Kristi, Shirman Sem, Virtual’nye pribory i proektirovanie DSP-sistem, Komponenty i Tekhnologii, 2008, no. 3(80), pp. 38–42. (In Russ.)</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit2"><label>2</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Кудрявцев Н. Г., Курусканова А. А., Попов Ю. В. Об усовершенствовании макетных плат, используемых при протипировании на базе платформы ARDUINO // Информация и образование: границы коммуникаций INFO. 2018. № 10(18). С. 106–110.</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Kudryavcev N. G., Kuruskanova A. A., Popov Yu. V., Ob usovershenstvovanii maketnyh plat, ispol’zuemyh pri protipirovanii na baze platformy ARDUINO, Informaciya i obrazovanie: granicy kommunikacij INFO, 2018, no. 10(18), pp. 106–110. (In Russ.)</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit3"><label>3</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Гёлль П. Как превратить персональный компьютер в измерительный комплекс: Пер. с франц. 2-е изд., испр. М.: ДМК Пресс, 2007. 144 с.</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Patrick Guelle, Instrumentation Virtuelle pour PC, DUNOD, 1998.</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit4"><label>4</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Королев Н. AVR-контроллеры: развитие семейства. Часть 1 // Компоненты и Технологии. 2010. № 5(106). С. 82–86.</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Korolev N., AVR-kontrollery: razvitie semeistva. Chast’ 1, Komponenty i Tekhnologii, 2010, no. 5(106), рр. 82–86. (In Russ.)</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit5"><label>5</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Королев Н. Atmel: новые возможности пакета avr Studio // Компоненты и Технологии. 2011. № 10(123). С. 113–116.</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Korolev N., Atmel: novye vozmozhnosti paketa avr Studio, Komponenty i Tekhnologii, 2011, no. 123, pp. 113–116. (In Russ.)</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit6"><label>6</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Королев Н., Королев Д. AVR-микроконтроллеры: программные средства // Компоненты и Технологии. 2000. № 5. С. 24–26.</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Korolev N., Korolev D., AVR-mikrokontrollery: programmnye sredstva, Komponenty i Tekhnologii, 2000, no. 5, pp. 24–26. (In Russ.)</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit7"><label>7</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Филатов М. Разработка схемы электрической принципиальной в программной среде PROTEUS 8.1 // Компоненты и технологии. 2015. № 6(167). С. 128–135.</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Filatov M., Razrabotka skhemy elektricheskoi printsipial’noi v programmnoi srede PROTEUS 8.1, Komponenty i tekhnologii, 2015, no. 6(167), pp. 128–135.</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit8"><label>8</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Васьков А. С., Смирнов Б. И. Использование пакета Proteus для проектирования виртуальных моделей микропроцессорных устройств // Известия вузов России. Радиоэлектроника. 2013. № 2. С. 38–43.</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Vas’kov A. S., Smirnov B. I., Ispol’zovanie paketa Proteus dlya proektirovaniya virtual’nyh modelej mikroprocessornyh ustrojstv, Izvestiya vuzov Rossii. Radioelektronika, 2013, no. 2, pp. 38–43. (In Russ.)</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit9"><label>9</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Епифанцев К. В., Шишкова М. М. Аспекты разработки виртуального вольтметра на базе микроконтроллера Atmega8 // Сборник статей XXV Международной научной конференции «Волновая электроника и инфокоммуникационные системы» в 3-х частях. Санкт-Петербург, 30 мая – 3 июня 2022. С. 171–178.</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Epifantsev K. V., Shishkova M. M., Aspects of the development of a virtual voltmeter based on the Atmega8 microcontroller, Collection of articles of the XXV International Scientifi c Conference “Wave electronics and infocommunication systems” in 3 pаrts, St. Petersburg, May 30 – June 3 2022, pp. 171–178.</mixed-citation></citation-alternatives></ref></ref-list><fn-group><fn fn-type="conflict"><p>The authors declare that there are no conflicts of interest present.</p></fn></fn-group></back></article>
