<?xml version="1.0" encoding="UTF-8"?>
<!DOCTYPE article PUBLIC "-//NLM//DTD JATS (Z39.96) Journal Publishing DTD v1.3 20210610//EN" "JATS-journalpublishing1-3.dtd">
<article article-type="research-article" dtd-version="1.3" xmlns:mml="http://www.w3.org/1998/Math/MathML" xmlns:xlink="http://www.w3.org/1999/xlink" xmlns:xsi="http://www.w3.org/2001/XMLSchema-instance" xml:lang="ru"><front><journal-meta><journal-id journal-id-type="publisher-id">izmertech</journal-id><journal-title-group><journal-title xml:lang="ru">Измерительная техника</journal-title><trans-title-group xml:lang="en"><trans-title>Izmeritel`naya Tekhnika</trans-title></trans-title-group></journal-title-group><issn pub-type="ppub">0368-1025</issn><issn pub-type="epub">2949-5237</issn><publisher><publisher-name>ФГУП "ВНИИФТРИ"</publisher-name></publisher></journal-meta><article-meta><article-id pub-id-type="doi">10.32446/0368-1025it.2022-5-62-68</article-id><article-id custom-type="elpub" pub-id-type="custom">izmertech-1577</article-id><article-categories><subj-group subj-group-type="heading"><subject>Research Article</subject></subj-group><subj-group subj-group-type="section-heading" xml:lang="ru"><subject>РАДИОТЕХНИЧЕСКИЕ ИЗМЕРЕНИЯ</subject></subj-group><subj-group subj-group-type="section-heading" xml:lang="en"><subject>RADIO MEASUREMENTS</subject></subj-group></article-categories><title-group><article-title>Измерение волнового сопротивления микрополосковой линии векторным анализатором цепей</article-title><trans-title-group xml:lang="en"><trans-title>Measurement of the impedance of a microstrip line with a vector network analyzer</trans-title></trans-title-group></title-group><contrib-group><contrib contrib-type="author" corresp="yes"><contrib-id contrib-id-type="orcid">https://orcid.org/0000-0001-6389-9939</contrib-id><name-alternatives><name name-style="eastern" xml:lang="ru"><surname>Лупанова</surname><given-names>Е. А.</given-names></name><name name-style="western" xml:lang="en"><surname>Lupanova</surname><given-names>E. A.</given-names></name></name-alternatives><bio xml:lang="ru"><p>Елена Александровна Лупанова</p><p>Нижний Новгород</p></bio><bio xml:lang="en"><p>Elena A. Lupanova</p><p>Nizhny Novgorod</p></bio><email xlink:type="simple">ealupanova@yandex.ru</email><xref ref-type="aff" rid="aff-1"/></contrib><contrib contrib-type="author" corresp="yes"><contrib-id contrib-id-type="orcid">https://orcid.org/0000-0003-3906-8371</contrib-id><name-alternatives><name name-style="eastern" xml:lang="ru"><surname>Никулин</surname><given-names>С. М.</given-names></name><name name-style="western" xml:lang="en"><surname>Nikulin</surname><given-names>S. M.</given-names></name></name-alternatives><bio xml:lang="ru"><p>Сергей Михайлович Никулин</p><p>Нижний Новгород</p></bio><bio xml:lang="en"><p>Sergey M. Nikulin</p><p>Nizhny Novgorod</p></bio><email xlink:type="simple">nikulin-serg2006@yandex.ru</email><xref ref-type="aff" rid="aff-1"/></contrib></contrib-group><aff-alternatives id="aff-1"><aff xml:lang="ru"><institution>Нижегородский государственный технический университет им. Р. Е. Алексеева</institution><country>Россия</country></aff><aff xml:lang="en"><institution>Nizhny Novgorod State Technical University n.a. R. E. Alekseev</institution><country>Russian Federation</country></aff></aff-alternatives><pub-date pub-type="collection"><year>2022</year></pub-date><pub-date pub-type="epub"><day>04</day><month>05</month><year>2023</year></pub-date><volume>0</volume><issue>5</issue><fpage>62</fpage><lpage>68</lpage><permissions><copyright-statement>Copyright &amp;#x00A9; ФГУП "ВНИИФТРИ", 2023</copyright-statement><copyright-year>2023</copyright-year><copyright-holder xml:lang="ru">ФГУП "ВНИИФТРИ"</copyright-holder><copyright-holder xml:lang="en">ФГУП "ВНИИФТРИ"</copyright-holder><license xlink:href="https://www.izmt.ru/jour/about/submissions#copyrightNotice" xlink:type="simple"><license-p>https://www.izmt.ru/jour/about/submissions#copyrightNotice</license-p></license></permissions><self-uri xlink:href="https://www.izmt.ru/jour/article/view/1577">https://www.izmt.ru/jour/article/view/1577</self-uri><abstract><p>Предложен способ измерения волнового сопротивления микрополосковой линии передачи векторным анализатором цепей. Проблема определения частотной зависимости волнового сопротивления микрополосковой линии актуальна для создания схемных моделей электронных компонентов и touchstone-файлов в виртуальном полосковом канале со стандартным волновым сопротивлением 50 Ом. Схемные модели компонентов и файлы используются в системах автоматизированного проектирования интегральных микроволновых устройств. Задачу измерения векторным анализатором цепей во всём частотном диапазоне работы предложено решить LTR-методом. По результатам измерений анализатором цепей в коаксиальном канале S-параметров и коэффициентов отражения двух отрезков короткой и электрически длинной микрополосковой линий передачи определены фазовая скорость и коэффициент затухания электромагнитной волны, распространяющейся в полосковой линии передачи, а также трансформированные s-параметры двух искажающих адаптеров, моделирующие области контакта коаксиальных и полосковых линий. В диапазоне 0,02–2,00 ГГц волновое сопротивление найдено по коэффициентам отражения со стороны коаксиальных портов искажающих адаптеров в двух фиксированных частотных точках, в которых реактивная ёмкостная составляющая комплексного волнового сопротивления компенсируется индуктивностью областей контакта коаксиальной и полосковой линий. Частотная зависимость действительной части волнового сопротивления, проходящая через эти частотные точки, в диапазоне частот работы анализатора цепей определена с помощью схемной модели микрополоскового стандарта Битти в системе автоматизированного проектирования NI AWR Design Environment. Модель этого стандарта линии с воздушным участком между двумя отрезками полосковых линий с изоляционным основанием получена с помощью схемного аналога MLIN, адекватного физическому прототипу линии. Актуальность измерения волнового сопротивления микрополосковой линии векторным анализатором цепей показана на примере идентификации собственных параметров чип-резисторов.</p></abstract><trans-abstract xml:lang="en"><p>A method for measuring the wave impedance of a microstrip transmission line with a vector network analyzer is proposed. The problem of determining the frequency dependence of the wave impedance of a microstrip line is relevant for creating circuit models of electronic components and touchstone fi les in a virtual strip channel with a standard wave impedance of 50 Ohm, used in computer-aided design systems for integrated microwave devices. The problem of measuring with a vector network analyzer in the entire frequency range of the device operation is proposed to be solved by the LTR method. This method makes it possible to determine, from the results of measurements by a network analyzer in a coaxial channel, the S-parameters and reflection coefficients of two segments: a short and an electrically long microstrip transmission line: phase velocity and attenuation coefficient of electromagnetic waves propagating in a stripline transmission line; transformed s-parameters of distorting adapters, simulating the contact areas of coaxial and strip lines. In the range from 0.02–2.00 GHz, the impedance is determined by the reflection coefficients from the side of the coaxial ports of the distorting adapters at two fixed frequency points. At these frequency points, the reactive capacitive component of the complex wave impedance is compensated by the inductance of the contact areas of the coaxial and strip lines. The frequency dependence of the real part of the wave impedance passing through the frequency points in the frequency range of the network analyzer is obtained using the circuit model of the Beatty microstrip standard in the NI AWR Design Environment computeraided design system. The model of this standard for a line with an air section between two segments of strip lines with an insulating base was obtained using a circuit analog of MLIN, which is adequate to the physical prototype of the line. The relevance of measuring the wave impedance of a microstrip line with a vector network analyzer is shown by the example of identifying the intrinsic parameters of chip resistors.</p></trans-abstract><kwd-group xml:lang="ru"><kwd>микрополосковая линия</kwd><kwd>волновое сопротивление</kwd><kwd>эффективная диэлектрическая проницаемость</kwd><kwd>S-параметры</kwd><kwd>векторный анализатор цепей</kwd><kwd>LTR-метод</kwd><kwd>стандарт Битти</kwd><kwd>система автоматизированного проектирования</kwd><kwd>схемная модель</kwd><kwd>чип-резистор</kwd></kwd-group><kwd-group xml:lang="en"><kwd>microstrip line</kwd><kwd>impedance</kwd><kwd>effective permittivity</kwd><kwd>S-parameters</kwd><kwd>vector network analyzer</kwd><kwd>LTR method</kwd><kwd>Beatty standard</kwd><kwd>computer-aided design system</kwd><kwd>circuit model</kwd><kwd>chip resistor</kwd></kwd-group></article-meta></front><back><ref-list><title>References</title><ref id="cit1"><label>1</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Лупанова Е. А., Никулин С. М. Метод определения собственных параметров полосковых линий передачи // Измерительная техника. 2021. № 5. С. 47–52. https://doi.org/10.32446/0368-1025it.2021-5-47-52</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Lupanova E. A., Nikulin S. M., Measurement Techniques, 2021, vol. 64, no. 5, pp. 398–404. https://doi.org/10.1007/s11018-021-01945-x</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit2"><label>2</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Дансмор Д. П. Настольная книга инженера. Измерение параметров СВЧ-устройств с использованием передовых методик векторного анализа цепей: Пер. с англ. М.: Техносфера, 2018. 736 с.</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Joel P. Dunsmore, Handbook of Microwave Component Measurements: With Advanced VNA Techniques, John Wiley and Sons Limited, 2012, 640p. https://doi.org/10.1002/9781118391242</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit3"><label>3</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Das N. K., Voda S. M., Pozar D. M., IEEE Transactions on Microwave Theory and Techniques, 1987, vol. 35, no. 7, pp. 636– 642. https://doi.org/10.1109/TMTT.1987.1133722</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Das N. K., Voda S. M., Pozar D. M., IEEE Transactions on Microwave Theory and Techniques, 1987, vol. 35, no. 7, pp. 636– 642. https://doi.org/10.1109/TMTT.1987.1133722</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit4"><label>4</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Akima H., Journal of the Association for Computing Machinery, 1970, vol. 17, no. 4, pp. 589–602. https://doi.org/10.1145/321607.321609</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Akima H., Journal of the Association for Computing Machinery, 1970, vol. 17, no. 4, pp. 589–602. https://doi.org/10.1145/321607.321609</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit5"><label>5</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Wadell B. C., Transmission line design hand book, Arctech House, Inc, 1991, 513 p. https://doi.org/10.1109/TMTT.1987.1133722</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Wadell B. C., Transmission line design hand book, Arctech House, Inc, 1991, 513 p. https://doi.org/10.1109/TMTT.1987.1133722</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit6"><label>6</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Евсеев В. И., Никулин С. М. LR и экспресс-метод контроля параметров электронных компонентов в полосковых линиях передачи // Электроника и микроэлектроника СВЧ. 2020. Т. 1. С. 18–22.</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Evseev V. I., Nikulin S. M., LR i ekspress-metod kontrolya parametrov elektronnykh komponentov v poloskovykh liniyakh peredachi [LR and express method for monitoring the parameters of electronic components in strip transmission lines], Elektronika i mikroelektronika SVCh [Microwave electronics and microelectronics], 2020, pp. 18–22 (in Russ.)</mixed-citation></citation-alternatives></ref></ref-list><fn-group><fn fn-type="conflict"><p>The authors declare that there are no conflicts of interest present.</p></fn></fn-group></back></article>
